JPS5932941A - 電界電離型イオン源 - Google Patents
電界電離型イオン源Info
- Publication number
- JPS5932941A JPS5932941A JP14362982A JP14362982A JPS5932941A JP S5932941 A JPS5932941 A JP S5932941A JP 14362982 A JP14362982 A JP 14362982A JP 14362982 A JP14362982 A JP 14362982A JP S5932941 A JPS5932941 A JP S5932941A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electric field
- high frequency
- ion source
- low frequency
- variable component
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- Granted
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電界電離イオン源に関し、特に安定なガスイオ
ンを発生させることができるイオン源に関する。
ンを発生させることができるイオン源に関する。
近年サブミクロン以下に細く集束したイオンビームの応
用は、液体金属イオン源が開発されて以来半導体工業等
の分野で急速に高まっている。しかし、液体金属イオン
源では得られるイオン種に制限があり、特にA’r(ア
ルゴン)、N2(チッソ)等の不活性ガスやH2(水素
り、’02 (酸素)のイオンビームを得る場合には液
体金属イオン源よりガス相の電界電離イオン源が適合し
ている。:このガス相の電界電離型イオン源は、10−
3 T・Or「程喰のガス中で、その先端部が数100
人〜1000人fi!度にエツチングされた金属の尖端
に数100MV/cinの強電界を加えるように構成し
ている。その結果、該金属尖端近傍のガス分子は電界型
1引現象に」、リイオンど電子に分離され、分h11ノ
たイオンがイオンビームとしC取り出される。
用は、液体金属イオン源が開発されて以来半導体工業等
の分野で急速に高まっている。しかし、液体金属イオン
源では得られるイオン種に制限があり、特にA’r(ア
ルゴン)、N2(チッソ)等の不活性ガスやH2(水素
り、’02 (酸素)のイオンビームを得る場合には液
体金属イオン源よりガス相の電界電離イオン源が適合し
ている。:このガス相の電界電離型イオン源は、10−
3 T・Or「程喰のガス中で、その先端部が数100
人〜1000人fi!度にエツチングされた金属の尖端
に数100MV/cinの強電界を加えるように構成し
ている。その結果、該金属尖端近傍のガス分子は電界型
1引現象に」、リイオンど電子に分離され、分h11ノ
たイオンがイオンビームとしC取り出される。
どころぐ、このようなイオン源に(1jい−C発′1り
るイオンビーム電流iは次に承り−通りガスの1[/’
111)と温1n−[どの関数どなっている3゜1氏
P、・ 「−・ 7・′ 丁′・ここにおいて1)はガ
ス圧力、rは光幅:の径、1は電界強度である。上式か
ら判るように−(Aンビーム電流iは、ガス圧力l)、
先端のi¥と電Wの2東<r21−2)に比例し、温度
の3/2東に反比例する3、従って、このイオン化の原
理を用い−(安定なイオンビームを1qようとり−ると
特にガス圧力1つど温石1−を一定に制御覆る必υがあ
る7、ここぐ、温度は高輝度のイオンビームを(ff?
るために液体窒索渇疫て゛動作さけるので一定に保−(
るが、ガス1−1力[〕は該金属の先端部近傍で測定り
ることは難しい。ガス圧1]は測定制庶も悪く又II力
の変動0あリイオンビームの安定な制御が難()かつI
ご。叉、斯種のイオン源は、イオンビームが発4Fシて
いる時に生ずる数K l−1z前接の比較的周波数の高
いJミツシコンノイズがあり、これらがイオンビ−・ム
の安定化を妨げる要因となっていた。。
るイオンビーム電流iは次に承り−通りガスの1[/’
111)と温1n−[どの関数どなっている3゜1氏
P、・ 「−・ 7・′ 丁′・ここにおいて1)はガ
ス圧力、rは光幅:の径、1は電界強度である。上式か
ら判るように−(Aンビーム電流iは、ガス圧力l)、
先端のi¥と電Wの2東<r21−2)に比例し、温度
の3/2東に反比例する3、従って、このイオン化の原
理を用い−(安定なイオンビームを1qようとり−ると
特にガス圧力1つど温石1−を一定に制御覆る必υがあ
る7、ここぐ、温度は高輝度のイオンビームを(ff?
るために液体窒索渇疫て゛動作さけるので一定に保−(
るが、ガス1−1力[〕は該金属の先端部近傍で測定り
ることは難しい。ガス圧1]は測定制庶も悪く又II力
の変動0あリイオンビームの安定な制御が難()かつI
ご。叉、斯種のイオン源は、イオンビームが発4Fシて
いる時に生ずる数K l−1z前接の比較的周波数の高
いJミツシコンノイズがあり、これらがイオンビ−・ム
の安定化を妨げる要因となっていた。。
本発明は以上の点に鑑みてなされたしのτ・イオン化を
行う負空室内に配置した針状部+4の先端部に強電界を
形成する手段と、該室内に流量調整手段を通してイオン
化ガスを供給する手段を備えたイオン源において、該針
状部材の先端部から発生したイオンビームiを実質的に
検出りる手段を設け、該検出手段からの信号の低周波変
動成分に基づい−C該イイオ化カス流樋調整−F段を制
御するだめの負帰還回路を設けたことを特徴としくいる
3゜以ト図面を用いて本発明を詳述する。
行う負空室内に配置した針状部+4の先端部に強電界を
形成する手段と、該室内に流量調整手段を通してイオン
化ガスを供給する手段を備えたイオン源において、該針
状部材の先端部から発生したイオンビームiを実質的に
検出りる手段を設け、該検出手段からの信号の低周波変
動成分に基づい−C該イイオ化カス流樋調整−F段を制
御するだめの負帰還回路を設けたことを特徴としくいる
3゜以ト図面を用いて本発明を詳述する。
図面は本発明の一実施例装置ぐ、図中1はイオン化を行
う(1空に保たれたイオン化室である。該イオン化室1
内には熱伝導の良好な材料で形成された支柱2.3が配
置され、支社2に支持された尖鋭な先端部を有する例え
ばタングステン線よりなるエミッタチップ4が設けられ
、叉克社3は引き出し電極5に接続されている。該支柱
2,3はイオン化室り部に配置された絶縁R1−f 6
を貫通(〕、該碍子(3の−1一部の内部に液体窒県の
如き冷媒7が入れられた冷却槽8の内部まで突出してい
る。0は例えばアルゴンガスが封入されlJガスボンベ
(゛あり、該ガスボンベ9からのノノルゴンガスμ制御
弁10.ガス流量調整弁11.l−〕l」ン製のガス導
入管12及び接続弁13を通−)Cガス放出管14より
イオン化室1内に導入される5、該イオン化Y1内のガ
ス丹lは差動排気により電界イオン化現象に適当な約1
0゛3丁(l r rに保たれ(いる、、イオン加速電
圧と引き出し電圧は、高L「ケーゾル15)に1つ−(
電源1(3J、り印加される1、17は1ンJ’ンサー
レンズ318はビーム軸−1(ご設(ノられだビーム電
流検出電極で、該電極1Bにより一部検出されたビーム
電流は制御回路10にパノノされる。
う(1空に保たれたイオン化室である。該イオン化室1
内には熱伝導の良好な材料で形成された支柱2.3が配
置され、支社2に支持された尖鋭な先端部を有する例え
ばタングステン線よりなるエミッタチップ4が設けられ
、叉克社3は引き出し電極5に接続されている。該支柱
2,3はイオン化室り部に配置された絶縁R1−f 6
を貫通(〕、該碍子(3の−1一部の内部に液体窒県の
如き冷媒7が入れられた冷却槽8の内部まで突出してい
る。0は例えばアルゴンガスが封入されlJガスボンベ
(゛あり、該ガスボンベ9からのノノルゴンガスμ制御
弁10.ガス流量調整弁11.l−〕l」ン製のガス導
入管12及び接続弁13を通−)Cガス放出管14より
イオン化室1内に導入される5、該イオン化Y1内のガ
ス丹lは差動排気により電界イオン化現象に適当な約1
0゛3丁(l r rに保たれ(いる、、イオン加速電
圧と引き出し電圧は、高L「ケーゾル15)に1つ−(
電源1(3J、り印加される1、17は1ンJ’ンサー
レンズ318はビーム軸−1(ご設(ノられだビーム電
流検出電極で、該電極1Bにより一部検出されたビーム
電流は制御回路10にパノノされる。
制御回路19は、電流−電圧変換回路19 a 、高周
波応答アンプ19b、低周波応答ノノンプ19C等から
構成され、ビーム電流にJ、っ(’ 19 d +、!
^周波変動成分により電源16内の引き出し電圧を負帰
還制御すると共に、190は低周波変動成分により流φ
制御装置620を介し−CCカス流調調整弁11i帰)
W制御する。21は7シイメン1へ電極であり、22は
集束用対物レンズ゛で、対物レンズ22を通過したイオ
ンビームは絞り23によつ℃絞られ、静電型偏向電極2
4により−C走査されて試料251−に照射される。2
Gは真空容器27内を10′5l−orr V1度に保
持りる真空ボンゾである。
波応答アンプ19b、低周波応答ノノンプ19C等から
構成され、ビーム電流にJ、っ(’ 19 d +、!
^周波変動成分により電源16内の引き出し電圧を負帰
還制御すると共に、190は低周波変動成分により流φ
制御装置620を介し−CCカス流調調整弁11i帰)
W制御する。21は7シイメン1へ電極であり、22は
集束用対物レンズ゛で、対物レンズ22を通過したイオ
ンビームは絞り23によつ℃絞られ、静電型偏向電極2
4により−C走査されて試料251−に照射される。2
Gは真空容器27内を10′5l−orr V1度に保
持りる真空ボンゾである。
以上の如く構成された装置におい(、f−ツブ4と引き
出し電極5の間に引き出l)電封が印加されると、該」
−ミッタヂッゾ4の先端部近傍に数100MV/cmも
の強電界が形成される。Jの強電界は、チップ先端部近
傍のガス分子(本実施例においてはアルゴンガス)が電
界電離現象によつ−Cイオンと電子eに分離され、ぞの
イオンがイオンビームとなって取り出される1、このイ
オンビームは加速されてイオンビーム電流iどしてビー
ム電流検出電極1E3より検出されるが、該電流1には
ガス圧力[)による低周波の変動成分とイオンビームが
発生、加速される時に生ずる比較的周波数の高い変動成
分が含まれCいる。ところで、イオンビ−ム電流iは前
述の如く ioCPr 2 F2 /伜 によって決定されるが、本実施例にJ3いて温度Tは、
冷媒7の液体窒素温度で動作さゼCいるため一定温度に
保持され、又エミッタデツプ先端部はエツチングにより
i ooo人程瓜に形成されている。そのためイオンビ
ーム電流iを一定とするためにはガス圧力P及び電界「
を一定どなるJ、う制御すれば安定したイオンビームを
得ることができる。そこで本発明に基づく一実施例にお
いては、検出されたイオンビーム電流iを制御回路内の
電流−電圧変換回路19aにより電圧変換した後、ガス
圧力Pによる低周波の変動成分と1ミツシヨンノイズに
よる高周波の変動成分とを分離して、それぞれの変動成
分に対して補正手段を鍋したしのである。具体的には、
ガスLr力Pによる変動成分に対しては低周波応答アン
プ19cににり流量制御装置20を介してガス圧力[〕
を一定となる用ガス流量調整弁11を制御し、エミッシ
ョンノイズによる高周波変動成分に対しては、高周波応
答アンプ19bにより電源16内の引ぎ出し電圧を負帰
還制御することによって該先端部に形成される電界Fを
一定に制御するものである。そのため常に安定したイオ
ンビームを得ることができ、断種装置の精度を飛闘的に
向上することができる。
出し電極5の間に引き出l)電封が印加されると、該」
−ミッタヂッゾ4の先端部近傍に数100MV/cmも
の強電界が形成される。Jの強電界は、チップ先端部近
傍のガス分子(本実施例においてはアルゴンガス)が電
界電離現象によつ−Cイオンと電子eに分離され、ぞの
イオンがイオンビームとなって取り出される1、このイ
オンビームは加速されてイオンビーム電流iどしてビー
ム電流検出電極1E3より検出されるが、該電流1には
ガス圧力[)による低周波の変動成分とイオンビームが
発生、加速される時に生ずる比較的周波数の高い変動成
分が含まれCいる。ところで、イオンビ−ム電流iは前
述の如く ioCPr 2 F2 /伜 によって決定されるが、本実施例にJ3いて温度Tは、
冷媒7の液体窒素温度で動作さゼCいるため一定温度に
保持され、又エミッタデツプ先端部はエツチングにより
i ooo人程瓜に形成されている。そのためイオンビ
ーム電流iを一定とするためにはガス圧力P及び電界「
を一定どなるJ、う制御すれば安定したイオンビームを
得ることができる。そこで本発明に基づく一実施例にお
いては、検出されたイオンビーム電流iを制御回路内の
電流−電圧変換回路19aにより電圧変換した後、ガス
圧力Pによる低周波の変動成分と1ミツシヨンノイズに
よる高周波の変動成分とを分離して、それぞれの変動成
分に対して補正手段を鍋したしのである。具体的には、
ガスLr力Pによる変動成分に対しては低周波応答アン
プ19cににり流量制御装置20を介してガス圧力[〕
を一定となる用ガス流量調整弁11を制御し、エミッシ
ョンノイズによる高周波変動成分に対しては、高周波応
答アンプ19bにより電源16内の引ぎ出し電圧を負帰
還制御することによって該先端部に形成される電界Fを
一定に制御するものである。そのため常に安定したイオ
ンビームを得ることができ、断種装置の精度を飛闘的に
向上することができる。
以上本発明を詳述したが、本発明による電界電離型イオ
ン源は、イオンビーム電流を安定化覆るために変動づる
周波数成分を高周波変動成分と低周波変動成分に分()
、高周波変動成分は引き出し電圧に負帰還をかけて制御
し、低周波変動成分に対してはガス圧力Pを制御するこ
とにJ、り安定したイオンビームを得ることができる。
ン源は、イオンビーム電流を安定化覆るために変動づる
周波数成分を高周波変動成分と低周波変動成分に分()
、高周波変動成分は引き出し電圧に負帰還をかけて制御
し、低周波変動成分に対してはガス圧力Pを制御するこ
とにJ、り安定したイオンビームを得ることができる。
尚高周波変動成分について無視できる範囲につしては、
低周波変動成分であるガス圧力Pのみを制御することに
より安定したイオンビームを得ることができる。
低周波変動成分であるガス圧力Pのみを制御することに
より安定したイオンビームを得ることができる。
図面は本発明の一実施例を示す構成略図である。
1:インオ化室、2.3:支柱、4:エミッタチップ、
5:引き出し電極、6:絶縁碍子、7:冷媒、8:冷却
槽、9:ガスボンベ、10:制圧弁、11:ガス流は調
整弁、12:ガス導入管、13:接続弁、14:ガス放
出管、15):高汀ケーブル、16:電源、17:コン
デンリーレンズ、18:ビーム電流検出電極、19:制
御IO路、20:流量制御装置、25:試料、26:真
空ノ1【ンプ、27:真空容器。 特許出願人 日本電子株式会ネ1 代表省 伊藤 −大
5:引き出し電極、6:絶縁碍子、7:冷媒、8:冷却
槽、9:ガスボンベ、10:制圧弁、11:ガス流は調
整弁、12:ガス導入管、13:接続弁、14:ガス放
出管、15):高汀ケーブル、16:電源、17:コン
デンリーレンズ、18:ビーム電流検出電極、19:制
御IO路、20:流量制御装置、25:試料、26:真
空ノ1【ンプ、27:真空容器。 特許出願人 日本電子株式会ネ1 代表省 伊藤 −大
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、イオン化を行う真空室内に配fffi シた組状部
材の先端部に強電界を形成する手段と、該室内に流量調
整手段を通してイオン化ガスを供給する手段を備えたイ
オン源において、該組状部材の先端部から発生したイオ
ンビーム量を実軸的に検出Jる手段を設け、該検出手段
からの信号の低周波変動成分に基づいて該イオン化ガス
流I整f段を制御づるための負帰還回路を設けたことを
特徴とする電界電離型イオン源。 2、イオン化を行う真空室内に配置した組状部材の先端
部に強電界を形成する手段と、該室内に流量調整手段を
通してイオン化ガスを供給づる手段を備えたイオン源に
おいて、該組状部材の先端部から発生したイオンビーム
鼠を実質的に検出する手段を設け、該検出手段からの信
号の低周波変動成分に基づいて該イオン化ガス流量調整
手段を制御(るための負帰還回路と、該検出手段からの
信号の高周波変動成分に基づいて電界強度を制御するた
めの負帰還回路を設けたことを特徴とする□電界電離型
イオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14362982A JPS5932941A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 電界電離型イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14362982A JPS5932941A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 電界電離型イオン源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5932941A true JPS5932941A (ja) | 1984-02-22 |
| JPH0116531B2 JPH0116531B2 (ja) | 1989-03-24 |
Family
ID=15343195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14362982A Granted JPS5932941A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 電界電離型イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5932941A (ja) |
-
1982
- 1982-08-18 JP JP14362982A patent/JPS5932941A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0116531B2 (ja) | 1989-03-24 |
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