JPS5934153Y2 - レ−ザ光学結合装置 - Google Patents
レ−ザ光学結合装置Info
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- JPS5934153Y2 JPS5934153Y2 JP1977073714U JP7371477U JPS5934153Y2 JP S5934153 Y2 JPS5934153 Y2 JP S5934153Y2 JP 1977073714 U JP1977073714 U JP 1977073714U JP 7371477 U JP7371477 U JP 7371477U JP S5934153 Y2 JPS5934153 Y2 JP S5934153Y2
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/30—Optical coupling means for use between fibre and thin-film device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/1028—Coupling to elements in the cavity, e.g. coupling to waveguides adjacent the active region, e.g. forward coupled [DFC] structures
- H01S5/1032—Coupling to elements comprising an optical axis that is not aligned with the optical axis of the active region
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Optics & Photonics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、レーザの光出力を利用装置に結合するための
簡単で、有効な装置に関するものである。
簡単で、有効な装置に関するものである。
特に、結合は導波管の隣接床壁を通して直接に行なわれ
、レンズ、ファイバ、格子のような追加の光学素子を必
要としない。
、レンズ、ファイバ、格子のような追加の光学素子を必
要としない。
先行技術の半導体ダイオードレーザで発生される直接光
ビームは、たとえば、通常のガスレーザから発生される
光ビームと比較して本質的に発散i牛であり、したがっ
て通常ダイオードレーザ光ビームを収集し、平行にし、
かつ集束するためにレンズが要求される。
ビームは、たとえば、通常のガスレーザから発生される
光ビームと比較して本質的に発散i牛であり、したがっ
て通常ダイオードレーザ光ビームを収集し、平行にし、
かつ集束するためにレンズが要求される。
半導体レーザからの光を収集するために平形オプチカル
ファイバ束も使用された。
ファイバ束も使用された。
このようなファイバ束で収集された光は、束の出力端と
導波管の端縁とを突合せることによって薄膜導波管に結
合することができる。
導波管の端縁とを突合せることによって薄膜導波管に結
合することができる。
ミニアチュア円筒形または球形レンズの使用が半導体レ
ーザを光学導波管に結合するためのより直接的な手段と
して提案された。
ーザを光学導波管に結合するためのより直接的な手段と
して提案された。
しかしながら、各先行技術結合装置は多少の欠点を有す
る。
る。
特に、本質的にミニチュア装置である半導体レーザと共
に巨視的な素子を使用すると、そのミニチュア特性を完
全に保持する目的が失なわれる。
に巨視的な素子を使用すると、そのミニチュア特性を完
全に保持する目的が失なわれる。
プリズム、テーパ、格子などを使用すると、既知の超重
形回路技術の適用による製造に完全に適したミニチュア
設計の可能性が低減する。
形回路技術の適用による製造に完全に適したミニチュア
設計の可能性が低減する。
このような結合器は一般にレーザ光を収集するのに有効
であるが、結合機能は効率の悪い方法で行なわれる。
であるが、結合機能は効率の悪い方法で行なわれる。
本考案は、半導体レーザ装置で発生される光エネルギを
基体支持薄膜光学導波管または厚膜導波管に有効に結合
する技術の改良である。
基体支持薄膜光学導波管または厚膜導波管に有効に結合
する技術の改良である。
本考案により、レーザ装置からの光は誘電光学導波管に
有効かつ直接に結合され、結合は追加の光学素子の介在
を必要とすることなく達成される。
有効かつ直接に結合され、結合は追加の光学素子の介在
を必要とすることなく達成される。
レーザ体内の全内部反射を使用する振動レーザモードが
使用され、レーザ体の一面が導波管の光結合床壁と緊密
に接触する。
使用され、レーザ体の一面が導波管の光結合床壁と緊密
に接触する。
本考案の主要実施態様では改変半導体注入レーザが利用
されるが、本考案は、光学注入レーザチップの場合のよ
うに、放射が平面内に制限される任意のレーザに適用す
ることができる。
されるが、本考案は、光学注入レーザチップの場合のよ
うに、放射が平面内に制限される任意のレーザに適用す
ることができる。
第1,2図は、第5図に示すような新規な装置の代表的
実施態様の設計が如何にして達成されるかを理解するた
めの助けとなるであろう。
実施態様の設計が如何にして達成されるかを理解するた
めの助けとなるであろう。
第1図において、直角長方形平行六面体の結晶半導体レ
ーザスラブまたはチップ1は、Journal of
AppliedPhysics、1974年10月号、
の論文HighTemperature GaAs
S ingle HeterojunctionL
aser Diodes第4520頁に)(、T 、M
indenおよびR4Premoが記載している、典型
的な多層重ヘテロ接合GaAsレーザダイオードのよう
な通常の型のものでありうる。
ーザスラブまたはチップ1は、Journal of
AppliedPhysics、1974年10月号、
の論文HighTemperature GaAs
S ingle HeterojunctionL
aser Diodes第4520頁に)(、T 、M
indenおよびR4Premoが記載している、典型
的な多層重ヘテロ接合GaAsレーザダイオードのよう
な通常の型のものでありうる。
他の単へテロ接合装置、ならびに文献に広く記載されて
いる多重へテロ接合装置を使用してもよく、また本技術
分野でタイプIII〜■化合物と呼ばれる材料を含む、
直接バンドギャップを有するInAs、InP、GaA
sその他の半導体化合物を使用してもよい。
いる多重へテロ接合装置を使用してもよく、また本技術
分野でタイプIII〜■化合物と呼ばれる材料を含む、
直接バンドギャップを有するInAs、InP、GaA
sその他の半導体化合物を使用してもよい。
レーザチップ1は好適には直角スラブとして形成され、
その対向平行面3,5および2,4は2つの広面がラッ
プ仕上により平滑にされた後、エピタキシアル法で形成
した結晶をその110結晶面に沿って鏡面へき開するこ
とにより通常の方法で形成される。
その対向平行面3,5および2,4は2つの広面がラッ
プ仕上により平滑にされた後、エピタキシアル法で形成
した結晶をその110結晶面に沿って鏡面へき開するこ
とにより通常の方法で形成される。
典型的には、スラブまたはチップ1ははじめに、レーザ
動作に通常要求される、種々にドープしたGaAsその
他の材料の連続層の液相エピタキシアル段階沈着によっ
て形成されたものである。
動作に通常要求される、種々にドープしたGaAsその
他の材料の連続層の液相エピタキシアル段階沈着によっ
て形成されたものである。
内部層の1つは二方向光エネルギ伝搬導波管として作用
し、特性屈折率n5を有する。
し、特性屈折率n5を有する。
へき開面3,5および2,4は内部レーザ光伝搬層また
は導波管と協同し、内部モードレーザキャビティのファ
ブリーペo −(Fabry Perat) ミラーを
形成する。
は導波管と協同し、内部モードレーザキャビティのファ
ブリーペo −(Fabry Perat) ミラーを
形成する。
レーザチップまたはスラブ1の面2,4の幅はLxであ
り、面3,5の高さはLyである。
り、面3,5の高さはLyである。
幅Lxの面4は、本考案により、透明な誘電薄膜導波管
10の露出研摩面9と緊密に接触させて置かれる。
10の露出研摩面9と緊密に接触させて置かれる。
フィラメント振動モードにおいては、簡単な閉路7はレ
ーザ内部導波管内の光エネルギによってとられ、光は両
頭矢印14で示すように二方向に同等に進む。
ーザ内部導波管内の光エネルギによってとられ、光は両
頭矢印14で示すように二方向に同等に進む。
このモードでは、光は一連の面2,3,4.5から連続
的に反射される。
的に反射される。
たとえば、光は面2の点8において完全に内部反射され
、以下同様である。
、以下同様である。
第2図に見られるように、面4の入射角Qiはjan
”(Lx/Ly)である。
”(Lx/Ly)である。
このモードの動作は理想的には3つの空気界面において
放射線の逃出がなく、主寸法LxとLyの相対的大きさ
に依存する。
放射線の逃出がなく、主寸法LxとLyの相対的大きさ
に依存する。
したがって全内部反射は次の式を満足するときに得られ
る。
る。
F□□不>Ly/Lx(1)
ここで、半導体装置ははGaAsから構成され、屈折率
n5は約3.6である。
n5は約3.6である。
一方、光は本考案により面4から外部導波管10内へ結
合されるべきであり、面4からは比較的低い内部反射が
あるべきである。
合されるべきであり、面4からは比較的低い内部反射が
あるべきである。
導波管10はNb2O5、Ta205またはそれらの混
合物のような既知の透明誘電材料から構成され、これら
の材料は通常の熱分解法によって生成され、約2.0の
特性屈折率n。
合物のような既知の透明誘電材料から構成され、これら
の材料は通常の熱分解法によって生成され、約2.0の
特性屈折率n。
を有する。したがって、界面4における条件は次の式に
よって限定される。
よって限定される。
Ly/Lx>戸口齢、)”−1(2)
有用は屈折率を有するこれらおよび他の適当な材料は文
献に広く記載されており、窒化ケイ素、オキシ窒化ケイ
素、ケイ素富化窒化ケイ素、またはケイ素富化オキシ窒
化ケイ素、またはこれらの混合物のような材料、すなわ
ち、ケイ素の窒化物として一般に分類される材料が含ま
れる。
献に広く記載されており、窒化ケイ素、オキシ窒化ケイ
素、ケイ素富化窒化ケイ素、またはケイ素富化オキシ窒
化ケイ素、またはこれらの混合物のような材料、すなわ
ち、ケイ素の窒化物として一般に分類される材料が含ま
れる。
このような材料の層を形成するための制御方法は、米国
特許第3573096号、第3422321号および第
3629088号に開示されている。
特許第3573096号、第3422321号および第
3629088号に開示されている。
このような典型的材料においてはn5〉noであるから
、レーザチップ1の面4を通った光は、13で示されて
いるように、導波管10の平面内へ有利に屈折される。
、レーザチップ1の面4を通った光は、13で示されて
いるように、導波管10の平面内へ有利に屈折される。
垂直基準線17に関する屈折角Qrは次のスネル(Sn
ell)の法則から容易に予測される。
ell)の法則から容易に予測される。
5inQr/5inQi=n、、/no(3)自然の順
序により屈折角Qrはまた、光が導波管10と平面基体
11間の界面15に入射する角であり、基体は石英のよ
うな材料から構成される。
序により屈折角Qrはまた、光が導波管10と平面基体
11間の界面15に入射する角であり、基体は石英のよ
うな材料から構成される。
界面15において、光は、導波管10の面9,15から
交番する内部全反射の連続進行により導波管10に沿っ
て連続伝搬するために、再び内部全反射されるべきであ
る。
交番する内部全反射の連続進行により導波管10に沿っ
て連続伝搬するために、再び内部全反射されるべきであ
る。
このためには、界面15において次の条件が必要である
。
。
Ly/Lx<7g面7砥)”1 (4)ここで、n
、は基体11の屈折率であり、融解石英基体が使用され
る場合には約1.5である。
、は基体11の屈折率であり、融解石英基体が使用され
る場合には約1.5である。
不等式(1) 、 (2) 、 (4)を組合せると、
次の式が得られる。
次の式が得られる。
n”s 1(ns/ nq)21>Ly/Lx)2>
(ns/n、)2−1 (5
)簡単な数値代入により、前記材料が使用される場合、
不等式(5)は2 > Ly/Lx > 1.5ならば
満足される。
(ns/n、)2−1 (5
)簡単な数値代入により、前記材料が使用される場合、
不等式(5)は2 > Ly/Lx > 1.5ならば
満足される。
レーザダイオードしたがって新規な結合器は二方向性で
あり、2つの、等振幅の、反対方向の光線13゜13a
が形成される。
あり、2つの、等振幅の、反対方向の光線13゜13a
が形成される。
光線13のみが使用される場合には、結合器はレーザ1
で実際に発生される光エネルギの3dB損失を生ずる。
で実際に発生される光エネルギの3dB損失を生ずる。
しかしながら、この損失は、光反射膜12を置き、導波
管10内の光線13aの流れ方向を有効に逆転するよう
にすることにより(第1図)、容易に回復される。
管10内の光線13aの流れ方向を有効に逆転するよう
にすることにより(第1図)、容易に回復される。
さらに、第1図の装置は、基体11が他の光学または電
気素子の共通のベースを与える光学装置の一部であり、
導波管10と基体11が位置16を越えて延長接続され
うろことを理解すべきである。
気素子の共通のベースを与える光学装置の一部であり、
導波管10と基体11が位置16を越えて延長接続され
うろことを理解すべきである。
第3,4図は第1,2図に光路7で示された好適な斜行
モードのみの存在を可能にするために、レーザ1の動作
が拘束される一態様を示す。
モードのみの存在を可能にするために、レーザ1の動作
が拘束される一態様を示す。
光路7が選択されるのは、光線13,13 aが外部導
波管10内の内部全反射によって伝搬し続けるようにす
るためで゛ある。
波管10内の内部全反射によって伝搬し続けるようにす
るためで゛ある。
コノ目的のためIコ、Applied Physic
sLetters、 1967年2月1日号、第84頁
のJ、C。
sLetters、 1967年2月1日号、第84頁
のJ、C。
Dymentc7)技術論文Hermite Gaus
sian ModePatterns in GaAs
Junction La5ersに記載された、Ga
As接合レーザの新規な改変がなされる。
sian ModePatterns in GaAs
Junction La5ersに記載された、Ga
As接合レーザの新規な改変がなされる。
通常の方法では、レーザはオームベース接点37を含み
、これに活性半導体が固定される。
、これに活性半導体が固定される。
半導体はp+−n−n+GaAS+イオードの形態をと
り、低抵抗形n+層38と低抵抗形p+層40間に挿入
されたn層39内に光放射線が発生される。
り、低抵抗形n+層38と低抵抗形p+層40間に挿入
されたn層39内に光放射線が発生される。
第二のオーム接点43はp+層40の外面46に取付け
られる。
られる。
先行技術装置は、レーザ接合の活性部分を、狭いストリ
ップ接点下の局部的注入により狭いが正確に対称的に配
置された位置に限定するために、オーム接点43を一般
的に形成したが、本考案は新規な非対称的または斜行形
態を与え、外部導波管の有効な励振を可能にするもので
ある。
ップ接点下の局部的注入により狭いが正確に対称的に配
置された位置に限定するために、オーム接点43を一般
的に形成したが、本考案は新規な非対称的または斜行形
態を与え、外部導波管の有効な励振を可能にするもので
ある。
この改変は、通常の技術を使用してダイオードを構威し
、しかも第二オーム接点43の改良形態を“達成するこ
とによって行なわれる。
、しかも第二オーム接点43の改良形態を“達成するこ
とによって行なわれる。
p+形半導体層40が形成されかつその表面46が適当
に調整されたとき、二酸化ケイ素のような絶縁材料の層
41が該表面46上に約150OAの深さまで形成され
る。
に調整されたとき、二酸化ケイ素のような絶縁材料の層
41が該表面46上に約150OAの深さまで形成され
る。
層41は該表面46を斜めに横切って延在する狭いスト
ライプを除いてp+形衣表面46被覆し、該ストライプ
では絶縁層の形成が任意の適当な方法で禁止される。
ライプを除いてp+形衣表面46被覆し、該ストライプ
では絶縁層の形成が任意の適当な方法で禁止される。
あるいは、p++層40が二酸化ケイ素の層で完全に被
覆され、ついで斜行ストライプがエツチングによって除
去される。
覆され、ついで斜行ストライプがエツチングによって除
去される。
p+形衣表面、活性レーザ動作が所望される斜行領域上
においてのみ露出される。
においてのみ露出される。
絶縁層部分41.42およびp+形層の表面の斜行スト
リップ剃はついで、通常の技術により第二オーム接点4
3で連続的に被覆され、接点43は任意の適宜な方法を
使用して導電性金属から作られる。
リップ剃はついで、通常の技術により第二オーム接点4
3で連続的に被覆され、接点43は任意の適宜な方法を
使用して導電性金属から作られる。
第3図に見られるように、実際のオーム接点44は図の
前面44から構造体の後部の反対側コーナまで構造体を
斜めに横切って延在する。
前面44から構造体の後部の反対側コーナまで構造体を
斜めに横切って延在する。
第3図の前面と後面の中間位置における断面は第4図の
外観を有する。
外観を有する。
すなわち、凹部45下方の狭いオーム接点44は、それ
を支持する三角形絶縁層41.42を貫通してp++層
40との実際のストリップ接点44を形成している。
を支持する三角形絶縁層41.42を貫通してp++層
40との実際のストリップ接点44を形成している。
このようにして、発光機構は所望の斜行領域においての
み動作するように拘束され、所望の斜行配置光路7が外
部導波管10に有効な注入を行なうために励起される。
み動作するように拘束され、所望の斜行配置光路7が外
部導波管10に有効な注入を行なうために励起される。
レーザ発生領域をレーザのへき開面4に適当な角度で配
置された狭いストリップに拘束するために、図示の形状
以外の形状を使用することもできる。
置された狭いストリップに拘束するために、図示の形状
以外の形状を使用することもできる。
たとえば、最近の拘束方法はメサエッチング法で形成さ
れたメサストリップ形状である。
れたメサストリップ形状である。
当業者には明らかであるように、他のモードの拘束方式
を本考案にしたがって使用するために容易に適応させる
こともできる。
を本考案にしたがって使用するために容易に適応させる
こともできる。
つぎに第5図を参照すると、出力導波管を示す新規な装
置の端面図が示されており、これは本考案の代表的な実
態態様である。
置の端面図が示されており、これは本考案の代表的な実
態態様である。
第5図において、延長した融解石英基体11が設けられ
、導波管10はやはりその表面15上に形成されている
。
、導波管10はやはりその表面15上に形成されている
。
半導体レーザ1は所望の結合界面4を与えるために導波
管10上に装着されている。
管10上に装着されている。
図において、界面4は発生光を導波管10から観察者の
目の方向に結合する。
目の方向に結合する。
通例のように、半導体スラブ1内のレーザ作用を促進す
るために必要なパワーは、矢印18の方向に電流を通す
ことによって発生される。
るために必要なパワーは、矢印18の方向に電流を通す
ことによって発生される。
この目的のために、半導体レーザは層37.43のよう
な外部接触オーム層を備えており、これに通常の方法で
電気接点が取付けられる。
な外部接触オーム層を備えており、これに通常の方法で
電気接点が取付けられる。
第5図の実施態様において、成形ワイヤまたはストリッ
プ25 、26が基体11の延長表面15上の22 、
23のような通常のオーム接点にそれぞれ固着されてい
る。
プ25 、26が基体11の延長表面15上の22 、
23のような通常のオーム接点にそれぞれ固着されてい
る。
ワイヤまたはストリップ25.26は熱圧縮結合、ろう
付けまたは他の周知の方法により27.28において接
点22.23に接合されている。
付けまたは他の周知の方法により27.28において接
点22.23に接合されている。
ワイヤまたはストリップ25゜26は同様に接触面37
.43に29.30においてそれぞれ結合されている。
.43に29.30においてそれぞれ結合されている。
通常の電力供給源がレーザの連続またはパルス動作のた
めにリード線20.21を介して適当な電流を与える。
めにリード線20.21を介して適当な電流を与える。
ワイヤまたはストリップ25.26は、レーザスラブ1
を界面4において導波管10の上表面9に強固に押付け
るのに十分なばね性こわさを持つストノツプを含む、各
種の形態をとりうる。
を界面4において導波管10の上表面9に強固に押付け
るのに十分なばね性こわさを持つストノツプを含む、各
種の形態をとりうる。
レーザスラブ1は通常の急速硬化性エポキシ材料の使用
により表面9に直接に固定することもできる。
により表面9に直接に固定することもできる。
界面4は光学的に完全に平滑になるように先に研摩され
、導波管10と半導体スラブ1の最大分離が動作光の波
長のh以下になるようにする。
、導波管10と半導体スラブ1の最大分離が動作光の波
長のh以下になるようにする。
各図は本考案の所望の新規な特徴を示し、半導体レーザ
ダイオード内で発生される光エネルギを基体で支持され
た薄膜誘電導波管内へ有利がつ有効に直結するための本
技術分野における改良が与えられる。
ダイオード内で発生される光エネルギを基体で支持され
た薄膜誘電導波管内へ有利がつ有効に直結するための本
技術分野における改良が与えられる。
光はレーザダイオードから外部出力導波管内へ直接に結
合され、この結合はレンズその他の大型光学素子を使用
することなく遠戚される。
合され、この結合はレンズその他の大型光学素子を使用
することなく遠戚される。
第1図は本考案の一般的形態を示す立面面である。
第2図は各光路を説明するために使用する第1図の拡大
部分図である。 第3図は第1図の装置で使用する新規なレーザダイオー
ドの斜視図である。 第4図は第3の4−4線断面図である。第5図は本考案
の好適形態の立面図である。 1:半導体レーザスラブ、2,3,4.5 :へき開面
、7:斜行閉路、9:研摩面、10・・・導波管、11
:基体、22.23 :接点、25.26 :ワイヤ、
37,43 :接触面。
部分図である。 第3図は第1図の装置で使用する新規なレーザダイオー
ドの斜視図である。 第4図は第3の4−4線断面図である。第5図は本考案
の好適形態の立面図である。 1:半導体レーザスラブ、2,3,4.5 :へき開面
、7:斜行閉路、9:研摩面、10・・・導波管、11
:基体、22.23 :接点、25.26 :ワイヤ、
37,43 :接触面。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 レーザ光放射領域が斜行ストライプであるところの活性
層および活性層にそれぞれ垂直な光出力第一へき開面お
よび内部反射第二、第三および第四へき開面を含む屈折
率n5の光路を有する主要寸法Lxおよび土つの長方形
平行六面体の半導体レーザ; レーザ光出力を受入れるためのかつ第−床壁と屈折率n
、の基体と接触することによって支持される第二床壁と
を有する屈折率n。 の均質の誘電導波管; 前記レーザ寸法および屈折率が不等式 %式%(5 ) に従って選択され、レーザ光出力面がそれを導波管の第
−床壁と光学接触させることにより介在屈折率数合層ま
たは装置なしに導波管に直接に効果的に結合されうるよ
うにしたこと; からなることを特徴とするレーザ光学結合装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US000000694852 | 1976-06-10 | ||
| US05/694,852 US4065730A (en) | 1976-06-10 | 1976-06-10 | Laser optical coupler |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52166545U JPS52166545U (ja) | 1977-12-16 |
| JPS5934153Y2 true JPS5934153Y2 (ja) | 1984-09-21 |
Family
ID=24790516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1977073714U Expired JPS5934153Y2 (ja) | 1976-06-10 | 1977-06-08 | レ−ザ光学結合装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4065730A (ja) |
| JP (1) | JPS5934153Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006201313A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Fuji Xerox Co Ltd | 光伝送装置及び光モジュール |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS60114811A (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-21 | Hitachi Ltd | 光導波路およびその製造方法 |
| US5039192A (en) * | 1990-06-29 | 1991-08-13 | International Business Machines Corporation | Interconnection means for optical waveguides |
| US5441914A (en) * | 1994-05-02 | 1995-08-15 | Motorola Inc. | Method of forming conductive interconnect structure |
| JP3878868B2 (ja) * | 2002-03-01 | 2007-02-07 | シャープ株式会社 | GaN系レーザ素子 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US3949320A (en) * | 1974-11-29 | 1976-04-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Miniature crystalline laser |
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- 1976-06-10 US US05/694,852 patent/US4065730A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-06-08 JP JP1977073714U patent/JPS5934153Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006201313A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Fuji Xerox Co Ltd | 光伝送装置及び光モジュール |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4065730A (en) | 1977-12-27 |
| JPS52166545U (ja) | 1977-12-16 |
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