JPS5934437B2 - ジシクロヘキシル−24−クラウン−8による水銀分離除去法 - Google Patents

ジシクロヘキシル−24−クラウン−8による水銀分離除去法

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Publication number
JPS5934437B2
JPS5934437B2 JP3791081A JP3791081A JPS5934437B2 JP S5934437 B2 JPS5934437 B2 JP S5934437B2 JP 3791081 A JP3791081 A JP 3791081A JP 3791081 A JP3791081 A JP 3791081A JP S5934437 B2 JPS5934437 B2 JP S5934437B2
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JP
Japan
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phase
mercury
liquid
dicyclohexyl
crown
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Expired
Application number
JP3791081A
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English (en)
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JPS57153786A (en
Inventor
健 片岡
忠昭 西機
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Kansai Chemical Engineering Co Ltd
Original Assignee
Kansai Chemical Engineering Co Ltd
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Publication date
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  • Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
  • Physical Water Treatments (AREA)
  • Extraction Or Liquid Replacement (AREA)
  • Water Treatment By Sorption (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は水銀に対してすぐれた分離作用を示す新規な水
銀分離除去法に関する。
水銀イオンは水銀性電解ソータ工場、水銀触媒を使用す
る化学工場、水銀を含有する医薬品や殺菌剤の製造工場
等の廃液に含まれる。
水銀イオン、特に第二水銀イオンは人体に種々の悪影響
を与えることから、工場廃液中に水銀イオンは検出され
ないことと規定され、その完全な除去が要求される。
一方、水銀イオン含有廃液の処理技術としては、従来沈
殿法、吸着法、イオン交換法等が採用されている。
しかし、これらの方法は、以下の理由によりいずれも充
分満足し得るものではないのが実状である。
沈殿法による場合、廃液中の水銀イオンが希薄な場合は
沈殿させるのが困難であり、たとえ沈殿物が生じてもそ
の処理が面倒であり、かつ連続操作で行なうのが難かし
く、更に、沈殿させるに際し使用する薬品が大量に必要
であり、しかも薬品により新たな公害が生ずるおそれが
ある。
吸着法による場合、連続操作で行なうのが難かしく、使
用する吸着剤は大量に必要であり、再生・処理が困難で
あり、さらに、吸着剤の摩耗・損傷が生ずる。
イオン交換法による場合、設備費、運転費用が高くなり
、交換膜の摩耗・損傷等による経済的損失も大きい。
近年、省エネルギーの観点から、溶媒抽出法を利用した
分離法が注目されており、水銀イオン含有廃液の処理に
対する適用も試みられている。
溶媒抽出法は、装置が簡単で運転の連続化が容易であり
、分離効率がよく、水銀の回収率が高い等多くの利点を
有している。
しかし、抽出試薬は比較的高価でありしかも大量に使用
する必要があり、油分が廃液中に混入したり、抽出試薬
及び溶媒の損失が避けられない等問題点も多い。
本発明者らは、上記の如き問題を解決すべく種種研究を
行なった結果、特定試薬を含む、液体膜を利用して廃液
処理を行なえば、抽出試薬の使用量はわずかですみ循環
使用ができ、しかも効率よく重金属を分離除去し得るこ
とを見出し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明方法は、ジシクロヘキ ルー24−クラウ
ン−8を溶解した液体膜を使用することからなる。
液体膜による分離操作は液相あるいは気相一般に(供給
相)という中の成分を液体膜を介して他の液相あるいは
気相(一般に回収相と云う)に移動させる操作である。
本発明の如く、液体膜を廃液処理に適用した場合、液相
−液体膜一液相系となり、この場合の液体脱法は溶媒抽
出法における正抽出と逆抽出とを単一装置で同時に行う
ことができ、使用する抽出試薬の量はわずかですみ、し
かも循環使用できる等従来の分離法には見られな(・大
きな利点がある。
本発明で使用するジシクロへキシル−24−クラウン−
8は次の構造式; で示され、水銀イオンを選択的に取り込み捕捉する性質
を有する。
本発明で使用する液体膜は、ジシクロへキシル−24−
クラウン−8を坦体として溶剤に溶解した溶液で形成さ
れる。
溶剤としては、一般に、クロロホルム、キシレン等の有
機溶剤を使用し得る。
本発明において水銀を回収する相としては、供給相であ
る廃液よりも塩素イオン濃度の高い溶液、例えば、塩酸
あるいは塩化ナトリウム水溶液等を使用する。
本発明を実施する場合の装置及び方法の一例を次に図を
もって説明する。
第1図のAは反応槽10の平面図、Bは反応槽10の左
側断面図を示す。
反応槽10の中央を横切って仕切板11が底部から中間
の高さで設置される。
回収相1は下層を第1図Aの右から左に流れ、反応槽1
0を出て一部は抜き出されるが、その殆どが循環される
と共に、新しい回収相が補給される。
供給相3は下層を第1図への左から右に流れるが、仕切
板11により仕切られているため回収相1とは混合しな
い。
液体膜相2は第1図への左上部15から入り、反応槽1
0の上層部を点線の如く流路変更板12.12’により
流路変更されて流れ、右下部20から流れ出てポンプ2
1でほとんど損失されることなく循環される。
このように操作することにより、液体膜が廃液と面接触
した場合、界面において液体膜中のジシクロへキシル−
24−クラウン−8は廃液中の第二水銀イオンを選択的
に取り込んで錯体な形成し、廃液中の第二水銀イオンは
液体膜中に抽出されることになる。
次に液体膜は塩素イオン濃度の高い回収相と面接触する
液体膜中の水銀錯体は回収相中の塩素イオンと反応して
、第二水銀イオンを放出してもとの坦体にもどる。
こうして廃液中の第二水銀イオンは回収相中に分離濃縮
される。
このように本発明は坦体であるジシクロへキシル−24
−クラウン−8による第二水銀イオンの抽出分配が塩素
イオン濃度によって異なることを巧みに利用した液体膜
による水銀の分離除去法である。
本発明方法は上記のように構成されるもので、従来方法
と比較して、溶剤等の損失は問題にならないほど少なく
できる。
即ち、本発明において坦体として使用するジシクロへキ
シル−624−クラウン−8は水等にほとんど溶解しな
いものであり、また溶剤としても水等に溶解しにくいも
のを選ぶことにより、溶剤等の損失がほとんどなく溶剤
等による新たな公害を防止し得る利点を有する。
更に、本発明はジシクロへキシル−24−クラウン−8
が水銀イオンを選択的に取込み捕捉する性質を利用する
ことにより、溶剤等の使用量は少なくてすみしかも、効
率よく水銀イオンを分離除去し得るものである。
以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
実施例 1 供給相(1相)として0. OI MHgC1水浴液、
液体膜溶液(■相)として0.OIMジシクロヘキシル
−24−クラウン−8を含むクロロホルム溶液、回収相
(■相)としてIMHC1水溶液を用い、液量比■相:
■相二■相−10二1:1で処理すると、処理後のI相
における水銀濃度は初濃度のほぼ1/7に減少し、■相
の水銀濃度はI相の初濃度のほぼ8倍となり、処理後の
■相の水銀濃度のほぼ55倍になった。
実施例 2 ■相として1MNaCl水溶液を用いる以外は実施例1
と全く同じ条件で処理すると、処理後の■相の水銀濃度
は初濃度のほぼ1/6.5になり、■相の水銀濃度は■
相の初濃度のほぼ8倍に、処理後のI相の水銀濃度のほ
ぼ50倍になり、HCI水溶液の場合とほとんど同じ処
理結果が得られた。
実施例 3 液量比I相:■相:■相−5:に1とした以外は実施例
1と全く同じ条件で処理すると、処理後のI相の水銀濃
度は初濃度のほぼ1/14に減少し、■相の水銀濃度は
I相の初濃度のほぼ4倍になり、処理後のI相の水銀濃
度のほぼ60倍になった。
実施例 4 ■相の水銀含有廃水として実施例1の1/10の濃度す
なわち0. OOI MHgC12水溶液を用い、他の
条件は実施例1と全く同じにして処理すると、処理後の
I相の水銀濃度は初濃度のほぼ1/12に減少し、■相
の水銀濃度はI相の初濃度のほぼ8倍に、処理後の■相
の水銀濃度のほぼ100倍になった。
実施例1と比較した場合、廃水中の水銀濃度が小さい本
実施例の方が効率よく分離されたことがわかる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施する場合の装置及び方法の一例を
示す。 1・・・・・・回収相、2・・・・・・液体膜相、3・
・・・・・供給相、10・・・・・・反応槽、11・・
・・・・仕切板、12.12’・・・・・・流路変更板
、13.21・・・・・・ポンプ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 水銀含有廃液より第二水銀イオンを分離除去するに
    当り、ジシクロへキシル−24−クラウン−8を溶解し
    た液体膜を使用することを特徴とする水銀分離除去法。
JP3791081A 1981-03-18 1981-03-18 ジシクロヘキシル−24−クラウン−8による水銀分離除去法 Expired JPS5934437B2 (ja)

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JPS57153786A JPS57153786A (en) 1982-09-22
JPS5934437B2 true JPS5934437B2 (ja) 1984-08-22

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6122140U (ja) * 1984-07-14 1986-02-08 古河電気工業株式会社 光複合ofケ−ブル中間検査用プ−リング治具
JPS6122139U (ja) * 1984-07-14 1986-02-08 古河電気工業株式会社 光複合ofケ−ブル出荷用プ−リング治具
JPH0279127U (ja) * 1988-12-06 1990-06-18

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