JPS5937448A - 反射率測定器 - Google Patents
反射率測定器Info
- Publication number
- JPS5937448A JPS5937448A JP57148021A JP14802182A JPS5937448A JP S5937448 A JPS5937448 A JP S5937448A JP 57148021 A JP57148021 A JP 57148021A JP 14802182 A JP14802182 A JP 14802182A JP S5937448 A JPS5937448 A JP S5937448A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- reflected
- light source
- fresnel lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、試料の光学特性(以下特性と呼ぶ)が、拡散
性あるいは鏡面性のいかんにかかわらず、簡易的に試料
の反射率を測定するだめの反射率測定器に関するもので
ある。
性あるいは鏡面性のいかんにかかわらず、簡易的に試料
の反射率を測定するだめの反射率測定器に関するもので
ある。
従来例の構成とその問題点
この種の測定器としては、受光素子の中央に開2ベーミ
f 口部を設け、この開口部を通して試料を照射しその反射
光を測定するものがある。第1図にその基本構成を示す
。第1図の1は光源、2は受光素子(下面が受光面2a
)、3は試料面3aを有する試料である。
f 口部を設け、この開口部を通して試料を照射しその反射
光を測定するものがある。第1図にその基本構成を示す
。第1図の1は光源、2は受光素子(下面が受光面2a
)、3は試料面3aを有する試料である。
この場合、試料3を照射する光1aは試料面3aにほぼ
垂直に入射する。試料面3aでの反射光のうち拡散反射
する光はほとんど受光素子2の受光面2aに入射するが
、鏡面反射する光の多くは開口部2bから逃げ、受光素
子2の受光面2aにほとんど入射しない。このため光沢
のある試*’l、すなわち鏡面反射成分が多い試料の反
射率を測定する場合、測定値に誤差を生ずる。
垂直に入射する。試料面3aでの反射光のうち拡散反射
する光はほとんど受光素子2の受光面2aに入射するが
、鏡面反射する光の多くは開口部2bから逃げ、受光素
子2の受光面2aにほとんど入射しない。このため光沢
のある試*’l、すなわち鏡面反射成分が多い試料の反
射率を測定する場合、測定値に誤差を生ずる。
発明の目的
本発明は上記欠点を除去し、試料の特性のいかんにかか
わらず現場での試料の反射率を実用」二十分な精度で測
定可能となる反射率測定器を提供することを目的とした
ものである。
わらず現場での試料の反射率を実用」二十分な精度で測
定可能となる反射率測定器を提供することを目的とした
ものである。
発明の構成
上記目的を達成するだめ本発明は、試料に光を3 ペー
ジ 照射する光源と試料との間に、この光源から放射された
光を試料に照射し、その反射光(特に鏡面反射成分)が
受光面に入射するように角度をもたせて試料に照射させ
る屈折光学系と、この屈折光学系を取り巻く位置に試料
から反射された光を受光する中央に開口部を持つ受光素
子で構成するものである。
ジ 照射する光源と試料との間に、この光源から放射された
光を試料に照射し、その反射光(特に鏡面反射成分)が
受光面に入射するように角度をもたせて試料に照射させ
る屈折光学系と、この屈折光学系を取り巻く位置に試料
から反射された光を受光する中央に開口部を持つ受光素
子で構成するものである。
実施例の説明
第2図は本発明の一実施例を示すもので、4は光源、6
はフレネルレンズ、6は受光素子、7は試料、8は筐体
である。
はフレネルレンズ、6は受光素子、7は試料、8は筐体
である。
第3図は上記したフレネルレンズ5の断面を示したもの
である。
である。
前記フレネルレンズ5は上面6aが平面で、下面5bの
断面が鋸波状となるような同心円状に溝をきっである。
断面が鋸波状となるような同心円状に溝をきっである。
フレネルレンズ5への入射光9はフレネルレンズ6で屈
折されて出射光10のように放射される。
折されて出射光10のように放射される。
受光素子6は、受光面6aを下にして筐体8に固定され
ており、試料70反射率測定時には試料7との距離が一
定になるように保たれ、筐体8の裾部で外光の影響を除
去される。光源4から放射された光4aは、フレネルレ
ンズ5を通り試料7を照射する。光源4から放射された
光4aは、試料7で反射されるが、この反射光のうち鏡
面反射成分は、光源4からの光41Lをフレネルレンズ
5で角度を持って試料7に照射するだめ、鏡面反射成分
の光はすべて受光素子6に入射する。
ており、試料70反射率測定時には試料7との距離が一
定になるように保たれ、筐体8の裾部で外光の影響を除
去される。光源4から放射された光4aは、フレネルレ
ンズ5を通り試料7を照射する。光源4から放射された
光4aは、試料7で反射されるが、この反射光のうち鏡
面反射成分は、光源4からの光41Lをフレネルレンズ
5で角度を持って試料7に照射するだめ、鏡面反射成分
の光はすべて受光素子6に入射する。
実際の試料の反射率測定においては、受光素子の出力を
取り出す測定器(電流計など)と、標準の反射板(反射
率が既知の試料)を用い、標準反射板と試料を本測定器
で測定し、受光素子の出力を測定し、この出力の比で試
料の反射率を求める。
取り出す測定器(電流計など)と、標準の反射板(反射
率が既知の試料)を用い、標準反射板と試料を本測定器
で測定し、受光素子の出力を測定し、この出力の比で試
料の反射率を求める。
発明の効果
本発明によって次のような効果がもたらされる。
試料の反射光のうち、拡散反射成分のみでなく鏡面反射
成分をも含めて測定できるため、試料の特性のいかんに
かかわらず反射率の測定が実用上十分な精度で実施でき
る。
成分をも含めて測定できるため、試料の特性のいかんに
かかわらず反射率の測定が実用上十分な精度で実施でき
る。
5 ページ
第1図は従来例の基本的な構成を示す図、第2図は本発
明の実施例の基本的な構成を示す図、第3図は屈折光学
系の例のフレネルレンズの断面を示す図。 1・・・・・・光源、2・・・・・・受光素子、3・・
・・・・試料、4・・・・・・光源、5・・・・・・フ
レネルレンズ、6・・・・・・受光素子、7・・・・・
・試料、8・・・・・・筐体、9・・・・・・入射光、
10・・・・・・出射光。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図
明の実施例の基本的な構成を示す図、第3図は屈折光学
系の例のフレネルレンズの断面を示す図。 1・・・・・・光源、2・・・・・・受光素子、3・・
・・・・試料、4・・・・・・光源、5・・・・・・フ
レネルレンズ、6・・・・・・受光素子、7・・・・・
・試料、8・・・・・・筐体、9・・・・・・入射光、
10・・・・・・出射光。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図
Claims (1)
- 測定対象物表面(以下試料と呼ぶ)に光を放射する光源
と、該光源と試料との間に、試料から一定の距離に保た
れ試料から反射された光を受光して電気信号を出す中央
に開口部を持つ受光素子と、該受光素子開口部に保持さ
れ光源から放射された光を、試料で鏡面反射された光が
受光面に入射するように屈折させて試料を照射する屈折
光学系とを有することを特徴とする反射率測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57148021A JPS5937448A (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 反射率測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57148021A JPS5937448A (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 反射率測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5937448A true JPS5937448A (ja) | 1984-02-29 |
Family
ID=15443328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57148021A Pending JPS5937448A (ja) | 1982-08-25 | 1982-08-25 | 反射率測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937448A (ja) |
-
1982
- 1982-08-25 JP JP57148021A patent/JPS5937448A/ja active Pending
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