JPS5952786B2 - スペクトルのピ−ク検出方式 - Google Patents

スペクトルのピ−ク検出方式

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Publication number
JPS5952786B2
JPS5952786B2 JP7742877A JP7742877A JPS5952786B2 JP S5952786 B2 JPS5952786 B2 JP S5952786B2 JP 7742877 A JP7742877 A JP 7742877A JP 7742877 A JP7742877 A JP 7742877A JP S5952786 B2 JPS5952786 B2 JP S5952786B2
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JP
Japan
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movement
peak detection
detection method
value
spectrum
Prior art date
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Expired
Application number
JP7742877A
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English (en)
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JPS5411786A (en
Inventor
稔 小田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS5411786A publication Critical patent/JPS5411786A/ja
Publication of JPS5952786B2 publication Critical patent/JPS5952786B2/ja
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  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はスペクトルのピーク検出方式に関する。
更に詳しくは、スペクトル情報、特にゲルマSニウムガ
ンマ線検出器(Ge(Li)gammaraydete
ctor)とマルチチャネル波高分析器(multic
hannelpulseheightanaly2er
)とによるガンマ線スペクトルからピークを検出する場
合などに有効に用いられるスペクトルのピーク検出方式
に関するものである。この方式は、計算機によるスペク
トル情報処理に適用できる。
スペクトル中のピークの検出は、近傍のチャネルのカウ
ント数よりの、有意なカウント数の増加を検出すること
によつて行われている。
この有意な差の基準としては、カウント数の総計誤差が
用いられている。従来、この統計誤差を決定する方法と
しては、カウント数の平方根を求め、それに要求信頼度
に応じて予め定めた係数を乗じる方法がとられていた。
このような従来方法は、放射線の検出の様に、ランダム
な現象の一定時間内のカウント数には、 (標準偏差が
カウント数の平方根に等しい)統計誤差が存在するとい
うことにもとづいて行なわれるものであるが計算量が多
いという欠点があつた。また、処理しようとするスペク
トルがすでに何らかのフィルタリング処理を受けている
場合には、この統計誤差の値が変化してい・るので、ピ
ークの判定基準も、同じ比率で変化させる必要があるの
で、余分な手続を必要とする欠点があつた。なお、フィ
ルタリング処理を、係数のセットα−n・ ・ ・ ・
・ ・αo・・・・・・αnとスペクトルとのコンボ
ルーシヨンとして行う場合は、これによる統計誤差の変
化率は次式で表わされる。
Σαに2/ Σαk k:ーn に=−n この発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、処理
しようとするスペクトルが何らかのフィルタリング処理
を受けたものなどでも簡単な計算、および手続によつて
ピークを検出することを可能とした新規な方式を提供す
ることを目的とする。
即ち本発明の骨子は、離散型スペクトルの横軸上の所定
範囲内において隣接する点に対応するスペクトル値の差
をとり、その絶対値の総和を求める工程と、上記所定範
囲を横軸上にl点移動し、この移動によつて新たに加え
られるべき項の絶対値と該移動前の総和とを比較する工
程を含み、上記移動と比較を横軸方向に順次進めること
によつて、比較値が所定値を示したときをピーク検出の
必要条件とするにある。
なお上記比較は、例えば上記移動前の総和に予め定めた
定数を乗じた値と、新たに加えられるべき項の絶対値と
を比較することによつて行なわれ、この場合には後者が
大きいことがヒータ検出の必要条件となる。
次に、計算機を用いた場合のこの発明によるヒータの検
出方式のガンマ線スペクトルに対する一実施例を以下に
個条書にして説明する。
(1)スペクトルの横軸上の一定の範囲内(例えば10
チヤネル程度)に於いて、隣接する点(チヤネル)に対
応するスペクトル値(カウント数)の差の絶対値の総和
を求める。
(2)上記の一定の範囲を1チヤネルずつ順次に移動さ
せ、これに対応して、上記の総和の値を更新する。
(3)上記の移動に伴つて、(2)項の総和に新たに加
わつた項の値が、この移動の直前の上記の総和・に、予
め定めた係数を乗じた値より大きいことをピーク検出の
必要条件とする。
この係数は、要求信頼度に応じて決定する。(4)(2
)項の移動方向が正方向である時、上記の移動に伴う総
和の最新項の値が、正であれば光電5ピークと判定し、
負であればコンプトンエツジと判定する。
上記のようにしてガンマ線スペクトルのピークヒ検出し
た場合には次のような利点を有する。
すなわち1)従来方式のように統計誤差をカウント数の
平方根から求める必要がないので計算量を小さくするこ
とができる。
).)処理しようとするスペタトルが、すでに何らかの
フイルタリング処理を受けていても、ピーク検出の手続
を変更する必要がない。
すなわち、フイルタリング処理によつて統計誤差の値が
変化していても、この方式によればピークの判定基準が
、自動的に、この変化に対応して変化する。従つてスペ
クトル処理プログラム全体を簡略化することができる。
3)ピーク検出の段階以前に、バツクグラウンドの除去
やコンプトンエツジの除去等の処理が行われていても、
ピーク検出の手続を変更する必要がない。
このことは、統計誤差の決定の段階まで、オリジナルス
ペクトルを計算器のメモリに保持する必要がないことを
意味し、従つてメモリの節約およびフ治グラムの簡略化
を可能とする。ところで上記実施例ではこの発明を主に
ガンマ泉スペクトルのピーク検出に用いる場合について
{べたが必らずしもこれに限定されないことはいうまで
もない。
以上説明したとおりこの発明によれば計算およy゛手続
が簡単となり工業的価値は極めて大である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 離散型スペクトルの横軸上の所定範囲内において隣
    接する点に対応するスペクトル値の差をとり、その絶対
    値の総和を求める工程、上記所定範囲を横軸上に1点移
    動し、この移動によつて新たに加えられるべき項の絶対
    値と該移動前の総和とを比較する工程を含み、上記移動
    と比較を横軸方向に順次進めることいよつて、比較値が
    所定値を示したときをピーク検出の必要条件とすること
    を特徴とするスペクトルのピーク検出方式。 2 離散型スペクトルとしてガンマ線スペクトルを用い
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のスペク
    トルのピーク検出方式。 3 移動方向を正方向とし、移動に伴う総和の最新項の
    値が正である時に光電ピークと判定し、負である時にコ
    ンプトンエッジと判定することを特徴とする特許請求の
    範囲第2項記載のスペクトルのピーク検出方式。
JP7742877A 1977-06-28 1977-06-28 スペクトルのピ−ク検出方式 Expired JPS5952786B2 (ja)

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JP7742877A JPS5952786B2 (ja) 1977-06-28 1977-06-28 スペクトルのピ−ク検出方式

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Publication Number Publication Date
JPS5411786A JPS5411786A (en) 1979-01-29
JPS5952786B2 true JPS5952786B2 (ja) 1984-12-21

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ID=13633708

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61231197A (ja) * 1985-04-03 1986-10-15 Nippon Sheet Glass Co Ltd エレクトロクロミック素子に用いる酸化タングステンと酸化モリブデンの混合被膜の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5411786A (en) 1979-01-29

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