JPS5965422A - 高周波大電流回路用コンデンサ - Google Patents
高周波大電流回路用コンデンサInfo
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- JPS5965422A JPS5965422A JP17596482A JP17596482A JPS5965422A JP S5965422 A JPS5965422 A JP S5965422A JP 17596482 A JP17596482 A JP 17596482A JP 17596482 A JP17596482 A JP 17596482A JP S5965422 A JPS5965422 A JP S5965422A
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、大電流が高速度でス・rソチングする回路に
適したコンデンサに関する。
適したコンデンサに関する。
静電誘導サイリスタ(5ITby) 、バイポーラモー
ド静電誘導トランジスタ(13sIT ) 等の半導体
デバイスにより、大電流の高速度スイッチングが可能に
なってきている。たとえば、S I T hyであれば
、数10OAのスイッチングが、1μsec程度で行な
われており、B S I Tであれば数10OAのスイ
ッチングが数10μ灘で行えている。ところで、細いリ
ード線だと、1cTL当り5〜10nH程度のインダク
タンスを持ってしまう。インダクタンスLとすると、電
流元が時間変化するときにLの両端に現われる電圧降下
vdは、 となる。tは時間である。たとえば、L=20nHと5
して500Aの電流が、0.1psecの時間でオン、
オフすると、その時のVdは、100vになる。すなわ
ち、たとえ小さなインダクタンスであっても、大電流が
高速に変化すると、非常に大きな電圧降下を起す。した
がって、大電流高速スイッチング用の回路では、回路内
部に不要タインダクタンスを持たせないようにすること
が必須である。
ド静電誘導トランジスタ(13sIT ) 等の半導体
デバイスにより、大電流の高速度スイッチングが可能に
なってきている。たとえば、S I T hyであれば
、数10OAのスイッチングが、1μsec程度で行な
われており、B S I Tであれば数10OAのスイ
ッチングが数10μ灘で行えている。ところで、細いリ
ード線だと、1cTL当り5〜10nH程度のインダク
タンスを持ってしまう。インダクタンスLとすると、電
流元が時間変化するときにLの両端に現われる電圧降下
vdは、 となる。tは時間である。たとえば、L=20nHと5
して500Aの電流が、0.1psecの時間でオン、
オフすると、その時のVdは、100vになる。すなわ
ち、たとえ小さなインダクタンスであっても、大電流が
高速に変化すると、非常に大きな電圧降下を起す。した
がって、大電流高速スイッチング用の回路では、回路内
部に不要タインダクタンスを持たせないようにすること
が必須である。
一方、高速、高周波大電流用回路では、所望の動作を安
定に実現するために、取り扱っている高周波電力P。′
uもの10〜30倍程度の容量のコンデンサを回路内に
持たせることになる。たとえば、100 kWの高周波
電力を発生する回路内テハ、たとえば1000 KVA
カラ8000’KVA程度のコンデンサを持たせるわ
けである。したがって、回路(装置)内に多量のコンデ
ンサが配置されるわけである。従来の大電力用コンテ゛
ンサの形状の概略を、第1図に示す。容量を構成する主
要部はケース11中におさめられていて、端子12.1
3が上面に設けられている。耐圧を向上させる場合には
、コンデンサの電極間の絶縁物の厚さを厚くすると同時
に、端子には碍子が設けられる。
定に実現するために、取り扱っている高周波電力P。′
uもの10〜30倍程度の容量のコンデンサを回路内に
持たせることになる。たとえば、100 kWの高周波
電力を発生する回路内テハ、たとえば1000 KVA
カラ8000’KVA程度のコンデンサを持たせるわ
けである。したがって、回路(装置)内に多量のコンデ
ンサが配置されるわけである。従来の大電力用コンテ゛
ンサの形状の概略を、第1図に示す。容量を構成する主
要部はケース11中におさめられていて、端子12.1
3が上面に設けられている。耐圧を向上させる場合には
、コンデンサの電極間の絶縁物の厚さを厚くすると同時
に、端子には碍子が設けられる。
このような形状のコンデンサを大電流高速スイッチング
回路に用いると、たとえ端子部のところまで幅の広い銅
板で配線しても、コンデンサの端子部が細くなっている
ために電流が細くしぼられて流れることになって、イン
ダクタンスが生じてくるわけである。実質的12: t
a流が十分に拡がって流れるのでなければ、スイソヂン
グ速度の速い電流波形、電圧波形は得られない。
回路に用いると、たとえ端子部のところまで幅の広い銅
板で配線しても、コンデンサの端子部が細くなっている
ために電流が細くしぼられて流れることになって、イン
ダクタンスが生じてくるわけである。実質的12: t
a流が十分に拡がって流れるのでなければ、スイソヂン
グ速度の速い電流波形、電圧波形は得られない。
本発明の目的は、大電流高速スイッチング、あるいは大
電流高周波電力を得ることのできる装置に適した高周波
大電流用コンデンサを提供することである。
電流高周波電力を得ることのできる装置に適した高周波
大電流用コンデンサを提供することである。
以下図面を参照しながら本発明を説明する。
第2図及び@3図は、本発明のコンデンサの概観図を示
す。第2図、第3図で、21はコンデンサを内包するケ
ースであり、22.23は端子である。この場合、ケー
ス21は絶縁物で構成されている。あるいは少な(とも
、22.23が短絡しないように、一部は絶縁物になさ
れている。第2図、第3図から分るように、端子22.
23は、第1図とは異なり、コンデンサの一端の全面を
使って構成されている。第2図では、略々矩形状に形成
されたコンデンサの両端の平面に略々平行に端子電極2
2.23が□設けられている。端子電極22.23はコ
ンデンサケース21より、さらに外側につき出た部分を
含んでおり、その部分にねじどめができるように穴が設
けられている。この例では4個の穴が設けられている。
す。第2図、第3図で、21はコンデンサを内包するケ
ースであり、22.23は端子である。この場合、ケー
ス21は絶縁物で構成されている。あるいは少な(とも
、22.23が短絡しないように、一部は絶縁物になさ
れている。第2図、第3図から分るように、端子22.
23は、第1図とは異なり、コンデンサの一端の全面を
使って構成されている。第2図では、略々矩形状に形成
されたコンデンサの両端の平面に略々平行に端子電極2
2.23が□設けられている。端子電極22.23はコ
ンデンサケース21より、さらに外側につき出た部分を
含んでおり、その部分にねじどめができるように穴が設
けられている。この例では4個の穴が設けられている。
この例では、コンデンサを外部回路に接続するねじ大の
ある部分が片側にだけ突き出ているが、外部回路との接
着性をよくするためには、ねじ穴を持った電極を反対側
にも突き出しておくとよい。
ある部分が片側にだけ突き出ているが、外部回路との接
着性をよくするためには、ねじ穴を持った電極を反対側
にも突き出しておくとよい。
第3図では、コンデンサ両端部に平行に設けられた電極
が、上下方向に折り曲げられた構造になって、外に吠き
出ている。この部分に外部回路との接続を容易にするた
めのねじ穴が設けられている。もちろん、外部回路との
接続を半田付けで行う場合tとは、必ずしもねじ穴は必
要ではない。第3図で、端子電極上下方向に曲げる位置
が、コンデンサケースの端面に沿っている必要はない。
が、上下方向に折り曲げられた構造になって、外に吠き
出ている。この部分に外部回路との接続を容易にするた
めのねじ穴が設けられている。もちろん、外部回路との
接続を半田付けで行う場合tとは、必ずしもねじ穴は必
要ではない。第3図で、端子電極上下方向に曲げる位置
が、コンデンサケースの端面に沿っている必要はない。
コンデンサの両端の端子全面に略々沿う形状に端子電極
が設けられていることがポイントである。同時に、コン
デンサの形状も、たてり5、よこし7、高さり、の寸法
のうち、L、がもっとも長く構成されることが望ましい
。
が設けられていることがポイントである。同時に、コン
デンサの形状も、たてり5、よこし7、高さり、の寸法
のうち、L、がもっとも長く構成されることが望ましい
。
装置内に、本発明のコンデンサを配Inするときには、
高周波電流やパルス電流の流れる方向に対して% L
+の方向が垂直になるように配置する0 ケース内に収容されるコンデンサの形状について次に述
べておく。
高周波電流やパルス電流の流れる方向に対して% L
+の方向が垂直になるように配置する0 ケース内に収容されるコンデンサの形状について次に述
べておく。
第4図に、本発明のコンデンサを構成する一興体例を示
す。31.83は薄い絶縁′体フィルムである。82.
84はそれぞれ絶縁体フィルム81.38上に蒸着ある
いはスパッタなどによりて設けられたアルミニウム(A
J)等の金属膜である。金属膜32は、フィルム31の
左端側面にも付着しているが、31の右端側にはういて
いない。34は逆で、フィルム33の右端側面上には設
けられているが、左端側には設けられていない。金属膜
の厚さは、通常絶縁体フィルムより薄くなされている。
す。31.83は薄い絶縁′体フィルムである。82.
84はそれぞれ絶縁体フィルム81.38上に蒸着ある
いはスパッタなどによりて設けられたアルミニウム(A
J)等の金属膜である。金属膜32は、フィルム31の
左端側面にも付着しているが、31の右端側にはういて
いない。34は逆で、フィルム33の右端側面上には設
けられているが、左端側には設けられていない。金属膜
の厚さは、通常絶縁体フィルムより薄くなされている。
1μm程度から数μmの厚さに設計される。絶縁体フィ
ルムの厚さdは、必要とする耐圧から決定する。フィル
ムの絶縁破壊電界Ea(V/m)とすると、d>N B というように設胴する。v6は所望の耐圧である。たと
えば、E8−1000KV/CTLであるとスレば、耐
圧1000 V、アルイハ7ooOVを必要とするとき
は、フィルム厚さdはそれぞれ10μ!n、70μm以
上にする。絶縁体フィルム強度は、当然のことながら、
抵抗率比誘電率及び絶縁破壊強度ができるだけ高く、高
周波での損失ができるtごけ小さく、かつ機械的強度が
強くて、高温に耐えるものが望ましい。ポリイミドフィ
ルムなどが優れているわけである。ポリエチレンフィル
ム、ポリスチレンフィルム、ポリエステルフィルムなど
が使われる。
ルムの厚さdは、必要とする耐圧から決定する。フィル
ムの絶縁破壊電界Ea(V/m)とすると、d>N B というように設胴する。v6は所望の耐圧である。たと
えば、E8−1000KV/CTLであるとスレば、耐
圧1000 V、アルイハ7ooOVを必要とするとき
は、フィルム厚さdはそれぞれ10μ!n、70μm以
上にする。絶縁体フィルム強度は、当然のことながら、
抵抗率比誘電率及び絶縁破壊強度ができるだけ高く、高
周波での損失ができるtごけ小さく、かつ機械的強度が
強くて、高温に耐えるものが望ましい。ポリイミドフィ
ルムなどが優れているわけである。ポリエチレンフィル
ム、ポリスチレンフィルム、ポリエステルフィルムなど
が使われる。
第4図に示されるように、片面に金属膜が設けられた絶
縁体フィルムの帯を、フィルムと同じ幅L4の薄い絶縁
体のスペーサに連続的に巻きつける。スペーサは、通常
第2因や第3図のようにLlを長く構成するためにフィ
ルムの幅L4より奥行きの長いものにする。たとえば、
フィルムの幅L4が10(mのものを、1間厚さのスペ
ーサに、略々1cfrL厚さ巻きつけたとする(全体の
厚さは略々21’ mmになる)。スペーサの奥行き2
01 、絶縁体フィルムs1、s、sの厚さ50μm1
比誘電率5としたときの容量は、略々7μFになる。す
なわち、L、中22cm。
縁体フィルムの帯を、フィルムと同じ幅L4の薄い絶縁
体のスペーサに連続的に巻きつける。スペーサは、通常
第2因や第3図のようにLlを長く構成するためにフィ
ルムの幅L4より奥行きの長いものにする。たとえば、
フィルムの幅L4が10(mのものを、1間厚さのスペ
ーサに、略々1cfrL厚さ巻きつけたとする(全体の
厚さは略々21’ mmになる)。スペーサの奥行き2
01 、絶縁体フィルムs1、s、sの厚さ50μm1
比誘電率5としたときの容量は、略々7μFになる。す
なわち、L、中22cm。
L、中22 Cm、 Ll* 10 CIrL程度の大
きさのコンデンサで、耐圧5000 V程度、容量7μ
Fのコンデンサが形成される。所望の厚さに巻かれたコ
ンデンサは、内部に、外気が侵入して湿度のために耐圧
か低下しないように密封される。端子電極は、低溶点半
田などを使って接着される。
きさのコンデンサで、耐圧5000 V程度、容量7μ
Fのコンデンサが形成される。所望の厚さに巻かれたコ
ンデンサは、内部に、外気が侵入して湿度のために耐圧
か低下しないように密封される。端子電極は、低溶点半
田などを使って接着される。
第4図に示すようをこフィルムの側面にも、アルミニウ
ムなどの金属膜が設けられているから、端子電極の接着
は容易である。
ムなどの金属膜が設けられているから、端子電極の接着
は容易である。
たとえば、第4図のように絶縁体フィルム左右側面に端
子電極との接着を容易にする金属膜が設けられたものを
、絶縁物のスペーサ(その幅はフィルムの幅と一致させ
ておく方が、端子電極の接着が容易になる)を中心にし
て所要の長さ巻き終った後に、その左右をこ端子電極を
半田付けなど接着するわけである。もちろん、端子電極
の接続の仕方は、各種の方法があるわけであるが、半田
付けで接着する場合には、第5図に示すように、コンデ
ンサ本体と接着する端子電極の部分に、細長いスリット
を設けておくと接着し易い。第5図で、25と□示され
15部分である。ここでは概略図であるため、8本のス
リットを示したが、これ+i使用する一半田の種類や、
コンデンサの大きさに従って、スリ2ツトの幅およびそ
の本数は適宜きめればよい。24はねし穴である。第5
図は、かなり大型のコンデンサの場合に用いられる構造
であり、端子電極が両側に突き出ていて、両側で装置に
ねし止めできるようになっている。第2図、第3図の構
造も同様に、このようにスリン1−を入れることができ
る。コンデンサ本体と接着させる部分の端子電極に入れ
るスリットの方向は、装置に装着されたとき、高周波電
流がスリットの長手方向に沿って流れるような向きにす
る。すなわち、スリットを横切って電流が流れないよう
に構成する。通常の場合は、端子電極を突き出す方向と
同一方向にスリットを入れることが有効である。第5図
に示すようなスリットに限らず、矩形5円形、橢円形の
穴を聞けることでも、端子電極の接着は容易になる。
子電極との接着を容易にする金属膜が設けられたものを
、絶縁物のスペーサ(その幅はフィルムの幅と一致させ
ておく方が、端子電極の接着が容易になる)を中心にし
て所要の長さ巻き終った後に、その左右をこ端子電極を
半田付けなど接着するわけである。もちろん、端子電極
の接続の仕方は、各種の方法があるわけであるが、半田
付けで接着する場合には、第5図に示すように、コンデ
ンサ本体と接着する端子電極の部分に、細長いスリット
を設けておくと接着し易い。第5図で、25と□示され
15部分である。ここでは概略図であるため、8本のス
リットを示したが、これ+i使用する一半田の種類や、
コンデンサの大きさに従って、スリ2ツトの幅およびそ
の本数は適宜きめればよい。24はねし穴である。第5
図は、かなり大型のコンデンサの場合に用いられる構造
であり、端子電極が両側に突き出ていて、両側で装置に
ねし止めできるようになっている。第2図、第3図の構
造も同様に、このようにスリン1−を入れることができ
る。コンデンサ本体と接着させる部分の端子電極に入れ
るスリットの方向は、装置に装着されたとき、高周波電
流がスリットの長手方向に沿って流れるような向きにす
る。すなわち、スリットを横切って電流が流れないよう
に構成する。通常の場合は、端子電極を突き出す方向と
同一方向にスリットを入れることが有効である。第5図
に示すようなスリットに限らず、矩形5円形、橢円形の
穴を聞けることでも、端子電極の接着は容易になる。
第2.3.5図で、端子電極は、コンテ゛ンサケースの
大きさと同じ幅を持つよう(こ描も)てあ ゛るが
、必ずしもこうする必要はなL″1゜大型のコンデンサ
になツ1こ場合などは、端子電極を、コンデンサ本体の
ケースに機械的Gこ固定することなども必要になる。所
望の耐圧、所望の容Biこぶって、絶縁体フィルムの厚
さ、スペーサの大きさ、巻数を決、定する。第4図Gと
示すような高分子フィルム上へのAI!などのス/f
7り+、t、i在力技術では、きわめて速くかつ高速を
こ力〉つ均一に行なわれる。
大きさと同じ幅を持つよう(こ描も)てあ ゛るが
、必ずしもこうする必要はなL″1゜大型のコンデンサ
になツ1こ場合などは、端子電極を、コンデンサ本体の
ケースに機械的Gこ固定することなども必要になる。所
望の耐圧、所望の容Biこぶって、絶縁体フィルムの厚
さ、スペーサの大きさ、巻数を決、定する。第4図Gと
示すような高分子フィルム上へのAI!などのス/f
7り+、t、i在力技術では、きわめて速くかつ高速を
こ力〉つ均一に行なわれる。
本発明のコンデンサを、大電流の高速スイ・ノチング回
路に適用した例について述へる。第6図に、高速スイソ
チンク評価回路の一例を示す。
路に適用した例について述へる。第6図に、高速スイソ
チンク評価回路の一例を示す。
CI・・・・・・Cフはコンデンサ、R1・・・・・・
R,、Rg。
R,、Rg。
RL 、 R= +i 抵抗、Vp + 、 V、p−
1vn + s Vn t sVaは電源である。V
i nは、負の入力/クルレスである。T、はPIV[
08FET、T、はn M OS F E T 。
1vn + s Vn t sVaは電源である。V
i nは、負の入力/クルレスである。T、はPIV[
08FET、T、はn M OS F E T 。
T、はtことえば大電流高速スイ・ノチンクの行えるB
SITである。O8Cとあるのは、オシロスコープ測定
端子である。VinがoVQ)ときは、n M OS
F E T T lは導通状態にあり、p M OS
F E T T−は遮断状態にある。すなわちBSIT
T、のゲートに負電圧(Vn + −VLI+n )
が加わっていて、BSITは遮断状1ルにある。
SITである。O8Cとあるのは、オシロスコープ測定
端子である。VinがoVQ)ときは、n M OS
F E T T lは導通状態にあり、p M OS
F E T T−は遮断状態にある。すなわちBSIT
T、のゲートに負電圧(Vn + −VLI+n )
が加わっていて、BSITは遮断状1ルにある。
V t IN nはnMO8FETの閾値電圧である。
Vinが負電圧になると、T、は遮断し、′rsが導通
する。BSITOケートには正電圧が印加されて、BS
ITは導通する。BS工T84断するためには、Vin
eOVに戻−4tばヨ++’ 。Vll +、Vll
、+;i ソtLぞれ、T、、T、の闇値電圧を考慮し
て、BSITが、遮断状態、導通状態になるように設定
する。
する。BSITOケートには正電圧が印加されて、BS
ITは導通する。BS工T84断するためには、Vin
eOVに戻−4tばヨ++’ 。Vll +、Vll
、+;i ソtLぞれ、T、、T、の闇値電圧を考慮し
て、BSITが、遮断状態、導通状態になるように設定
する。
vP=(’)値ハ、少、fl < トモ、vp +、、
、+ Vl、hp ヨt)高くする。V t l+ p
は、T、の闇値電圧である。入力パルスを、50Ωの電
源から供給する場合には、R,十R,、R,−4−Rj
ヲ略々50Ω程度ニナルよウニ−j 、7+。R′/R
1、/R,の値と入力パルス電圧の値で、T8、T、に
加わるゲート電に値を決める。Rgは、ゲートに流れる
一流を□測定するための抵抗であり、0.01〜0.0
2Ω程度にしである。これはゲートに流れる電流と、v
nl、及びオシロの感度などから決める。Riは、負荷
RLを流れる電流を測定するための抵抗であり、たとえ
ばo、oiΩとする。Rは負荷である。大電流が流れる
通路は、BSIT T。
、+ Vl、hp ヨt)高くする。V t l+ p
は、T、の闇値電圧である。入力パルスを、50Ωの電
源から供給する場合には、R,十R,、R,−4−Rj
ヲ略々50Ω程度ニナルよウニ−j 、7+。R′/R
1、/R,の値と入力パルス電圧の値で、T8、T、に
加わるゲート電に値を決める。Rgは、ゲートに流れる
一流を□測定するための抵抗であり、0.01〜0.0
2Ω程度にしである。これはゲートに流れる電流と、v
nl、及びオシロの感度などから決める。Riは、負荷
RLを流れる電流を測定するための抵抗であり、たとえ
ばo、oiΩとする。Rは負荷である。大電流が流れる
通路は、BSIT T。
が導通状態にある時のT、 −RL−C,−’Riであ
り、BSITが遮断される時のT、のゲーh Rg−
Tビくβである。したがって、C8とC2に本発明のト
ランジスタを使用する。800V、 100Aの高速ス
イッチングを行なった時の各素子の値は、たとえば以下
のようなものである。
り、BSITが遮断される時のT、のゲーh Rg−
Tビくβである。したがって、C8とC2に本発明のト
ランジスタを使用する。800V、 100Aの高速ス
イッチングを行なった時の各素子の値は、たとえば以下
のようなものである。
CI=Cj= loμF
c、=c、= 3oμF
Cグー50μF、C,=100μF
C、= 300μF
R,、=R,=QΩ
Rt=R,=5QΩ
Rg = 0.02Ω、Ri = 0−01ΩR’==
BΩ である。Cマは、第5図の形状の本発明のコンデンサで
、L+−256rrL 、 Lt =56nL 、 L
s ”= 5crrL。
BΩ である。Cマは、第5図の形状の本発明のコンデンサで
、L+−256rrL 、 Lt =56nL 、 L
s ”= 5crrL。
絶縁体フィルムの厚さ10μmのもの、2個並列に用い
た。
た。
第7図に、第6図の回路のうち高速大電流が流れるT’
、−RL−C,−Riの部分の立体構成図を示す。4
mm厚さの絶縁板の両面に70μm厚さの銅膜が全面に
設けられた板51,52を2枚用いて構成している。5
1.52の側面に銅膜は設けられていない。52の上面
の所定の個所の銅膜を除去し、RL(58)、C−(5
4)、Ri(55)を接続する。56はBSITであり
、その一部が描かれている。57は、!3 S I T
のソース電極、58はドレイン電極である。BSITが
のせられている51の一部は、実際にはくり抜かれてい
て、薄い絶縁体を介して放熱フィン(描かれていない)
につながっている。59は、52のソース電極部電位と
51の左下方表面の電位を共通電位とするための接続用
の幅の広い銅の薄板である。点、点が描かれている6o
の部分は、51の表面の銅膜が除去された部分を意味す
る。実際には、左下方に、ゲートドライブ用回路がくる
わけであるが、ここでは簡単のために描いてない。51
の下面はBSITのソース電極電位と同電位に設定され
ている。51の右上方側面は、薄い銅板により上下面間
が接続されている。51.52の幅は、略々50cnL
である。第5図に示されるコンデンサで電極が両側に突
き出た構造のものが、2個並列に銅板61.62に接続
されている。RL(’58)、Ri555)%インダク
タンスを減少させるために板状の抵抗を用いている。こ
こでは、1個の抵抗として描いであるが、もちろん複数
個並列でもよい。負荷Rは、電力消費が大きいので、コ
ンデンサと同じように構成し、銅板63.64に接続し
ている。BSITのソース電極から流れ出す電流は、R
人(55)、C丁(54)、RL(53)、BSITの
トレイン電極へと幅広く流れ、電流が細(しぼられると
ころがない。−きわめて、インダクタンスの少ない回路
構成になっている。電源の負電極端子は52の下面の銅
膜に接続され、正電極端子は、負荷抵抗58とコンデン
サ54の間の、52表面の銅膜に接続されている。nz
源端子からの配線も、幅の広い薄い銅板で作られている
。電源内部の平滑回路のコンデンサも本発明のコンデン
サにより構成されている。この回路構成によって実際に
得られるスイッチング波形を第8図に示す。100Aを
流す時の電流利得hreは30、その時のオン電圧は0
.6■である。くり返し、250KHzの周波数で、
800V、 100Aのスイッチングを行なったとき
の、ゲート電圧、ドレイン電圧、ドレイン電流波形が示
されている。ターンオンなっている。逆ケニトバイアス
がOVのときのストレージ時間600nsec、ターン
オフ時間100fi Secである。逆ゲートバイアス
を、−1ovにすれば、ストレージ時間は、200nr
、c以下になる。この動作時の、高周波電力は4kW程
度、効率は97%を越えている。この回路で、コンデン
サをさらに多段に積むなどすれば、1000A程度まで
のスイッチングが行える。1000 A程度のスイッチ
ングを、略々50(1”lllの幅の回路で行う時には
、51.52の両面に設けられる銅膜の厚さを500μ
m程度にする。銅の中を流れる電流密度を300〜50
0A/m程度に設定するためである。
、−RL−C,−Riの部分の立体構成図を示す。4
mm厚さの絶縁板の両面に70μm厚さの銅膜が全面に
設けられた板51,52を2枚用いて構成している。5
1.52の側面に銅膜は設けられていない。52の上面
の所定の個所の銅膜を除去し、RL(58)、C−(5
4)、Ri(55)を接続する。56はBSITであり
、その一部が描かれている。57は、!3 S I T
のソース電極、58はドレイン電極である。BSITが
のせられている51の一部は、実際にはくり抜かれてい
て、薄い絶縁体を介して放熱フィン(描かれていない)
につながっている。59は、52のソース電極部電位と
51の左下方表面の電位を共通電位とするための接続用
の幅の広い銅の薄板である。点、点が描かれている6o
の部分は、51の表面の銅膜が除去された部分を意味す
る。実際には、左下方に、ゲートドライブ用回路がくる
わけであるが、ここでは簡単のために描いてない。51
の下面はBSITのソース電極電位と同電位に設定され
ている。51の右上方側面は、薄い銅板により上下面間
が接続されている。51.52の幅は、略々50cnL
である。第5図に示されるコンデンサで電極が両側に突
き出た構造のものが、2個並列に銅板61.62に接続
されている。RL(’58)、Ri555)%インダク
タンスを減少させるために板状の抵抗を用いている。こ
こでは、1個の抵抗として描いであるが、もちろん複数
個並列でもよい。負荷Rは、電力消費が大きいので、コ
ンデンサと同じように構成し、銅板63.64に接続し
ている。BSITのソース電極から流れ出す電流は、R
人(55)、C丁(54)、RL(53)、BSITの
トレイン電極へと幅広く流れ、電流が細(しぼられると
ころがない。−きわめて、インダクタンスの少ない回路
構成になっている。電源の負電極端子は52の下面の銅
膜に接続され、正電極端子は、負荷抵抗58とコンデン
サ54の間の、52表面の銅膜に接続されている。nz
源端子からの配線も、幅の広い薄い銅板で作られている
。電源内部の平滑回路のコンデンサも本発明のコンデン
サにより構成されている。この回路構成によって実際に
得られるスイッチング波形を第8図に示す。100Aを
流す時の電流利得hreは30、その時のオン電圧は0
.6■である。くり返し、250KHzの周波数で、
800V、 100Aのスイッチングを行なったとき
の、ゲート電圧、ドレイン電圧、ドレイン電流波形が示
されている。ターンオンなっている。逆ケニトバイアス
がOVのときのストレージ時間600nsec、ターン
オフ時間100fi Secである。逆ゲートバイアス
を、−1ovにすれば、ストレージ時間は、200nr
、c以下になる。この動作時の、高周波電力は4kW程
度、効率は97%を越えている。この回路で、コンデン
サをさらに多段に積むなどすれば、1000A程度まで
のスイッチングが行える。1000 A程度のスイッチ
ングを、略々50(1”lllの幅の回路で行う時には
、51.52の両面に設けられる銅膜の厚さを500μ
m程度にする。銅の中を流れる電流密度を300〜50
0A/m程度に設定するためである。
ドレイン電圧Vd、 ドレイン電流Id1 オン電圧
Von、ターンオン時間’ron、ターンオフ時間To
rfとしたときの、高周波電力Prf 、オン状態損失
pOn、スイッチング損失P s wは、近似的に以下
のように与えられる。
Von、ターンオン時間’ron、ターンオフ時間To
rfとしたときの、高周波電力Prf 、オン状態損失
pOn、スイッチング損失P s wは、近似的に以下
のように与えられる。
Prr−=’ VdId
P(111出11d Von
Psw中1 干VdId (Ton +Toff )に
の回路を、第1図のような従来のコンデンサで構成する
と、第8図のようなスイッチング速度の速い波形はまっ
たく得られない。本発明のように、端子電極が板状に、
コンデンサの両端面にほぼ平行もしくは、垂直に設けら
れた構造チングiよ得られない。すなわち、高速スイッ
チング電流が烹い領域にしぼられることなく、広く拡が
って流れる回路構成が可能だからである。
と、第8図のようなスイッチング速度の速い波形はまっ
たく得られない。本発明のように、端子電極が板状に、
コンデンサの両端面にほぼ平行もしくは、垂直に設けら
れた構造チングiよ得られない。すなわち、高速スイッ
チング電流が烹い領域にしぼられることなく、広く拡が
って流れる回路構成が可能だからである。
本発明のコンデンサの外観形状が、第2図、第3図及び
第5図のものに限られないことはもちろんである。矩形
状だけでなく、楕円状、円筒状その他、目的に合った構
造に構成すればよい。ただ、多数個並列に並べるときに
は、直方体形状に構成されている方が、一定体積内に多
数のコンデンサを並べられる。いずれにしても、コンデ
ンサの端子電極を相対向する両端から取り出し、両端面
に平行かもしくは垂直に出しておけばよいのである。コ
ンデンサの容量、耐圧等は任意に設計でき、小さなもの
から大きなものまで、製作できる。
第5図のものに限られないことはもちろんである。矩形
状だけでなく、楕円状、円筒状その他、目的に合った構
造に構成すればよい。ただ、多数個並列に並べるときに
は、直方体形状に構成されている方が、一定体積内に多
数のコンデンサを並べられる。いずれにしても、コンデ
ンサの端子電極を相対向する両端から取り出し、両端面
に平行かもしくは垂直に出しておけばよいのである。コ
ンデンサの容量、耐圧等は任意に設計でき、小さなもの
から大きなものまで、製作できる。
大電力の分野で、あるいは通常各家庭や小規模の産業上
の利用分野においても、トランス、コンデンサ、インダ
クタンス等の回路部品を小型・軽量イ腎し、かつ、効、
率を良くして行くために、数10KHz以上の高速スイ
ッチング回路がきわめて有効である。たとえば、50
Hzで使われるトランスと、10KH7で使われるトラ
ンスであれば、同じ電力を扱・っても、その重量は1/
10以下に軽くでき□る。インダクタンスも同じである
。しかも、そ、のスイッチング周波数は可聴周波数以上
に設定、されることが望ましい。
の利用分野においても、トランス、コンデンサ、インダ
クタンス等の回路部品を小型・軽量イ腎し、かつ、効、
率を良くして行くために、数10KHz以上の高速スイ
ッチング回路がきわめて有効である。たとえば、50
Hzで使われるトランスと、10KH7で使われるトラ
ンスであれば、同じ電力を扱・っても、その重量は1/
10以下に軽くでき□る。インダクタンスも同じである
。しかも、そ、のスイッチング周波数は可聴周波数以上
に設定、されることが望ましい。
人間に不快な音が聞え゛ないからである。高周波大電力
スイッチング回路は、今後非常に大きな分野に発展する
。その時、本発明のコンデンサはきわめて有効であり、
その工業的価値は高い。
スイッチング回路は、今後非常に大きな分野に発展する
。その時、本発明のコンデンサはきわめて有効であり、
その工業的価値は高い。
第1図は従来のコンデンサの形状を示す図、第2図及び
第3図は本発明のコンデンサの概観図、第4図はコンデ
ンサの構成要素、第5図は本発明のコンデンサ、第6図
は高速大電流スイ□ ソチング回路、第7図は高速大電流スイッチング回路の
立体構成図、簗8図は動作時のゲート電圧、ドレイン電
圧、ドレイン電流波形である。 特許出願人 館2図 、3図 絡4図 第5rm 手 続 補 正 店 1事件の表示 昭和57年特LしF願第175964
号 2発明の名称 高周波用コンデンサ及び高周波用回路 3補正を覆る晋 事イ11との関係 特R1出願人 住 所 宮城県仙台市川内(番地、’、* シ’ )
5補正の対中 「明細書の発明の詳細な説明の 欄」 6補正の内容 別紙のとおり (補正の対象の欄に記載しlご事項以外は内容に変更な
し) 全文訂正明細書 1、発明の名称 高周波用コンデンサ及び高周波用回路 2、特許請求の範囲 (1) 相対向する両端面に板状の端子金属、WI極
が設けられ、前記平板状端子金属電極が前記両端面に平
行もしくは垂直に外部に向って突き出た部分を有するこ
とを特徴とする高周波用コンデンサ。 (2) 相対向する両端面に平板状の端子金、属電極
が設けられ、前記平板状端子金属電極が前記両端面に平
行もしくは垂直に外部に向って突き出た部分も有した高
周波用コンデンサを一部に含み、かつ流れる高周波電流
が前記平板状端子金属電極が外部に向って突き出た方向
に沿って流れるべく前記高周波用コンデンサを配置し、
インダクタンス、1−ランス以外の部分の高周波電流が
流れる電流通路の幅が、回路内に配置される半導体デバ
イスのいずれの電極幅よりも広く構成されたことを特徴
とする高周波1f1目酪。゛ 3、発明の詳細な説明 本発明は、大電流が高速度でスイッチングすを用いた回
路に関する。 静電誘導サイリスタ(SITby)、バイポーラモード
静電誘導サイリスタ(’BSIT)等の半導体デバイス
により、大電流の高速度スイッチングが可能・になって
きている。たとえば、5IThy、であれば、数10O
Aのスイッチングが。 1μ式程゛度で行□、なわれており、BSI’Tであれ
ば数10OAのスイッチングが数1.’On seeで
行えている。・と、ころで1.細いリード線だと、’1
crfL当り5〜10”11!ツゆ。イ、、、つ2.ユ
や持、、−C1,よう。インダクタンスLとすると、電
流iが時間変化するときにLの両端に現われる電圧降下
vdは、 V =L旦 at となる。Lは時間である。たとえば、L=20nHとし
て500Aの電流が、0.1μ減の時間でオン、オフす
ると、その時のvdは、100Vになる。すなわち、た
とえ小さなインダクタンスであっても、大電流が高速に
変化すると、非常に大きな電圧降下を起す。したがって
、大電流、 高速スイッチング用の回路では1回路内
部に不要なインダクタンスを持たせないようにすること
が必須である。 一方、高速、高周波大電流用回路では、所望の動作を安
定に実現するために、取り扱っている高周波電力P。u
Lの10〜30倍程度の容量のコンデンサを回路内に持
たせることになる。たとえば、IQOkWO高周波電力
を発生する回路内”r ハ、タトエば1000kvAか
ら3000kv八程度のコンデンサを持たせるわけであ
る。したがって、回路(装置)内に多量のコンデンサが
配置されるわけである。従来の大電力用コンデンサの形
状の概略を、第1図に示す。容量を構成する主要部はケ
ース11中におさめられていて、端子12.13が上面
に設けられている。耐圧を向上させる場合には、コンデ
ンサの電極間の絶縁物の厚さを厚くすると同時に、端子
には碍子が設けられる。 このような形状のコンデンサを大電流高速スイッチング
回路に用いると、たとえ端子部のところまで幅の広い銅
板で配線しても、コンデンサの端子部が細くなっている
ために電流が細くしぼられて流れることになって、イン
タフタンスが生じてくるわけである。実質的に電流が十
分に拡がって流れるのでなければ、スイッチング速度の
速い電流波形、電圧波形は得られない。 本発明の目的は、大電流高速スイッチング、あるいは大
電流高周波電力を得ることのできる装置に適した高周波
大電流用コンデンサ及びそれを用いた回路を提供するこ
とである。 以下図面を参照しながら本発明を説明する。 第2図及び第3図は、本発明のコンデンサの概観図を示
す。第2図、第3図で、21はコンデンサを内包するケ
ースであり、22.23 は端子である。この場合、ケ
ース21は絶縁物で構成されている。あるいは少なくと
も、22.28が短絡しないように、一部は絶縁物にな
されている。第2図、第3図から分るように、端子22
.28は、第1図とは異なり、コンデンサの一端の全面
を使って構成されている。第2図では、略々矩形状に形
成されたコンデンサの両端の平面に略々平行に端子電極
22% 23が設けられている。端子電極22% 23
はコンデンサケース21より、さらに外側につき出た部
分を含んでおり、その部分にねじどめができるように穴
が設けられている。この例では4個の穴が設けられてい
る。この例では、コンテ′ンサを外部回路に接続するね
じ穴のある部分が片側にだけ突き出ているが、外部回路
との接着性をよくするためには、ねじ穴を持った電極を
反対側にも突き出しておくとよい。 第3図では、コンデンサ両端部に平行に設けられた電極
が、上下方向に折り曲げられた構造になって、外に突き
出ている。この部分に外部回路との接続を容易にするた
めのねし穴が設けられている。もちろん、外部回路との
接続を半田付、けで行う場合には、必ずしもねし穴は必
要ではない。第3図で、端子電極上下方向に曲げる位置
が、コンデンサケースの端面に沿っている必要はない。 コンデンサの両端の端子全面に略々沿う形状に端子電極
が設けられていることがポイントである。装置を構成す
るさいに、組みたて易い構造であればよい。たとえば、
電極22.28を端面中心に沿って上下方向に突き出さ
せてもよいわけである。同時に、コンデンサの形状も、
たてり、、よこし2、高さり、の寸法のうち、L、がも
っとも長く構成されることが望ましい。装置内に、本発
明のコンデンサを配置するときには、高周波電流やパル
ス電流の流れる方向に対して%L1の方向が垂直になる
ように配置する。 ・ケース内に収容されるコンデンサの形状について次に
述べておく。 第4図に1本発明のコンデンサを構成する−具体例を示
す。31.33は薄い絶縁体フィルムである。32.8
4はそれぞれ絶縁体フィルム81.88上に蒸着あるい
はスパッタなどによって設けられたアルミニウム(Ae
)等の金属膜である。金属膜32は、フィルム31の左
端側面にも付着しているが、31の右端側にはついてい
ない。34は逆で、フィノ1ム33の右端側面上には設
けられているが、左端側には設けられていない。金属膜
の厚さは、通常絶縁体フィルムより薄くなされている。 1μm程度から数μmの厚さに設計される。絶縁体フィ
ルムの厚さく1は、必要とする耐圧から決定する。フィ
ルムの絶縁破壊電界EB(V/crrL)とすると、と
いうように設計する。VBは所望の耐圧である。たとえ
ば、E B= 1000 k、V/Q’! テするとす
れば、耐圧1000v、アルイハ70()OVヲ必要と
するときは、フィルム厚さくlはそれぞれ10μm、7
0μm以上にする。絶縁体フィルム強度は、当然のこと
ながら、抵抗率、比誘電率及び絶縁破壊強度ができるt
ごけ高く、高周波での損失ができるだけ小さく、かつ機
械的強度が強くて、高温に耐えるものが望ましい。ポリ
イミドフィルムなどが優れているわけである。ポリエチ
レンフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリエステルフ
ィルムなどが使われる。 第4図に示されるように、片面に金属膜が設けられtこ
絶縁体フィルムの帯を、フィルムと同じ幅L4の薄い絶
縁体のスペーサに連続的に巻きつける。スペーサは1通
常第2図や第3図のようにり、を長く構成するためにフ
ィルムの幅L4より奥行きの長いものにする。たとえば
、フィルムの幅L4が10CrfLOものを、1mm厚
さのスペーサに、略々1crrL厚さ巻きつけたとする
(全体の厚さは略々21罷になる)。スペーサの奥行き
20 cm 、絶縁体フィルム81.88の厚さ50μ
m、比誘電率5としたときの容量は、略々7μFになる
。すなわち、LI中22 crn 。 L、中2.1CIIL’、 Ll中10cm程度の大き
さく7) コンデンサで、耐圧5000V程度、容量7
μFのコンデンサが形成される。所望の厚さに巻かれた
コンデンサは、内部に、外気が侵入して湿度のために耐
圧が低下しないように密封される。端子電極は、低溶点
半田などを使って接着される。 第4図に示すようにフィルムの側面にも、アルミニウム
などの金属膜が設けられているから、端子電極の接着は
容易である。半田付けで端子電極との接続を行う時には
、A7?の上に半H3が容易な金属をさらにスパッタ等
でイ」けておけばよい。 たとえば、第4図のように絶縁体フィルム左右側面に端
子電極との接着を容易にする金属膜が設けられたものを
、絶縁物のスペーサ(その幅はフィルムの幅と一致させ
ておく方が、端子電極の接着が容易になる)を中心にし
て所要の子電極の接続の仕方は、各種の方法があるわけ
であるが、半田付けで接着する場合には、第5図に示す
ように、コンデンサ本体と接着する端子電−の部分に、
細長いスリ・7トを設けておくと接着し易い。−5図で
、25と示された部分である。ここでは概略図であるた
め、8木のスリットを示したが、これは使用する半田の
種類や、コンデンサの大きさに従って、スリットの幅お
よびその本数は適宜、きめればよい。24はねし穴であ
る。第5図は、かなり大型のコンデンサの場合に用いら
れる構造であり、端子電極が両端面に平行に両側に突き
出ていて、両側で装置にねじ止めできるようになってい
る。第2図、第3図の構造も同様に、このようにスリッ
トを入れることができる。コンデンサ本体と接着させる
部分の端子電極に入れるスリ71−の方向は、装置に装
着されtコとき、高周波電流がスリットの長手方向に沿
って流れるような向きにする。すなわち、スリットを横
切って電流が流れないように構成する。通常の場合は、
端子電極を突き出す方向と同一方向にスリットを入れる
ことが有効である。第5図に示すようなスリノドに限ら
ず、矩形、円形、橢円形の穴を開けることでも、端子電
極の接着は容易になる。 第2.3.5図で、端子電極は、コンデンサケースの大
きさと同じ幅を持つように描いてあ゛るが、必ずしもこ
うする必要はない。大型のコンデンサになった場合など
は、端子電極を、コンデンサ本体のケースに機械的に固
定することなども必要になる。所望の耐圧、所望の容量
によって、絶縁体フィルムの厚さ、スペーサの大きさ、
巻数を決定する。第4図に示す、1:うな高分子フィル
ム上へのAIなどのスバンタは、墨在の技術ては、
゛ 高速にかつ有−に行なわれる。コンデンサ
の容蹴部の構成層絶縁フィルムに金属被膜を何けたもの
について述べてきたが、本発明の端子電極の構造はその
他のものにも、もちろん有効である。 本発明のコンデンサを、大電流の高速スイッチング回路
に適用した例について述べる。第6図に、高速スイッチ
ング評価回路の一例を示す。 C1・・・・・・C7はコンデンサ、R,・・・―・・
R,、Rg。 RL、Riは抵抗、Vpt 、 Vpt %Vn+、V
n r、Vaは電源である。Vinは、負の入力パル
スである□TsはpMO8FET、TIはn MOS
F E T 。 T1はたとえば大電流高速スイッチングの行えるBSI
Tである。O8Cとあるのは、オシロスコープ測定端子
である。V i nがOVのときは、nMO3FETT
=は導通状態にあり、pMO8FETT、は遮断状態に
ある。すなわちBSIT T、のケートに負電圧Vn+
が加わっていて、BSITは遮断状態にある。V t
IlnはnMO8F’ETの閾値電圧である。Vinが
負電圧になると、T2は遮断し、T、が導通する。BS
ITのゲートには正電圧が印加されて、BSITは導通
する。BSITを遮断するためには、Vinj、20V
に戻せばよい。 Vnl、vplはそれぞれ、T、、T、の閾値電圧を考
慮して、BSITが、遮断状態、導通状態になるように
設定する。vp、の値は、少なくとも、Vp 、 −1
−V L h p ヨり高<スル。VtJpハ、Ts
ノ閾値電圧である。入力パルスを、50Ωの電源から供
給する場合には、R;4−R+、RgiR* を略々
50Ω程度になるようにする。R,/R,、R,/ R
,の値と入力パルス電圧の値で、T1、T、に加わるゲ
ート電圧値を決める。Rgiよ、ゲートに流れる電流を
測定するための抵抗であり、0.01〜0.02Ω程度
にしである。これはゲートに流れる電流と、Vnl、及
びオシロの感度などから決める。Riは、負荷RLを流
れる電流を測定するための抵抗であり、たとえば0.0
1Ωとする。RLは負荷である。大電流が流れる通路は
、BSIT T、が導通状態にある時のTI−RL−C
,−Riであり、BSITが遮断される時のT、のゲー
ト−Rg−T、−C,である。したがって、C8とC0
に本発明のトランジスタを使用する。もちろん、他のコ
ンデンサ部に本発明0)コンデンサを用いてよいことは
もちろんである。 第6図の回路で、Rg% RLが設けられているのは、
グー1〜電流、ドレイン電流を正確番と測定するためで
あって、実際の装置に組むときは、まったく必要ない。 また、MO8FET駆動用に4個の独立な電源vp、、
Vp I、 Vn 、、Vnlが描かれているが、これ
もBSl、TT、の性能を細かく評価するためにのり必
要なのであって、実際の装置に組むとき導は、4個の独
立電源を必要とするわけでは、ない。その他、BSIT
T、の高速スイッチング性を十分に生かすための回路
パラメータは、次のように決定する。 R*Cgp<71 R4Cgn < ’l: − (R,、l、+ 、、R,、、) 、 C雪)7(R,
+、R,) C,)r ここで、7.はpMO8T、のターンオン時間、TIは
・nMO8T=のターンオン時間、■はパルス幅cgp
はpMO8T、のゲート容i、Cgnはn M OST
、のゲート容量である。800 V 、 100 A
の高速スイッチングを行なった時の各素子の値は、た・
とえば以下のようなものである。 CI= C−、= 10μF Ct=C4=80μF C,=50μF 、 C@= 100ItFC,:l
: 500μF R,= R,ニ〇Ω R,= R,=50Ω Rg = 0.02Ω、 Ri = 0.01ΩRL
= 8Ω である。CTは、第5図の形状の本発明のコンデンサで
、L+ == 25 cnL%L+−50m、 、 L
m ”” 5 Cm。 絶縁体フィルムの厚さ10μmのもの、2個並列に用い
た。 第7図に、第6図の回路のうち高速大電流が流れるT
I−RL −C−−R+の部分の立体構成図を示す。4
mm厚さの絶縁板の両面に70 /1Zffl厚さの
銅膜が全面に設けられた板51.52を2枚用いて構成
している。51.52の側面に銅膜は設けられていない
。52の上面の所定の個所の銅膜を除去し、RL(58
)、 CT(54)、Ri(55)を接続する。56は
BSTTであり、その一部が描かれている。57は、B
SITのソース電極、58はドレイン電極である。BS
ITがのせられている51の一部は、実際にはくり抜か
れていて、薄い絶縁体を介して放熱フィン(描かれてい
ない)につながっている。59は、52のソース電極部
電位と51の左下方表面の電位を共通電位とするための
接続用の幅の広い銅の薄板である。点、点が描かれてい
る60の部分は、51の表面の銅膜が除去された部分を
意味する。実際には、左下方に、ゲートドライブ用回路
がくるわけであるが、ここでは簡単のために描いてない
。51の下面はBSITのソース電極電位と同電位に設
定されている。52の右上方側面は、薄い銅板により上
下面間が接続されている。51.52の幅は、略々50
cIILである。52裏面銅膜及び51表面の銅膜が互
いに接触しながら、BSITのドレイン電極58の電流
を負荷抵抗RLに導いている。第5図に示されるコンデ
ンサで電極が両側に突き出た構造のものが、2個並列に
銅板61..62に接続されている。RL (53)
、Ri (55)もインダクタンスを減少させるために
板状の抵抗を用いている。ここでは、1個の抵抗として
描いであるが、もちろん複数個並列でもよい。負荷RL
は。 電力消費が大きいので、コンデンサと同じように構−成
し、銅板68.64に接続している。 BSITのソース電極から流れ出す電流は、R1(55
)、CT(54)、Rt (58)、BSITのドレイ
ン電極へと幅広く流れ、電流が細くしぼられるところが
ない。きわめて、インダクタンスの少ない回路構成にな
っている。電源Vaの負電極端子は52の下面の銅膜も
しくは51表面のソース電極近傍に接続され、正電極端
□子は、負荷抵抗53とコンデンサ54の間の、52表
面の銅膜に接続されている。wl源端子からの配線も、
幅の広い薄い銅板で作られている。電源内部の平滑回路
のコンデンサも本発明のコンデンサにより構成されてい
る。 第7図の実体回路は、概略図であるから、−見BSIT
の横幅より薄い銅板59の方が幅が狭く見えるが、実際
には銅板59の幅の方が広い。 BSITのドレイン電極の長さは8cInに対し、59
の幅は15CrrL程度である。高速スイッチングを行
う半導体デバイスのパッケージは、第7図に示されるよ
うに幅の広い電極になるように構成することが重要であ
る。デバイスのパッケージ部に細い電極部があると、そ
の場所で電流通路が細く絞られインダクタンスによる電
圧降下を生じて高速スイッチング波形は得られなくなる
。 ゲート駆動回路部も、第7図と同様に、特にBSITを
遮断する時に高速大電流が流れる部分は、電流が細く絞
り込まれることのないように、構成する。本回路構造で
は、高周波電流が流れる部分でもっとも細くなるのはデ
バイスのパッケージ部分においてである。回路内にイン
ダクタンスや、トランスを組み込む場合にも、インダク
タンス、トランスの巻線はなるべく幅の広いもので構成
するが、インダクタンス、トランスに限っては、デバイ
スのパッケージ電極幅より狭いもので構成する場合があ
る。 本発明のコンデンサを筑7図のように実際の回路にねじ
止めで組み込む時には、銅板61゜62とコンデンサの
W!、8iiが全面で十分に接続されるように、やわら
かいクッションメタル板を間にはさむことが有効である
。クッションメタル板は、薄いAJI’の板や、銅の細
線で構成されたメタル板などが有効である。この回路構
成によって実際に得られるスイッチング波形を第8図に
示す。1oOAを流す時の電流利得1+ r eは30
、その時のオン電圧は0.6 Vである。くり返し、2
50kHz(1)周波数テ、 800 V 、 10
0 Aのスイッチングを行なったときの、ゲート電圧、
ドレイン電圧、ドレイン電流波形が示されてる。ターン
オン時間90 Tl sec%ターノフ時間n5cc、
ストレージ時間800nsccである。BSI’I’の
ゲートは、ターンオフ時−5vまで逆バイアスするよう
になっている。逆ゲートバイアスがOVのときの、スト
レージ時間600nsec、ターンオフ時間100 n
5ecである。逆ゲートバイアスを、−10V+cすれ
ば、ストレージ時間は。 200nsec以下になる。この動作時の、高周波m力
は41(W程度、効率は97%を越えている。 この回路で、コンデンサをさらに多段に積むなどすれば
、100OA程度までのスイッチングが行える。100
0 A程度のスイッチングを、略々50CnLの幅の回
路で行う時には、51.52の両面に設けられる銅膜の
厚さを500μm程度にする。銅の中を流れる電流密度
を3oO〜500A/d程度に設定するためである。 ドレイン電圧Vd、 ドレイン電流Id、オン電圧V
On、ターンオン時間Ton、ターンオフ時間Toff
としたときの、高周波電力Prf、オン状態損失Pon
、スイッチング損失Pswは、近似的に以下のように
与えられる。 Pon −!; −IdVon Psw −= ’ fVdId (Ton + Tof
f )に の回路を、第1図のような従来のコンデンサで構成する
と、第8図のようなスイッチング速度の速い波形はまっ
たく得られない。′本発明のように、端子電極が板状に
、コンデンサの両端面にほぼ平行もしくは、垂直に設け
られた構造のコンデンサでなければ、大電流の高速スイ
ッチングは得られない。すなわち、高速スイッチング電
流が狭い領域にしぼられることなく、広く拡がって流れ
る回路構成が可能だからである。 ここで説明した実施例では、現在大電流領域でもっとも
高速のスイッチングが行えるBSII”について述べた
が、5IThyでも、またノくイポーラ1、ランジスタ
MO8FET%GTO等の半導体デバイスにも適用でき
ることはいうまでもない。 本発明のコンデンサの外観形状が、第2図。 第3図及び第5図のものに限られt、fいことはもちろ
んである。矩形状だけでなく、楕円状、円筒状その他、
目的に合った構造に構成すればよい。ただ1、多数個並
列に並べるときには、直方体形状に構成されている方が
、一定体積内に多数のコンデンサを並べられる。いずれ
にしても、コンデンサの端子電極を相対向する両端から
取り出し、両端面に平行かもしくは匝直に出して よお
けばよいのである。コンデンサの容量、耐圧等は任意に
設計でき、小さなものから大きなものまで製作できる。 大電力の分野で、あるいは通常各家庭や小規模の産業上
の利用分野においても、トランス。 コンデンサ、インダクタンス等の回路部品を小型・軽量
化し、かつ効率を良くして行くために、数10kHz以
上の高速スイッチング回路がきわめて有効である。たと
えば、50Hzで使われるトランスと、10kHzで使
われるトランスであれば、同じ電力を扱っても、その重
量は1/10以下に軽くできる。インダクタンスも同じ
である。しかも、そのスイッチング周波数は可聴周波数
以上に設定されることが望ましい。 人間に不快な音が聞えないからである。高周波大電カス
イツチング回、路は、今後非常に大きな分野に発展する
。その時、本発明のコンデンサ及びそれを用いた回路は
きわめて有効であり、その工業的価値は高い。 1 図面の簡単な説明 第1図は従来のコンデンサの形状を示す図、第2図及び
第3図は本発明のコンデンサの概観図、第4図はコンテ
′ンサの構成要素、M5図は本発明のコンデンサ、第6
図は高速大電流スインチング回路、第7図は高速大電流
スイッチング回路の立体構成図、第8図は動作時のゲー
ト電圧、ドレイン電圧、ドレイン電流波形である。 特許出願人
第3図は本発明のコンデンサの概観図、第4図はコンデ
ンサの構成要素、第5図は本発明のコンデンサ、第6図
は高速大電流スイ□ ソチング回路、第7図は高速大電流スイッチング回路の
立体構成図、簗8図は動作時のゲート電圧、ドレイン電
圧、ドレイン電流波形である。 特許出願人 館2図 、3図 絡4図 第5rm 手 続 補 正 店 1事件の表示 昭和57年特LしF願第175964
号 2発明の名称 高周波用コンデンサ及び高周波用回路 3補正を覆る晋 事イ11との関係 特R1出願人 住 所 宮城県仙台市川内(番地、’、* シ’ )
5補正の対中 「明細書の発明の詳細な説明の 欄」 6補正の内容 別紙のとおり (補正の対象の欄に記載しlご事項以外は内容に変更な
し) 全文訂正明細書 1、発明の名称 高周波用コンデンサ及び高周波用回路 2、特許請求の範囲 (1) 相対向する両端面に板状の端子金属、WI極
が設けられ、前記平板状端子金属電極が前記両端面に平
行もしくは垂直に外部に向って突き出た部分を有するこ
とを特徴とする高周波用コンデンサ。 (2) 相対向する両端面に平板状の端子金、属電極
が設けられ、前記平板状端子金属電極が前記両端面に平
行もしくは垂直に外部に向って突き出た部分も有した高
周波用コンデンサを一部に含み、かつ流れる高周波電流
が前記平板状端子金属電極が外部に向って突き出た方向
に沿って流れるべく前記高周波用コンデンサを配置し、
インダクタンス、1−ランス以外の部分の高周波電流が
流れる電流通路の幅が、回路内に配置される半導体デバ
イスのいずれの電極幅よりも広く構成されたことを特徴
とする高周波1f1目酪。゛ 3、発明の詳細な説明 本発明は、大電流が高速度でスイッチングすを用いた回
路に関する。 静電誘導サイリスタ(SITby)、バイポーラモード
静電誘導サイリスタ(’BSIT)等の半導体デバイス
により、大電流の高速度スイッチングが可能・になって
きている。たとえば、5IThy、であれば、数10O
Aのスイッチングが。 1μ式程゛度で行□、なわれており、BSI’Tであれ
ば数10OAのスイッチングが数1.’On seeで
行えている。・と、ころで1.細いリード線だと、’1
crfL当り5〜10”11!ツゆ。イ、、、つ2.ユ
や持、、−C1,よう。インダクタンスLとすると、電
流iが時間変化するときにLの両端に現われる電圧降下
vdは、 V =L旦 at となる。Lは時間である。たとえば、L=20nHとし
て500Aの電流が、0.1μ減の時間でオン、オフす
ると、その時のvdは、100Vになる。すなわち、た
とえ小さなインダクタンスであっても、大電流が高速に
変化すると、非常に大きな電圧降下を起す。したがって
、大電流、 高速スイッチング用の回路では1回路内
部に不要なインダクタンスを持たせないようにすること
が必須である。 一方、高速、高周波大電流用回路では、所望の動作を安
定に実現するために、取り扱っている高周波電力P。u
Lの10〜30倍程度の容量のコンデンサを回路内に持
たせることになる。たとえば、IQOkWO高周波電力
を発生する回路内”r ハ、タトエば1000kvAか
ら3000kv八程度のコンデンサを持たせるわけであ
る。したがって、回路(装置)内に多量のコンデンサが
配置されるわけである。従来の大電力用コンデンサの形
状の概略を、第1図に示す。容量を構成する主要部はケ
ース11中におさめられていて、端子12.13が上面
に設けられている。耐圧を向上させる場合には、コンデ
ンサの電極間の絶縁物の厚さを厚くすると同時に、端子
には碍子が設けられる。 このような形状のコンデンサを大電流高速スイッチング
回路に用いると、たとえ端子部のところまで幅の広い銅
板で配線しても、コンデンサの端子部が細くなっている
ために電流が細くしぼられて流れることになって、イン
タフタンスが生じてくるわけである。実質的に電流が十
分に拡がって流れるのでなければ、スイッチング速度の
速い電流波形、電圧波形は得られない。 本発明の目的は、大電流高速スイッチング、あるいは大
電流高周波電力を得ることのできる装置に適した高周波
大電流用コンデンサ及びそれを用いた回路を提供するこ
とである。 以下図面を参照しながら本発明を説明する。 第2図及び第3図は、本発明のコンデンサの概観図を示
す。第2図、第3図で、21はコンデンサを内包するケ
ースであり、22.23 は端子である。この場合、ケ
ース21は絶縁物で構成されている。あるいは少なくと
も、22.28が短絡しないように、一部は絶縁物にな
されている。第2図、第3図から分るように、端子22
.28は、第1図とは異なり、コンデンサの一端の全面
を使って構成されている。第2図では、略々矩形状に形
成されたコンデンサの両端の平面に略々平行に端子電極
22% 23が設けられている。端子電極22% 23
はコンデンサケース21より、さらに外側につき出た部
分を含んでおり、その部分にねじどめができるように穴
が設けられている。この例では4個の穴が設けられてい
る。この例では、コンテ′ンサを外部回路に接続するね
じ穴のある部分が片側にだけ突き出ているが、外部回路
との接着性をよくするためには、ねじ穴を持った電極を
反対側にも突き出しておくとよい。 第3図では、コンデンサ両端部に平行に設けられた電極
が、上下方向に折り曲げられた構造になって、外に突き
出ている。この部分に外部回路との接続を容易にするた
めのねし穴が設けられている。もちろん、外部回路との
接続を半田付、けで行う場合には、必ずしもねし穴は必
要ではない。第3図で、端子電極上下方向に曲げる位置
が、コンデンサケースの端面に沿っている必要はない。 コンデンサの両端の端子全面に略々沿う形状に端子電極
が設けられていることがポイントである。装置を構成す
るさいに、組みたて易い構造であればよい。たとえば、
電極22.28を端面中心に沿って上下方向に突き出さ
せてもよいわけである。同時に、コンデンサの形状も、
たてり、、よこし2、高さり、の寸法のうち、L、がも
っとも長く構成されることが望ましい。装置内に、本発
明のコンデンサを配置するときには、高周波電流やパル
ス電流の流れる方向に対して%L1の方向が垂直になる
ように配置する。 ・ケース内に収容されるコンデンサの形状について次に
述べておく。 第4図に1本発明のコンデンサを構成する−具体例を示
す。31.33は薄い絶縁体フィルムである。32.8
4はそれぞれ絶縁体フィルム81.88上に蒸着あるい
はスパッタなどによって設けられたアルミニウム(Ae
)等の金属膜である。金属膜32は、フィルム31の左
端側面にも付着しているが、31の右端側にはついてい
ない。34は逆で、フィノ1ム33の右端側面上には設
けられているが、左端側には設けられていない。金属膜
の厚さは、通常絶縁体フィルムより薄くなされている。 1μm程度から数μmの厚さに設計される。絶縁体フィ
ルムの厚さく1は、必要とする耐圧から決定する。フィ
ルムの絶縁破壊電界EB(V/crrL)とすると、と
いうように設計する。VBは所望の耐圧である。たとえ
ば、E B= 1000 k、V/Q’! テするとす
れば、耐圧1000v、アルイハ70()OVヲ必要と
するときは、フィルム厚さくlはそれぞれ10μm、7
0μm以上にする。絶縁体フィルム強度は、当然のこと
ながら、抵抗率、比誘電率及び絶縁破壊強度ができるt
ごけ高く、高周波での損失ができるだけ小さく、かつ機
械的強度が強くて、高温に耐えるものが望ましい。ポリ
イミドフィルムなどが優れているわけである。ポリエチ
レンフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリエステルフ
ィルムなどが使われる。 第4図に示されるように、片面に金属膜が設けられtこ
絶縁体フィルムの帯を、フィルムと同じ幅L4の薄い絶
縁体のスペーサに連続的に巻きつける。スペーサは1通
常第2図や第3図のようにり、を長く構成するためにフ
ィルムの幅L4より奥行きの長いものにする。たとえば
、フィルムの幅L4が10CrfLOものを、1mm厚
さのスペーサに、略々1crrL厚さ巻きつけたとする
(全体の厚さは略々21罷になる)。スペーサの奥行き
20 cm 、絶縁体フィルム81.88の厚さ50μ
m、比誘電率5としたときの容量は、略々7μFになる
。すなわち、LI中22 crn 。 L、中2.1CIIL’、 Ll中10cm程度の大き
さく7) コンデンサで、耐圧5000V程度、容量7
μFのコンデンサが形成される。所望の厚さに巻かれた
コンデンサは、内部に、外気が侵入して湿度のために耐
圧が低下しないように密封される。端子電極は、低溶点
半田などを使って接着される。 第4図に示すようにフィルムの側面にも、アルミニウム
などの金属膜が設けられているから、端子電極の接着は
容易である。半田付けで端子電極との接続を行う時には
、A7?の上に半H3が容易な金属をさらにスパッタ等
でイ」けておけばよい。 たとえば、第4図のように絶縁体フィルム左右側面に端
子電極との接着を容易にする金属膜が設けられたものを
、絶縁物のスペーサ(その幅はフィルムの幅と一致させ
ておく方が、端子電極の接着が容易になる)を中心にし
て所要の子電極の接続の仕方は、各種の方法があるわけ
であるが、半田付けで接着する場合には、第5図に示す
ように、コンデンサ本体と接着する端子電−の部分に、
細長いスリ・7トを設けておくと接着し易い。−5図で
、25と示された部分である。ここでは概略図であるた
め、8木のスリットを示したが、これは使用する半田の
種類や、コンデンサの大きさに従って、スリットの幅お
よびその本数は適宜、きめればよい。24はねし穴であ
る。第5図は、かなり大型のコンデンサの場合に用いら
れる構造であり、端子電極が両端面に平行に両側に突き
出ていて、両側で装置にねじ止めできるようになってい
る。第2図、第3図の構造も同様に、このようにスリッ
トを入れることができる。コンデンサ本体と接着させる
部分の端子電極に入れるスリ71−の方向は、装置に装
着されtコとき、高周波電流がスリットの長手方向に沿
って流れるような向きにする。すなわち、スリットを横
切って電流が流れないように構成する。通常の場合は、
端子電極を突き出す方向と同一方向にスリットを入れる
ことが有効である。第5図に示すようなスリノドに限ら
ず、矩形、円形、橢円形の穴を開けることでも、端子電
極の接着は容易になる。 第2.3.5図で、端子電極は、コンデンサケースの大
きさと同じ幅を持つように描いてあ゛るが、必ずしもこ
うする必要はない。大型のコンデンサになった場合など
は、端子電極を、コンデンサ本体のケースに機械的に固
定することなども必要になる。所望の耐圧、所望の容量
によって、絶縁体フィルムの厚さ、スペーサの大きさ、
巻数を決定する。第4図に示す、1:うな高分子フィル
ム上へのAIなどのスバンタは、墨在の技術ては、
゛ 高速にかつ有−に行なわれる。コンデンサ
の容蹴部の構成層絶縁フィルムに金属被膜を何けたもの
について述べてきたが、本発明の端子電極の構造はその
他のものにも、もちろん有効である。 本発明のコンデンサを、大電流の高速スイッチング回路
に適用した例について述べる。第6図に、高速スイッチ
ング評価回路の一例を示す。 C1・・・・・・C7はコンデンサ、R,・・・―・・
R,、Rg。 RL、Riは抵抗、Vpt 、 Vpt %Vn+、V
n r、Vaは電源である。Vinは、負の入力パル
スである□TsはpMO8FET、TIはn MOS
F E T 。 T1はたとえば大電流高速スイッチングの行えるBSI
Tである。O8Cとあるのは、オシロスコープ測定端子
である。V i nがOVのときは、nMO3FETT
=は導通状態にあり、pMO8FETT、は遮断状態に
ある。すなわちBSIT T、のケートに負電圧Vn+
が加わっていて、BSITは遮断状態にある。V t
IlnはnMO8F’ETの閾値電圧である。Vinが
負電圧になると、T2は遮断し、T、が導通する。BS
ITのゲートには正電圧が印加されて、BSITは導通
する。BSITを遮断するためには、Vinj、20V
に戻せばよい。 Vnl、vplはそれぞれ、T、、T、の閾値電圧を考
慮して、BSITが、遮断状態、導通状態になるように
設定する。vp、の値は、少なくとも、Vp 、 −1
−V L h p ヨり高<スル。VtJpハ、Ts
ノ閾値電圧である。入力パルスを、50Ωの電源から供
給する場合には、R;4−R+、RgiR* を略々
50Ω程度になるようにする。R,/R,、R,/ R
,の値と入力パルス電圧の値で、T1、T、に加わるゲ
ート電圧値を決める。Rgiよ、ゲートに流れる電流を
測定するための抵抗であり、0.01〜0.02Ω程度
にしである。これはゲートに流れる電流と、Vnl、及
びオシロの感度などから決める。Riは、負荷RLを流
れる電流を測定するための抵抗であり、たとえば0.0
1Ωとする。RLは負荷である。大電流が流れる通路は
、BSIT T、が導通状態にある時のTI−RL−C
,−Riであり、BSITが遮断される時のT、のゲー
ト−Rg−T、−C,である。したがって、C8とC0
に本発明のトランジスタを使用する。もちろん、他のコ
ンデンサ部に本発明0)コンデンサを用いてよいことは
もちろんである。 第6図の回路で、Rg% RLが設けられているのは、
グー1〜電流、ドレイン電流を正確番と測定するためで
あって、実際の装置に組むときは、まったく必要ない。 また、MO8FET駆動用に4個の独立な電源vp、、
Vp I、 Vn 、、Vnlが描かれているが、これ
もBSl、TT、の性能を細かく評価するためにのり必
要なのであって、実際の装置に組むとき導は、4個の独
立電源を必要とするわけでは、ない。その他、BSIT
T、の高速スイッチング性を十分に生かすための回路
パラメータは、次のように決定する。 R*Cgp<71 R4Cgn < ’l: − (R,、l、+ 、、R,、、) 、 C雪)7(R,
+、R,) C,)r ここで、7.はpMO8T、のターンオン時間、TIは
・nMO8T=のターンオン時間、■はパルス幅cgp
はpMO8T、のゲート容i、Cgnはn M OST
、のゲート容量である。800 V 、 100 A
の高速スイッチングを行なった時の各素子の値は、た・
とえば以下のようなものである。 CI= C−、= 10μF Ct=C4=80μF C,=50μF 、 C@= 100ItFC,:l
: 500μF R,= R,ニ〇Ω R,= R,=50Ω Rg = 0.02Ω、 Ri = 0.01ΩRL
= 8Ω である。CTは、第5図の形状の本発明のコンデンサで
、L+ == 25 cnL%L+−50m、 、 L
m ”” 5 Cm。 絶縁体フィルムの厚さ10μmのもの、2個並列に用い
た。 第7図に、第6図の回路のうち高速大電流が流れるT
I−RL −C−−R+の部分の立体構成図を示す。4
mm厚さの絶縁板の両面に70 /1Zffl厚さの
銅膜が全面に設けられた板51.52を2枚用いて構成
している。51.52の側面に銅膜は設けられていない
。52の上面の所定の個所の銅膜を除去し、RL(58
)、 CT(54)、Ri(55)を接続する。56は
BSTTであり、その一部が描かれている。57は、B
SITのソース電極、58はドレイン電極である。BS
ITがのせられている51の一部は、実際にはくり抜か
れていて、薄い絶縁体を介して放熱フィン(描かれてい
ない)につながっている。59は、52のソース電極部
電位と51の左下方表面の電位を共通電位とするための
接続用の幅の広い銅の薄板である。点、点が描かれてい
る60の部分は、51の表面の銅膜が除去された部分を
意味する。実際には、左下方に、ゲートドライブ用回路
がくるわけであるが、ここでは簡単のために描いてない
。51の下面はBSITのソース電極電位と同電位に設
定されている。52の右上方側面は、薄い銅板により上
下面間が接続されている。51.52の幅は、略々50
cIILである。52裏面銅膜及び51表面の銅膜が互
いに接触しながら、BSITのドレイン電極58の電流
を負荷抵抗RLに導いている。第5図に示されるコンデ
ンサで電極が両側に突き出た構造のものが、2個並列に
銅板61..62に接続されている。RL (53)
、Ri (55)もインダクタンスを減少させるために
板状の抵抗を用いている。ここでは、1個の抵抗として
描いであるが、もちろん複数個並列でもよい。負荷RL
は。 電力消費が大きいので、コンデンサと同じように構−成
し、銅板68.64に接続している。 BSITのソース電極から流れ出す電流は、R1(55
)、CT(54)、Rt (58)、BSITのドレイ
ン電極へと幅広く流れ、電流が細くしぼられるところが
ない。きわめて、インダクタンスの少ない回路構成にな
っている。電源Vaの負電極端子は52の下面の銅膜も
しくは51表面のソース電極近傍に接続され、正電極端
□子は、負荷抵抗53とコンデンサ54の間の、52表
面の銅膜に接続されている。wl源端子からの配線も、
幅の広い薄い銅板で作られている。電源内部の平滑回路
のコンデンサも本発明のコンデンサにより構成されてい
る。 第7図の実体回路は、概略図であるから、−見BSIT
の横幅より薄い銅板59の方が幅が狭く見えるが、実際
には銅板59の幅の方が広い。 BSITのドレイン電極の長さは8cInに対し、59
の幅は15CrrL程度である。高速スイッチングを行
う半導体デバイスのパッケージは、第7図に示されるよ
うに幅の広い電極になるように構成することが重要であ
る。デバイスのパッケージ部に細い電極部があると、そ
の場所で電流通路が細く絞られインダクタンスによる電
圧降下を生じて高速スイッチング波形は得られなくなる
。 ゲート駆動回路部も、第7図と同様に、特にBSITを
遮断する時に高速大電流が流れる部分は、電流が細く絞
り込まれることのないように、構成する。本回路構造で
は、高周波電流が流れる部分でもっとも細くなるのはデ
バイスのパッケージ部分においてである。回路内にイン
ダクタンスや、トランスを組み込む場合にも、インダク
タンス、トランスの巻線はなるべく幅の広いもので構成
するが、インダクタンス、トランスに限っては、デバイ
スのパッケージ電極幅より狭いもので構成する場合があ
る。 本発明のコンデンサを筑7図のように実際の回路にねじ
止めで組み込む時には、銅板61゜62とコンデンサの
W!、8iiが全面で十分に接続されるように、やわら
かいクッションメタル板を間にはさむことが有効である
。クッションメタル板は、薄いAJI’の板や、銅の細
線で構成されたメタル板などが有効である。この回路構
成によって実際に得られるスイッチング波形を第8図に
示す。1oOAを流す時の電流利得1+ r eは30
、その時のオン電圧は0.6 Vである。くり返し、2
50kHz(1)周波数テ、 800 V 、 10
0 Aのスイッチングを行なったときの、ゲート電圧、
ドレイン電圧、ドレイン電流波形が示されてる。ターン
オン時間90 Tl sec%ターノフ時間n5cc、
ストレージ時間800nsccである。BSI’I’の
ゲートは、ターンオフ時−5vまで逆バイアスするよう
になっている。逆ゲートバイアスがOVのときの、スト
レージ時間600nsec、ターンオフ時間100 n
5ecである。逆ゲートバイアスを、−10V+cすれ
ば、ストレージ時間は。 200nsec以下になる。この動作時の、高周波m力
は41(W程度、効率は97%を越えている。 この回路で、コンデンサをさらに多段に積むなどすれば
、100OA程度までのスイッチングが行える。100
0 A程度のスイッチングを、略々50CnLの幅の回
路で行う時には、51.52の両面に設けられる銅膜の
厚さを500μm程度にする。銅の中を流れる電流密度
を3oO〜500A/d程度に設定するためである。 ドレイン電圧Vd、 ドレイン電流Id、オン電圧V
On、ターンオン時間Ton、ターンオフ時間Toff
としたときの、高周波電力Prf、オン状態損失Pon
、スイッチング損失Pswは、近似的に以下のように
与えられる。 Pon −!; −IdVon Psw −= ’ fVdId (Ton + Tof
f )に の回路を、第1図のような従来のコンデンサで構成する
と、第8図のようなスイッチング速度の速い波形はまっ
たく得られない。′本発明のように、端子電極が板状に
、コンデンサの両端面にほぼ平行もしくは、垂直に設け
られた構造のコンデンサでなければ、大電流の高速スイ
ッチングは得られない。すなわち、高速スイッチング電
流が狭い領域にしぼられることなく、広く拡がって流れ
る回路構成が可能だからである。 ここで説明した実施例では、現在大電流領域でもっとも
高速のスイッチングが行えるBSII”について述べた
が、5IThyでも、またノくイポーラ1、ランジスタ
MO8FET%GTO等の半導体デバイスにも適用でき
ることはいうまでもない。 本発明のコンデンサの外観形状が、第2図。 第3図及び第5図のものに限られt、fいことはもちろ
んである。矩形状だけでなく、楕円状、円筒状その他、
目的に合った構造に構成すればよい。ただ1、多数個並
列に並べるときには、直方体形状に構成されている方が
、一定体積内に多数のコンデンサを並べられる。いずれ
にしても、コンデンサの端子電極を相対向する両端から
取り出し、両端面に平行かもしくは匝直に出して よお
けばよいのである。コンデンサの容量、耐圧等は任意に
設計でき、小さなものから大きなものまで製作できる。 大電力の分野で、あるいは通常各家庭や小規模の産業上
の利用分野においても、トランス。 コンデンサ、インダクタンス等の回路部品を小型・軽量
化し、かつ効率を良くして行くために、数10kHz以
上の高速スイッチング回路がきわめて有効である。たと
えば、50Hzで使われるトランスと、10kHzで使
われるトランスであれば、同じ電力を扱っても、その重
量は1/10以下に軽くできる。インダクタンスも同じ
である。しかも、そのスイッチング周波数は可聴周波数
以上に設定されることが望ましい。 人間に不快な音が聞えないからである。高周波大電カス
イツチング回、路は、今後非常に大きな分野に発展する
。その時、本発明のコンデンサ及びそれを用いた回路は
きわめて有効であり、その工業的価値は高い。 1 図面の簡単な説明 第1図は従来のコンデンサの形状を示す図、第2図及び
第3図は本発明のコンデンサの概観図、第4図はコンテ
′ンサの構成要素、M5図は本発明のコンデンサ、第6
図は高速大電流スインチング回路、第7図は高速大電流
スイッチング回路の立体構成図、第8図は動作時のゲー
ト電圧、ドレイン電圧、ドレイン電流波形である。 特許出願人
Claims (1)
- 相対向する両端面に板状の端子金属電極が設けられ、前
記端子金属電極が前詰両端面に平行もしくは垂直に外部
に向って突き出た部分を有することを特徴とする高周波
用コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17596482A JPS5965422A (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 高周波大電流回路用コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17596482A JPS5965422A (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 高周波大電流回路用コンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5965422A true JPS5965422A (ja) | 1984-04-13 |
| JPH0370364B2 JPH0370364B2 (ja) | 1991-11-07 |
Family
ID=16005330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17596482A Granted JPS5965422A (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 高周波大電流回路用コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5965422A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7355123B2 (en) | 2003-05-22 | 2008-04-08 | Hirakawa Hewtech Corporation | Foam coaxial cable and method of manufacturing the same |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS494933U (ja) * | 1972-04-14 | 1974-01-17 | ||
| JPS55126631U (ja) * | 1979-02-28 | 1980-09-08 | ||
| JPS56132735U (ja) * | 1980-03-07 | 1981-10-08 |
-
1982
- 1982-10-05 JP JP17596482A patent/JPS5965422A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS494933U (ja) * | 1972-04-14 | 1974-01-17 | ||
| JPS55126631U (ja) * | 1979-02-28 | 1980-09-08 | ||
| JPS56132735U (ja) * | 1980-03-07 | 1981-10-08 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7355123B2 (en) | 2003-05-22 | 2008-04-08 | Hirakawa Hewtech Corporation | Foam coaxial cable and method of manufacturing the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0370364B2 (ja) | 1991-11-07 |
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