JPS5965702A - 多次元測定機 - Google Patents

多次元測定機

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JPS5965702A
JPS5965702A JP17654082A JP17654082A JPS5965702A JP S5965702 A JPS5965702 A JP S5965702A JP 17654082 A JP17654082 A JP 17654082A JP 17654082 A JP17654082 A JP 17654082A JP S5965702 A JPS5965702 A JP S5965702A
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JP
Japan
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measured
measuring
base
movement
axis direction
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Application number
JP17654082A
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Inventor
Hideo Sakata
坂田 秀夫
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5965702A publication Critical patent/JPS5965702A/ja
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B5/012—Contact-making feeler heads therefor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、測定子と被測定物との当接位置から被測定物
の形状や寸法等を求める多次元測定機に関するものであ
る。
一般に、移動体に測定子を二次元方向或いは三次元方向
へ移動可能に取付け、この測尾子をテーブル等にセット
された被測定物に当接させながら被測定物の形状や寸法
等を求める、いわゆる多次元測定機は、二次元或いは三
次元の各軸方向に対応して配設された精密な手ンコーダ
とデータ処理装置とを備える構成によシ複雑形状や大型
物品の検査等が可能なため、広く採用されている。
従来、このような多次元測定機では、自動測定にせよ、
手動測定にせよ全ての測定に際して、常に移動体をテー
ブルに対して二次元方向或いは三次元方向へ移動させな
ければならなかった。
従って、比較的軽量でかつ小型物品や対象測定寸法が小
さい場合でも、慣性の大きい移動体側を移動させなけれ
ばならないため、迅速な測定が期待できない上、オーバ
ーストロークに対する許容範囲の大きな測定子を用いな
ければならなかった。
このようなことから、測定能率の向上や経済的負担の軽
減上の対策が望まれていた。
本発明の目的は、このような従来の欠点を解決すべくな
されたもので、測定能率の向上および経済的負担の軽減
をはかった多次元測定機を提供することにある。
そのため、本発明では、変位検出器に関連する測定子を
被測定物を載置するベーステーブルに対して二次元捷た
は三次元的に移動自在に構成するとともに、ベーステー
ブルに、被測定物を互いに直交する二軸方向へ向って移
動自在に支持する載物台を設け、この載物台の移動変位
置を他の変位検出器によって検出するように構成し、測
定条件によつそ測定子および被測定物のいずれかを選択
的に移動できるようにすることにより、上記目的を達成
しようとするものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は三次元測定機を示している。同図において、略
直方体に形成された石定盤からなるベッド1には、その
上面に互いに直交する3軸のうち2軸方向へ移動可能で
かつ他の1軸を中心として回動可能な載物台100が着
脱自在に載置されているとともに、前後方向(Y軸方向
)のそれぞれの端面に把手2が、幅方向(X軸方向)の
端面に複数の支持軸3を介してY軸方向と平行な案内レ
ール4,5がそれぞれ設けられている。前記両側の案内
レール4,5には、角柱状の支柱7,8がY軸方向へそ
れぞれ移動自在に設けられている。
このうち、一方側の支柱7の内部には、例えば案内レー
ル4の長手方向に沿って設けられた図示しないスケール
の目盛を光学的に読み取り、支柱7のY軸方向への移動
量を検出する変位検出器6が設けられている。
甘た、前記両側の支柱7,8の上部間には、内支柱7,
8の間隔を所定寸法に設定するだめの横部材9.2本の
スライダ案内レール10.11およびスライダ微動レー
ル12がX軸方向へ掛は渡されている。前記スライダ案
内レール10.11には、箱状のスライダ13がX軸方
向へ移動自在に支持されている。スライダ13には、そ
の内部に例えば前記スライダ案内レール11の長手方向
に沿って設けられた図示しないスケールの目盛を光学的
に読み取りスライダ13のX軸方向への移動量を検出す
る変位検出器19が設けられているとともに、前面に角
度計測手段14を介して箱状のスピンドル支持体15が
Y軸線を中心として傾斜可能に支持されている。スピン
ドル支持体15には、スピンドル16がスピンドル支持
体15の回動軸に対して直交する方向へ摺動自在に支持
されているとともに、例えばスピンドル16の長手方向
に沿って設けられた図示しないスケールの目盛を光学的
に読み取りスピンドル16のZ軸方向への移動量を検出
する変位検出器18が設けられている。
ここで、前記スピンドル16は、その下端に測定子17
を有し、前記スピンドル支持体15の傾斜が苓のとき、
Z軸方向へ移動できるように設定されている。
一方、前記載物台100は、第2図に示す如く、前記ベ
ーステーブル1の上面に着脱自在に取付けられた基台1
01と、この基台101.にその幅方向(X軸方向)へ
移動自在に設けられた第1のテーブル102と、この第
1のテーブル102に前記基台101の前後方向(Y軸
方向)へ移動自在に設けられた第2のテーブル103と
、この第2のテーブル103にその第2のテーブル10
3および前記第1のテーブル102の移動方向とそれぞ
れ直交する方向(、Z 4i111方向)の軸線を中心
として回動自在に設けられた第3のテーブル1′04と
から構成されている。
前記基台101には、その前後縁から上方へ向ってやや
立上った前後壁111のそれぞれ内面にガイドブL/−
)112が前後方向へ進退自在に設けられているととも
に、−側端中央から外方へ向って水平に突出した突出部
113の上面に軸受台114が取付けられている。前記
両側のガイドプレート112間には、案内機構115を
介し、て前記第1のテーブル102がX軸方向へ移動自
在に支持されている。案内機構115は、前記前後のガ
イドプレート112のそれぞれ内面に水平方向へ向かっ
てV字状に開口された■溝116と、前記第1のテーブ
ル102の前後面下′部に前記■溝116と対向して開
口された■溝117と、この対向する”’満116,1
17間の対角面に外周面が接するようにリティーナ11
8に回転自在に支持された複数のロー2119とから構
成されている。
リテイーナ118は、前記ガイドプレート112の両端
に取付けられる保持片110によって抜は止めされてい
る。前記ローラ119は、第3図に示す如く、直径に対
して長さかわすかに小さな寸法の短円柱状に形成され、
かつ隣接するものどうしの回動軸が互いに交差するよう
に傾斜して前記リティーナ118に保持されている。1
だ、前記軸受台114には、その内部に止ねじ120に
よって保持されるスリーブ121を介して、前記第1の
テーブル]02をX軸方向へ移動させる送シねじ軸12
2が回転自在に支持されている。前記スリーブ121の
外端には、外周に基線を有する基線盤123が一体的に
形成さnている。また、送りねじ軸122には、その一
端部に前記第1のテーブル102に螺合されるねじ部1
24が、他端部に前記基線盤123とともにマイクロメ
ータヘッド127を構成する目盛盤125がそれぞれ設
けられている。目盛盤125には、その外周面に目盛が
、端面に操作ハンドル126がそれぞれ設けられている
。これにより、輪作ハンドル126の操作により送りね
じ軸122が回動され、前記第1のテーブル102がX
軸方向へ移動された際、その第1のテーブル102のX
軸方向における位置を基線盤1230基線と対応する目
盛盤125の目盛によって読みとることができるように
なっている。
前記第1のテーブル102には、その上部両側面に案内
機構131を介して前記第2のテーブル103がY軸方
向へ移動自在に支持されているとともに、内部にY軸方
向へ沿って案内溝132が、前端縁中央からMiJ方へ
向かって水平に突出した突出部133の上面に軸受台1
34が取付けられている。前記案内機構131は、前記
案内機構115と同様に、第1のテーブル102の両側
面上部に水平方向へ向かってV字状に開口された■溝1
35と、前記第2のテーブル103の両側面に前記■溝
135と対向して設けられたV溝136と、この対向す
る■溝135,136の対角面に外周面が接するように
リティーナ137に回転自在に支持された複数のロー2
138とから構成されている。
1だ、前記軸受台134には、その内部に止めねじ13
9によって保持されるスリーブ140を介して、前記第
2のテーブル103をY軸方向へ向かって移動させる送
シねじ軸141が回転自在に支持されている。前記スリ
ーブ140の外端には外周に基線を有する基線盤142
が一体的に形成されている。また、送りねじ軸141に
は、その一端に前記第2のテーブル103に螺合される
ねじ部143が、他端部に前記基線盤142とともにマ
イクロメータヘッド146を構成する目盛盤144がそ
れぞれ設けられている。目盛盤144には、その外周面
に目盛が、端面に操作ハンドル145がそれぞれ設けら
れている。これによシ、操作ハンドル145の操作によ
り送りねじ軸141が回動され、第2のテーブル103
がY軸方向へ移動された際、その第2のテーブル103
のY軸方向における位置を基勝盤142の基線と対応す
る目盛盤144の目盛から読みとることができるように
なっている。
前記第2のテーブル103には、その両側縁から下方へ
向ってやや突出された両側壁151のそれぞれ内面に前
記V満136を有しかつ左右方向へ進退自在なガイドプ
レート152が、中央下面に前記送りねじ軸141のね
じ部143が螺合されかつ前記第1のテーブル102の
案内溝132に沿って摺動自任々摺動ブロック153が
それぞれ設けられているとともに、上面中央に円部状の
支持台154が設けられている。前h[1ガイドプレー
)152の両端には、リテイーナ137を保持する保持
片155が設けられている。まだ、支持台154には、
その上面に前記第3のテーブル104がZ軸方向の軸線
を中心として水平方向へ回′動自在に叉持嘔れている。
前記第3のテーブル104には、第4図に示す如く、そ
の下面中心から前記支持台154を通って前記第2のテ
ーブル103に回転自在に支持されたシャフト161に
、ウオームホイール162と第3のチー7ブル104の
回動角度を検出し図示しない表示器等に表示させるロー
タリエンコーダ163とがそれぞれ設けられているとと
もに、上面に被数の逆′r字状のワーク取付溝164が
放射状に形成されている。ここにおいて、このロータリ
エンコータ゛163および前記マイクロメータヘッド1
27,146により、他の変位検出器180が構成され
ている。また、前記ウオームホイール162に(d1前
記第3のデープル104をZ軸方向の軸線を中心として
回動させる回動機構165が係脱自在に噛合されるよう
になっている。回動機構165は、第5図および第6図
に示す如く、前記支持台154の周壁から一体的に突出
された外筒166の内部に内筒67が1141I受リン
グ166Aを介して回動自在に嵌挿され、その内筒16
7の偏心位置軸方向に沿って偏心軸168が回動自在に
嵌挿されている。前記内筒167には、外部に突出した
端部にその内筒167を外筒166に対して回動させる
回動アーム169が一体的に設けられている。回動アー
ム169の先端には、前記内筒167が第6図の実線の
状態および反時計方向へ90度回動された鎖線の状態に
おいて、前記外筒166に設けられた係止孔173に係
止されるボルト170が螺合されている。また、前記偏
心1i1i 168には、その−°端部に前記内筒16
7が第6図中反時計方向へ90度回動された状態におい
てウオームホイール162に噛合されるウオームギヤ1
71が、他端部に操作ハンドル172がそれぞれ設けら
れている。
次に、本実施例の作用を説明する。使用開始に当り、載
物台100の第3のテーブル104に、その第3のテー
ブル104のワーク取付溝164に係止される治具等を
利用して被測定物を固定した後、σlす定作業を行う。
測定作業は、測定子17および載物台100のいずれか
一方を測定条件に応じて選択的に移動させ、測定子17
と被測定物の各測定点を11次接触させる。
例えは、被…1j定物の各測定点間の寸法が比較的大き
い賜合にIf:J: 、従来の三次元測定機と同様に測
定子17を移動させる。これには、支柱7,8が案内レ
ール4,5に沿ってY軸方向へ、スライダ13がスライ
ダ案内レール10.11に沿ってX軸方向へ、スピンド
ル16がZ軸方向へ移動可能であるから、スピンドル1
6の下部を把持した状態でスピンドル16を所望方向へ
移動させ、測定子17をX、Y、Z軸方向の所望位jt
へ移動させる。
ここで、測定子17が被測定物に接触すると、その接触
時点における測定子17のX、YおよびZ軸方向の移動
量が変位検出器19,6.18にょシ読み取られた後、
図示しない表示器に表示され、かつプリンタによりプリ
ントアウトされる。
一方、被測定物の各測定点間の寸法が比較的近接してい
る場合には、被測定物側っまシ載物台100を移動させ
る。これには、操作ハンドル126の回動操作により送
りねじ軸122の回転を介して第1のテーブル102を
X軸方向へ、また操作ハンドル145の回動操作により
送りねじ軸141の回転を介して第2のテーブル[03
をY軸方向へそれぞれ移動させ、被測定物の測定点を測
定子17へ向って移動させる。ここで、被測定物が測定
子17に接触したとき、基線盤123の基線と対応する
目盛盤125の目盛から第1のテーブル102のX軸方
向への移動量っまシ被測定物のX軸方向の移動量を、ま
た基線盤142の基線と対応する目盛盤144の目盛か
ら第2のテーブル103のY軸方向への移動量つ捷り被
測定物のY軸方向への移動量をそれぞれ読み取ることが
できるから、この被測定物のXおよびY軸方向への移動
量とぜ]定子17のXおよびY軸方向への移動量とをf
L算すれは、ベーステーブル10基準位置から被測定物
と測定子17とが接した位置捷での絶対距離を求めるこ
とができる。従って、測定点間の寸法が比較的近接し2
ているような場合には、高負荷となる測定子17側を移
動させなくてよいから、つまシ慣性の小さい被測定物側
を微量たけ変位場せればよいから、オーバストローク量
を小さくでき、その結果被測定物や測定子17の破損を
防止できるばかりでなく、迅速な測定を行える。
また、被測定物の複数の面、例えば互いに直交する複数
の而に渡って測定を行う場合でも、被測定物の姿勢を変
化させることによって、測定子17をそれらの面に対向
するように順次移動させなくてもよい。これには、載物
台100の第3のテーブル104を直接まだは回動機構
165を介して回動させ、被測定物の各測定面を測定子
17に順次対向させればよい。回動機構165によって
第;3のテーブル104を回動させるには、ボルト17
0をゆるめて一方の係孔173がら外した後、第6図の
鎖線の位置まで回動させる。すると、外筒166に対し
て内筒167が第6図中反時計方向へ90度回動される
ため、その内筒167の偏心位置に挿通されている偏心
軸168が第5図中下方へ半行移動され、ウオームギヤ
171がウオームホイール162に噛合された状態とな
る。
この状態において、操作ハンドル172を回動操作する
と、ウオームギヤ171およびウオームホイール162
を介して第3のテーブル104がZ軸方向の軸線を中心
として水平方向へ回動される結果、その第3のテーブル
104上にセットされた被測定物の姿勢が変化される。
この除、第3のテーブル104が回動されると、その第
3のテーブル104の回動角度がロータリエンコーダ1
63によって検出され、図示しない表示器されるから、
被測定物の姿勢を所定の角度に正しく変化させることが
できる。
従って、本実施例によれば、移動量が変位検出器6,1
9.18によってそれぞれ検出される測定子17をベー
ステーブル1に対して三次元方向へ移動可能とする一方
、ベーステーブル1に、前記三次元方向のうちXおよび
Y il’l11方向へそれぞれ移動可能でかつZ軸を
中心として回動可能な載物台100を取付け、この載物
台100のX軸方向の移動量をマイクロメータヘッド1
27によって、Y軸方向を移動路をマイクロメークヘッ
ド146によって、ZIiIliIを中心とする回動角
度をロータリエンコーダ163によってそれぞれ検出す
るようにしたので、測定条件に応じて測定子17側およ
び被測定物側のいずれかを選択的に移動させて被測定物
の形状や寸法を求めることができる。その結果、例えば
+−伏測定物が比奴的軽量でかつ各測定点間の寸法が近
接しているような場合には、慣性の大きい測定子17側
を移動させなくても慣性の小さい被加工物側を移動させ
ればよいため、オーバーストロークによる被測定物およ
び測定子17の破損を防げるばかりでなく、精度的にも
高精度でかつ迅速な測定を行うことができる。また、被
測定物の梱数面に渡る測定に際しても、載物台100を
Z軸を中心として回動させると、被測定物の姿勢が変る
ため、測定子17を被測定物の各測定面に対向するよう
に順次移動させる必要がないから、より能率的な測定を
行うことができる。
lだ、載物台100は、基台101に第1のテーブル1
02をXtq方向へ移動可能に設け、この第1のテーブ
ル102に第2のテーブル103をY軸方向へ移動6f
能に設け、この第2のテーブル103に第3のテーブル
104をZ軸を中心として回動可能に設け、これらの各
テーブルをそれぞれの操作ハンドル126,145,1
72の操作によって独立的に移動まだは回動させるよう
にしたので、測定子17を被測定物に当接させた状態で
いずれかのテーブルの1つを移動させれば、測定子17
が当接した被測定物の測定面の粗さを連続的に測定する
ことができる。ちなみに、従来の三次元測定機では測定
子を1軸方向へのみ移動させるのが比較的困難であるた
め、表面粗さの測定には不向きであったが、本実施例で
はこの点をも測定できる利点がある。更に、載物台10
0はベーステーブル1に対゛して着脱自在に構成したの
で、ベーステーブル1に取付ける前の載物台100に予
め被測定物をセントしておけば、被測定物のセツティン
グを迅速にでき、特に被測定物が複雑形状の場合により
効果かある。
更に、基台101と第1のテーブル102との間および
第1のテーブル102と第2のテーブル103との間に
、それぞれの案内部材側と可動部材側とに水平方向へ向
って相対して開口されだ■溝116,117と、この対
向するV@116,117間の対角面に外周面が接する
ようにリテイーナ118に回転自在に保持されたローラ
119とからなる案内機構115をそれぞれ介在させた
ので、つ筐り案内部相似および可動部材側がローラ11
9の外周面に対して線接触した構造なので、比較的大き
な負荷がかかつても、第1のテーブル102および第2
のテーブル103の移動を円滑にかつ軽快に行うことが
できる。しかも、■溝116゜117.135,136
が水平方向へ向って開口されているため、ごみ等のつま
りかないことから、テーブルの移動に支障をきたすこと
がない。
なお、上記実施例では、載物台100のXおよびY軸方
向への移動量をマイクロメータヘッド127.146に
よ・つて検出するようにしたが、測定子17の変位検出
器6,19.18と同種な光電型エンコーダ等によって
電気的に検出するようにしてもよい。この場合、第7図
に示すように、スライダi3のX軸方向への移動量を変
位検出器19によって、支柱7,8のY軸方向への移動
量を変位検出器6によって、スピンドル16の一2軸方
向への移動量を変位検出器18によってそれぞれ検出す
るとともに、第1のテーブル102のX軸方向への移動
量を光電型エンコーダ201によって、第2のテーブル
103のY軸方向への移動itを光電型エンコーダ20
2によって、第3のテーブル104の回動角度をロータ
リエンコーダ163によってそれぞれ検出する一方、演
算処理装置203において、前記各変位検出器19,6
.18からのデータX、Y、Zと前記光電型エンコーダ
201゜202およびロークリエンコーダ163からの
データX′、 Y’ 、θとを演算し、その結果を表示
器20−4に表示させるようにすると、基準位置から被
測定物と測定子17とが当接した位置までの距離が自動
的に表示されるため、被測定物側を移動させても従来の
装溢を何ら変更さぜなくてよい。
しかも、載物台10Q側のエンコーダ201.202に
ついては比較的小ストロークでよいだめ、高精度なエン
コーダを容易に製作できる。
また、載物台100をベーステーブル1に対して複数取
付けるようにすれば、1つづつ測定する場合に較べ、被
測定物の取付、位置出し作業が短縮できるため、o+1
+定能率を向上させることができる。
また、上記実施例では、測定に際して、測定子17およ
び載物台100のいずれか一方を選択的に移動させるよ
うにしたが、測定条件によっていずれを移動させても精
度や能率面から不利とならないような%合には、両者を
同時に移動させてもよい。この場合、測定子17および
載物台100を手動的に移動させるよりも、予め定めた
手順に従って自動的に移動させる場合の方が効果的で、
一方のみの移動に比べ約半分の移動時間ですむ利点があ
る。
なお、本発明は、上記実施例で述べた三次元測定機に限
らず、例えば被測定物に当接される測定子等が二次元方
向へ移動するものであってもよい。
本発明によれば、各種の測定条件下において、測定能率
の向上および経済的負担の軽減をはかれる多次元測定機
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は載物
台の分解斜視図、第3図は案内機構の断面図、第4図は
第2のテーブルと第3のテーブルとを示す断面図、第5
図はその一部を切欠いた平面図、第6図は第5図の■−
VT線断面図、第7図は本発明の変形例を示すブロック
図である。 1・・・ベーステーブル、6,19.18・・・変位検
出器、17・・・測定子、100・・・載物台、101
・・・基台、102・・・第1のテーブル、103・・
・第2のテーブル、104・・・第3のテーブル、18
0・・・他の変位検出器。 代理人 弁理士 木 下 實 三 (ほか1名) 第3図 119 第4図 1521摩 161         152第5図 03104 第6図 17凸 166   166A

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)変位検出器に関連する測定子を、二次元または三
    次元的に移動させながらベーステーブル上に載置された
    被測定物に当接させ、被測定物の形状や寸法等を求める
    多次元測定機において、前記ベーステーブルに設けられ
    前記被測定物を互いに直交する二iIζ11線方向へ向
    って移動可能に支持する載物台と、この載物台に取付け
    ″られた被測定物の前記ベーステーブルに対する移動変
    位斌を検出するだめの他の変位検出器とを備えたことを
    特徴とする多次元測定機。
  2. (2)  特許請求の範囲第1項において、前記載物台
    は、基台と、この基台に移動可能に設けられた第1のテ
    ーブルと、この第1のテーブルにその第1のテーブルの
    移動方向と直交する方向へ移動可能に設けられた第2の
    テーブルと、この第2のテーブルにその第2のテーブル
    および第1のテーブルの移動方向と互いに直交する軸を
    中心として回動可能に設けられた第3のテーブルとから
    構成されていることを特徴とする多次元測定機。
  3. (3)特許請求の範囲第2項において、前記第1のテー
    ブルおよび第2のテーブルは、前記測定子が移動可能と
    された直交軸線方向と同方向へ移動可能に配置されてい
    ることを特徴とする多次元測定機。
  4. (4)特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれかに
    おいて、前記他の変位検出器は、前記変位検出器と同種
    の検出器によって構成されていることを特徴とする多次
    元測定機。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0474903A (ja) * 1990-07-16 1992-03-10 Mitsutoyo Corp 自動測定装置
KR100546211B1 (ko) * 2001-12-27 2006-01-24 주식회사 포스코 소결원료층의 층후측정장치
KR100867197B1 (ko) * 2002-01-07 2008-11-06 삼성코닝정밀유리 주식회사 다층막 코팅 유리의 두께 측정장치
JP2017198562A (ja) * 2016-04-27 2017-11-02 株式会社キーエンス 三次元座標測定器

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