JPS596677A - 光電変換装置 - Google Patents

光電変換装置

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JPS596677A
JPS596677A JP57114916A JP11491682A JPS596677A JP S596677 A JPS596677 A JP S596677A JP 57114916 A JP57114916 A JP 57114916A JP 11491682 A JP11491682 A JP 11491682A JP S596677 A JPS596677 A JP S596677A
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JP
Japan
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photoelectric conversion
charge
output
circuit
conversion device
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JP57114916A
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English (en)
Inventor
Masahiro Aoki
雅弘 青木
Masatoshi Ida
井田 正利
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Olympus Corp
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Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カメラ等の光学装置における光学系の自動焦
点検出に用いられる光電変換装置に関するものである。
カメラ等の光学系の焦点合わせを自動的に行なう装置、
または焦点はずれ方向を電気的に検出する装置としては
、従来から電荷結合装置(COD )あるいはMOSイ
メージセンサ等、蓄積効果を有する自己走査型固体撮像
装置を用いたものが多数提案されている。
それらの装置を用いた光電変換装置では、光電変換素子
の蓄積時間を被写体の明るさに応じて調節する手段が重
要な要素の一つとなっている。なぜならば、前記光電変
換素子の飽和露出量は、1〜0.11ux−S程度であ
るのに対し、一般にスチルカメラが扱う被写体の明るさ
は、室内のフラッシュ撮影時における0、 1 lux
から、晴天の屋外撮影時における敵方lux以上までの
極めて広い範囲に及んでいるため、光電変換素子の蓄積
時間を変化させることによって、被写体の明るさの変化
に対応せざるを得ないからである。
被写体の明るさに応じてその蓄積時間を制御する手段と
して、従来幾つかの方法が提案されている。その−例と
して、第1図に示すように被写体像の結像状態を検出す
る細分化された多数の光電変換素子1−1.1−2.・
・・1−nからなる光電変換素子列2の近傍に、その光
電変換素子列2とほぼ同一の長さの長方形の受光面を持
った別の平均光量受光用光電変換素子8を、前記光電変
換素子列2に並行するように配置し、第2図に示すよう
に、その光電変換素子8がらの出力をレベル検出回路4
で検出して、この検出レベルが、所定のレベルに達した
時点で蓄積時間制御回路5を動作させ、これにより前記
光電変換素子列2の各光電変換素子1−1.1−2.・
・・1−nにおける蓄積を終了させるようにしたものが
ある。
この従来のものは、別に設けた長方形の平均光量受光用
光電変換素子8が、2で示す光電変換素子列に結像した
被写体像の平均光量に対応した出力を与えるものである
とする考え方に基づいている。しかし、この方法では、
第8図に、光電変換・素子列2の素子番号を横軸にとっ
て当該光電変換素子列2上の光強度分布を示したように
、平均光量レベルに対応する光電変換素子列2の出力レ
ベルL0よりも極端に高い光量レベルを部分的に持つ被
写体像については、光電変換素子列2の飽和レベルL2
を越えることとなり、不正確な検出結果を与えることに
なる。また、その飽和レベルL2を越えないまでも、平
均光量に相当するレベルL□を飽和レベルL2よりも十
分低いレベルに設定して1.。
おかなければ、光電変換素子列2上の物体像の光強度分
布に対応した出力を精度高く検出し得ないばかりではな
く、平均光量検出位置と、像検出位置との不一致に基づ
く検出精度の低下は避は得ない欠点がある。
また、別の従来例として、第4図A、Bに示したように
、光電変換素子列を走査して得られた光電変換出力を高
低二つのレベルvHおよびV、と比較し、同図Aのよう
に高レベル■Hを越える出力が存在する場合は、次回の
蓄積時間を短かくシ、同図Bのように低レベルvLを越
える出力が存在しない場合には、次回の蓄積時間を長く
することによって、効率よく光電変換しようとする方法
である。この方法では、蓄積時間の短縮および伸長時間
を、あらかじめ定められた比較的短かい単位時間を単位
に増減し、−回の操作で光電変換出力が■Hルベル以下
もしくはHLのレベル以上にナラない場合には、さらに
前記単位時間のピッチで蓄積時間を増減する操作を繰り
返すようにしているため、被写体の明るさが急激に変化
した場合には、蓄積時間の増減操作を何回も繰り返さな
ければ、適正な蓄積時間に到達しないという欠点がある
本発明は、上述の各従来例における欠点を解消し、被写
体形状および明るさのいかなる変化に対しても高速で追
随し、常に適正な蓄積時間を与えることができる光電変
換装置を提供しようとするものである。
本発明の充電変換装置は、複数の光電変換素子と、それ
ら各充電変換素子に生じた光電流電荷をそれぞれ蓄積す
る手段と、各蓄積手段に蓄積された電荷量に対応した出
力をそれぞれ得るための電荷電圧変換手段と、これらの
電荷電圧変換手段の各出力中の最大出力が所定のレベル
に達したタイミング?検出する手段とからなり、この検
出手段によって検出されたタイミングに関連して前記各
蓄積手段に蓄積された充電流電荷を一斉に読み出すよう
構成したことを特徴とするものである。
以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明する。
第5図は、本発明の光電変換装置の実施例の構成の一例
を示す回路構成図である。この光電変換装置は、同一半
導体チップ上に高密度に形成されたN個の同一構成の光
電変換回路6−1.・・・。
6−Nより成るが、各党iH換回路6−1.・・・。
6−Nは同一の動作をするので、ここではそのうちの1
番目とN番目の回路構成を図示するにとどめである。ま
た、説明を簡潔にするためそのうちの一個の光電変換回
路6−1についてのみ説明することとする。
光電変換回路6−1は、並列接続した光電変換素子たと
えばホトダイオード7−1とコンデンサ8−1. MO
SFETよりなる第1のゲート9−1゜直列接続されそ
れぞれバッファを構成するMOSFET 10−1 、
 11−1、そのバッファからの出力を取り出すように
介挿したダイオード12−1゜およびMOS FETよ
りなる第2のゲート18−1’を具えている。ホトダイ
オード7−1およびコンデンサ8−1の並列回路は、第
1のゲート9−1を介して直流電源正極側ライン■8s
と負極側ライン(アース′電位ライン) ■DD間に接
続しである。また、その第1のゲート9−1を構成する
MOS FETのゲートは、チャージ信号入力端子14
に接続しである。一方、ホトダイオード7−1およびコ
ンデンサ8−1と、第1のゲート9−1との接続点X−
1は、第2のバッファを構成するMOS FET11−
1のゲートに接続するとともに、そのMOSFET 1
1−1の池の電極の一方は直流電源負極側ライン■DD
に、地方の電極は第1のバッファを構成するMOS 1
1i’ET 10−1に接続しである。さらに、そのM
OS FET 10−1の地方の電極は、直流電源正極
側ラインVSSに、そのゲートは直流電源負極側ライン
vDDにそれぞれ接続しである。地方、バッファの出力
点Y−1は、ダイオード12−1の順方向入力に接続さ
れており、各光電変換回路6−1〜6−Nにおける各ダ
イオード12−1〜12−Nの出力は全て結合されてモ
ニタ出力端子15から取り出すようになっている。また
、第2のゲー)18−1の一端は、X−1点に接続され
、その地端は電荷結合装置(COD ) 16の対応す
る画素ウェルに接続され、その第2のゲート18−1を
構成するMOS FETのゲートには、転送信号入力端
子17から転送信号が供給されるようになっている。
以上のような構成において、まず図示省略の外部制御回
路より、チャージ信号をチャージ信号入力端子14から
供給すると、第1のゲート9−1が導通し、コンデンサ
8−1は、電源電圧まで充電される。チャージ信号が途
絶えると、第1のゲ−)9−1は断となるのでコンデン
サ8−1に充電された電荷は、ホトダイオード7−1の
光電流により放電する。従って、X−1点の電位は時間
とともに上昇し、それに応じてバッファを構成するMO
S FETのゲート電圧も上昇するので、バッファの出
力点であるY−1点の電位も上昇する。その上昇の速度
とレベルはホトダイオード9−1に入射する光の明るさ
に比例する。Y−1点の出力はダイオード12−1を介
して池の光電変換回路から同様にして得た出力とともに
モニタ出力端子15から、第6図に示したように比較器
18に導かれる。
比較器1日の信号入力端子は、図示のように抵抗19を
介して直流電源負極側ライン(アースライン)■DDに
接続されている。従って、モニタ出力端子15すなわち
、比較器18の信号入力端子には、各光電変換回路6−
1〜6−Nにおけるバッファ出力点Y−1〜Y−Nにお
ける電位のうち、最も高い電位が最初に現われることと
なる。
一方、第6図の比較器18の地方の入力端子には、所定
の比較レベルを設定するための基準電位源が接続されて
いる。従って、第5図のモニタ出力端子15に現われる
各光電変換回路6−1〜6−Nの出力中、最大H4力の
ものが比較レベルに達した時点で、その比較器18の出
力は反転するので、制御回路2oではこれを検知し、転
送信号入力端子17に転送パルスを送給する。この転送
パルスは、第5図示の第2のゲートの18−1を構成す
るMOS FETのゲート電極に入力してこれを導通状
態にし、コンデンサ8−1に残っているホトダイオード
の光電流に対応した電荷をCOD 16の対応する画素
ウェルに転送する。
以上のような動作は、各光電変換回路6−1〜6−Hに
ついて同一タイミングで一斉に行なわれる。すなわち、
各光電変換回路6−1〜6−NのY−1〜Y−Nから得
られた出力中、第6図の比較器18における比較レベル
に達した出力を検知した時点で、各光電変換回路6−1
〜6−Nのコンデンサ8−1〜8−Nの電荷が一斉に読
み出され、00D 16に転送される。
従って、前記比較器18における比較レベルを適当に設
定すれば、ホトダイオード7−1〜7−Nの飽和レブル
に達する直前に、コンデンサ8−1〜8−Nによる蓄積
を終了させるように蓄積時間を制御することができる。
以上のようにしてOOD 16に転送された各光電変換
回路6−1〜6−Hの各コンデンサ8−1〜8−Nの電
荷量は、そのCOD 16を外部制御回路によって公知
の方法で駆動することによりビデオ出力端子21から時
系列信号として順次読み出すことができ、しかもその時
系列信号は光電変換素子蓄積時間の不適切による飽和の
影響を受けていない光電変換出力に相当する。
第7図は、本発明の能の実施例の回路構成を第5図のも
のと同一部分は同一符号を付して示したものである。さ
きの実施例と異なる点は、第2のゲー)11−1によっ
て読み出した充電流蓄積用コンデンサ8−1の電荷を、
その第2のゲート13−1と新たに設けた第8のゲー)
22−1との結合点と、vDDライン間に介挿した保持
コンデンサ28−1によって−たん保持し、これを図示
しない外部制御回路によって駆動するシフトレジスタ2
4によって制御される第8のゲート22−1を介して、
2個のMO8FET25.26により構成したバッファ
に導き、電圧に変換してビデオ出力端子21から時系列
信号として得るようにした点である。
すなわち、この実施例においては、各光電変換回路6−
1〜6−Nの各コンデンサ8−1〜8−Nに蓄積された
電荷を一斉に読み出して、各保持コンデンサ28−1〜
23−Nにそれぞれ−たん保持し、この各保持コンデン
サ23−1〜28−Nの電荷量に対応した電位を、シフ
トレジスタ24により順次に制御される第3のゲート2
2−1〜22−Nを介してバッファを構成するMO8F
ET25.26の一方のMOS FETのゲートに印加
することにより、それら両MO8FET25.26間の
抵抗比を変えるようにして前記保持コンデンサ23−1
〜23−Nにおける電荷針に対応した時系列信号出力を
得るようにしたものである。
なお、ホールド信号入力端子27に供給されるホールド
信号は、第6図で説明したさぎの実施例と同様に、モニ
タ出力端子15からの出力を比較器18に導いて、その
出力中の最高出力レベルが所定の比較レベルに達した時
点で図示しない制御回路から発生さぜたタイミングの信
号である。その池の動作については、第5図で説明した
さきの実施例と同様であるので説明を省略する。
この第2の実施例の特長は、さきの実施例と同様にホト
ダイオードの光電流の蓄積時間の制御が適正に行なえる
ほか、光電流による電荷層を各光電変換回路6−1〜6
−Hの保持コンデンサ28−1〜23−Nに転送して、
これを電圧として読み出すように構成されているので、
保持コンデンサ2B−1〜23−Nに保持された電荷層
を、破壊することなく、繰り返し読み出すことが可能な
ことである。
第8図および第9図は、第5図および第7図によって説
明した各実施例をそれぞれ変形した池の興なる実施例の
構成をそれぞれ示したものである。
上記の各実施例においては、何れも各光電変換回路6−
1〜6−Nから得られる出力、中の最大値の出力が、ホ
トダイオード7−1〜7−Nの出力の蓄積飽和レベル付
近に達したこと2検出する手段として、各光電変換回路
6−1〜6−Nの出力を、それぞれダイオ−v12−1
〜12−Nを力して合成し、これを第6図に示したよう
に比較器18に導いて検出するようにしているが、第8
図および第9図に示した実施例においては、何れもその
検出手段を、各光電置換回路6−1〜6−Nごとに設け
たシュミット回路28−1〜28−Nと、それらシュミ
ット回路の出力を入力とするオア回路29とによって構
成したものである。なお、それ以外の部分については、
第8図のものは第5図のものと、また第9図のものは第
7図のものとそれぞれ同一の構成を有しているので、そ
れぞれ同一機能部分については同一符号を付して示しで
ある0 すなわち、第8図および第9図に示した本発明の名実施
例においては、第5図および第7図に示した前記各実施
例の構成において、各光電変換回路6−1−6−Nにお
けるダイオード12−1〜12−Nに代えて、スレツシ
ホールドレベルヲ実質上同一の適当なレベルに設定した
シュミット回路28−ン〜28−Nを用い、また第6図
の比較器18に代えてオア回路29を用い、それらシュ
ミット回路28−1〜28−Nから得られた各出力をオ
ア回路29に導いて、それら各出力の論理和をモニタ出
力端子15から得るようにしたものである。従って、第
8図および第9図において、図示しない外部制御回路か
らチャージ信号入力端子14に供給されるチャージ信号
により、第1のゲート9−1〜9−Nが導通したとき、
各コンデンサ8−1〜8−Hに充電された電荷が、その
チャージ信号の途絶えに伴ない、ホトダイオード7−1
〜7− Nの光Tlf、流により放電し、これによって
生ずるY−1〜Y−N点の電位上昇により、それら各点
Y−1−Y−Nのうち、どこか1箇所でもその電位が各
光電変換回路6二1〜6−Nの各シュミット回路28−
1〜28−Nの何れかにおいてスレッシホールドレベル
を越えると、オア回路29の出力は高レベルとなり従っ
てモニタ出力端子15の出力は高レベルとなる。この高
レベルに変る時点を図示省略の外部制御回路で検知し、
第5図および第7図の各実施例と同様に、その外部制御
回路から第8図に示した実施例のものでは転送信号を発
生させて転送信号入力端子17に供給するようにし、ま
た第9図に示した実施例のものではホールド信号を発生
させてホールド信号入力端子27に供給するようにした
ものである。このようにして前記シュミット回路28−
1〜28−Nのスレッシホールドレベルに関連してホト
ダイで、各シュミット回路28−1〜28−Nにおける
スレッシホールドレベルを適当なレベルに設定すること
によりホトダイオード7−1〜7−Nへの入射光量に応
じた適正な蓄積時間を得ることができる。
なお、これら第8図および第9図に示した各実施例にお
けるその池各部の動作については、第8図のものは第5
図で説明した実施例のものと、また第9図のものは第7
図で説明した実施例のものとそれぞれ同じであるので、
重複説明を避けるため説明を省略する。
以上の各実施例の説明から明らかなように、本発明の光
電変換装置によれば、比較的簡単な構成によって多数の
光電変換素子による画素出力の中から、最も出力電位の
高いものの所定のレベルに達したタイミングを検出し、
そのタイミングによって各光電変換素子の光電出力の蓄
積終了時点を制御するように構成したものであるから、
多数の光電変換素子からなる光電変換素子列上に投影さ
れる物体像の最も明るい画素の蓄積状態が、所定の一定
レベルに達した時点で蓄積時間を終了させることかでき
る。従って前記所定レベルを適当なレベルに設定するこ
とにより、前記物体像の形状の変化や、明るさの変化に
かかわりなく、常に適当な蓄積時間が得られる効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、従来の光電変換装置における光
電変換素子の蓄積時間制御手段の概略説明図、 第3図は、その従来例における難点を説明するための被
写体像の光強度分布の一例図、 第4図は、従来の池の蓄積時間制御方法の説明図、第5
図は、本発明の実施例の一例を示す回路構成図、 第6図は、第5図および第7図の各実施例に用いるタイ
ミング検出手段の一例を示す一部構成図、第7図ないし
第9図は、本発明の池それぞれ異なる各実施例をそれぞ
れ示す回路構成図である。 6−1〜6−N・・・光電変換回路 7−1〜7−N・・・ホトダイオード 8−1〜8−N・・・コンデンサ 9−1〜9−N・・・第1のゲート 10−1〜10−N・・・第1のバッファ11−1〜1
1− N・・・第2のバッファ12−1〜12−N・・
・ダイオード 13−1〜13−N・・・第2のゲート14・・・チャ
ージ信号入力端子 15・°°モニタ出力端子  16・・・電荷結合装置
18・・・比較器      19・・・抵抗20・・
・制御回路     21・・・ビデオ出力端子22−
1〜22−N・・・第8のゲート28−1〜28−N・
・・保持コンデンサ24・・・シフトレジスタ  25
. 26・・・バッファ27・・・ホールド信号入力端
子 28−1〜28−N・・・シュミット回路29・・・オ
ア回路 v88・・・直流電源正極側ライン ■DD・・・直流電源負極側ライン 第1図 第2図     第3図 〃を変讃素子番号 第4図 A        B 第5図 第6Lズ1 ′第7図 第8図 第9図 手続補正書 illイ和5和平8年718日 1、事件の表示 昭和57年 特 、1′1  願第114・9■(5号
2、発明の名称′ 光電変換装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 (037)−Aリンバス光学工業株式会社1明細書第6
頁第7行目中のr HL Jを「V、」に1訂正する。 2同第10頁第8行目中のr MOS FET Jをr
hos FET 11.− I Jに訂正する。 8、同第12頁第1行目中の「飽和レブル」を「飽和レ
ベル」に訂正し、 同頁第15行口中の「ゲート11−1によって」を「ゲ
ート18−1を介して」に訂正する。 4同第19頁第15行目の「I 0−1−1 fl −
N −−−第1のバッファ」および第16行目の「1l
−INll−N−−一第2のバッファ」を削除し、代り
に「to−1〜111−N、11−1へ11−N。 25.26−−−バツフアを構成するMOS FET 
Jを挿入する。 5、同第20頁第6行目の「25.26−−−バツフア
」を削除する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 L 複数の光電変換素子と、それら各光電変換素子に生
    じた光電流電荷をそれぞれ蓄積する手段と、各蓄積手段
    に蓄積された電荷量に対応した出力をそれぞれ得るため
    の電荷電圧変換手段と、これらの電荷電圧変換手段の各
    出力中の最大出力が所定のレベルに達したタイミングを
    検出する手段とからなり、この検出手段によって検出さ
    れたタイミングに関連して前記各蓄積手段に蓄積された
    光電流電荷を一斉に読み出すよう構成したことを特徴と
    する光電変換装置。 以 前記検出手段は前記各電荷電圧変換手段の出力を、
    それぞれダイオードを介して合成し、これを比較器に導
    いて、前記所定のレベルと比較するように構成してなる
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光電変
    換装置。 & 前記検出手段は、前記各電荷電圧変換手段によって
    得られた各出力をそれぞれ入力とし、かつ前記所定のレ
    ベルに対応したスレッシホールドレベルに設定した複数
    のシュミット回路と、それら各シュミット回路の出力の
    論理和を出力するオア回路とによって構成したことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光電変換装置。 表 前記各蓄積手段から一斉に読み出した光電流′心荷
    を電荷結合装置の断電画素ウェルにそれぞれ転送して時
    系列信号として取り出すように構成したことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項、第2項または第8項に記載の
    光電変換装置。 5、 前記各蓄積手段から一斉に読み出した光電流電荷
    を、各保持コンデンサに−たん保持し、これを所定の順
    序で順次電荷量に対応した電圧として読み出すように構
    成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項、第2項
    または第8項に記載の光電変換装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6239682U (ja) * 1985-08-29 1987-03-09
JPS63157581A (ja) * 1986-12-22 1988-06-30 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像素子
JPS63161780A (ja) * 1986-12-25 1988-07-05 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像素子
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JPS63161780A (ja) * 1986-12-25 1988-07-05 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像素子
JPS63161781A (ja) * 1986-12-25 1988-07-05 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像素子

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