JPS5968085A

JPS5968085A - カ−ド照合装置

Info

Publication number: JPS5968085A
Application number: JP57178214A
Authority: JP
Inventors: Yorinaka Ikenaga; 池永　頼央
Original assignee: Tateisi Electronics Co; Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Omron Corp
Priority date: 1982-10-09
Filing date: 1982-10-09
Publication date: 1984-04-17

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】発明の分野この発明はカード照合装置の改良に関する。

発明の背景今日、銀行発行のキャッシュカード、クレジット会社発
行のクレジットカード等広くカード、たとえば磁気カー
ドが採用されており、顧客はこのカードによって銀行の
口座から現金の出し入れをしたり、商品のつけ買い（信
用購入）等ができる。

そして、カードには、たとえば顧客コード、暗証番号、
その他各種データが記録された磁気ストライプ等が備わ
っており、他人による不正な使用ができない仕組みにな
っている。

しかしながら、何らかの原因でたとえば銀行員が他人の
カードデータ、特に暗証番号を知り、偽造カードを用い
て不正な使用をする場合、現在使用されているカード照
合装置では、カードの真偽判別ができず、偽造カードに
よる不正使用を許してしまうという欠点があった。

発明の目的この発明の主たる目的は、前述の背景に鑑みてなされた
もので、偽造カードを用いた不正行為を防止するために
、カードの真偽判別機能が設けられたカード照合装置を
提供することである。

発明の構成と効果この発明は、簡単に言えば、カード表面の微小な表面状
態が各カードごとに異なることを利用したもので、各カ
ードに固有の表面状態をカード自体または照合装置に予
め記憶しておき、カード照合時に各カードに固有の表面
状態を光学的に読取り、予め記憶されている表面状態と
読取られた表面状態とを照合することによって、カード
の真偽判別を行なうカード照合装置である。

この発明は、以上のようにカードに固有の特徴（表面状
態）を照合するため、偽造カードによる不正行為を防止
でき、カードを用いた取引の信頼性を向上することがで
きる。

実施例の説明以下に図面に示す実施例とともにこの発明をより詳細に
説明する。

第１図はこの発明の一実施例の全体構成を示す概略ブロ
ック図である。この実施例は、大まかに言えば、現在広
く利用されている磁気カード（第３図参照）のデータ読
取機能を持った装置に、この発明の特徴である該カード
の真偽判別機能をさらに設けたカード照合装置である。

第１図を参照して、磁気カード１の所定の部分（後に詳
述する）には、投光・受光ヘッド２によって光が当てら
れ、その光の反射光量の変化が検出されて、その出力は
ノイズ除去用フィルタ３゜ゲート４．Ａ／Ｄ変換器５を
介してマイクロコンピュータ６に送られる。ゲート４は
、マイクロコンピュータ６からの出力によって、所定の
サンプリング・タイミングでオン、オフされ、サンプル
制御を行なう。マイクロコンピュータ６は、外部回路と
のタイミングを合わせるインプット／アウトプット（Ｉ
ｌｏ）インターフェイス６１、演算。

制御等を行なうＣＰＵ６２、ＣＰＬＩ６２の処理手順を
記憶するＲＯＭ６３およびＣＰＵ６２の演算結果等を記
憶するＲＡＭ６４を含む。

投光・受光ヘッドにはさらに精密位置決め処理５− 回路１１が接続されている。そして、マイクロコンピュ
ータ６からの信号で動作する精密位１決め処理回路１１
によって、磁気カード１と投光・受光ヘッド２との相対
的位置関係が修正（微調整）され、カード１の所定の部
分の情報を光学的に検出できるようにされている。この
ように、投光・受光ヘッド２とカード１との相対的位置
関係を厳密に定めなければならないのは、カードの表面
状態の違いは非常に微妙なものであり、検出場所が異な
ると検出結果も痩化するからである。

また、磁気カード１には、その表面に磁気ストライプが
備えられていて（第３図参照）、その磁気ストライプに
記録されたカードデータ、たとえば銀行の口座番号、暗
証番号等が磁気ヘッド７によって読取られ、電磁信号変
換回路８で読取られたデータは電気信号にされ、マイク
ロコンピュータ６に入力される。

さらに、カードの磁気ストライプには、予め検出された
カードの表面状態のデータが記録されており、投光・受
光ヘッド２の表面状態の検出に先６− 立ち、磁気ストライプから表面状態のデータを読出す。

そして、このデータと投光・受光ヘッド２が検出した表
面状態のデータとを比較してカードの真偽判別を行ない
、場合によっては、これらのデータを磁気ストライプに
書換えることもできる、すなわち、磁気ストライプに予
め記録された表面状態のデータとヘッド２が検出した表
面状態のデータとを１換えるのである。これらの詳細は
後述する。

磁気カード１から光学的に検出された表面状態のデータ
および磁気的に読取られたカードデータが所定の条件を
満足する場合には、ＯＫ表示９がされ、所定の条件を満
足しない場合には、ＯＵＴ表示１０がされる。

なお、この実施例では回路の制御やデータの演算、記憶
等をマイクロコンピュータ６を用いて行なっているが、
このような制御、演算等の機能を果たすように構成した
ディスクリート回路でもよい。

次に、第２図は第１図に示す投光・受光ヘッド２および
精密位置決め処理回路１１を中心とする精密位置決め装
置の概念図である。

投光・受光ヘッド２は支持部材１３で支えられ、モータ
１２によってＸ軸方向にスライド可能に設けられている
。ヘッド支持部材１３およびモータ１２が取付けられた
基板１４は、モータ１５によってＸ軸と直交する７輪方
向に動かすことができる。２つのモータ１２および１５
は精密位置決め処理回路１１によってａ制御され、モー
タ１２はヘッド２をＸ軸方向に、モータ１５はヘッド２
をＹ軸方向にスライドさせるため、ヘッド２を磁気カー
ド１の所定の基準マーク（後述する）の中心へ動かし、
および基準線（後述する）上を動かすことができる。

なお、第２図の精密位置決め装置は、単なる概念図であ
って、このような機構を備えた装置にこの発明を限定す
るものではない。

第３図は、この実施例が照合する磁気カードの一例を示
す図である。カード１の表面には磁気ストライプ１６が
設けられ、このストライプ１６には口座番号や暗証番号
等のデータおよびカード表面の表面状態のデータが磁気
的に記録されている。

また、カード１の表面には、たとえばカード所有者がサ
インをする領域１７が形成されている。

領域１７のほぼ中心には、その艮ざ方向に基準線１８が
細くひかれており、基準１１１Ｂの両端には小さな円形
の基準マーク１９が付けられている。

そして、カード所有者のサインが基準線１８の上に書か
れている。この基準ｍｉａおよび基準マーク１９は、カ
ードの表面状態のデータ検出場所を正確に規定するため
に付けられたものである。

さて次に、主として第４図を参照して、カード１の表面
からどのようにして表面状態のデータが検出されるかに
ついて詳しく説明する。

第４Ａ図は第３図に示す磁気カードのサイン領域１７の
部分的拡大図である。この実施例では、サイン領域１７
の基１１８に沿った部分の表面状態が光学的に検出され
る。

まず光学的データを検出すべき位置決めがされる。焦合
装置の予め定められた場所にカード１が＝９− 挿入等されると、磁気カード１と投光・受光ヘッド２（
第１図）とは、はぼ一定の位置関係にある。

というのは、磁気カード１（第３図）は、一定の規格で
ほぼ同じ大きさ、形状に成形されているからである。

しかしながら、カード表面から検出される表面状態のデ
ータは、投光ヘッドから与えられ、カード表面で反射し
、受光ヘッドで捉えられる反射光量が厳密に測定される
。また、この反射光量は表面状態に応じて微妙に変化す
る。よって、測定場所が同じでなければ、カードの表面
状態も正しく検出することができない。

そこで、磁気カード１と投光・受光ヘッド２どの相対内
位１１９０係、すなわち、投光・受光ヘッド２によって
検出されるカード１の表面け、極めて厳密に位置決めが
される必要がある。

その位置決めは、次のように行なわれる。サイン領域１
７の１基準線１８の両端には円形の基準マーク１９ａお
よび１９ｂが形成されている。まず、この基準マーク１
９ａの中心に投光・受光へ１０− ラドを合わせる。これは、精密位置決め装置（第２図）
を操作すればよい。Ｘ軸方向に投光・受光ヘッド２を走
査したとき、基準マーク１９ａと走査線との交点を×、
およびＸ２（第４Ｂ図）とし、投光・受光ヘッド２をＹ
軸方向に走査し、基準マーク１９ａと走査線との交点を
Ｖ、およびｙ２とすると、これら検出された４つの点か
ら基準マーク１９ａの中心点を求めることができる。す
なわち、ｌＸｌ−Ｘ２１の最大値の１／２Ｉｙ＋−ｙｚｌの最大値の１／２から中心点が求まる。

このようにして、まず基準マーク１９ａの中心を検出し
、続いてもう一方の基準マーク１９ｂの中心を同様にし
て検出する。基準線１８は、この２つの基準マーク１９
ａおよび１９ｂの中心間に直線で規定されるため、基準
マーク１９の中心を検出することにより、磁気カード１
の表面状態を検出すべき場所、すなわち基準線１８を決
定することができる。

次に、基準線１８には、カード所有者のサイン、たとえ
ば「山田太部」という文字が記入されている。それゆえ
、この基準線１８に沿って投光・受光ヘッド２を走査す
ると、反射する反射光量は、サインの文字部分と文字の
ない部分とで変化することが予想できる。サインのある
部分は黒で反射光量も少なく、サインのない部分は白で
反射光量が多いからである。

第４Ｃ図はこの反射光量の変化をグラフに表わしたもの
である。第４Ｃ図に示すように、文字の書かれていない
サイン領域の反射光量は多く（明る＜）、サインの文字
の部分の反射光量は少ない（暗い）結果となっている。

この反射光量変化に基づいて、表面状態のデータを求め
やすくするため、２つのしきい値ＳＡと８８とを設ける
。そして、しきい値ＳＡとＳＢとの間に入る信号レベル
の数、つまりＳＡとＳＢとを反射光量の変化曲線Ｓ１が
何回横切るかをカウントする。サイン「山田太部」の「
山」を例にとってみれば、それぞれに、ないしに６がこ
のしきい値ＳＡとＳＢとの間に入る反射光量の点（チェ
ックポイント）である。さらに、ｋｌないしに６の各チ
ェックポイントを含むしきい値ＳＡと８８との閣の面積
を求める。

今、第１のチェックポイントに、を例にとって説明する
。

第４Ｄ図は、第４Ｃ図の点ｍＤ部の拡大図である。第４
Ｄ部において、反射光量曲線Ｓ１としぎい値ＳＡとの交
点に対応するＯＶ線上の点をｔ。

とし、反射光量曲線Ｓ１としきい値ＳＢとの交点に対応
する点を１２とする。そして、ｔ、からｔ２の間におい
て、反射光量曲線Ｓ１としきい値ＳＢとで囲まれる面積
Σｄ３を求める。

第４Ｅ図は、このようにして検出されたカードの表面状
態のデータである。２つのしきいＳＡとＳＢとの間に入
るチェックポイントに１ないしｋ。のすべてのデータで
はなく、それら検出されたデータのうち、乱数処理によ
って選択された部分のデータだけが、カードの表面状態
のデータとして取出されている。

１３− このように、検出されたカードの表面状態のデータのう
ち、適当に選択した部分のデータだけをカード表面状態
のデータとすることにより、比較すべきデータを少なく
でき、照合装置の簡易化。

照合動作の迅速化ができるという利点を有する。

というのは、たとえばしきい値ＳＡとＳＢとの間に入る
反射光量の部分（チェックポイント）が多いと、それら
すべてをカード１の表面データとして記憶し、比較する
ことは、時間もかかりまたそれらを記憶し比較する装置
も複雑かつ大きなものとなる。そこで、カードの真偽判
別を行なうための表面データとしては、これら検出され
た反射光量のデータのうち、たとえば乱数処−によって
必要最小限のデータを選択すれば、比較し、記憶するデ
ータを少なくすることができる。

この実施例では、カードの表面状態のデータを得るため
に、２つのしきいｉ！［ＳＡとＳＢとを設け、この間に
入るチェックポイントの数およびそのチェックポイント
を含む部分の面積を求め、それらのうちから乱数処理に
よって適当なデータだけを１４− 選出したが、たとえばしきいＩＩＩ　Ｓ　ＡとＳＢとの
間の反射光量曲線Ｓ１の傾きを表面状態のデータとして
用いてもよい。また、しきい値５Ａｆ１１ＳＢを設番ノ
ずに、反射光量の変化をそのまま表面データとして検出
することもできる。

第５図は、マイクロコンピュータ６（第１図）のＲＡＭ
６４に記憶されるデータの内容を図解的に示す図である
。メモリ領域Ｍ１にはしきい値ＳＡとＳＢとの間に入る
すべてのチェックポイントの位置データ、すなわちチェ
ックポイントと基準マークとの距離かを示すデータと、
そのチェックポイントの面積データとが記憶される。位
置データはチェックポイントの誤計眸等の防止のために
用いられるデータである。メモリ領域Ｍ２およびＭ３は
、メモリ領域Ｍ１に記憶されたデータのうち、乱数処理
によって選出されたチェックポイントの位置データおよ
び面積データを記憶する領域である。

メモリ領域Ｍ２に記憶されているデータは、第１図にお
いて、カード１から磁気ヘッド７によって読出されたデ
ータである。つまり、メモリ領域Ｍ２のデータは、予め
検出され、カード１の磁気ストライプに記録されていた
カードの表面状態のデータである。

メモリ領域Ｍ３に記憶されているデータは、メモリ領域
Ｍ１に記憶されているデータのうち、乱数処理によって
選択されたチェックポイントのデータである。これらメ
モリ領域Ｍ２に記憶されたデータと、メモリ領域Ｍ３に
記憶されたデータとが、比較されカードの真偽判別がさ
れる。

以下に操作および動作のフロー図を参照して、この実施
例の操作および動作を順を追って説明する。

第６図は、この装置の操作および動作の概略を示すフロ
ー図である。カードの使用が初めての場合は、まず係員
操作によって、カードの特徴、すなわちカードの表面状
態のデータを検出し、カードの磁気ストライプに記憶さ
せる。

次に、顧客操作においては、通常のカードと同様に、ま
ず暗証番号チェックがされ、カード使用者が正当か否か
のチェックがされる。このチェックによって、暗証番号
が一致しない場合は「ＯＵＴ表示１がされ、操作は終わ
る。暗証番号チェックがＯＫならば、次にカードの真偽
判別がされる。

そして操作が終わる。

このように、カードの真偽判別に先立ち、暗証番号等を
チェックするのは、暗証番号等のチェックに比べてカー
ドの真偽判別には時間を要するため、場合に応じて顧客
操作から係員操作に切換えることができるよう考慮した
ものである。

第７図を参照して、カードの真偽判別動作について詳細
に説明する。第７図は、この考案の一実施例の動作フロ
ー図である。まず、ステップＳ１において、カード照合
装置に挿入されたカードが光学走査位置に来たかどうか
の判断がされ、カードが光学走査位置に来るのを持つ。

カードが光学走査位置になると、次のステップＳ２にお
いて、カードと投光・受光ヘッド２（第１図）の相対内
位［＃１１係が調整される。すなわち、カード表面に印
された基準マーク１９ａおよび１９ｂの中心位１７− Ｗが検出される。次に、ステップＳ３において、２つの
基準マーク１９ａおよび１９ｂに基づいて、投光・受光
ヘッド２の走査方向が決定される。そして次にステップ
Ｓ４で、カウンタＣ１，０２およびフラグ（ＦＬＧ＞が
クリアされ、２つのしきい値ＳＡとＳＢ（第４図参照）
が読込まれる。

ここに、カウンタＣ１は、しきい値ＳＡとＳＢとの間に
入るチェックポイントの面積を求めるとき（積分すると
き）に用いられるもので、検出面積の微小分割の何番目
かをカウントするカウンタである。

また、カウンタＣ２は、検出するチェックポイントが、
何番目のチェックポイントかをカウントするカウンタで
ある。

フラグは、反射光量曲線８１（第４Ｃ図）が、しきいＩ
ＳＡと３８との間に位置しているかどうか、すなわちチ
ェックポイントであるかどうかを示すものである。

次にステップＳ５において、検出の走査スタート点であ
る基準マーク１９ｂの中心に投光・受光１８− ヘットをセットする。そしてステップＳ６で、走査がス
タート後、一定時間監視を続ける。これは投光・受光ヘ
ッドが基準マーク１９ｂから出るのを持つためである。

なお、スタート直後そのカード表面の反射光量を検出し
ても別設支障はない。

一定時間経過後ステップＳ７において、所定のサンプリ
ング・タイミングでゲート４（第１図）のオン／オフを
行ない、サンプル制御をする。このサンプル制御によっ
て得られたデータは、Ａ／Ｄ変換器５（第１図）によっ
て変換され読込まれる（ステップ８Ｂ）。そして次のス
テップＳ９において、読込まれたＡ／Ｄデータ（検出デ
ータ）がしきいｉｉ！ＩＳＡとＳＢとの間のデータか否
かのチェックがされる。

この実施例では、しきいｌ１ＳＡとＳＢとの間のデータ
として、サイン領域１７にサインが記載されている部分
とサインが記載されていない部分との境目の反射光量が
ほぼこのしきい値ＳＡとＳＢとの間に入るように設定さ
れている。それゆえサンプル制御が開始されてすぐは、
まだサイン領域１７にサインが記載されていないため、
反射光量が多すぎて検出データＳ１はしきい値ＳＡとＳ
Ｂとの間に入らないであろう。

よって、ステップＳ９からステップ８１６へ進む。ステ
ップ８１６において、しぎい値ＳＡとＳＢとの間にデー
タＳ１が入っていないので、フラグはセットされておら
ず、再びステップＳ７からのサンプル制御が繰返される
。

次に、ステップＳ９において、しきい値ＳＡとＳＢとの
間に検出データＳ１が入ったとする。このときは次のス
テップは、Ｓ１０である。

ステップＳ１０で、まだフラグがセットされていないの
で、次にステップＳ１１に移る。ステップ８１１で、何
個口の検出データチェックポイントかをカウントするカ
ウンタＣ２に１が加えられそれがカウンタＣ２の値とな
る。すなわち、カウンタＣ２はチェックポイントをカウ
ントする。次いで、ステップ８１２で位置データＤが読
込まれステップ８１３でフラグがセットされる。そして
チェックポイントの微小分割の何番目かをカウントする
カウンタＣ１にまず１が加えられて、それがカウンタＣ
１の値となる。次にステップ８１５では、カウンタＣ１
によってカウントされた第１番目の微小部分の面積ｄ　
Ｓ　（＝　（ＳＡ−８Ｂ）　　ｎ、）がチェックポイン
トの面積の値を記憶するエリアΣｄｓに記憶される。そ
して、ステップは再びＳ７へと戻る。

ステップＳ７でサンプル制御され、Ａ／Ｄデータが読込
まれ（ステップＳ８）、ステップＳ９に移る。ステップ
Ｓ９では、まだデータＳ１はしきい値ＳＡとＳＢとの間
に位置しているため、ステップは３１０になる。ステッ
プＳ１０では、今度はフラグは既にセットされており、
次はステップ８１４となる。ステップ８１４では、カウ
ンタＣ１がカウント動作を行ない、ステップ８１５で、
さらに微小面積ｄｓがチェックポイントの面積の値を記
憶するエリアΣｄ３に加えられる。

ここで繰返されるステップＳ９ないしステップＳ１５は
、しきい値ＳＡとＳＢとの間にあるチェックポイントを
積分し、その面積を求めるステラ２１− プである。すなわち、第４Ｄ図に示すように、ｔ、から
【２をｎ等分し、その１つの幅をｎ。とじて、ｎ等分さ
れた微小面積ｄ　Ｓ　（−（Ｓｌ−８８）ｎ、　）を次
々と加算しているのである。

ステップＳ９において、検出データＳ１がしきい値ＳＡ
と８８との間を抜けたとき、ステップＳ９からステップ
Ｓ１６に移る。そして、このステップＳ１６ではフラグ
はセットされており、次にステップ３１７になる。

ステップＳ１７では、この実施例の場合、チェックポイ
ントの面積がチェックポイントの幅１ｔ、−１２１で割
られて単位幅当りの面積とされ、これが記憶エリアＰに
記憶される。

なお、この実施例のようにチェックポイントの単位幅当
りの面積（Σｄｓ／ｌｊ＋　　ｊ２１）を求めずとも、
チェックポイントの面積Σｄｓをそのまま記憶エリアＰ
１に記憶しても構わない。

次に、ステップ８１８で、カウンタＣ２によってカウン
トされるカウント値とそのときの位置データＤとチェッ
クポイントの単位幅当りの面積の２２− データＰとがメモリ領域Ｍ１に記憶される。そしてステ
ップＳ１９で、カウンタＣ１およびフラグをクリアし、
ステップ３２０で終点の基準マーク１９ａｋ：達したか
どうかの判断がされる。

通常は、チェックポイントは複数あり、ステップＳ７な
いしステップ８２０までの動作が終点の基準マーク１９
に達するまで繰返される。

基準マーク１９ａに達すると、次はステップＳ２１で、
カードの使用が初めてかどうかが判断される。カードの
使用が初めての場合は、ステップ８２２でカウンタＣ２
によってカウントされたチェックポイントの合計数のう
ち、その合計数を上限とする乱数配列Ｃ３を作る。そし
て、ステップ８２３において、乱数配列Ｃ３に対応した
メモリ領域Ｍ１に配憶されたデータをメモリ領域Ｍ２に
転送する、つまり乱数処理をする。そして一連の動作は
終了する。

ステップ８２１において、カードの使用が初めてでない
場合、すなわちカード照合の場合には、ステップは８２
４へと進む。ステップ８２４では、メモリ領域Ｍ１に記
憶されたデータのうち、乱数配列Ｃ３に対応したものだ
けがメモリ領域Ｍ３に転送される。そして、次のステッ
プＳ２５において、乱数配列Ｃ３の配列順に２つのメモ
リ領域Ｍ２とＭｓとに記憶されたデータが比較される。

このデータの比較は、それぞれのメモリ領域に記憶され
たデータの数学的な距鐘が次式で示すアルゴリズムで測
られ、その距舘が所定の範囲内であればデータは同一で
あると判定される。すなわち、ｎＤ＝　ｌ　［）ｎ　（Ｍｚ　）　　Ｄｎ　（Ｍｓ　）
　ｌ≦Σ。

ｎＰ　−Ｉ　Ｐｎ　　（Ｍ２　　）　−Ｐｎ　　（Ｍ、
’）ｌ　≦Σ２但しΣ７．Σ２は一定の値上記条件を満たす（ｎＤ、ｎＰ＞が所定の数以上あれば
同一と判定される。

Σ７．Σ２の値は、経時的な変化や、個々の測定誤差を
考慮して定められる。そして、比較されるメモリ領域Ｍ
２とＭｓとに記憶されたデータが一致していると判断さ
れれば、ステップ８２６でメモリ領域Ｍ２に記憶された
データが、メモリ領域Ｍ３に記憶されたデータと書換え
られる。すなわち、ステップ８２６では、比較したデー
タが一致した場合、最も新しいデータ（メモリ領域Ｍ３
のデータ）に基準データ（メモリ領域Ｍ２のデータ）が
書換えられるので、カード表面の情報が長期の使用によ
って徐々に変化した場合にも、基準となるデータが常に
最も新しく測定されたデータであるため、経時的な変化
に対応した照合装置とすることができる。

そしてステップＳ２７では、カードのアクセプト表示、
すなわちＯＫ表示がされて動作は終了する。この後は所
定の機能（現金の支払い、ゲートの開閉等）が行なわれ
、その後カードが照合装置から出される。

もし、ステップ３２５において、検出結果が一致しなけ
れば、カードのりジエクト表示、すなわち０ＬＩＴ表示
がステップ８２８でなされ、動作は終了する。

なお、この実施例では、照合するカードは磁気カード、
すなわち磁気的にデータ等を記憶する磁２５− 気スドライブ等を備えたカードとしたが、たとえば紙カ
ード等のように記憶媒体を備えないカードでも照合する
ことは可能である。この場合は、照合のためのデータは
、カード照合装置自体に備えるＲＡＭ等に記憶させれば
よい。

また、この実施例では、カードの表面状態を検出する位
置は、カードに設けられたサイン領域１７（第３図）と
し、特にサイン領域１７の基準線１８に沿ったサインの
ある部分とない部分との境目とした。これは、サインは
個々に特徴を持っており、文字と文字との間隔や濃淡や
字幅等に個別の特徴があり、カードの表面状態のデータ
が検出しやすくかつカードごとに異なるからである。し
かしこの実施例のようにせず、たとえばカード自体を製
造するときにできた微小な生地の変化をそのまま光学的
に検出することもできる。

あるいはまた、カード表面の検出場所を増やすことによ
り、さらに厳密にカードの真偽判別をすることも可能で
ある。

また、この実施例はカード、特に磁気カードに２６− 限定して説明したが、この発明はカードに限らず、たと
えば紙幣の真偽判別にも利用できるということを指摘し
ておく。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の構成の概略ブロック図で
ある。第２図は精密位Ｉｌ決め装置の概略図である。第
３図は磁気カードの一例を示す図である。第４Ａ図は第
３図の部分的拡大図である。第４Ｂ図は基準マークの中心点を検出するための方法の
説明図である。第４Ｃ図は検出される反射光量変化をグ
ラフとして示す図である。第４Ｄ図は第４Ｃ図の部分的
拡大図であり、チェックポイントの面積を求める方法の
説明図である。第４Ｅ図は第４Ａ図から検出され、カー
ドの磁気ストライプに記録されるデータを示す図である
。第５図はメモリ領域Ｍ１．Ｍ２およびＭ３に記憶され
るデータを示す図である。第６図はこの一実施例の概略
操作および動作フロー図である。第７図はカードの真偽
判別機能の動作フロー図である。図において、１は磁気カード、２は投光・受光ヘッド、
４はサンプル制御をするためのゲー１〜．５はＡ／Ｄ変
換器、６はマイクロコンピュータ、７は磁気ヘッド、１
７はサイン領域、１８は基準線、１９ａ、１９ｂは基準
マーク、ＳＡ、８Ｂはしきい値、Ｓｌは反射光量の変化
を示す曲線である。特許出願人　立石電機株式会社特開昭５９−６８０８５　（１０）

Claims

【特許請求の範囲】

（１）　予め検出された、カード表面の所定の部分の表
面状態を記憶する手段、前記カード表面の所定の部分に光を当て、その光の反射
光量の変化に基づいて前記カードの表面状態を検出する
手段、および前記記憶手段に記憶された表面状態と、前記検出手段に
よって検出された表面状態とを比較して前記カードの真
偽判別をする手段、を備えたカード照合装置。
（２）　前記判別手段の出力に応答して、前記記憶され
た表面状態を前記検出された表面状態に書換える手段を
さらに備える特許請求の範囲第１項記載のカード照合装
置。
（３）　前記カード表面の所定の部分は、前記カード表
面に印された、両端に基準マークを有する基準線によっ
て定められる特許請求の範囲第１項記載のカード照合装
置。
（４）　前記基準線を中心に、前記カード所有者のサイ
ンが記載されており、前記カード表面の所定の部分は、前記基準線を中心とす
る前記サインのある部分とない部分との境界部分である
特許請求の範囲第３項記載のカード照合装置。
（５）　前記表面状態を記憶する手段は、前記カードに
備えられた磁気ストライプである特許請求の範囲第１項
または第２項記載のカード照合装置。
（６）　前記表面状態は、予め定められた少なくとも２
つのしきい値の間の前記反射光量変化をもとに検出され
る特許請求の範囲第１項記載のカード照合装置。
（７）　前記所定の部分の前記表面状態のうち、任意に
選択された表面状態だけが比較され記憶される特許請求
の範囲第１項ないし第４項のいずれかに記載のカード照
合装置。