JPS59748A - 情報処理システムの保守診断方式 - Google Patents
情報処理システムの保守診断方式Info
- Publication number
- JPS59748A JPS59748A JP57110970A JP11097082A JPS59748A JP S59748 A JPS59748 A JP S59748A JP 57110970 A JP57110970 A JP 57110970A JP 11097082 A JP11097082 A JP 11097082A JP S59748 A JPS59748 A JP S59748A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- maintenance
- subsystem
- inspection
- order
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、情報処理システムの保守診断方式に関し９％
に故障発生時のシステムダウンタイムを最小圧する最適
試験プログラムまたは診断プログラム（以後、総称して
保守プログラムと呼ぶ）を自動的に作成して保守診断を
行なう方式に関する。
に故障発生時のシステムダウンタイムを最小圧する最適
試験プログラムまたは診断プログラム（以後、総称して
保守プログラムと呼ぶ）を自動的に作成して保守診断を
行なう方式に関する。
技術の背景
従来の保守診断方式では、保守プログラムについての保
守性能の向上、すなわち故障の検出率。
守性能の向上、すなわち故障の検出率。
指摘率、適合率の向上、実行時間の短縮などが設計時の
主たる関心事となっており、保守プログラムがもつ保守
性能を生かし、それらを効果的に活用するシステム化技
術については、殆んど考慮されることがなかった。その
ため、システムダウン時の機器の試験順序本比較的単純
な規則によっており、保守対象の情報処理システムのダ
ウンタイムを平均的に最短にできるような９合理的な基
準をもつものではなかった。
主たる関心事となっており、保守プログラムがもつ保守
性能を生かし、それらを効果的に活用するシステム化技
術については、殆んど考慮されることがなかった。その
ため、システムダウン時の機器の試験順序本比較的単純
な規則によっており、保守対象の情報処理システムのダ
ウンタイムを平均的に最短にできるような９合理的な基
準をもつものではなかった。
発明の目的および構成
本発明の目的は、試験診断システムが有する保守プログ
ラムの性能を最大限に活用できるよう。
ラムの性能を最大限に活用できるよう。
各サブシステムの点検パラメータを計算して、保守対象
システムの構成に最も適合したテスト単位の実行配列を
作成し、保守診断を実行する手段を提供することにある
。
システムの構成に最も適合したテスト単位の実行配列を
作成し、保守診断を実行する手段を提供することにある
。
本発明は、保守対象システムのサブシステム（ユニット
）に対応する保守診断システムのテスト単位を、故障率
／所要点検時間の大きい順に配列して実行することによ
シ、上記目的を達成するものであり、その構成として、
保守対象システムを保守上好適な複数のサブシステムに
分割して試験診断を行なうシステムにおいて、各サブシ
ステム毎をテスト対象とするテスト単位の集合にょシ作
成したテスト単位の群と１点検パラメータの基礎データ
の記述該サブシステムの故障率および該サブシステムの
テスト単位を実行するのに要する所要点検時間との比率
を表わす点検パラメータを各サブシステム毎に計算する
点検パラメータ計算部と、該点検パラメータを大きさの
順に配列する点検パラメータソート部と、該点検パラメ
ータの配列にしたがって対応するテスト単位を順序づけ
。
）に対応する保守診断システムのテスト単位を、故障率
／所要点検時間の大きい順に配列して実行することによ
シ、上記目的を達成するものであり、その構成として、
保守対象システムを保守上好適な複数のサブシステムに
分割して試験診断を行なうシステムにおいて、各サブシ
ステム毎をテスト対象とするテスト単位の集合にょシ作
成したテスト単位の群と１点検パラメータの基礎データ
の記述該サブシステムの故障率および該サブシステムの
テスト単位を実行するのに要する所要点検時間との比率
を表わす点検パラメータを各サブシステム毎に計算する
点検パラメータ計算部と、該点検パラメータを大きさの
順に配列する点検パラメータソート部と、該点検パラメ
ータの配列にしたがって対応するテスト単位を順序づけ
。
該順序にしたがってテスト単位の群を編集する編集実行
部とをそなえ、該編集されたテスト単位の群によりその
順序にしたがって保守対象システムの診断を実行するこ
とを特徴としている。
部とをそなえ、該編集されたテスト単位の群によりその
順序にしたがって保守対象システムの診断を実行するこ
とを特徴としている。
本発明の詳細な説明するに先立って、まずそこで使用す
る用語の記号と定義を以下に示す。
る用語の記号と定義を以下に示す。
サブシステムＳｉ＋保守対象システムの保守単位。たと
えば故障時に取替 えられるカード等のユニッ ト。
えば故障時に取替 えられるカード等のユニッ ト。
テス ト 単位Ｔｉ：サブシステムＳｉを試験するテス
トの集まり（部分集合）。
トの集まり（部分集合）。
故 障 率Ｆｉ ＋サブシステムＳｉの故障率。□
所要点検時間ＣミニサブシステムＳｉを点検するのに必
要な時間。すなわち。
所要点検時間ＣミニサブシステムＳｉを点検するのに必
要な時間。すなわち。
Ｓｉが故障しているか、また
は正常かを判定するまでに
要すゐ時間。
点検パラメータｐｉ ＋ Ｆｉ ／Ｃｉの値。
第１図は、上記Ｓｉ、 Ｔｉ、 Ｆｉ、 Ｃｉの関係を
示したものである。
示したものである。
次に、第２図乃至第４図にしたがって９本発明の詳細な
説明する。
説明する。
第２図は、実施例システムの全体構成図である。
同図において、１はテストデータセットであり。
テスト単位Ｔｉの集合を表わす。２は点検パラメータＰ
ｉを算出する念めの基礎データであり、（Ｓｉ。
ｉを算出する念めの基礎データであり、（Ｓｉ。
Ｆｉ、 Ｃｉ Ｊを含んでいる。３は本発明による保守
プログラム編集処理装置、４はテスト単位Ｔｉの実行順
序決定１部、５はテスト単位Ｔｉの編集実行部、６は編
集された実行保守プログラム、７は保守対象システムで
ある。また、８は点検パラメータ計算部、９はその計算
結果の点検パラメータリスト。
プログラム編集処理装置、４はテスト単位Ｔｉの実行順
序決定１部、５はテスト単位Ｔｉの編集実行部、６は編
集された実行保守プログラム、７は保守対象システムで
ある。また、８は点検パラメータ計算部、９はその計算
結果の点検パラメータリスト。
１０は点検パラメータ・ソート部、１１はソート結果の
実行順序リストであり、サブシステムＳｉのテスト順序
、すなわちテスト単位Ｔｉの実行順序を与える。
実行順序リストであり、サブシステムＳｉのテスト順序
、すなわちテスト単位Ｔｉの実行順序を与える。
第３図（ｄ）乃至＜１１＞は、第２図のシステムにおい
て使用される入力データ９作業デープル、中間結果リス
ト、および出力される実行保守プログラムの形式を示し
ている。
て使用される入力データ９作業デープル、中間結果リス
ト、および出力される実行保守プログラムの形式を示し
ている。
第３図（σ）は２点検パラメータＰｉを計算するもとに
なるテスト番号ｔｉ、故障率Ｆｉおよび所要点検時間Ｃ
ｉの対応テーブルである。
なるテスト番号ｔｉ、故障率Ｆｉおよび所要点検時間Ｃ
ｉの対応テーブルである。
同図（ｂ）は９点検パラメータＰｉを計算した結果をテ
ストＴｉと対応づけたテーブルである。
ストＴｉと対応づけたテーブルである。
同図（Ｃ）は、実行順位Ｉとテスト番号ｔｉｌの対応テ
ーブルである。
ーブルである。
同図（カは、保守プログラムに書込まれるテスト単位Ｔ
ｉの集合（テストデータセット）の型式を示す。
ｉの集合（テストデータセット）の型式を示す。
同図＜ｅ＞は、実施例によシ編集されたダウンタイム最
小化を実現する実行保守プログラムの形式を示す。ｔｉ
け実行順位ｉのテスト番号、Ｔｉは実行順位ｉのテスト
実行部であり、 １＝ｃ）は制御部を表わす。
小化を実現する実行保守プログラムの形式を示す。ｔｉ
け実行順位ｉのテスト番号、Ｔｉは実行順位ｉのテスト
実行部であり、 １＝ｃ）は制御部を表わす。
第２図における保守プログラム編集処理装置３０ｍ能ｕ
、保守対象システム７のサブシステムＳｉに対応するテ
ス） 単位Ｔｉ ヲ。
、保守対象システム７のサブシステムＳｉに対応するテ
ス） 単位Ｔｉ ヲ。
〔故障率Ｆｉ ／所要点検時間Ｃｉ ）の大きい順、す
なわち、故障検出に要する時間に対して、故障が検出で
きる可能性が高い効率的なテスト単位の順に保守プログ
ラムを編集するものである。そのため、実行順序決定部
４け９点検パラメータの基礎データ２を用いてサブシス
テム毎に点検パラメータを作成して大小順に配列し、テ
スト単位Ｔｉの選択順序情報を作成する処理を行い。
なわち、故障検出に要する時間に対して、故障が検出で
きる可能性が高い効率的なテスト単位の順に保守プログ
ラムを編集するものである。そのため、実行順序決定部
４け９点検パラメータの基礎データ２を用いてサブシス
テム毎に点検パラメータを作成して大小順に配列し、テ
スト単位Ｔｉの選択順序情報を作成する処理を行い。
編集実行部５は、その選択順序情報を用いて、テストデ
ータセット１のＴｉについて１つの配列を作成する編集
処理を行う。
ータセット１のＴｉについて１つの配列を作成する編集
処理を行う。
第４図は２本実施例システムの処理手順を示すフロー図
である。同図において、５ｔｅｐ１〜３は。
である。同図において、５ｔｅｐ１〜３は。
各テスト単位Ｔｉの保守プログラムへの書込み順序。
すなわち保守プログラムの全テストを連続的に実行する
場合のテスト番号ｔｉの配列を決定する手順を示す。
場合のテスト番号ｔｉの配列を決定する手順を示す。
５ｔｅｐ４〜１３は、テスト番号ｔｉの配列に従って。
各テスト番号ｔｉと該当テスト部（単位）Ｔｉとを。
保守プログラム媒体に書込む手順を示す。
以下、第４図にもとづいて１本発明によるダウンタイム
最小化を実現する保守プログラムの編集処理を説明する
。
最小化を実現する保守プログラムの編集処理を説明する
。
（５ｔｅｐ１ ）点検パラメータの基礎データ、すなわ
ち、保守プログラムに組込むテスト番号ｔｉ、そのテス
ト対象部分の故障率Ｆｉと所要点検時間Ｃｉとからなる
レコードの集まり２を読込む。
ち、保守プログラムに組込むテスト番号ｔｉ、そのテス
ト対象部分の故障率Ｆｉと所要点検時間Ｃｉとからなる
レコードの集まり２を読込む。
〔５ｔｅｐ２〕読込んだ各ＦｉとＣｉとから１点検パラ
メータＰｉ （＝Ｆｉ ／Ｃｉ ）を計算し、第３図（
ｂ）に示す形式でテーブルを作成スる。
メータＰｉ （＝Ｆｉ ／Ｃｉ ）を計算し、第３図（
ｂ）に示す形式でテーブルを作成スる。
（５ｔｔｔｐ ３ ） ５ｔｔｔｐ ２で作成したテー
ブルにもとづいて９点検パラメータＰｉの値の大きい順
（保守プログラム実行時の順序）にテスト番号ｔｉを配
列する。このとき、実行順位ｌも付は第３図（Ｃ）の形
式のテーブルを作成する。
ブルにもとづいて９点検パラメータＰｉの値の大きい順
（保守プログラム実行時の順序）にテスト番号ｔｉを配
列する。このとき、実行順位ｌも付は第３図（Ｃ）の形
式のテーブルを作成する。
（Ｓｔ＃＃４）初期設定として、実行順位（書込み順序
） ｌ ＝ｏ、 ｔｉ’＝ｏを設定する。ここで、”Ｏ
”は制御部に対応する値である。また ｆｉ＋は点検パ
ラメータの値の大きい順に並べた場合のテスト番号であ
る。
） ｌ ＝ｏ、 ｔｉ’＝ｏを設定する。ここで、”Ｏ
”は制御部に対応する値である。また ｆｉ＋は点検パ
ラメータの値の大きい順に並べた場合のテスト番号であ
る。
〔５ｔｅｐ ５〜７〕制御部を保守プログラム媒体に書
込む手順である。テストデータセット１（第３図（イ）
の形式）を読込み、制御部に当るｔｏのテスト番号を見
つけ出し、そのテスト番号ｔｏと制御部ｔｅとを保守７
’ψグラムへ書込む。
込む手順である。テストデータセット１（第３図（イ）
の形式）を読込み、制御部に当るｔｏのテスト番号を見
つけ出し、そのテスト番号ｔｏと制御部ｔｅとを保守７
’ψグラムへ書込む。
Ｃ５ｔｔｔｐ ８ ） ５ｔｔｔｐ ８〜１３は２点検
パラメータの値の大きい順にテスト（単位）を保守プロ
グラム媒体に書込む手順を示している。
パラメータの値の大きい順にテスト（単位）を保守プロ
グラム媒体に書込む手順を示している。
すなわち、５ｔｅｐ８では実行順位１ｔ−” １″だけ
増加させる。
増加させる。
Ｃ５ｔｅｐ ９ ） ５ｔｅｐ ３で作成したテーブル
（第３図（Ｃ））から、更新したＩと同じ値の順位をも
つテスト番号ｔｉ１を取り出しセットする。
（第３図（Ｃ））から、更新したＩと同じ値の順位をも
つテスト番号ｔｉ１を取り出しセットする。
（５ｔｔｔｐ １ｏ〜１１〕テストデータセツトを読込
み。
み。
ｔｉ’１同じテスト番号をもつテストを見つけ出す。
（５ｔｅｐ １２ ） ５ｔｅｐ １０〜１１で見つけ
たテスト番号およびそれに対応するテスト実行部（単位
）を、保守−プログラム媒体へ書込む。
たテスト番号およびそれに対応するテスト実行部（単位
）を、保守−プログラム媒体へ書込む。
（５ｔｅｐ １３ ） ５ｔｅｐ ８〜１２（７）処３
１ヲ、Ｉ＝ｎ（テスト単位の総数：制御部は除く）の分
を完了するまでくり返す。
１ヲ、Ｉ＝ｎ（テスト単位の総数：制御部は除く）の分
を完了するまでくり返す。
以上の５ｔｅｐを完了することＫよυ、保守プログラム
（第３図（ｅ））は、完成する。
（第３図（ｅ））は、完成する。
次に１本発明によυ作成される保守プログラムの適用方
式に関して、以下に述べる。
式に関して、以下に述べる。
σ、 試験方式
本発明に基づく保守プログラムの試験方式は。
対象システムの通常機能を利用した機能試験方式よりも
、任意の箇所にテスト信号を入力し、結果をとり出すス
キャンイン／スキャンアウト方式が適している。機能試
験方式では、テスト実行順序が対象システムの機能から
決まってくる部分が多いため９本編集方式によるテスト
実行順序設定の自由度は小さく、ダウンタイム短縮の効
果が少く慶い。
、任意の箇所にテスト信号を入力し、結果をとり出すス
キャンイン／スキャンアウト方式が適している。機能試
験方式では、テスト実行順序が対象システムの機能から
決まってくる部分が多いため９本編集方式によるテスト
実行順序設定の自由度は小さく、ダウンタイム短縮の効
果が少く慶い。
ｂ、 サブシステム／テストの入力・結果の出力箇所の
設定 サブシステムを装置またはその取替単位に設定する。
設定 サブシステムを装置またはその取替単位に設定する。
すなわち、テスト単位本サブシステム単位に対応させて
分割し、入力・出力もサブシステム単位で行えるように
する。これにより、ダウンタイム最小化の効果が直接的
に得られる。
分割し、入力・出力もサブシステム単位で行えるように
する。これにより、ダウンタイム最小化の効果が直接的
に得られる。
Ｃ０点検パラメータまたはその基礎データの設定／更新
点検パラメータま念はその基礎データを９編集プログラ
ム自身を使って更新できるようにすると。
ム自身を使って更新できるようにすると。
点検パラメータの最適化が容易に行える。
また、これらパラメータまたはデータを９個々のユーザ
システムごとに設定すると１個別システムごとのダウン
タイム最小化が実現できる。
システムごとに設定すると１個別システムごとのダウン
タイム最小化が実現できる。
ｄ、実行時におけるテスト選択
テスト順位テーブルを、保守プログラムに組込んでおき
、実行時にテストを順次点検パラメータの値の大きい順
に選択し、実行することができる。
、実行時にテストを順次点検パラメータの値の大きい順
に選択し、実行することができる。
この場合、テストの選択時間の総和が点検時間の総和（
保守プログラムの実行時間）Ｋ比し、十分率さいことが
前提となる。
保守プログラムの実行時間）Ｋ比し、十分率さいことが
前提となる。
発明の効果
ａ１本式によって保守プログラムを編集すれば。
保守プログラムのもてる能力が最大限に発揮され。
保守対象システムのダウンタイムの最小化が実現できる
。これにより、保守対象システムの稼働率およびその保
守作業効率の向上を図ることができる。
。これにより、保守対象システムの稼働率およびその保
守作業効率の向上を図ることができる。
ｂ、保守プログラム実行時間の長大化への改善主記憶装
置および中央処理装置などの内部記憶装置の容量増大化
に伴う保守プログラム実行時間の長大化傾向に対し、実
効的に点検時間（保守プログラムの実行時間）の短縮を
図ることができる。
置および中央処理装置などの内部記憶装置の容量増大化
に伴う保守プログラム実行時間の長大化傾向に対し、実
効的に点検時間（保守プログラムの実行時間）の短縮を
図ることができる。
Ｃ１有効な適用条件
点検時間が修理時間に比べて長く、かつ点検時間の中で
保守プログラムの実行時間の割合が多い場合に１本方式
によって編集し念保守プログラムは特に効果的に利用で
きる。
保守プログラムの実行時間の割合が多い場合に１本方式
によって編集し念保守プログラムは特に効果的に利用で
きる。
第１図は保守対象システムのサブシステムとテスト単位
との関係の説明図、第２図は本発明実施例の構成図、第
３図＜ａ＞乃至＜ｉｔ＞は本実施例各部の処理データを
示す 説明図、第４図は本実施例の動作手順説明図であ
る。 第２図中、１はテスト単位の集合、２は点検ノくラメー
タの基礎データ、３は保守プログラム編集処理装置、４
は実行順序決定部、５は編集実行部。 ７は保守対象システム、８は点検・（ラメータ計算部、
１０は点検パラメータソート部を表わすＯ特許出願人
富士通株式会社 代理人弁理士 要否用 文 廣 （外１名） 才１閃 ？１２１ 手続補正書（方式） ％式％ １゜事件の表示 昭和５７年特許願第１ｘ６９ｒＯｆ２
、発明の名称 情報処理システムの保守診断方式３、補
正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 神奈川県用崎市中原区上小田中１０１５番地氏
名 （５２２） 富士通株式会社代表者山本卓眞 ４、代理人 発送日 昭和５７年９月２８ 日 才４図 手続補正書（自発） 昭和５７年１０月２５日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特詐願第１１０９７０号
２、発明の名称 情報処理システムの保守診断方式６
３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 神奈川県用崎市中原区上小田中１０１５番地
氏名 （５２２）富士通株式会社 代表者 山 木 卓 眞 ） 氏 名 （８７１４） 弁理士 要否用 文 廣（
外１名）５、補正により増加する発明の数 な し６
、補正の対象 「特許請求の範囲および発明の詳細な
説明の欄」乙 補正の内容 別紙の通り 補正の内容 （１） 特許請求の範囲の欄を次のように補正する。 「保守対象システムを保守上好適な複数のサブシステム
に分割して試験・診断を行なうシステムにおいて、各サ
ブシステムをテスト対象とするテスト単位の集合により
作成したテスト単よび該サブシステムのテスト単位を実
行するのに要する所要点検時間との比率を表わす点検パ
ラメータを各サブシステム毎に計算する点検パラメータ
計算部と、該点検パラメータを大きさの順に配列する点
検パラメータソート部と、該点検パラメータの配列にし
たがって対応するテスト単位を順序づけ、該順序にした
がってテスト単位の群を編集する編集実行部とを毫なえ
。 該編集されたテスト単位の群によりその順序にしたがっ
て保守対象システムの診断を実行することを特徴とする
情報処理システムの保守診断方式。」 （２） 明細書第３頁最下行「データの記述該サブシ
ステムの故障率および該ザ」を、［データと。 該基礎データに基づいてサブシステムの故障率および該
す」に補正する。 以上。
との関係の説明図、第２図は本発明実施例の構成図、第
３図＜ａ＞乃至＜ｉｔ＞は本実施例各部の処理データを
示す 説明図、第４図は本実施例の動作手順説明図であ
る。 第２図中、１はテスト単位の集合、２は点検ノくラメー
タの基礎データ、３は保守プログラム編集処理装置、４
は実行順序決定部、５は編集実行部。 ７は保守対象システム、８は点検・（ラメータ計算部、
１０は点検パラメータソート部を表わすＯ特許出願人
富士通株式会社 代理人弁理士 要否用 文 廣 （外１名） 才１閃 ？１２１ 手続補正書（方式） ％式％ １゜事件の表示 昭和５７年特許願第１ｘ６９ｒＯｆ２
、発明の名称 情報処理システムの保守診断方式３、補
正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 神奈川県用崎市中原区上小田中１０１５番地氏
名 （５２２） 富士通株式会社代表者山本卓眞 ４、代理人 発送日 昭和５７年９月２８ 日 才４図 手続補正書（自発） 昭和５７年１０月２５日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 １、事件の表示 昭和５７年特詐願第１１０９７０号
２、発明の名称 情報処理システムの保守診断方式６
３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 神奈川県用崎市中原区上小田中１０１５番地
氏名 （５２２）富士通株式会社 代表者 山 木 卓 眞 ） 氏 名 （８７１４） 弁理士 要否用 文 廣（
外１名）５、補正により増加する発明の数 な し６
、補正の対象 「特許請求の範囲および発明の詳細な
説明の欄」乙 補正の内容 別紙の通り 補正の内容 （１） 特許請求の範囲の欄を次のように補正する。 「保守対象システムを保守上好適な複数のサブシステム
に分割して試験・診断を行なうシステムにおいて、各サ
ブシステムをテスト対象とするテスト単位の集合により
作成したテスト単よび該サブシステムのテスト単位を実
行するのに要する所要点検時間との比率を表わす点検パ
ラメータを各サブシステム毎に計算する点検パラメータ
計算部と、該点検パラメータを大きさの順に配列する点
検パラメータソート部と、該点検パラメータの配列にし
たがって対応するテスト単位を順序づけ、該順序にした
がってテスト単位の群を編集する編集実行部とを毫なえ
。 該編集されたテスト単位の群によりその順序にしたがっ
て保守対象システムの診断を実行することを特徴とする
情報処理システムの保守診断方式。」 （２） 明細書第３頁最下行「データの記述該サブシ
ステムの故障率および該ザ」を、［データと。 該基礎データに基づいてサブシステムの故障率および該
す」に補正する。 以上。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 保守対象システムを保守上好適な複数のサブシステムに
分割して試験−診断を行なうシステムにおいて、各サブ
システム毎をテスト対象とするテスト単位の集合により
作成したテスト単位の群と。 「点検パラメータの基礎データ」に関する記述該サブシ
ステムの故障率および該サブシステムのテスト単位を実
行するのに要する所要点検時間との比率を表わす点検パ
ラメータを各サブシステム毎に計算する点検パラメータ
計算部と、該点検パラメータを大きさの順に配列する点
検パラメータソート部と、＃点検パラメータの配列にし
たがって対応するテスト単位を順序づけ、該順序にした
がってテスト単位の群を編集する編集実行部とをそなえ
、！！＊編集され九テスト単位の群によりその順序にし
たがって保守対象システムの診断を実行することを特徴
とする情報処理システムの保守診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57110970A JPS59748A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 情報処理システムの保守診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57110970A JPS59748A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 情報処理システムの保守診断方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59748A true JPS59748A (ja) | 1984-01-05 |
| JPS6226736B2 JPS6226736B2 (ja) | 1987-06-10 |
Family
ID=14549114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57110970A Granted JPS59748A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 情報処理システムの保守診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59748A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS634346A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-09 | テクトロニックス・インコ−ポレイテッド | マイクロプロセッサ・デバッグ装置 |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57110970A patent/JPS59748A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS634346A (ja) * | 1986-06-23 | 1988-01-09 | テクトロニックス・インコ−ポレイテッド | マイクロプロセッサ・デバッグ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6226736B2 (ja) | 1987-06-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Bowers | The classic suggestion effect: Relationships with scales of hypnotizability, effortless experiencing, and imagery vividness | |
| JP2665407B2 (ja) | データの分類方法とその装置 | |
| CN101866316A (zh) | 一种基于相对冗余测试集约简的软件缺陷定位方法 | |
| DE69408282T2 (de) | Mit einem Reparatursystem für halbleiter-integrierte Schaltung verbundenes automatisches Reparaturdateneditiersystem | |
| Perry et al. | An empirical study of software interface faults | |
| Wohlin et al. | An experimental evaluation of capture‐recapture in software inspections | |
| US20030033291A1 (en) | SQL execution analysis | |
| CN110543420B (zh) | 一种软件测试方法、系统、终端及存储介质 | |
| JPH04237341A (ja) | インタフェース検証処理方式 | |
| CN112115121B (zh) | 一种数据治理实时数据质量检测系统 | |
| US4813009A (en) | Method and apparatus for determining internal status of a processor | |
| CN116881117A (zh) | 测试用例覆盖率评估方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
| JPS59748A (ja) | 情報処理システムの保守診断方式 | |
| CN118245385B (zh) | 一种测试方法、测试平台、设备、介质和产品 | |
| JPS6126112A (ja) | システムの異常診断方式 | |
| CN112346994B (zh) | 一种测试信息关联方法、装置、计算机设备及存储介质 | |
| Shiskin | Seasonal computations on Univac | |
| CN113761103A (zh) | 批量数据的处理方法、装置及电子设备 | |
| CN112529720B (zh) | 一种寿险精算模型计算结果的汇总方法 | |
| Baker et al. | Quality assurance and error identification for the Community Earth System Model | |
| Liu et al. | A Study of Debugging Sequence on Multi-Bug Program | |
| Atagoren et al. | A case study in defect measurement and root cause analysis in a turkish software organization | |
| CN121860475A (zh) | 基于多方案权衡的测试点优选方法、装置、设备及介质 | |
| Breipohl et al. | Pooling generating unit data for improved estimates of performance indices | |
| Christenson | An in-process fault density metrics model |