JPS59778A - Finger print collating device - Google Patents

Finger print collating device

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JPS59778A
JPS59778A JP57111114A JP11111482A JPS59778A JP S59778 A JPS59778 A JP S59778A JP 57111114 A JP57111114 A JP 57111114A JP 11111482 A JP11111482 A JP 11111482A JP S59778 A JPS59778 A JP S59778A
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JP
Japan
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pair
fingerprint
list
minutiae
candidate
Prior art date
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Application number
JP57111114A
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Japanese (ja)
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JPS6321233B2 (en
Inventor
Hiroshi Asai
淺井 紘
Hiroyuki Izumisawa
泉澤 裕之
Katsuaki Owada
大和田 克明
Seiichiro Kinoshita
木下 誠一郎
Shunji Matsuno
竣治 松野
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Priority to DE8383303729T priority patent/DE3378794D1/en
Priority to AU16313/83A priority patent/AU567678B2/en
Priority to US06/508,759 priority patent/US4646352A/en
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    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V40/00Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
    • G06V40/10Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
    • G06V40/12Fingerprints or palmprints

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Collating Specific Patterns (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To evaluate couples of characteristic points ''couple'' corresponding to two finger prints, by calling an area pattern assigned to a memory, a characteristic point list, a deviation plane, a candidate couple list and a list with a processor for processing them for the purpose of collation. CONSTITUTION:Each absolute value is calculated with absolute devices 154x, y, d, z to two characteristic data X, Y inputted via signals 151x, y, d, z and 151x', y', d', z' from a control section. Further, a threshold value group selected with a signal 150 from the control section is compared with outputs 153x, y, d, z of a threshold value ROM 153 at comparators 155x, y, d, z. The output of the comparison is combined at an AND 156 and whether or not all conditions are satisfied is checked and returned to the control section as an output 152.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、指紋等の縞状パターンから構成された紋様
の同一性を、その紋様特徴によって照合する装置に関す
るものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a device that verifies the identity of a pattern composed of a striped pattern such as a fingerprint, based on the characteristics of the pattern.

従来、指紋等の縞状パターンの照合のだめの特徴として
、第1図に示したように紋様を構成する隆線01の端点
02及び分岐点03に於ける位置(4,Yρ方向Df、
リレーション(Mr、、R(r; r= 1〜4)及び
集密量Cfを用いることが提案された。これら特徴の抽
出装置は特願昭54−39648号明細書(特開昭56
−138174号公報)に、まだ照合装置については特
願昭54−98966号明細書(特開昭56−2467
5号公報)に示されている。ここでリレーションとは各
特徴点M、に対し、これを原点とする局所座標系(ξ、
η)の各象限に於ける最近傍点Mfrに対し原点Mfと
の隆線数を”frと定義し、さらに集密量C4は上記原
点を中心とする一定円領域内に存在する近傍点の集笛性
を定量化したものである。しかしながら、前記特願昭5
4−98966号明細書に示された照合装置では、照合
すべき2つの指紋に於いて、個々の特徴点の対応関係を
厳密に検討していないため、横系ファイルが大量/にな
ると識別能力が十分でない点に大きな問題があった。
Conventionally, as a feature of verification of striped patterns such as fingerprints, as shown in FIG. 1, the positions (4, Yρ direction Df,
It was proposed to use relations (Mr, , R (r; r = 1 to 4) and density Cf. A device for extracting these features is described in Japanese Patent Application No. 54-39648 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 56-198).
-138174 Publication), and Japanese Patent Application No. 54-98966 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 56-2467) regarding the verification device.
No. 5). Here, the relation refers to the local coordinate system (ξ,
The number of ridges between the nearest point Mfr and the origin Mf in each quadrant of This is a quantification of the flute quality.However, the above-mentioned patent application
The verification device disclosed in the specification of No. 4-98966 does not strictly examine the correspondence of individual minutiae in the two fingerprints to be verified, so the identification ability deteriorates when the number of horizontal files becomes large/large. The big problem was that it was not sufficient.

本発明の目的は、照合すべき2つの指紋に於いて、その
対応する特蛾点[対」を厳密に評価することにより、よ
り筒性能な指紋照合を可能とする装置を提供することに
ある。
An object of the present invention is to provide a device that enables more efficient fingerprint matching by strictly evaluating the corresponding special points [pairs] in two fingerprints to be matched. .

次に図面を参照して本発明について詳細に説、明する。Next, the present invention will be described and explained in detail with reference to the drawings.

装置の説明の前に照合すべき指紋E対」のデータ形式に
ついて定義を行う。探索すべき指紋の特徴は、領域パタ
ーンPN及び特徴点リスI−(Ns;s=1〜S)から
な9、探索すべきファイル指紋の特徴は領域パターンP
M及び特徴点リス)(Mにf=1〜F)からなる。両特
徴の形式は相似であってファイル指紋につい−Cのみ第
2図(a) 、 (b)に示した。
Before explaining the device, we will define the data format of the "E pair of fingerprints to be compared." The characteristics of the fingerprint to be searched are the area pattern PN and the minutiae list I-(Ns; s=1 to S)9, and the characteristics of the file fingerprint to be searched are the area pattern P.
M and feature point list) (f = 1 to F in M). The formats of both features are similar, and only -C of the file fingerprint is shown in FIGS. 2(a) and 2(b).

第2図中で特徴点リス) (b)の内容については第1
図との対応で既に説明した。一方同図(a)に示す領域
パターンについては第1図04で示される紋様押捺領域
を示す2値パターンであって、その抽出方法は例えば特
願昭51−152377号明細書(特開昭53−758
24号公報)に示された装置で実現できる。ここで、特
徴点は領域パターン中“1゛で示される鮮明領域内のみ
で抽出され、60″で示される不明領域では抽出されな
いことに注意すべきである。
The contents of (b) (feature point list in Figure 2) are explained in 1.
This has already been explained in connection with the figure. On the other hand, the area pattern shown in FIG. 1(a) is a binary pattern indicating the pattern stamped area shown in FIG. -758
This can be realized by the apparatus shown in Japanese Patent Publication No. 24). Here, it should be noted that feature points are extracted only in the clear region indicated by "1" in the region pattern, and are not extracted in the unclear region indicated by 60".

第3図は、本発明になる指紋照合装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。制御部1oに対し、探索指紋
の特徴を記憶する領域パターンIINと特徴点リス)1
2N、ファイル指紋の特徴を記憶する領域パターンII
Mと特徴点リス) 12M、対検査回路15対向検査回
路16、中間結果情報を記憶する偏差平面17、対候補
リスト18、探索指紋及びファイル指紋の対特徴点を保
持する対リス)19N、19Mが各入力出力データ信号
線群で結合されている。
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the fingerprint matching device according to the present invention. For the control unit 1o, an area pattern IIN for storing the characteristics of the search fingerprint and a feature point list) 1
2N, area pattern II for storing file fingerprint characteristics
M and minutiae list) 12M, paired inspection circuit 15 opposed testing circuit 16, deviation plane 17 that stores intermediate result information, paired candidate list 18, paired squirrel that holds paired minutiae of search fingerprints and file fingerprints) 19N, 19M are connected by each input/output data signal line group.

また照合システム全体からのインターフェイス信号とし
て探索指紋及びファイル指紋の特徴データを入力する入
力信号100及び照合結果を出力する出力信号101が
備えられている1、また特徴点リスト12N、12Mに
、ついては、第2図(b)で示しだようにX、Y、D、
C,M、、R,(r= 1〜4 )の情報を保持するが
、この内特徴点を表現する座標系に依存するデータX、
Y、Dに対して、座標変換回路13N、13Mが設けら
れている。
Further, as interface signals from the entire verification system, an input signal 100 for inputting characteristic data of search fingerprints and file fingerprints and an output signal 101 for outputting verification results are provided. As shown in Figure 2(b), X, Y, D,
C, M, , R, (r = 1 to 4) information is retained, among which data X, which depends on the coordinate system expressing the feature points,
Coordinate conversion circuits 13N and 13M are provided for Y and D.

第4図は、第3図になる照合装置の動作概要を説明する
フローチャートである。まず照合すべき探索指紋及びフ
ァイル指紋の各特徴である領域パターンと特徴点リスト
を本照合装置内に入力すると、各特徴点リスト内に登録
されている全特徴点を総当り的にそのリレーションで検
査し、対応する可能性のある特徴点対を候補対リストに
記憶する。次に、この候補対に従って最も対応特徴点が
一致する座標整合量を求め、ファイル指紋の特徴点リス
トをこの整合量に従って座標整合する。次いで、座標整
合後の特徴点リストを、その配置で検査し候補対を精選
する。さらに、精選された候補対を基に、リレーション
による対応関係を検査し、各候補対に与えられている候
補対仏を修正する。このようにして得られた候補対リス
トから最終的な対応特徴点を決定する対リストを生成し
た後、再度リレーシコンによる対値の修正、及び領域パ
ターン、対向特徴点の検査集密性の検査等を行って対値
の最終的な値を決定する。対値を集計し、照合特徴点数
で正規化した照合値が本照合装置の最終出力として算出
出力される。尚、座標整合時に適当な整合量が発見され
ない時は、以下の照合過程を省略して不一致照合値をも
って照合値として出力することにより照合速度の向上を
行う。
FIG. 4 is a flowchart illustrating an overview of the operation of the collation device shown in FIG. 3. First, when the area pattern and minutiae list, which are the characteristics of the search fingerprint and file fingerprint to be collated, are input into this matching device, all minutiae registered in each minutiae list are brute-forced by their relations. Inspect and store potentially corresponding feature point pairs in a candidate pair list. Next, the amount of coordinate matching where the corresponding feature points most closely match is determined according to this candidate pair, and the coordinates of the feature point list of the file fingerprint are matched according to this amount of matching. Next, the feature point list after coordinate matching is inspected in terms of its arrangement, and candidate pairs are carefully selected. Furthermore, based on the carefully selected candidate pairs, the correspondence by relation is checked, and the candidate pairs given to each candidate pair are corrected. After generating a pair list that determines the final corresponding feature points from the candidate pair list obtained in this way, the pair values are corrected again by the relational controller, and the area pattern and test density of opposing feature points are inspected. to determine the final value of the pair. The pair values are totaled and a matching value normalized by the number of matching feature points is calculated and output as the final output of the matching device. Note that if an appropriate matching amount is not found during coordinate matching, the matching process is omitted and the mismatch matching value is output as the matching value, thereby improving the matching speed.

以降では、上記動作概要の順に、各部の構成及び動作に
ついて詳細に説明する。
Hereinafter, the configuration and operation of each part will be explained in detail in the order of the above operation outline.

第3図を参照して、照合すべき探索指紋の領域パターン
PN及び特徴点リス) (Nil ;s= 1〜S)が
入力信号100を介して入力されると制御部は、領域パ
ターンIINにアドレスll0N及び書込み信号111
Nを介して領域パターンPNを書き込み保持する。また
特徴点リストも特徴点リス)12Nにアドレス12ON
及び書込み信号121Nを介して書込み保持する。
Referring to FIG. 3, when the area pattern PN of the search fingerprint to be matched and the minutiae list (Nil; s=1 to S) are inputted via the input signal 100, the control unit changes the area pattern IIN to Address ll0N and write signal 111
A region pattern PN is written and held via N. Also, the feature point list is also the feature point list) Address 12ON to 12N
and write and hold via the write signal 121N.

次にファイル指紋の領域パターンPM及び特徴点リスト
(M、;f=1〜F)も同様に、領域パターンIIM、
特徴点リス)12Mにアドレスll0M、120M及び
書込み信号111M 、 121Mを介して書込み保持
する。領域パターン11M、 I INは第2図(i)
で示した2次元格子状の2値データを保持する通常のメ
モリでそのアドレスll0M、ll0Nは格子−要素を
選択アドレスするものである。また特徴点リス)12M
、12Nは第2図(b)に示す特徴点データを保持する
もので、そのアドレス120M、 12ONが特徴点M
、、N、を単位として指定する通常のメモリである。こ
れらのメモリについてはすでに公知のものであり特に説
明を要しないであろう。このようにして照合されるべき
探索指紋とファイル指紋が保持されると実際の照合動作
が開始されるが、その最初の過程は候補対リストの生成
である。
Next, the area pattern PM of the file fingerprint and the minutiae list (M,; f=1 to F) are similarly changed to the area pattern IIM,
Write and hold the feature point list 12M via addresses 110M, 120M and write signals 111M, 121M. Area pattern 11M, IIN is shown in Figure 2 (i)
This is a normal memory that holds binary data in a two-dimensional lattice shape, and the addresses ll0M and ll0N selectively address lattice elements. Also feature point squirrel) 12M
, 12N hold the feature point data shown in FIG. 2(b), and the address 120M, 12ON is the feature point M.
,,N, is a normal memory specified as a unit. These memories are already known and do not require any special explanation. Once the search fingerprint and file fingerprint to be matched are stored in this way, the actual matching operation begins, and the first step is to generate a candidate pair list.

即ち探索指紋の各特徴点N、(s=1〜S)に対し、フ
ァイル指紋の各特徴点M、(f=1〜F)を総当り的に
制御部10がアドレス12ON 、 120Mを介して
読出す。
That is, for each minutiae point N, (s=1 to S) of the search fingerprint, the control unit 10 brute-forces each minutiae point M, (f=1 to F) of the file fingerprint via the address 12ON, 120M. Read out.

特徴点データの自位置(x、 y)及び方向りは座標変
換回路13N、13Mを介して信号132N、132M
から読出され、集密量Cリレーション(Mr e Rr
 ;r = 1〜4 )は信号122N、122Mから
読出されるが、この場合座標変換量は予じめ信号13O
N、Mを介して(ξ=0.η−00−〇)をセットして
おく。
The own position (x, y) and direction of the feature point data are sent to signals 132N and 132M via coordinate conversion circuits 13N and 13M.
The dense amount C relation (Mr e Rr
; r = 1 to 4) are read out from the signals 122N and 122M, but in this case, the amount of coordinate transformation is determined in advance by the signal 13O.
(ξ=0.η-00-〇) is set via N and M.

第5図は座標変換回路13N、〆の一実施例を示すブロ
ック図である。なお、13N、13Mは同一構造である
。第5図に於いて、座標変換回路は、選択入力付レジス
タ134x、y、d、減算器135x、y、d  正余
弦定数ROM133乗算器136c、s、137c、s
及び加算器138x。
FIG. 5 is a block diagram showing one embodiment of the coordinate conversion circuit 13N. Note that 13N and 13M have the same structure. In FIG. 5, the coordinate conversion circuit includes registers with selection inputs 134x, y, d, subtracters 135x, y, d, sine and cosine constant ROM 133, multipliers 136c, s, 137c, s.
and adder 138x.

減算器138yから構成される。座標変換量(ξ、η、
θ)は制御部10から信号130 (130M又は13
ON)を介するか、又は特徴点データX、Y、Dとして
信号131x、y。
It is composed of a subtracter 138y. Coordinate transformation amount (ξ, η,
θ) is the signal 130 (130M or 13
ON) or as feature point data X, Y, D signals 131x, y.

dを介するか、いづれかが制御部の制御信号(複雑にな
るので図示しない)によって選択的にレジスタ134x
、 Ypdにセットされる。また変換動作時では特徴点
データX、Y、Dが特徴点リス) 12N、Mから信号
131x、y、dを介して入力されると減算器135x
、y、dによって(X−ξ)、(Y−η)、(D−〇)
がそれぞれ出力され、信号132dの(D−〇)によっ
てアドレスされた正余弦ROM133は予め記憶しであ
る余弦値cos (1)−〇)及び正弦値sin (1
)−〇)を信号1330c、sに出力する。そし、て乗
算器136c、s、137C−及び加減算器138x、
yによって マ=(xゝξ)c、oo(D−θ)+(Y−η)sin
(D−θ)マー(Y−η)coo(D−θ)−(X−ξ
)sin(1)−θ)が出力信号132yrYに演算出
力される。以上の出力132x、y、dが第3図132
N、Mに相当している。これで座標変換回路の説明を終
えた。
The register 134
, Ypd. Also, during the conversion operation, when the feature point data
, y, d (X-ξ), (Y-η), (D-〇)
are output, respectively, and the sine cosine ROM 133 addressed by (D-0) of the signal 132d stores in advance cosine value cos (1)-0) and sine value sin (1
)-〇) are output as signals 1330c and s. Then, multipliers 136c, s, 137C- and adder/subtractor 138x,
By y, ma = (xゝξ)c, oo(D-θ) + (Y-η) sin
(D-θ)mer(Y-η)coo(D-θ)-(X-ξ
) sin(1)-θ) is calculated and output as the output signal 132yrY. The above outputs 132x, y, d are shown in FIG.
It corresponds to N and M. This concludes the explanation of the coordinate conversion circuit.

今、座標変換量(ξ=η=θ=0)であったからX=X
、、  Y=Y  、  T)=Dとなり無変換を意味
する。このようにして読出された特徴点Ns、M(2組
のX、Y、D及びCは直ちに対検査回路15に信号15
1を介して送られる。
Now, since the coordinate transformation amount (ξ=η=θ=0), X=X
,, Y=Y, T)=D, meaning no conversion. The feature points Ns, M (two sets of X, Y, D, and C) read out in this way are immediately sent to the paired inspection circuit 15 by the signal 15.
1.

第6図は対検査回路15の一実施例を示すブロック図で
ある。対検査回路は幾通りかの閾値群を保持する閾値R
OM153絶対値器154XIYIZ、比較器155x
、y、d、z及びAND156から構成されている。
FIG. 6 is a block diagram showing one embodiment of the pair test circuit 15. The test circuit has a threshold R that holds several threshold groups.
OM153 absolute value unit 154XIYIZ, comparator 155x
, y, d, z and AND156.

その動作は制御部10から信号151x、y、d、zと
151. x ’。
The operation is performed by signals 151x, y, d, z and 151. x'.

y′、dl 、! (第1図151に相当)を介して入
力される2つの特徴点データX、Y、DBCに対し各絶
対値を絶対値器154x、y、d、zで算出し、その結
果を制御部10から信号150によって選択された闇値
群を閾値ROM153の出力153x、y、d、zと比
較器155x、y、d、zで比較する。これは、 IX[−X 、1≦Tx、IYf−Y81≦T、 、 
IDf−D51fd、 lCf−Cs1:5ITcを意
味する。この比較結果の出力はAND156で統合され
、すべての上記条件を満足するか否かを検査出力152
として制御部10に返禽す。以上で対検査回路の説明を
終えた。
y′,dl,! Absolute value units 154 x, y, d, z calculate the respective absolute values for the two feature point data X, Y, and DBC inputted via (corresponding to 151 in FIG. 1), and the results are sent to the control unit 10. The dark value group selected by the signal 150 is compared with the output 153x, y, d, z of the threshold value ROM 153 by the comparator 155x, y, d, z. This is IX[-X, 1≦Tx, IYf-Y81≦T, ,
IDf-D51fd, meaning lCf-Cs1:5ITc. The output of this comparison result is integrated by AND 156, and a test output 152 determines whether all the above conditions are satisfied.
The data is returned to the control unit 10 as follows. This concludes the explanation of the test circuit.

探索指紋とファイル指紋の特徴点データX、Y、D。Minutiae data X, Y, D of search fingerprint and file fingerprint.

Cが上記の対検査回路で検査するときの閾値はTcのみ
が厳しく 、Tx、Ty、Tdは座標整合前であること
から照合する指紋が互に上下反対になっていないという
程度の容量条件を設定すべきである。このようにして検
査が成功すると、制御部10は各座標変換回路13N、
Mの変換量レジスタ(第5図134x、y、d)に現在
特徴点リストから読出されているX、Y、Dを保持する
とともに、リレーション(NSr v ”Sr p r
 =1〜4 ) CM、tr−Rfr; r=1〜4)
を制御部内部に保持する。そして、各象限r毎に特徴点
リス)12N、12Mに対しアドレス12ON 、 1
20Mを介してN5r9Mfrを出力し、その特徴点デ
ータX、Y、Dを信号132N、13次を介して読出す
。この場合、読出された特徴点データはそれぞれ特徴点
Ns、Mrの局所座標系に座標変換回路13N、13M
で変換されている。この変換された特徴点データX、Y
、Dと予じめ制御部内で保持されていたりレーションR
とが対検査回路15に送られ、その差異が検査される。
When C is tested using the pair test circuit described above, only Tc is strict, and since Tx, Ty, and Td are before coordinate matching, the capacitance condition is such that the fingerprints to be compared are not upside down. Should be set. If the inspection is successful in this way, the control unit 10 controls each coordinate conversion circuit 13N,
The conversion amount registers of M (134x, y, d in FIG. 5) hold the X, Y, and D currently read from the feature point list, and the relation (NSr
=1~4) CM, tr-Rfr; r=1~4)
is held inside the control unit. Then, address 12ON, 1 for minutiae list) 12N, 12M for each quadrant r.
N5r9Mfr is outputted via signal 20M, and its feature point data X, Y, and D are read out via signal 132N and 13th order. In this case, the read feature point data is transformed into the local coordinate systems of the feature points Ns and Mr by coordinate conversion circuits 13N and 13M, respectively.
It has been converted with . This converted feature point data X, Y
, D and the ration R held in advance in the control unit.
are sent to the pair checking circuit 15, and the difference therebetween is checked.

即ち 心罐茫、・、醍毘り障9・、醍こ〈触、6・h・−八・
Iゞ1・′(たMl、l”f)は特徴虚、%lfの局所
座標変換を意味する)が検査されたこととなる。制御部
10はこの動作を各象限r=1〜4について順次行い、
その成功回数を候補対仏Wとしその値が所定の数以上な
らば、特徴点Nsに対する候補対特徴点Mfと候補対仏
Wとを候補対リスト18に出力する。
Namely, Shinkan 茫..., Daibi Rika 9., Daiko〈Touch, 6.h.-8.
This means that Iゞ1・' (TaMl, l''f) means the feature imaginary, local coordinate transformation of %lf) has been inspected.The control unit 10 performs this operation for each quadrant r=1 to 4. Do it sequentially,
The number of successes is taken as candidate vs. France W, and if the value is greater than or equal to a predetermined number, candidate vs. feature point Mf and candidate vs. France W for feature point Ns are output to the candidate pair list 18.

理解を助けるため第7図のようなNs:Mfに対しては
、r=3即ちNS3:M(3のみが検査で否定され、こ
の場合候補値はW=3となる。
To aid understanding, for Ns:Mf as shown in FIG. 7, r=3, that is, NS3:M (only 3 is negated by the test, and in this case the candidate value is W=3.

候補対リスト18は第8図に示すような内容保持を行う
通常のメモリでよく、第3図に示す如く制御部lOとは
、アドレス180が指定するN5とiによって決定され
る記憶単位に、信号181,182を介して1組のM5
i 、Wiを書込み読出しを行うことができる。
The candidate pair list 18 may be a normal memory for holding contents as shown in FIG. 8, and as shown in FIG. A set of M5 via signals 181 and 182
i and Wi can be written and read.

上記候補対特徴点Ml、Wの格納に際しては、制御部1
0は上記NS行に対して読出し書込みを操作して、WS
1≧W、≧・・・≧”si −”Wsi++≧・・・・
となるように行内容をW5.の大きさ順にソートして格
納する。
When storing the candidate pair feature points Ml, W, the control unit 1
0 performs read/write operations on the above NS line and writes the WS
1≧W, ≧・・・≧”si −”Wsi++≧・・・・
Change the line contents so that W5. Sort and store in order of size.

以上のようにしてNSXMF回の操作によって候補対リ
ストが順次作成されて、これが完成すると、引続き偏差
平面17を用いた座標系整合過程に入る。
As described above, a candidate pair list is sequentially created through NSXMF operations, and when this list is completed, a coordinate system matching process using the deviation plane 17 continues.

偏差平面は、第10図で示されるようなアドレス170
で量子化した2次元アドレスΔX、△Yで書込み読出し
の行われる通常のメモリであシ、第9図に示すようにそ
の一部を量子化1次元アドレス△Dで使用することもで
きる。
The deviation plane is located at address 170 as shown in FIG.
It is a normal memory in which writing and reading are performed using the two-dimensional addresses ΔX and ΔY quantized by , and a part of it can also be used with the quantized one-dimensional address ΔD as shown in FIG.

制御部10は候補対メモリ18に対しアドレス180を
介してN、(8=1−N、 )及び1(i=1.2・・
・)を順次発生して、その内容Msi  Wgiを読出
すと、NSを特徴点リス)12Nに、Msiを特徴点リ
ス)12Mにアドレスj2ON、120Mを介して供給
し、座標変換回路13N、13Mを無変換として、特徴
点の方向■)S + DS!を読出し、△D=D、1−
DSに相当する偏差平面の要素にWsrt加える。
The control unit 10 sends N, (8=1-N, ) and 1 (i=1.2...) to the candidate pair memory 18 via an address 180.
) are sequentially generated and their contents Msi Wgi are read, NS is supplied to the minutiae list) 12N, Msi is supplied to the minutiae list) 12M via addresses j2ON and 120M, and the coordinate conversion circuits 13N and 13M Assuming no transformation, the direction of the feature point ■) S + DS! Read out, △D=D, 1-
Add Wsrt to the element of the deviation plane corresponding to DS.

このような動作を繰返オす事により候補対リストに格納
されている全てのNS:M5 iの候補対に対して偏差
平面が第9図のようになる。この図で黒点はW、p大き
さを模式的に示しており、実際には%iが却の量子化単
位に累卵されているものである。
By repeating this operation, deviation planes for all NS:M5i candidate pairs stored in the candidate pair list become as shown in FIG. 9. In this figure, the black dots schematically show the magnitudes of W and p, and in reality, %i is accumulated in the quantization unit.

もし探索指紋とファイル指紋が同一指紋なら、候補対リ
ストに登録される候補対Ns:Msiはりレーション検
査によυ真の対であることが確率的に高くそのような候
補対の特徴点方向Ds+Dsiは一定の座標偏位、r&
第9図の如く集中することが予想される。一方候補対リ
スト中には偽の対も存在する可能性は勿論あるがこれら
の偏位浦は統計学的にΔD偏差平面上は散在し、集中す
ることはない。制御部10は偏差平面17の各要素を読
出し比較することにより、最大の集中部位を偏位ΔD米
として、直ちにξ=O2η−〇、θ=ΔI)来を座標変
換回路13Mにのみ信号130Mを介してセットする。
If the search fingerprint and the file fingerprint are the same fingerprint, the candidate pair Ns: Msi registered in the candidate pair list has a high probability of being a true pair according to the lation test, and the minutia direction of such a candidate pair is Ds+Dsi is a constant coordinate deviation, r&
It is expected that they will be concentrated as shown in Figure 9. On the other hand, it is of course possible that false pairs exist in the candidate pair list, but these deviations are statistically scattered on the ΔD deviation plane and are not concentrated. The control unit 10 reads out and compares each element of the deviation plane 17, sets the maximum concentration point as the deviation ΔD, and immediately sends a signal 130M only to the coordinate conversion circuit 13M for ξ=O2η−〇, θ=ΔI). Set via.

とれにより座標回転についてのみは探索指紋とファイル
指紋は一致したことになる。
This means that the search fingerprint and file fingerprint match only with respect to coordinate rotation.

制御部10は偏位ΔDと同様の処理によりて第10図に
示すような偏位ΔX、ΔYの集中箇所を偏差平面17上
に生成し、その集中箇所ΔX米、Δy%走査決定するこ
とにより、座標整合量ξ−ΔX”、η=ΔY来、θ=Δ
1)来を最終的に座標変換回路13Mにセットする。以
上のようにして座標整合が完成するが、もし偏位△が及
びΔχ来、ΔY米を決定する際、その偏差平面の集中部
分の累卵が予じめ設定された閾値より小さいときは、探
索指紋とファイル指紋は同一指紋でないと決定し、負定
数の照合値を出力信号101に出力し照合し打切る。ま
た十分な累卵か得られた時は、上記座標整合量(ξ、η
、θ)で、特徴点リスト12MのX、Y、Dを全て座標
変換することにより特微点りストを座標整合してしまう
。この動作は、制御部10によってアドレス120M合
Mf(f=1〜4)全テ信号132M、122Mを介し
て一度読出した後、信号121Mを介して再度書込みす
るだけでよい。
The control unit 10 generates concentration points of the deviations ΔX and ΔY on the deviation plane 17 as shown in FIG. 10 by the same process as the deviation ΔD, and scans and determines the concentration points ΔX and Δy%. , coordinate matching amount ξ−ΔX”, η=ΔY, θ=Δ
1) The coordinates are finally set in the coordinate conversion circuit 13M. Coordinate alignment is completed in the above manner, but if the deviation △ and Δχ and ΔY are determined, if the cumulative density of the concentrated part of the deviation plane is smaller than the preset threshold, the search It is determined that the fingerprint and the file fingerprint are not the same fingerprint, and a negative constant comparison value is output to the output signal 101 to perform the comparison and abort. Also, when enough eggs are obtained, the above coordinate matching amount (ξ, η
, θ), the coordinates of X, Y, and D of the feature point list 12M are transformed, thereby aligning the coordinates of the feature point list. This operation can be carried out by simply reading the address 120M and Mf (f=1 to 4) by the control unit 10 once via the signals 132M and 122M, and then writing again via the signal 121M.

以上で座標整合過程の説明を終えた。This concludes the explanation of the coordinate matching process.

次に、制御部10は、座標変換回路13Mを無変換状紡
にセットし直した後、候補対リスト18の全てのNs:
Mslを再度読出し、その特徴点データX、Y、Dを候
補対リスト生成時より厳しい閾値Tx、T、 、Tdで
対検査回路15を用いて検査する。なぜなら、探索指紋
とファイル指紋とは座標整合を完了しているだめ、本来
すでに特徴点は指紋押捺の歪みを除いてその配位は一致
しているはずだからである。この対検査で否定された候
補対Ns、Msiはその候補対仏Wsiとともに候補対
リストから削除される。これが1F′に補対の精選過程
である。
Next, the control unit 10 resets the coordinate conversion circuit 13M to the non-conversion state, and then converts all Ns in the candidate pair list 18:
Msl is read out again, and its feature point data X, Y, D are tested using the pair testing circuit 15 using thresholds Tx, T, , Td that are stricter than when generating the candidate pair list. This is because, since the search fingerprint and the file fingerprint have already completed coordinate matching, the minutiae should already have the same configuration except for the distortion of the fingerprint imprint. The candidate pair Ns, Msi that is denied in this pair test is deleted from the candidate pair list along with its candidate pair France Wsi. This is the selection process for the complement to 1F'.

さらに精選された候補対リストについてその全ての候補
対N8:M7に対して、次のような候補対仏の修飾を行
う。即ち、第11図を参照して1つの候補対N、:Mf
に対して、各hN、 、 M(をアト+zx12ON。
Furthermore, in the carefully selected candidate pair list, all candidate pairs N8:M7 are modified as the following candidate pairs with France. That is, referring to FIG. 11, one candidate pair N, :Mf
For each hN, , M(at+zx12ON.

120Mに供給し、リレーション(Nsr 、 Mfr
:r=1〜4)を読出し、候補対リスト18のNsr’
lTにMrrlj:登録されているか否かを検査する。
120M, relation (Nsr, Mfr
: r = 1 to 4) and Nsr' of the candidate pair list 18.
Check whether Mrrlj: is registered in IT.

もしMf′−MfIとして登録されていればその候補対
仏Wbを、基になったN5.Mlの候補対仏Waに加え
る。候補対仏の修飾が完了すると、新しい候補対仏の大
きさに従って候補対リストはN3行毎にソートされる。
If it is registered as Mf'-MfI, the candidate France Wb is used as the base N5. Add to Ml's candidate vs. France Wa. When the qualification of the candidate pairs is completed, the candidate pair list is sorted every N3 rows according to the size of the new candidate pairs.

以上で最終的な候補対リストが完成する。この候補対リ
ストを元にして対リス) 19N、 19Mが生成され
る。
With the above steps, the final candidate pair list is completed. Based on this candidate pair list, pairs (squirrels) 19N and 19M are generated.

2つの対リス) 19N、 19Mは相似の構造であっ
て、第12図に示されるようにN5(s−1〜s)及び
Mf(f= i〜F)でアドレス19ON 、 190
Mが指定され、特徴点番号と対仏Mf、vs及びNS、
Mfを保持できる2組のメモリである。
19N and 19M have similar structures, and as shown in FIG.
M is specified, the feature point number and the French Mf, vs and NS,
There are two sets of memories that can hold Mf.

対リス) 19N、19Mの生成は、当初対仏として負
の定数で初期化された後、候補対リストのN、(s−1
〜S)の順に複数回走査しながら、その最圧端i=1即
ち最大の候補対仏を有する候補対Ns:M5.をその候
補対仏WS泊身及び第2の候補対仏W32.1!:の差
によって、信頼性の高いものから対リス) 19N、1
9Mにその候補対仏を対仏として移す。対リストに登録
した候補対は全候補対リスト中から抹消される。
The generation of 19N and 19M (for squirrels) is initially initialized with negative constants for French squirrels, and then the candidate pair list N, (s-1
-S) multiple times in the order of Ns: M5. That candidate vs. France WS Tomin and the second candidate vs. France W32.1! : Depending on the difference, from the most reliable to the squirrel) 19N, 1
Move that candidate vs. France to 9M as vs. France. The candidate pairs registered in the pair list are deleted from the list of all candidate pairs.

全ての候補対リストの内容が対リストに移された時点で
の対N、:Mfの対仏はυ、=υr=(Ns”Mt )
の候補対仏となっている。又、候補対仏によって移され
なかった対リスト中の特徴点の対仏は負の初期値がその
ま\残る。
When the contents of all candidate pair lists are moved to the pair list, the pairs of pairs N, :Mf are υ, = υr = (Ns”Mt )
The candidates are against France. Further, the negative initial value of the feature points in the pair list that are not transferred by the candidate pair remains as is.

次に対仏の決定は、対仏の修飾と、非対仏の緩和の2つ
の処理によって成される。
Next, the decision on whether to deal with France is made by two processes: modifying what is against France and mitigating what is not against France.

対リス) 19N、19Mを順次調べその対仏υが正で
あるときは対仏の修飾を行う。即ち第13図に示すよう
に、例えば対リス)19N中のN5の対仏υ5が正であ
るときは、その対特徴点M(を基にして候補対仏の修飾
と同様に特徴点リス)12N、12Mをアクセスしてそ
のリレーション(Nsr 、 Msr ” r” 1〜
4)を読出し、対リストのN5rの対がM、rtl’か
つ対仏υsrが正であるか否かを検査する。もし正なら
対仏υ5.が対仏υ5に加えられる。相似な処理が対リ
ス)19M側でも対リス)19N側と独立に行われる。
(vs. squirrel) Check 19N and 19M sequentially, and if the vs. vs. υ is positive, modify the vs. vs. That is, as shown in FIG. 13, when the vs. French υ5 of N5 in 19N (for example vs. squirrel) is positive, the paired minutiae M (based on the candidate minutiae point squirrel) is Access 12N and 12M and check their relations (Nsr, Msr "r" 1~
4), and check whether the pair N5r in the pair list is M, rtl' and the pair υsr is positive. If true, against France υ5. is added to υ5 against France. Similar processing is performed on the squirrel (19M) side and independently of the squirrel (19N) side.

一方第14図の如く対リストに正の対仏が格納されてい
ないとき、例えば対リス)19Mに於けるあるM(’が
負の対仏υf′をもっているときは、このMfを信号1
20Mに供給し、Mf′の特徴点データを信号132M
、 122Mを介して読出し、その(XrZ Yt’ 
)を領域パターンPNの2次元アドレスとして信号11
ONに供給する。その結果出力112Nから読出された
領域値が“0゛であれば、上記特徴点Mf′は探索指紋
側の不明領域内であったこととなり対仏υ「′はdon
”t careを童味する値“OI′に書換えられる。
On the other hand, when a positive pair is not stored in the pair list as shown in FIG.
20M, and the feature point data of Mf' is supplied to the signal 132M.
, 122M and its (XrZ Yt'
) as the two-dimensional address of the area pattern PN and the signal 11.
Supply ON. As a result, if the area value read from the output 112N is "0", it means that the minutiae point Mf' is within the unknown region on the search fingerprint side.
``t care'' is rewritten to a value ``OI''.

一方領域値が“1゛なら対仏υf′はそのま\となる。On the other hand, if the area value is "1", the value υf' for France remains as is.

逆に対リス) 19Nで上記の処理を行うときは座標変
換回路13Nに逆変換量(ξ−−Δχ才。
Conversely, when performing the above processing with 19N, the coordinate transformation circuit 13N has an inverse transformation amount (ξ--Δχ).

η−−△Y来、θ−−ΔD*)をセットし、領域パター
ン11Mを調べる。
η--ΔY, θ--ΔD*) are set, and the area pattern 11M is examined.

対仏υf′又はυ5′が負値のま\保存された特徴点M
f′又はN5′については、次のような検査を行う。例
えばMf’については、そのリレーション(M’(、:
 ; r = 1〜4 )の内Rf+’ = 0となる
ものでその配置が近く、方向が正反対を向いているもの
がないかを対向検査回路16を用いて探す。もしあれば
その特徴点Mfrを対リス) 19Mで検査しその対仏
υff′が負の値であれば、この対仏υrrと上記M(
’CD対値対仏′をともにdont cayeとし対仏
“0“に変更する。これは、第15図に示す如く、対向
する近接特徴点を検査するもので、このような2組の特
徴点は指紋押捺の具合いや機械的な自動特徴点抽出時に
抽出されたりされなかったりする不安定な特徴点である
Feature point M where υf′ or υ5′ is kept as a negative value
Regarding f' or N5', the following test is performed. For example, for Mf', its relation (M'(,:
; r = 1 to 4), the counter inspection circuit 16 is used to search for those with Rf+' = 0, which are located close to each other and whose directions are opposite to each other. If there is, the feature point Mfr is checked in 19M, and if the feature point υff′ is a negative value, this feature point Mfr and the above M(
Don't Caye for both 'CD vs. Value vs. France' and change it to "0" for France. As shown in Fig. 15, this is a test of opposing adjacent minutiae points, and these two sets of minutiae may or may not be extracted depending on the condition of fingerprint imprinting or mechanical automatic minutiae extraction. It is an unstable feature point.

第16図は対向検査回路16の一実施例を示すブロック
図である。即ち、差絶対値器163x、y、d、補数値
163c比較器164x山d、方向L[1M 165差
絶対値器166a、b、比較器167a、b 、 AN
Dゲート168及び閾値ROM169から構成される。
FIG. 16 is a block diagram showing one embodiment of the counter inspection circuit 16. That is, absolute difference value unit 163x, y, d, complement value 163c comparator 164x mountain d, direction L[1M 165 absolute difference value unit 166a, b, comparator 167a, b, AN
It is composed of a D gate 168 and a threshold ROM 169.

1対向]検査されるべき2組の特徴点データ(x。1 Opposite] Two sets of minutiae data to be inspected (x.

Y、D)と(X’、 Y’、 Dうがそれぞれ入力信号
161x、ytd及び161x’、y’、dK供給され
ると、補数値163Cで方向D′のみが方向補数即ち、
πラジアンだけ反転された後差絶対値器163x、y+
dで差の絶対値が演算され、閾値ROM169の出力で
ある閾値と比較器164x、y、dで比較される。即ち 1x−x′l≦Tx、 1y−y′l≦ry 、 ID
−1)’+f I≦Tdが検査され、その出力がAND
ゲート168に人力される。ここで方向成分ではπラジ
アンが差絶対値器163dの最上位ピッ)(MSB)に
相対する様に接続され、方向演算に於ける周期性に対す
る正しい演算が保蔽される。一方、差絶対値器163x
 r Yの差絶対値出力と差符号(減算時の符号)は方
向1165にアドレスとして入力され、その指定する方
向ΔDを出力し差絶対値器166a、bに供給する。即
ちなる△Dが近接しているという粂件から比較的小さい
x−x’及びY−Y’の全ての組合せを入力として、R
OM化されている。−力方向D−D’と上記△Dは差絶
対値器166a 、 bでその差の絶対値が演算され比
較器167a 、bで閾値ROM169からの別の予し
め定められた 値と比較され、その結果がANDゲート
168に供給される。ANDゲート168は全での入力
が肯定されたとき[対向」検査肯定信号を出力信号16
2を介して制御部10に戻す。
When input signals 161x, ytd and 161x', y', dK are supplied to input signals 161x, ytd and 161x', y', dK respectively, only the direction D' is the direction complement, that is, with the complement value 163C.
Post-difference absolute value unit 163x, y+ inverted by π radians
The absolute value of the difference is calculated at d, and compared with the threshold value output from the threshold ROM 169 by comparators 164x, y, and d. That is, 1x-x'l≦Tx, 1y-y'l≦ry, ID
-1)'+f I≦Td is checked and the output is AND
Gate 168 is manually operated. Here, in the direction component, π radian is connected so as to be opposite to the most significant bit (MSB) of the difference absolute value unit 163d, and correct calculation with respect to periodicity in the direction calculation is maintained. On the other hand, the difference absolute value unit 163x
The difference absolute value output of rY and the difference sign (sign at the time of subtraction) are input as an address in the direction 1165, and the specified direction ΔD is outputted and supplied to the difference absolute value units 166a and 166b. That is, from the fact that △D is close, by inputting all combinations of relatively small x-x' and Y-Y', R
It has been converted to OM. - The absolute value of the difference between the force direction D-D' and the above △D is calculated by difference absolute value units 166a and 166b, and compared with another predetermined value from the threshold ROM 169 by comparators 167a and 167b, The result is provided to AND gate 168. AND gate 168 outputs an "opposite" test affirmation signal when all inputs are asserted at signal 16.
2 to the control unit 10.

上記の差絶対値器166a、bに於いでは方向りとΔD
及びD′とΔDとはπラジアンの差異はOラジアンに相
当するので減算の最上位ピッ)(MSB)は丁となるよ
う配線されている。
In the above-mentioned difference absolute value calculators 166a and 166b, the direction and ΔD
Since the difference of π radians between D' and ΔD corresponds to O radians, the most significant bit (MSB) for subtraction is wired so as to be d.

以上で、対向検査回路の一例を説明した。An example of the opposing inspection circuit has been described above.

負の対仏を有する対リスト中の検査に於いて、上述の「
対向」特徴点でないときは、最終的にその特徴点の集密
量Cを検査し、 値比較でそれが非常に大きいときはや
けシ対仏“0゛又は負の“θ′″に近い値にセットし直
す。以上をまとめて、第17図に模式的に示したように
非対仏の緩和は、探索指紋とファイル指紋との座標整合
後の領域パターンPN * PMの非共通領域に存在す
る非対特徴点及び共通領域内で点線で示しだ「対向」特
徴点及び集密量の大きい特徴点についてその非対仏をd
on’tellre 又はそれに近い負の対仏に緩和し
ようとするものである。
In the examination of the pair list with negative pairs, the above-mentioned
If the feature point is not the "opposite" feature point, finally check the density C of that feature point, and if it is very large by value comparison, it will be compared to a value close to "0゛" or negative "θ'". In summary, as schematically shown in Fig. 17, the non-French relaxation exists in the non-common area of the area pattern PN * PM after coordinate matching between the search fingerprint and the file fingerprint. d for non-paired minutiae, “opposed” minutiae indicated by dotted lines in the common area, and minutiae with large density.
It is intended to be relaxed to on'tellre or a negative anti-French close to it.

以上で対リストの対仏が完成すると、制御部10は対リ
ストを順次読出しながら照合値qとしてXF を算出し出力信号101を介して出力する。ここに8及
びFは探索指紋及びファイル指紋の共通領域内の特徴点
数を示す。これらの演算については、一般的な四則演算
回路で実施できるので詳細は省略する。
When the comparison of the pair list to France is completed as described above, the control section 10 calculates XF as the matching value q while sequentially reading the pair list, and outputs it via the output signal 101. Here, 8 and F indicate the number of feature points in the common area of the search fingerprint and the file fingerprint. These operations can be performed using general arithmetic operation circuits, so the details will be omitted.

以上で本発明になる指紋照合装置の一実施例の詳細につ
いて説明を完了したが、制御部】0については、これま
での動作説明によりその構成は当業者には容易に成し得
るもので説明を要しない。また、説明を簡明にするため
、候補対リストの候補対リスト及び対リストの対仏の修
飾に於いてリレーシロンで対応する(Nsr l Nf
r t r= 1〜4 )の対応検査についてのみ説明
したが、一般的には指紋の特徴点の配位の歪みから必ず
しも同じrでN s、& Mfrの対応を期待できるも
のではなく 、NSrに対し異なるr′であるMfr′
が対応する場合もあるので、(NsrrMfrtr=1
〜4)は象限r単位で比較するのではなく(Nsr;「
=1〜4)と(Mfr’ t r = i〜4)の16
回総当り的に対応を検査するのが精密である。この場合
の対応検査は各々N、、Mlを基準とした局所座標系に
よる)鵡焔1・・・・1七ゝ訝1sr、 、 jば声質
1・・4により行われる。これらは座標変換回路13N
、13M、及び対検査回路15を用いれば候補対リスト
生成時の処理と同様に可能である。
The detailed explanation of one embodiment of the fingerprint matching device according to the present invention has been completed above, and the configuration of the control unit 0 can be easily accomplished by those skilled in the art based on the explanation of the operation so far. does not require Also, in order to simplify the explanation, the candidate pair list of the candidate pair list and the French modification of the pair list correspond with relay silon (Nsr l Nf
We have only explained the correspondence test for r tr = 1 to 4), but in general, it is not necessarily possible to expect the correspondence of N s, & Mfr at the same r due to the distortion of the configuration of the minutiae points of the fingerprint. Mfr′ with different r′ for
may correspond, so (NsrrMfrtr=1
~4) is not compared in quadrant r units (Nsr;
= 1 to 4) and (Mfr' t r = i to 4), 16
It is accurate to check the correspondence in a round-robin manner. In this case, the correspondence check is carried out using the local coordinate system based on N, , Ml, respectively). These are the coordinate conversion circuit 13N
, 13M, and the pair checking circuit 15, it is possible to perform the same process as when generating the candidate pair list.

本発明の実施例については、その動作説明から明らかな
ように製品化されているマイクロコンピュータを用いて
、処理装置で対検査回路、対向検査回路及び制御部を、
又メモリによって領域パターン、特徴点リスト、偏差平
面、候補対リスト及び対リストを割当ることによって等
価な出力を得ることかり能であり、本発明はこのような
ハードウェア的構成上の変更に対して特許請求範囲を制
限されるものではない。
As is clear from the description of the operation of the embodiments of the present invention, a commercially available microcomputer is used to control the counter-inspection circuit, counter-inspection circuit, and control section in the processing device.
Furthermore, it is possible to obtain equivalent outputs by allocating region patterns, feature point lists, deviation planes, candidate pair lists, and pair lists using memory, and the present invention does not deal with such changes in hardware configuration. The scope of the claims shall not be limited.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、指紋特徴を説明する図、 第2図は、指紋特徴を定義する領域パターン及び特徴点
リストを説明する図、 第3図は、本発明になる指紋照合装置の一実施例を示す
ブロック図、 第4図は、本発明の動作を概略示す概要フロー、第5図
は、座標変換回路の一例を示すブロック図、 第6図は、L対」検査回路の一例を示すブロック図、 第7図は、候補対の検査の内容を説明する図、第8図は
、候補対リストの構造を示す図、第9図は、座標整合に
於ける方向整合を示す偏差平面を示す図、 第10図は、同上の偏位整合を示す偏差平面を示す図、 第11図は、候補対リストの候補対リストを説明する図
、 第12図は、対リストの構造を示す図、第13図は、対
リストの対仏修飾を説明する図、第14図は、対リスト
の非対対向特徴点を説明する図、 第15図は、対向特徴点の指紋上での形体を説明する図
、 第16図は、1対向」検査回路の一例を示すブロック図
、 第17図は、非対仏緩和を施す特徴点の例を示す図であ
る。 図において、 制御部10、探索指紋の領域パターンIIN、特徴点リ
スト12N、ファイル指紋の領域パターン11M、特徴
点リスト12M、座標変換回路13N、13M、「対」
検査回路15、「対向」検査回路16、偏差平面17、
候補対リスト18、及び対リス)19N、Mをそれぞれ
示す。 し−X −494− N5と 第   ノら  図 −495
FIG. 1 is a diagram for explaining fingerprint features, FIG. 2 is a diagram for explaining a region pattern and feature point list that define fingerprint features, and FIG. 3 is a diagram for explaining an embodiment of a fingerprint matching device according to the present invention. 4 is a schematic flow diagram schematically showing the operation of the present invention. FIG. 5 is a block diagram showing an example of a coordinate conversion circuit. FIG. 6 is a block diagram showing an example of an L pair inspection circuit. , FIG. 7 is a diagram explaining the contents of candidate pair inspection, FIG. 8 is a diagram showing the structure of a candidate pair list, and FIG. 9 is a diagram showing a deviation plane showing direction matching in coordinate matching. , FIG. 10 is a diagram showing a deviation plane showing the deviation matching of the above, FIG. 11 is a diagram explaining the candidate pair list of the candidate pair list, FIG. 12 is a diagram showing the structure of the pair list, Figure 13 is a diagram explaining the French modification of the pair list, Figure 14 is a diagram explaining the non-opposing minutiae of the pair list, and Figure 15 is a diagram explaining the shape of the opposing minutiae on the fingerprint. FIG. 16 is a block diagram showing an example of a one-way inspection circuit, and FIG. 17 is a diagram showing an example of feature points to which anti-French mitigation is applied. In the figure, a control unit 10, a search fingerprint area pattern IIN, a minutiae list 12N, a file fingerprint area pattern 11M, a minutiae list 12M, coordinate conversion circuits 13N and 13M, and a "pair"
Inspection circuit 15, "opposite" inspection circuit 16, deviation plane 17,
Candidate pair list 18 and pair squirrels) 19N and M are shown, respectively. Shi-X -494- N5 and No. 495

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 採取された2つの指紋が、同一指紋であるか否かを、前
記2つの指紋の紋様特徴によって判別する指紋照合装置
に於いて、前記2つの紋様特徴を保持する領域パターン
及び特徴点リスト記憶手段と、紋様特徴の内の特徴点の
一致性を検査する対検査回路と、該検査回路によって候
補となった対特徴点群による前記指紋の2次元位置合せ
のための座標変換量を検出するための偏差平面記憶手段
と、前記候補となる対特徴点群を管理するだめの候補対
リスト記憶手段と、候補対から真の対特徴点を選択管理
する対リスト記憶手段と、非対特徴点の対向特徴点を検
査する対向検査回路、及び前記各記憶手段及び検査回路
を統合管理する制御部とから構成され、2つの指紋特徴
の候補対を選択した後、座標整合を行い、次に候補対か
ら真の対を決定した後、非対特徴点を検査することによ
υ得られる対及び非対の各対毎に付された対値と照合有
効特徴点数とから、2つの指紋の照合値を算出すること
を特徴とした指紋照合装置。
In a fingerprint matching device that determines whether two collected fingerprints are the same fingerprint based on the pattern characteristics of the two fingerprints, an area pattern and feature point list storage means that retains the two pattern characteristics. and a paired inspection circuit for inspecting the consistency of minutiae points among the pattern features, and for detecting the amount of coordinate transformation for two-dimensional alignment of the fingerprint using the pair of minutiae points that are candidates by the testing circuit. a deviation plane storage means for storing paired minutiae points as candidates, a candidate pair list storage means for managing the group of paired minutiae points to be candidates, a pair list storage means for selecting and managing true paired minutiae points from the candidate pairs, and It is composed of an opposing inspection circuit that inspects opposing minutiae points, and a control unit that integrally manages the storage means and inspection circuit, and after selecting two candidate pairs of fingerprint features, performs coordinate matching, and then After determining the true pair from , the matching value of the two fingerprints is determined from the pairing value and the number of matching effective minutiae points assigned to each pair and non-pairing minutiae obtained by inspecting the unpaired minutiae. A fingerprint verification device characterized by calculating.
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