JPS59781A - パタ−ン照合方式 - Google Patents
パタ−ン照合方式Info
- Publication number
- JPS59781A JPS59781A JP57111118A JP11111882A JPS59781A JP S59781 A JPS59781 A JP S59781A JP 57111118 A JP57111118 A JP 57111118A JP 11111882 A JP11111882 A JP 11111882A JP S59781 A JPS59781 A JP S59781A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- pair
- feature points
- feature point
- feature
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- G07C9/00—Individual registration on entry or exit
- G07C9/30—Individual registration on entry or exit not involving the use of a pass
- G07C9/32—Individual registration on entry or exit not involving the use of a pass in combination with an identity check
- G07C9/37—Individual registration on entry or exit not involving the use of a pass in combination with an identity check using biometric data, e.g. fingerprints, iris scans or voice recognition
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V40/00—Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
- G06V40/10—Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
- G06V40/12—Fingerprints or palmprints
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Collating Specific Patterns (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパターン照合方式に関し、特に指紋で代表され
るしま状パターンの同一性をコード化さ 。
るしま状パターンの同一性をコード化さ 。
れたパターン特徴によって自動照合するパターン照合方
式に関する。
式に関する。
指紋で代表されるしま状パターンの自動化された照合方
式においては、しま状パターンを構成する隆線紋様の特
殊な点、すなわち第１図において隆線にのとぎれる点Ｐ
（端点）及び分岐または合流する点ｐ（分岐点）をパタ
ーンの特徴点とし、その位置Ｘ、Ｙ及び方向りを含む各
特徴点の特性を表す量（パターン特徴）をコード化して
記憶し、このコード化されたパターン特徴を用いて、犯
罪現場に残された遺留指紋の様な鑑定されるべき探索パ
ターンと、これと照合される磁気ディスク等にあらかじ
め登録され記憶保存されている多１．のファイルパター
ンとの比較照合が行われる。上述のパターン特徴として
特徴点の位＠、Ｘ、Ｙ及び方向りを用いる方法が、例え
ば、特開昭５３−１２２３５号公報に記載されている。
式においては、しま状パターンを構成する隆線紋様の特
殊な点、すなわち第１図において隆線にのとぎれる点Ｐ
（端点）及び分岐または合流する点ｐ（分岐点）をパタ
ーンの特徴点とし、その位置Ｘ、Ｙ及び方向りを含む各
特徴点の特性を表す量（パターン特徴）をコード化して
記憶し、このコード化されたパターン特徴を用いて、犯
罪現場に残された遺留指紋の様な鑑定されるべき探索パ
ターンと、これと照合される磁気ディスク等にあらかじ
め登録され記憶保存されている多１．のファイルパター
ンとの比較照合が行われる。上述のパターン特徴として
特徴点の位＠、Ｘ、Ｙ及び方向りを用いる方法が、例え
ば、特開昭５３−１２２３５号公報に記載されている。
更に、照合の精度を改善するため、位置および方向の外
に、各特徴点の″近傍に存在する特徴点の集密性を示す
「集密量」と、各特徴点を中心に複数に分割した各扇形
領域内の最近傍特徴点との間の隆線数を示す「リレーシ
ョン」とをパターン特徴として用いる方法が特開昭５６
−２４６７５号公報に示されている。
に、各特徴点の″近傍に存在する特徴点の集密性を示す
「集密量」と、各特徴点を中心に複数に分割した各扇形
領域内の最近傍特徴点との間の隆線数を示す「リレーシ
ョン」とをパターン特徴として用いる方法が特開昭５６
−２４６７５号公報に示されている。
指紋で代表されるしま状パターンの自動照合を行うには
、まずパターンの特徴をコード化することが必要である
が、これは、例えば、特開昭５５−１３８１７４号公報
記載のパターン特徴抽出装置によって行われる。、この
とき、各特徴点の位置および方向を含むパターン特徴が
決められるが、各特徴点の位置および方向は、指紋・掌
紋等のしま状パターンを採取まだは用紙に押なつすると
きの位置・方向等の条件によってＺたとえ同一人の指紋
であっても同じになるとは限ら力い。す々わち、探索パ
ターンの座標系とファイルパターンの座標系とは本来別
々に決められたものであって、比較照合を行うに先立っ
て座標系をほぼ同一のものとする必要がある３、このだ
めの座標変換の方法は既に確立されておシ、例えば、特
開昭５３−１２２３５号公報記載の方法が用いられる。
、まずパターンの特徴をコード化することが必要である
が、これは、例えば、特開昭５５−１３８１７４号公報
記載のパターン特徴抽出装置によって行われる。、この
とき、各特徴点の位置および方向を含むパターン特徴が
決められるが、各特徴点の位置および方向は、指紋・掌
紋等のしま状パターンを採取まだは用紙に押なつすると
きの位置・方向等の条件によってＺたとえ同一人の指紋
であっても同じになるとは限ら力い。す々わち、探索パ
ターンの座標系とファイルパターンの座標系とは本来別
々に決められたものであって、比較照合を行うに先立っ
て座標系をほぼ同一のものとする必要がある３、このだ
めの座標変換の方法は既に確立されておシ、例えば、特
開昭５３−１２２３５号公報記載の方法が用いられる。
コード化され同一座標系に変換された探索パターンとフ
ァイルパターンとの各特徴点は、その位置Ｘ、Ｙ及び方
向りを含むパターン特徴が比較され、両者の各パターン
特徴の差があらかじめ定めたしきい値内に在るか否かが
、例えば、特開昭５６−２４６７５号公報記載の「対」
検出部で検定される。上記しきい値内に在る探索パター
ンとファイルパターンとの特徴点は、互に「対」をなす
「対ｊ特徴点として選出され、その后の照合判定の基と
なる。
ァイルパターンとの各特徴点は、その位置Ｘ、Ｙ及び方
向りを含むパターン特徴が比較され、両者の各パターン
特徴の差があらかじめ定めたしきい値内に在るか否かが
、例えば、特開昭５６−２４６７５号公報記載の「対」
検出部で検定される。上記しきい値内に在る探索パター
ンとファイルパターンとの特徴点は、互に「対」をなす
「対ｊ特徴点として選出され、その后の照合判定の基と
なる。
しか［７ながら、指紋等のしま状パターンはその押なつ
時の力の入れ具合や、ねじり動作の混入度合等によシ、
上述した単々る座標軸の移動・回転による座標変換では
除くことのできない部分的な歪が発生し、特徴点の位置
にかなりの移動が発生する場合がある１、前述した従来
の１対」検定では、本来「対」となるべき特徴点がこの
部分的な歪のため「対」として検出されず、従って、以
後の照合精度を下けるという欠点がある。又、歪により
予想される移動量をすべて含むように位置差のしきい値
を大きく゛設定すると、本来対応しない特徴点が「対」
として選定される確率が大きくなって、照合の精度を向
上させることはできない。
時の力の入れ具合や、ねじり動作の混入度合等によシ、
上述した単々る座標軸の移動・回転による座標変換では
除くことのできない部分的な歪が発生し、特徴点の位置
にかなりの移動が発生する場合がある１、前述した従来
の１対」検定では、本来「対」となるべき特徴点がこの
部分的な歪のため「対」として検出されず、従って、以
後の照合精度を下けるという欠点がある。又、歪により
予想される移動量をすべて含むように位置差のしきい値
を大きく゛設定すると、本来対応しない特徴点が「対」
として選定される確率が大きくなって、照合の精度を向
上させることはできない。
本発明の目的は、上述の部分的な否による移動量を推定
補正して「対」検定動作を繰返すことにより、上述の欠
点を除去し照合精度を向上することのできるパターン照
合方式を提供することである。
補正して「対」検定動作を繰返すことにより、上述の欠
点を除去し照合精度を向上することのできるパターン照
合方式を提供することである。
本発明のパターン照合方式は、鑑定されるべきしま状の
探索パターンとこれと照合される少々くとも一つのあら
かじめ登録されたファイルパターンとをパターンの特徴
点のコード化されたパターン特徴によって比較照合する
パターン照合方式において、前記コード化されたパター
ン特徴があらかじめ定めたしきい値内で合致する前記探
索パターンと前記ファイルパターンの特徴点を互いに「
対」とガる「対」特徴点として選出するとき前記「対」
特徴点間の位置差を登録し、前記探索パターン又はファ
イルパターンのうちの一方の一つの特徴点を中心として
複数に分割された各扇形領域内の最近傍特徴点が前記１
対」特徴点のいずれかに該尚したとき、さきに登録され
た前記位置差の平均を求めて前記一つの特徴点の位置に
加算しこの補正された位置によシ前記探索パターン又は
ファイルパターンのうちの他方の少なくとも前記補正さ
れた位置の近傍のすべての特徴点の前記パターン特徴を
再度検定する手段を備えることによって構成される。
探索パターンとこれと照合される少々くとも一つのあら
かじめ登録されたファイルパターンとをパターンの特徴
点のコード化されたパターン特徴によって比較照合する
パターン照合方式において、前記コード化されたパター
ン特徴があらかじめ定めたしきい値内で合致する前記探
索パターンと前記ファイルパターンの特徴点を互いに「
対」とガる「対」特徴点として選出するとき前記「対」
特徴点間の位置差を登録し、前記探索パターン又はファ
イルパターンのうちの一方の一つの特徴点を中心として
複数に分割された各扇形領域内の最近傍特徴点が前記１
対」特徴点のいずれかに該尚したとき、さきに登録され
た前記位置差の平均を求めて前記一つの特徴点の位置に
加算しこの補正された位置によシ前記探索パターン又は
ファイルパターンのうちの他方の少なくとも前記補正さ
れた位置の近傍のすべての特徴点の前記パターン特徴を
再度検定する手段を備えることによって構成される。
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
前述した指紋の部分的な歪は、主に特徴点の位置の移動
として表れるが、ある場所で急に不連続的に発生するも
のではなく、連続的に移動量が増大または減少したり、
あるいは、移動方向が変化する。従って、本来同一であ
るべき探索パターンとファイルパターンの一部に歪があ
って、ある範囲の特徴点の位置が一致しない場合を想定
すると、各特徴点の位置差は隣接の特徴点の位置差から
か々シ良く推測できることが分る。本発明の要点は、こ
の考え方に基いて、（１）探索パターンとファイルパタ
ーンの二つのしま状パターンを同一の座標系に変換して
「対」特徴点を選出するとき、「対」として選出された
特徴点間の位置差は主として上述の部分的な歪による移
動量であると考えてこれを記憶し、（ｉｌ）一方のパタ
ーン、例えば、探索パターンの特徴点Ｍｓ（下付きの添
字Ｓは探索パターンを示す）の位置を、Ｍｓを中心に複
数に分割された各扇形領域の最近傍特徴点ＭＮ（上付き
の添字ｒは各扇形領域の番号を示す０．１．２・・・・
・・の数字を表す）の上記（１）で記憶された位置差に
よって補正し、この補正された位置を用いてファイルパ
ターンの各パターン特徴を再度比較検定することによっ
て、歪による移動量を相殺し１対」検出の精度を向上さ
せることである。以下、一実施例について更に詳しく説
明する。
として表れるが、ある場所で急に不連続的に発生するも
のではなく、連続的に移動量が増大または減少したり、
あるいは、移動方向が変化する。従って、本来同一であ
るべき探索パターンとファイルパターンの一部に歪があ
って、ある範囲の特徴点の位置が一致しない場合を想定
すると、各特徴点の位置差は隣接の特徴点の位置差から
か々シ良く推測できることが分る。本発明の要点は、こ
の考え方に基いて、（１）探索パターンとファイルパタ
ーンの二つのしま状パターンを同一の座標系に変換して
「対」特徴点を選出するとき、「対」として選出された
特徴点間の位置差は主として上述の部分的な歪による移
動量であると考えてこれを記憶し、（ｉｌ）一方のパタ
ーン、例えば、探索パターンの特徴点Ｍｓ（下付きの添
字Ｓは探索パターンを示す）の位置を、Ｍｓを中心に複
数に分割された各扇形領域の最近傍特徴点ＭＮ（上付き
の添字ｒは各扇形領域の番号を示す０．１．２・・・・
・・の数字を表す）の上記（１）で記憶された位置差に
よって補正し、この補正された位置を用いてファイルパ
ターンの各パターン特徴を再度比較検定することによっ
て、歪による移動量を相殺し１対」検出の精度を向上さ
せることである。以下、一実施例について更に詳しく説
明する。
第２図は本発明の実施例を示すブロック図で、探索パタ
ーン及びこれと比較するファイルパターンの各特徴点の
コード化されたパターン特徴はデータバス１，２を介し
て、パターン特徴抽出装置および磁気ティスフ（図示せ
ず）から特徴点メモリ３に記憶される。探索パターンと
ファイルパターンとの座標系を同一のものとするだめの
座標変換量は同じデータバスを介して座標変換回路４内
のメモリに格納され、特徴点メモリ３に記憶された特徴
点の位置および方向に関するデータは座標変換回路４を
経て座標変換された後読み出される。
ーン及びこれと比較するファイルパターンの各特徴点の
コード化されたパターン特徴はデータバス１，２を介し
て、パターン特徴抽出装置および磁気ティスフ（図示せ
ず）から特徴点メモリ３に記憶される。探索パターンと
ファイルパターンとの座標系を同一のものとするだめの
座標変換量は同じデータバスを介して座標変換回路４内
のメモリに格納され、特徴点メモリ３に記憶された特徴
点の位置および方向に関するデータは座標変換回路４を
経て座標変換された後読み出される。
制御記憶５は一連の処理に必要なファームウェア（マイ
クロプログラム）を記憶したメモリで、このマイクロプ
ログラムは制御回路６で解読され処理が遂行される。演
算回路７は制御回路からの指。
クロプログラム）を記憶したメモリで、このマイクロプ
ログラムは制御回路６で解読され処理が遂行される。演
算回路７は制御回路からの指。
示に従って加減算・平均等の必要外演算を行い、演算お
よび処理結果はバッファメモリ８に書込まれる。バッフ
ァメモリ８は照合時の作業用エリアとしでも使用される
。
よび処理結果はバッファメモリ８に書込まれる。バッフ
ァメモリ８は照合時の作業用エリアとしでも使用される
。
第３図は特徴点メモリ３に記憶されるメモリ内容の一実
施例で、探索パターン及びこれと比較する一つのファイ
ルパターンのコード化された各ノくターン特徴が、探索
パターンの特徴点番号ＭＳ ％ファイルパターンの特徴
点番号Ｍｆに対して記憶されている。図において、上半
分は探索ノ（ターンのデータ、下半分はファイルパター
ンのデータであり、それぞれ添字ｓ、 ｆを付して示し
である。又、Ｑは特徴点種別（端点Ｐか分岐点ｐか）を
示す４ビツトのコード、Ｘ及びＹは％像点の位置を表す
１０ビツトのコード、Ｄは方向をＣは集密量を表すそれ
ぞれ８ビツトのコード、Ｍ０〜ＭＳは特徴点Ｍを中心に
４分割した各象限における最近傍特徴点くリレーション
特徴点）の特徴点番号を表す各８ピツトのコード、Ｒ０
〜Ｒ８は特徴点Ｍと各リレーション％像点Ｍ０〜Ｍ３と
の間に介在する隆線数すなわち「リレーション」を示す
各４ビツトのコードである。これ等の各コードは前述の
特開昭５５−１３８１７４号公報記載のパターン特徴抽
出装置でコード化される。
施例で、探索パターン及びこれと比較する一つのファイ
ルパターンのコード化された各ノくターン特徴が、探索
パターンの特徴点番号ＭＳ ％ファイルパターンの特徴
点番号Ｍｆに対して記憶されている。図において、上半
分は探索ノ（ターンのデータ、下半分はファイルパター
ンのデータであり、それぞれ添字ｓ、 ｆを付して示し
である。又、Ｑは特徴点種別（端点Ｐか分岐点ｐか）を
示す４ビツトのコード、Ｘ及びＹは％像点の位置を表す
１０ビツトのコード、Ｄは方向をＣは集密量を表すそれ
ぞれ８ビツトのコード、Ｍ０〜ＭＳは特徴点Ｍを中心に
４分割した各象限における最近傍特徴点くリレーション
特徴点）の特徴点番号を表す各８ピツトのコード、Ｒ０
〜Ｒ８は特徴点Ｍと各リレーション％像点Ｍ０〜Ｍ３と
の間に介在する隆線数すなわち「リレーション」を示す
各４ビツトのコードである。これ等の各コードは前述の
特開昭５５−１３８１７４号公報記載のパターン特徴抽
出装置でコード化される。
特徴点メモリに読み込まれた、これ尋のパターン特徴は
第２図には示されていない「対」検出部に読出されて「
対」となった特徴点番号はノくラフアメモリ８に記憶さ
れる。このとき、１対」となった両特徴点間の位置差Δ
ｇ（Ｘ方向）、△η（Ｙ方向）が同時に書込まれる。第
４図はこれから後の再検定の手順の一例を示すフローチ
ャートで、探索パターンの特徴点を中心にファイルパタ
ーンの特徴点を探索する手順を示している。まず探索パ
ターンの一つの特徴点Ｍｓのデータを特徴点メモリから
読出し、各象限の最近傍特徴点Ｍξ（ｒ＝０〜３）が「
対」特徴点であるか否かを調べ、「対」特徴点であれば
バッファメモリに記憶されている位置差Δε、Δηを読
出して積算し、全象限についての平均ΔＸ；Σ△ε／ｎ
、△Ｙ＝Σ△η／ｎ（ｎはＪが「対」特徴点であった象
限の個数）を求める。この平均値を特徴点Ｍｓの位置Ｘ
Ｓ、ＹＳに加えて補正し、補正された位置Ｘ’ ＝ Ｘ
ｓ＋△Ｘ。
第２図には示されていない「対」検出部に読出されて「
対」となった特徴点番号はノくラフアメモリ８に記憶さ
れる。このとき、１対」となった両特徴点間の位置差Δ
ｇ（Ｘ方向）、△η（Ｙ方向）が同時に書込まれる。第
４図はこれから後の再検定の手順の一例を示すフローチ
ャートで、探索パターンの特徴点を中心にファイルパタ
ーンの特徴点を探索する手順を示している。まず探索パ
ターンの一つの特徴点Ｍｓのデータを特徴点メモリから
読出し、各象限の最近傍特徴点Ｍξ（ｒ＝０〜３）が「
対」特徴点であるか否かを調べ、「対」特徴点であれば
バッファメモリに記憶されている位置差Δε、Δηを読
出して積算し、全象限についての平均ΔＸ；Σ△ε／ｎ
、△Ｙ＝Σ△η／ｎ（ｎはＪが「対」特徴点であった象
限の個数）を求める。この平均値を特徴点Ｍｓの位置Ｘ
Ｓ、ＹＳに加えて補正し、補正された位置Ｘ’ ＝ Ｘ
ｓ＋△Ｘ。
Ｙ’＝Ｙｓ＋△Ｙｓを用いて、ファイルパターンの各特
徴点を検索し、各パターン特徴の差があらかじめ定めた
しきい値以内の特徴点をＦ対重特徴点として、既にバッ
クアメモリに記憶されている１対」リストを補充する形
で修正する。ず々わち、４象限の最近傍特徴点のうち、
１象限のみが１対」特徴点であればこの位置差をＭＳの
歪による移動量と見なして補正し、２象限の最近傍特徴
点が「対」特徴点であればこの二組の「対」特徴点の位
置差の平均をＭｓの歪による移動量と見なして再検定を
行い、歪による誤認定を除くわけである。以上の再検定
操作は尚初の「対」検出と同様に、第２図のブロック図
には示されていない前述の特開昭５６−２４６７５号公
報記載の［対］検出部によって行われ、探索パターンの
各特徴点につい１上述の動作を繰返すことによって「対
」リストの修正が完了する。こうして「対」リストに登
録された「対」特徴点は上記公報記載の公知の照合判定
部で詳しく照合されパターンの一致度が調べられる。
徴点を検索し、各パターン特徴の差があらかじめ定めた
しきい値以内の特徴点をＦ対重特徴点として、既にバッ
クアメモリに記憶されている１対」リストを補充する形
で修正する。ず々わち、４象限の最近傍特徴点のうち、
１象限のみが１対」特徴点であればこの位置差をＭＳの
歪による移動量と見なして補正し、２象限の最近傍特徴
点が「対」特徴点であればこの二組の「対」特徴点の位
置差の平均をＭｓの歪による移動量と見なして再検定を
行い、歪による誤認定を除くわけである。以上の再検定
操作は尚初の「対」検出と同様に、第２図のブロック図
には示されていない前述の特開昭５６−２４６７５号公
報記載の［対］検出部によって行われ、探索パターンの
各特徴点につい１上述の動作を繰返すことによって「対
」リストの修正が完了する。こうして「対」リストに登
録された「対」特徴点は上記公報記載の公知の照合判定
部で詳しく照合されパターンの一致度が調べられる。
上述の実施例の説明に引用した従来の「対」検出部は、
探索パターンの一特像点とファイルパターンのすべての
特徴点を比較検定するよう構成されているが、すべての
特徴点でなく近傍の特徴点のみを対象として検索すれば
よい。第３図に示した特徴点メモリの内容も一例であっ
て、例えば、パターン特徴として、「リレーション」を
決める扇形領埴、が４分割でなくてもよく、曲率の様な
実施例にない特徴項目が追加されても、逆に一部のパタ
ーン特徴が削除されても差支えない。又、実施例の説明
では探索パターンの全特徴点について、位置補正の後再
検定を行うように説明したが、本発明の主な目的は、最
初の「対」検出で歪のため「対」リストに登録されなか
った特徴点の救済であるので、全特徴点でなくＥ対」リ
ストに登録されなかった特徴点のみを再検定するように
してもはぼ同様の効果が得られる。更に、再検定の際に
「対」として追加された特徴点の位置差（修正される前
の値）を同時に登録し、同様な操作を何回か繰返しても
よい。なお、探索パターンの特徴点を中心に補正・再検
定を行うよう説明したが、ファイルパターンの特徴点を
中心にしてもよく、ハードウェアの構成も第２図のもの
に限らないことは言うまでもない。
探索パターンの一特像点とファイルパターンのすべての
特徴点を比較検定するよう構成されているが、すべての
特徴点でなく近傍の特徴点のみを対象として検索すれば
よい。第３図に示した特徴点メモリの内容も一例であっ
て、例えば、パターン特徴として、「リレーション」を
決める扇形領埴、が４分割でなくてもよく、曲率の様な
実施例にない特徴項目が追加されても、逆に一部のパタ
ーン特徴が削除されても差支えない。又、実施例の説明
では探索パターンの全特徴点について、位置補正の後再
検定を行うように説明したが、本発明の主な目的は、最
初の「対」検出で歪のため「対」リストに登録されなか
った特徴点の救済であるので、全特徴点でなくＥ対」リ
ストに登録されなかった特徴点のみを再検定するように
してもはぼ同様の効果が得られる。更に、再検定の際に
「対」として追加された特徴点の位置差（修正される前
の値）を同時に登録し、同様な操作を何回か繰返しても
よい。なお、探索パターンの特徴点を中心に補正・再検
定を行うよう説明したが、ファイルパターンの特徴点を
中心にしてもよく、ハードウェアの構成も第２図のもの
に限らないことは言うまでもない。
以上詳細に説明した様に、本発明のパターン照合方式に
よれば、指紋等のしま状パターンの部分的な歪によって
、本来「対」として検出されるべき％像点が検出され力
いと言う欠点を、歪移動量を補正する手段を提供するこ
とによって除去し、精度のよいしま状パターンの自動照
合が行える効果がある。
よれば、指紋等のしま状パターンの部分的な歪によって
、本来「対」として検出されるべき％像点が検出され力
いと言う欠点を、歪移動量を補正する手段を提供するこ
とによって除去し、精度のよいしま状パターンの自動照
合が行える効果がある。
第１図はしま状パターンの特徴点の説明図、第２図は本
発明の一実旅例のブロック図、第３図は特徴点メモリの
一例を示すリスト形式図、第４図は本発明による歪移動
量補正・再検定の手順を示すフローチャートである。 １．２・・・・・・データバス、３・・・・・・特徴点
メモリ、４・・・・・・座標変換回路、５・・・・・・
制御記憶、６・・・・・・制御（イ）１図 第２図 第３図 第４１ン ゝ−８ Ｌａｄ・？ 一一一 〉
発明の一実旅例のブロック図、第３図は特徴点メモリの
一例を示すリスト形式図、第４図は本発明による歪移動
量補正・再検定の手順を示すフローチャートである。 １．２・・・・・・データバス、３・・・・・・特徴点
メモリ、４・・・・・・座標変換回路、５・・・・・・
制御記憶、６・・・・・・制御（イ）１図 第２図 第３図 第４１ン ゝ−８ Ｌａｄ・？ 一一一 〉
Claims (1)
- 鑑定されるべきしま状の探索パターンとこれと照合され
る少なくとも一つのあらかじめ登録されたファイルパタ
ーンとをパターンの特徴点のコード化されたパターン特
徴によって比較照合するパターン照合方式において、前
記コード化されたパターン特徴があらかじめ定めたしき
い領内で合致する前記探索パターンと前記ファイルパタ
ーンとの特徴点を互いに「対」と力る「対」特徴点とし
て選出するとき前記１対」特徴点間の位置差を登録し、
前記探索パターン又はファイルパターンのうちの一方の
一つの特徴点を中心として複数に分割された各扇形領域
内の最近傍特徴点が前記「対」特徴点のいずれかに該当
したとき、さきに登録された前記位置差の平均を求めて
前記一つの特徴点の位置に加算しこの補正された位置に
よシ前記探索パターン又はファイルパターンのうちの他
方の少なくとも前記補正された位置の近傍のすべての特
徴点の前記パターン特徴を再度検定する手段を備えたこ
とを特徴とするパターン照合方式。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111118A JPS59781A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | パタ−ン照合方式 |
| DE8383303729T DE3378794D1 (en) | 1982-06-28 | 1983-06-28 | Method and device for matching fingerprints |
| AU16313/83A AU567678B2 (en) | 1982-06-28 | 1983-06-28 | Device for matching finerprints |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111118A JPS59781A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | パタ−ン照合方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59781A true JPS59781A (ja) | 1984-01-05 |
| JPS6322357B2 JPS6322357B2 (ja) | 1988-05-11 |
Family
ID=14552874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57111118A Granted JPS59781A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | パタ−ン照合方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59781A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5377155A (en) * | 1976-09-10 | 1978-07-08 | Rockwell International Corp | Mechanical method of collating fine pattern and system therefor |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57111118A patent/JPS59781A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5377155A (en) * | 1976-09-10 | 1978-07-08 | Rockwell International Corp | Mechanical method of collating fine pattern and system therefor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6322357B2 (ja) | 1988-05-11 |
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