JPS5981523A - 光フアイバのビ−ト長測定方法 - Google Patents
光フアイバのビ−ト長測定方法Info
- Publication number
- JPS5981523A JPS5981523A JP19087682A JP19087682A JPS5981523A JP S5981523 A JPS5981523 A JP S5981523A JP 19087682 A JP19087682 A JP 19087682A JP 19087682 A JP19087682 A JP 19087682A JP S5981523 A JPS5981523 A JP S5981523A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- beat length
- light
- clad
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/35—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides in which light is transversely coupled into or out of the fibre or waveguide, e.g. using integrating spheres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
互発明け、光ファイバの波面の乱れによって発生する光
ビートの長さを測定する方法に関するものである。
ビートの長さを測定する方法に関するものである。
シングルモード光ファイバに光を入射すると、光フアイ
バ内でコア形状の乱れによって波面が乱れ光が畏手方向
に進むにつれて偏波面が回転し長手方向に光ビート （
光の強弱）が発生する。
バ内でコア形状の乱れによって波面が乱れ光が畏手方向
に進むにつれて偏波面が回転し長手方向に光ビート （
光の強弱）が発生する。
この光ビートは光ファイバのコアからクラッドへの漏光
としで観察できる。光コアイノ（の特性はビート長（光
の強い部分の長さ）が短かいほどよいものとされ、光フ
ァイバの良否の判定のためにこのビート長の測定が行わ
れる。
としで観察できる。光コアイノ（の特性はビート長（光
の強い部分の長さ）が短かいほどよいものとされ、光フ
ァイバの良否の判定のためにこのビート長の測定が行わ
れる。
従来技術の１つではこのビート長は光ファイバの外部へ
の漏光を横方向から散乱として観測していた。しかし、
光ファイバのクラッドを通して外部に漏れる光は極めて
微弱であるので例えばこれを写真によって１０時間以上
も露光しないと撮影することができないため多大の作業
時間を必要とする欠点があった。
の漏光を横方向から散乱として観測していた。しかし、
光ファイバのクラッドを通して外部に漏れる光は極めて
微弱であるので例えばこれを写真によって１０時間以上
も露光しないと撮影することができないため多大の作業
時間を必要とする欠点があった。
他の従来技術では光７アイパが検出子に対向する出力側
の端部をビート長より短かいかそれに想定ビート長を加
えた一定長ずつ薄く切断しつつ検出子から受光する光検
出器で検出される光量の増減からビート長を測定してい
る。これは光ファイバが短かくなるにつれて検出される
光量がビート長と関連して増減することに基いている。
の端部をビート長より短かいかそれに想定ビート長を加
えた一定長ずつ薄く切断しつつ検出子から受光する光検
出器で検出される光量の増減からビート長を測定してい
る。これは光ファイバが短かくなるにつれて検出される
光量がビート長と関連して増減することに基いている。
この方法はカットバック法と呼ばれている。しかし、こ
のカットバック法では光ファイバを一定長ずつ切断する
作業が極めて面倒でこの切断長がばらつき易く測定デー
タに欠損を生じ易く、特に良質の光ファイバではビート
長が１１ｍｍ以下と短かくなって切断作業を正確に行う
ことができないため熟練を必要とし、１回の測定失敗で
ビート長の測定が困難となるため測定を精度よく行うこ
とができなかった。
のカットバック法では光ファイバを一定長ずつ切断する
作業が極めて面倒でこの切断長がばらつき易く測定デー
タに欠損を生じ易く、特に良質の光ファイバではビート
長が１１ｍｍ以下と短かくなって切断作業を正確に行う
ことができないため熟練を必要とし、１回の測定失敗で
ビート長の測定が困難となるため測定を精度よく行うこ
とができなかった。
不発明の目的は、高い測定精度と高い効率とで光ファイ
バのビート長を測定する方法を提供することにある。
バのビート長を測定する方法を提供することにある。
不発明の実施例を図面を参照してのべると、第１図は不
発明の方法を概略的に示し、測定すべきシングルモード
光ファイバ１０の一端（入力端）にはＮθ−Ｈｅレーザ
、半ｍ体レーザの如きレーザ光源１２から偏光子１４、
λ、／４波長板１６、偏光子１４’、対物レンズ１８を
経てレーザ光が入射され、光ファイバ１０の他端（出力
端）から出る光は検光子茄を経て光検出器２２に供給さ
れる。
発明の方法を概略的に示し、測定すべきシングルモード
光ファイバ１０の一端（入力端）にはＮθ−Ｈｅレーザ
、半ｍ体レーザの如きレーザ光源１２から偏光子１４、
λ、／４波長板１６、偏光子１４’、対物レンズ１８を
経てレーザ光が入射され、光ファイバ１０の他端（出力
端）から出る光は検光子茄を経て光検出器２２に供給さ
れる。
光ファイバ１０はその入力端付近にモードストリッパ２
４ヲ有し光ファイバ１０のクラッドＩＯＢに伝播する光
を除くようにしている。偏光子１４．１４’を同方向と
して得られた最大光量は対物レンズ１８により収束され
て光ファイバ１０のコアＩＯＡに入射され、光ファイバ
の出力端から出る光漏゛の増減は検光予励を通して光検
出器ηによって検出される。筒、λ、／４波長板１６及
び偏光子１４′は光ファイバ１０が入射方向性を有する
ため用いられる。
４ヲ有し光ファイバ１０のクラッドＩＯＢに伝播する光
を除くようにしている。偏光子１４．１４’を同方向と
して得られた最大光量は対物レンズ１８により収束され
て光ファイバ１０のコアＩＯＡに入射され、光ファイバ
の出力端から出る光漏゛の増減は検光予励を通して光検
出器ηによって検出される。筒、λ、／４波長板１６及
び偏光子１４′は光ファイバ１０が入射方向性を有する
ため用いられる。
不発明の方法ではビート長は光ファイバ１０の横方向か
ら漏光を観測して測定するが、この場合光ファイバ１０
をそのビート長測定部分で第２図（Ａ）に示すようにそ
の全周にわたってクラッド１０ Ｂの肉厚を薄くするか
第２図（Ｂ）に示すように周方向の一部でクラッドＪＯ
Ｂをカットして肉厚を薄くし、この肉厚を薄くした部分
］Ｏａを通してカメラあによって又は肉眼によってビー
ト長を測定する。光ファイバ１０のビート長測定部分で
クラッド１０ Ｂの肉厚を薄くした理由は、第３図に示
すように、コア１０ムとクラッド１０ Ｂ内を進む光量
が厚みｔに対し指数函数的に減衰し、従ってクラッド１
０ Ｂを薄くすると、外部に漏れる光量が増大すること
にある。光ファイバ１０はその被積を硫酸で除去した後
クラッド１０ Ｂをフッ酸の如き薬品に浸漬するかカッ
トすることによってクラッド１０ Ｂを薄くすることが
できる。
ら漏光を観測して測定するが、この場合光ファイバ１０
をそのビート長測定部分で第２図（Ａ）に示すようにそ
の全周にわたってクラッド１０ Ｂの肉厚を薄くするか
第２図（Ｂ）に示すように周方向の一部でクラッドＪＯ
Ｂをカットして肉厚を薄くし、この肉厚を薄くした部分
］Ｏａを通してカメラあによって又は肉眼によってビー
ト長を測定する。光ファイバ１０のビート長測定部分で
クラッド１０ Ｂの肉厚を薄くした理由は、第３図に示
すように、コア１０ムとクラッド１０ Ｂ内を進む光量
が厚みｔに対し指数函数的に減衰し、従ってクラッド１
０ Ｂを薄くすると、外部に漏れる光量が増大すること
にある。光ファイバ１０はその被積を硫酸で除去した後
クラッド１０ Ｂをフッ酸の如き薬品に浸漬するかカッ
トすることによってクラッド１０ Ｂを薄くすることが
できる。
不発明の一例でコア径４〜１０８μｍ１クラツド径１２
５ μｍの光ファイバを第２図（Ａ）に示すように処理
しクラツド径を当初の半分程度の６０〜７０μｍとした
ところ肉眼でもビート長を観測することができ、また写
真をｌＯ分程度の露光で撮ることができた。
５ μｍの光ファイバを第２図（Ａ）に示すように処理
しクラツド径を当初の半分程度の６０〜７０μｍとした
ところ肉眼でもビート長を観測することができ、また写
真をｌＯ分程度の露光で撮ることができた。
不発明によれば、上記のように、ビート長を短時間で精
度よく測定することができ、また光源の強度は小さくて
よいので経済的である。
度よく測定することができ、また光源の強度は小さくて
よいので経済的である。
第１図は本発明の方法を示す概略図、第２図（Ａ） （
Ｂ）は不発明の方法に用いられる光ファイバの２つの異
なる例を示す拡大横断面図、第３図は光フアイバ内の光
量を示す線図である。 １０−一一一一シングルモード光ファイバ、ｌ０Ａ−−
−−−コア、ｌ０Ｂ−−−−−クラッド、１０ａ−−−
−−クラッドの肉厚を薄くした部分、１２−−−−−レ
ーザ光源。
Ｂ）は不発明の方法に用いられる光ファイバの２つの異
なる例を示す拡大横断面図、第３図は光フアイバ内の光
量を示す線図である。 １０−一一一一シングルモード光ファイバ、ｌ０Ａ−−
−−−コア、ｌ０Ｂ−−−−−クラッド、１０ａ−−−
−−クラッドの肉厚を薄くした部分、１２−−−−−レ
ーザ光源。
Claims (1)
- シングルモード光ファイバのビート長測定部分のクラッ
ドを周方向に少なくとも部分的に厚みを小キくシこの厚
みを小さくした部分を通してビート長を測定することを
特徴とする光ファイバのビート長側ボ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19087682A JPS5981523A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | 光フアイバのビ−ト長測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19087682A JPS5981523A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | 光フアイバのビ−ト長測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5981523A true JPS5981523A (ja) | 1984-05-11 |
Family
ID=16265216
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19087682A Pending JPS5981523A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | 光フアイバのビ−ト長測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5981523A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002075270A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-26 | Bookham Technology Plc | Method for monitoring the surface properties of an optical waveguide |
| WO2003034019A1 (en) * | 2001-10-18 | 2003-04-24 | Lnl Optenia Inc. | Birefringence measurement |
| CN100453995C (zh) * | 2006-11-27 | 2009-01-21 | 哈尔滨工业大学 | 不同应力区结构保偏光纤的拍长测算方法 |
-
1982
- 1982-11-01 JP JP19087682A patent/JPS5981523A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002075270A1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-26 | Bookham Technology Plc | Method for monitoring the surface properties of an optical waveguide |
| WO2003034019A1 (en) * | 2001-10-18 | 2003-04-24 | Lnl Optenia Inc. | Birefringence measurement |
| CN100453995C (zh) * | 2006-11-27 | 2009-01-21 | 哈尔滨工业大学 | 不同应力区结构保偏光纤的拍长测算方法 |
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