JPS598172A - 磁気ヘツド用光学サ−ボ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は磁気ヘッド用サーボ・システムに関し、芒らに
具体的にいえは、光学的サーボ情報ケ有するイ）大気デ
ィスクに関連して磁気ヘッドの位置決めケ行うシステム
に関するものである。

〔先行技術〕

Ｉ　ＢＭ　　Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ　　Ｄｉｓｃｌｏｓｕ
ｒｅＢｕｌｌｅｔｉｎ　Ｖｏｗ、　１６　＆４（１９７
３年９月）の第１０８２頁には、１対のレーザーならび
に磁気ディスク上でトラックケ形成するカムヶ検出する
検出器ケ搭載したスライダが示芒れている。

ＩＥＥＥ　　Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎ　　Ｏｎ　　Ｍａ
ｇｎｅｔｉｃｓ。

ＭＡＧ　−１６Ａ５　（１９８０年９月）の第６６１乃
至６３３頁にと、黒色染料のトランクで被覆妊れたアル
ミニウム基板が示芒わでいる。磁気被覆フイルムハ゛、
着色層と非情色層ケ交互に含む基板最上面に設けられて
いる。光ファイバーによって７−　ム上のＬＥＤ孕スラ
スライダーのヘッド・コアと接続することが必要となっ
ている。

米国特許第４１２３７８８号には、反射層の上に磁性層
ケ設けた磁気記録媒体か示芒れている。

レーサー・ビームによって磁性層ケ部分的に焼損するこ
とによって、サーボ情報ケもたらす反射パターンが形成
訟ねでいる。このサーボ情報ケ読取るためにＬ　Ｅ　Ｉ
）及びフォトダイオードケ使用した光フアイバー検出器
が用いられている。別法と１〜で、写真製版技術によっ
てサーボ情報ケ記録することもできる。

Ｉ　ＢＭ　　Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ　　Ｄｉｓｃｌｏｓｕ
ｒｅ＋３ｕｌ　Ｉｅｔｉｎ　Ｖｏｌ、２１Ａ、　１０　
（１９７９年６月）の第４２５９乃至第４２６０頁には
、フロッピィ・ティスフに永久的なサーボ・マークとし
てのくぼみケ形成することが示されている。

〔発明の概要〕

本発明の目的は磁気ティスフに関連して磁気ヘッドの正
確な位置決めｋＯ］能ならしめる簡単で経済的な光学的
サーボ装置ｉｎ：勿提供することである。

不発明に従って、磁気記録層ケ有する磁気ティスフに関
連して磁気ヘッドの位置決めｒ割Ｉ’ｌｌする７ｔめの
磁気ヘッド用光学す−ボ装ｗｖ’、ｉｓ気テイスクの磁
気記録層の上に設けらハて反射率の変化ケもたらすサー
ボ・パターンケ記録したサーボ・トランク層と、磁気ヘ
ットにイ」随していてサーボ・トラック層の反射率の変
化に応じて動作特性ケ変えるレーザ一手段とを有する。

この様な構成によりば、データ記録用の領域の１部ｒサ
ーボ情報の記録のために割く必要はないので、トランク
密度の高い磁気ティスフに関連して磁気ヘッドの位置決
めケ制御するのに適しており、構成も比較的簡単である
。

〔実施例〕

第１図は、本発明による磁気ディスク装置において用い
られ、る磁気ディスク９ケ示している。アルミニウム合
金等の非磁性材料で造らｆｔ、でいる基板１０は、その
腐食ケ防ぐために耐食性ケ有する非磁性材料から成るク
ラッド層１１によって覆ゎねでいる。望ましいクランド
層としては、米し１４力許第４０７９１６９号に示され
ているコバルトケベースにした合金やその他の材料が用
いＩ−）才する。

望ましい磁気記録層１２としては、鉄、コバルト及びク
ロムからなるものが用いられるクロムの薄膜１６は、厚
芒約１０〜２０ｎｍのイ」着層勿もたら丁。ｆｌ史いオ
ーツ？−コート層１４Ｕ１ヘッドが７ｊｔたまその飛行
特性を失なって磁気記録９１層１１体と一時的に接触し
たとき、開始および停止の間に磁気層１２ケ摩耗から保
護する目的に使用きれるものである。最」二層１５は厚
さ約２０〜４０ｎｒｎのシリコンなとの刊本Ｉてできて
おり、なめらかな表面１６ケ有する。層１４と１５に１
ザントインチ状の被段層８ケ形成している。被恍層８（
１４および１５）ｄ１特願昭５７−４１８３４号に示さ
れているようにレーザー光線ケ受けると、光学的に見え
るマークを形成する性質ケ有する。この特許出願は、竹
にＲｈ、　Ｐ　ｔＳＩｔｄなどの金属膜上のシリコン膜
に関するものである。最上層１５は無定形シリコンから
１７にることが望捷しい。無定形ンリコン壕ｌこは類似
物の層１５の厚きは、レーザー光線の波長におけるティ
スフ表面の反射率と、サーボ指標として使用される磁気
記録ティック９の表面１６上のマーク・アレイの反射率
とが著しく異なるように選択畑力でいる。

第２図（ｌ−ｊＲｈ／Ｓｉ二層構造の典型的な反射特性
を示したものである。Ｒｈ層１４　ｕ’ＪＩＰ　Ｇ　４
５　ｎｍであシ、８１層１５の厚さは曲線Ａの１５ｎｍ
　　がら曲線Ｆの４Ｄｎｍまで５ｎｍ刻みで増加してい
る。

必要ならば、レーザー光の波長での反射率が最小になる
ようにＳｉｉｊ５の厚芒勿選択づ−ることかできる。例
えば、曲線Ｂ　ｉｊ　６００Ａｍの波長で反射率が０％
になることケ示している。８２０Ａｍの波長（Ｇａ　　
Ａ／−Ａｓレーザー・ダイオードｘ　　　　　１　−ｘ の出力波長）では、反射率が８係になる曲線Ｅが選択さ
れる。

この構成物ヶレーザー加熱して層１４と１５の拐料間で
反応″！、たけ相互拡散ケ起こ芒セることによって、多
層フィルム上にサーボ・トランク・パターンとなる指標
ケ形成１−ることができる。Ｒｈ層上のＳ１層の場合、
レーザーで１込んだスポットは反応してＲ１１２Ｓ　ｒ
　ケ形成し、その反射率は、約５０係となる。レーザー
で宵込んだ指標と背景の間の光反射率の差は約４２係で
あり、容易に検出できるコントラス］・ケもたらす。

第６図は、レーザー光線の典型的出力レベルに゛示し５
たもので、これは厚σ１０〜ろＯｎｍのＩＩ　ｈ層１−
１に光学的記憶のための３０　ｎｍのｓｉＩ＠ｒ形成し
７ｊＲｈ／Ｓｉ二層＋１７Ｌ造」二に、直径ｉ　７１ｍ
　のスポットの片２のテーク・ピントケ書込むのに使用
ｉｔする。

丸字サーボＩＩＩ　Ｋする」混合には、サーボ・トラッ
ク勿形成するように多数のスポット２含む大きなアレイ
若しくはパターンか書込丑れる。

サーボ・トランクケ形成する技法＆、ｊ’いくつかある
。てきノ１．ば、」二記のようにレーサー反応ケ加える
のかよいか、レーザー研摩、密着印画、エンボスおよび
フ第１・レジスト・フィルムの露光に用いた写真製版技
術によってもできる。

第４図は、磁気記録トランクＭＴおよび光学サーボ・ト
ランクＯＴｉ備えり磁気テイスク９ヶ示し左ものである
。回転する磁気記録媒体Ｍの上方に空気力学作用によっ
て浮上するのに適したスライダ１７は、トランクＭＴの
読取り又け１込みケ行うための磁気変換器１９とトラッ
クＯＴの読取９足行うための光学変換器２１に支持して
いる。

ディスク表面」二でスライダ４半径ブ５１７３］に位置
調節ブーるため、磁気ディスク・システムに使用−ｇｆ
′ｌる各種のサーボモータ祷構によって作動で第１る部
４２１８によってスライダ１７が支持づわでいる。第５
１図は、第１図にもとづく磁気記録層１２および光学記
録層８ヶ備えた磁気ディスク９ケ示した・ものである。

層８の表面上のスポット２ｏは、光学変換器、即ちレー
ザー・ダイオード２１への光学的フィードバック勿変調
するために使＋１１芒れる。

光かフィートバンク３ｉると、ダイオード２１　ｉＩ：
Ｊ異なる動作特性勿生じるか、本発明ではそｔＬ　’、
１利用して、ヘッドかトランク上にあゐか一？ノ１とも
トランクから離層、でいるかケ示づ−ため、あらかじめ
定めた周波数で電圧の変動ケ生じることによって、ディ
スク上に光学的に読取り可能な指標ケ検出することかで
きる。第５１図には、ダイオード２１のチャネル２６か
らの直進光線すが示しであるが、これが反射してダイオ
ード２１のチャネルに入り、ダイ、ｌ−−トの電圧変動
ケもたらづ−。ダイオード２１から外側に向った光線（
０）は反射してチャネル２６から外れるので、ダイオー
ド２１の出カケ変ｌｊｆる効果ケもたない。その結宋、
検出器の空間的分解能は、ディスク表面−１−の照射ス
ポットの・」法よりもかなり高くなる。すなわち照射ス
ポット中心伺近の領域から反射してもどる尤だけが、１
／−ブーの活性領域にもどり、そこで検出器わる。

磁気ディスク９」二のサーボトランクは、表面１６から
の逆反射ｆＣ，を用いて第５１図のレーザー・ダイオ−
４２１の動作特性ケ変調することによって、読工（ゾら
）する。１９１１えは、定電流源によってダイオード２
１ケ励振芒せることかでき、ダイオード両端間の電月：
変動が監視芒れ検１」Ｘてれる。逆反射光により、レー
ザーの放出領域直下のディスク表向１６の反射率に応じ
て、ダイオード２１の動作電圧か変化する。光学パター
ンによって生じるダイオード両端間の電圧変動に、所望
のトランクの中心からの変位の関数となる。

ダイオード２１から表面１６への光学経路は、簡＋１１
．である。ダイオード２１１ｒＪ−７＋Ｔｉ気ヘツドの
スライダ７に直接取伺けら才１、ディスク表向の上方約
０．２５〜Ｉ　Ｄ　ＯＤ　７１ｍの高子の所ケ飛行する
。ディスク９の表面１６から反射した光は、ダイオード
２１に直接もどって入る。

第５２図は、７４２２９０表面１６から距離（Ｉの所に
配置芒力たレーザー・ダイオード２１ケ示したものであ
る。ダイオード２１のリード両端間の電圧変動が第５６
図に示しであるが、ｄか増加するにつねて、最大電圧変
動ないし振幅ｄ１電川の上限の包絡線ケ示す点線に沿っ
て下向する。実線から、光学経路の長石が増加するにつ
）１て電圧の振幅が変動し、光学的波長の半分の周期で
、波の加算および減算効果ケもたらづ−ことかわか谷。

しかし、距離が大体７５μｍ　　ケ越えると、変動し」
−約１ｍＶのピーク電圧変動の所で安定する。このテー
クは、反射アルミニウムから構成子ノ１．た衣面ケもつ
媒体について、８６０ｎｍで作動するＧａＡ］Ａｓ注入
二重へテロ構造レーザー研摩いて収集したものである。

レーザーの精密な周波数は変動することがあるが、この
発明の操作に１、周波数のイ・ｖＩかな変動に対して不
変である。市原から給電芒れろ所有の電流に対するダイ
オード両端間の電月二は、デイスク９の表面１６からの
逆反射光によって変調さノ１．るか、埠５４図の電圧（
■）〜電流（Ｌ）特性かられかる様に、反射領域で相電
圧かより大きく、（曲線Ｍ）非反射領域では電圧けより
不埒い（曲線ＮＭ）。すなわち、表面１６上に反射率の
大きな領域と小さな領域ケ交互に設けることり（よって
、断力の定電流で電圧変化Δｖ２ダイオード２１の出力
端子に生じることかできる。反射・領域と非反射領域に
よる電圧の変化率が変動するためティスフ９上での光学
変換器２１のトランク位置の関数として変動周波数の出
力が生しることにより、ティスフ上でのヘッドの位置ケ
検出づ−ることかできろ。

第６１図ないし第６３図は磁気記録トランクＭＴの両側
に形成芒わたマークから成る光学サーボ・トランク０Ｔ
−１乃至０Ｔ−３ケ示しており、これはヘッドかトラン
ク土留通過するとき中心から外れている場合にレーザー
両端間の電圧に変動基本周波数ケ生じる。ヘッドが１−
ラック上でセンタリング芒工１、でいる場合、トランク
の両側のマークか等しく検出づれ、従って電圧の変調は
第２調第１４図は、レーザー・フィードバンク検出器の
もう１つの具体例ケ示したもので、検出ダイオード４１
かレーザー・ダイオード２１の後面側に配置芒れている
。レーザー　・ダイオード２１は定電流によって励振σ
）１、十の前面から出てティスフ表面１６によって反射
８れてレーザー空胴にもどる光によって、動作条件が変
化づ−る。反射光に１位相に応じてレイ−光の放出全増
大させる事も減少芒せる事もできる。検出タイオード４
１で後面からの九葡測定することにより、この放出の変
化が検出σ第１る。光学的収束素子ｒ使用していないけ
れど、借間的分解能は高い。これは、ティスフ表＃ｉＴ
　１６上のスポットの中心付近からの反射光だけがレー
ザー空胴にもどるためである。第５１図および第１５図
の配置の検出器は、複雑な収束用捷たは調節用光学素子
ケ必要とせずに、微細サーボ・パターンの検出のための
高い空間的分解能ケもたらす。

第６．１図は、光学変換器２１によって検出器わる光学
サーボ・トランク０Ｔ−１？ｚ示したものである。この
場合、サーボ・トランクＯＴ−１は磁気記録層１２中の
磁気トラックＭＴｋ横切って左右に波打つ連続溝である
。第６２［ネ１は、トラックＭＴの両側に交互に配置烙
れたスポットから成るサーボ・トラック０Ｔ−２に示し
たものである。

第６３図は、トランクＭ　Ｔの両側に交互に配置された
矩形セグメントからＩソるサーボ・トランク０′Ｆ−６
ケ示したものである。

トランク０Ｔ−１ないし０Ｔ−６によって光の反射の一
様な変動が生じ、それによってダイオード２１中に光学
的フィードバックの変動勿生じて、ダイオード２１の両
端間の電圧ｒ変調１−る。ダイオード２１がトランクＭ
ＴＪ二でセンタリング芒れている場合には、ダイオード
２１の電圧は位置検出システムからほとんど出カケ生じ
させない第２１ＡＩ波周波数で変動する。出力が小さい
のは、後で述べる様に位相検出器が第２調波信号ケ拒絶
するためである。

逆に、ダイオード２１かトラックＭＴの中心から外れて
いる場合には、光学的マークによる反射変調の周波数は
、トランク位置上で受取る周波数の半分であり、従って
より低い周波数イぎ号がフィルターケ通過し、その結果
位相検出器からの出力信号が大きくなる。

第７図は、ディスク９の表面１６上のサーボ・トランク
０Ｔ−ｎｉ読取るとき、ダイオード２１の出カケ処理す
るのに使用でれる回路ケ示しＩＣものである。ダイオー
ド２１の本体２２がレーザー光チャネル２３’（ｆ取９
巻いている。ダイオード本体２２は、スポット２４でワ
イヤ２６と接続芒〕１７、チャネル２６σ点２５でワイ
ヤ２８と接続さノ１．でいる。ワイヤ２６け、ノードＤ
Ｋ接続芒ノ１ている同軸ケーブル２７中のワイヤ２８　
ｆ＋］の接地１ｔＹＩ軸シールドである。電源Ｖから抵
抗器２９、ノードＩ〕、ワイヤ２８ケ経てダイオード２
１に電力が供給芒れる。ノードＩ）に送られた信号は、
高域増幅器ンステム中ケ通過する。このシステムは入力
結合コンデンサ３０．フイードバンク抵抗器３ろ、フィ
ートバンク・コンデンサ３９、増幅器３２　’、ｒ：含
んでいて、コンデンサろＯが人力ノードＩ〕とＩ＞の間
にあり、増幅器ろ２、抵抗器３３及びコンデンサ３９か
ノードＥと１”の間で互いに並列に接続芒わている。

コンデンサ’５０は、すべての直流信号ｒ阻止する働き
ケする。抵抗器３３とコンデンサろ９の時定！５！は、
第８図に示す応答ＲＤＦ’ｘもたらすのに充分であり、
ディスクかあらかじめ定めた角速度で回転しているもの
とすねは、その応答は第６１図ないし第６，３図の何れ
かのパターンによって生じる周波数よりも低いカットオ
フ周液数ｆ　にまで上昇する。すなわち、ディスク上の
パターンによって引起こ芒れるダイオード２１の出力の
変動がノードＤからノードＦに移るか、低周波数の雑音
は除去される。ノードＦからの出力は、相対的に低周波
数の帯域フィルター３５へ送らズする。このフィルター
の通過帯域の中心周波数はヘッドかトラック１ケ外ねて
いるときのパターン基本周波数ｆ　にほぼ等しく定めら
れているので、ヘッドがトランクＭＴ上にあるときけ、
第９図のノードＦ−Ｇ間の応答Ｒ６Ｆによって示される
ように、より高い周波数（２ｆ　）の信号はフィルター
ろ５によって除かれる。そのＰｆ果ベヘン・がサーボ・
トランクＭＴ上にある場合に生じる出力の方か、ヘッド
がトラックＭＴから外れているときノードＧで受取る出
力よりも小σく庁る。位相検出器ろ７か基本信号の位相
と振幅音検出し、−ｒｔｌから所与のトランクＭＴの中
心からのヘッドのずわの大きさと方向か導かれる。

第１０．１図は、斜線を施した円ＬＢＫよって示したレ
ーザー光線がたどる複数のトランク１．２．６．７１示
したものである。第１０２図りＸそノ１．に対応する信
号Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３欠示したもので、光線ＬＢか進路１
ケたどる場合、ディスク上のスボン）ＳＰ　１０所で最
高電圧ケ生じ、トランク６の場合はスポットＳＰ　　の
中間にあるスポットＳＰ２の所で最高電圧ケ生じること
勿示している。トラック２に対する応答信号Ｓ２Ｕ’、
スポットＳＰ１およびＳＰ　の所でピークになるが、振
幅は非常に小さい。反射されてレーザー・ダイオードに
フィードバックされる光線の割合が増すので、光線反射
（ｄずつと不埒な程度Ｋまで減少１−ることになる。

卯、１１図は、位相検出器３７　Ｖ（、送られまた七ね
によって生成埒わる一絹の信号ケ示したもので、この検
出器は、第１０．２図に示すＳｌのような信号ケ受取る
。信号の符号は、半サイクル毎に変化する。ザイクルの
始ま！ｌｌケ、第１１図の垂直線で示しである。光学変
換器がトランク１ケたどるとき、平均出力Ｓｏｌは正と
なる。もちろん、トランク３についての平均出力Ｓ０６
は丁度逆になるはずである。

第１２図は、平均出力Ｓ１゜とトラ゛ツク位ｉ６の間の
関係ｒ示したものである。トラック１Ｖｃ対しては正で
あるが、トランク２（ＭＴ）Ｊ二ではゼロとなり、トラ
ックろについては負と女る。

第１３１図は、ｐｉｏ、１図に示した形式のトランクと
スポットのアレイケ示したものであるか、スポットｓｐ
　　　ｓｐ　　およびトランクＮ、Ｎ−１４ １ケ追加しである。

第１３２図は、位相検出器の平均出力８０ケ示したもの
であるか、隣接するトラ・ツクで傾きが逆になっており
、従って測定孕開始した１−ラ・ツクに対してどちらか
の方向に変位しているかをこの信号で示すことかできる
０ 種々の出力レベルのレーザー光線７．（４０又は１００
ナノ秒間照射してサーボ・トう・ツクとしてσ）スポッ
トに形成してみた結果、４０ナノ秒で１３ｍＷのレーザ
ー光線が最適であった。

第１５図は°、第１４図に示した形式の構成ケ示したも
ので、検出ダイオード４１によってレーザー・ダイオー
ド２１からのレーザー・エネルギーケ測定できるように
、両者か整列して半導体チ・ノブ１７に組込１れている
。

第１６図に示した別の具体例では、レーザー・ダイオー
ド２１はチップ１７′上に形成きれ、検出ダイオード４
１はそれに隣接するチップ１７″上に形成芒カフている
。要するに第１４図に１ｙ１シて説明した如き装置勿具
体化するのに２−ｈ）のチ゛ノフ。

ケ使用することもでき、植−一のチ・ンプｒ使用するこ
ともできる。

【図面の簡単な説明】

第１図−−上面に光学サーボ・トランク用の被覆層ケ（
！Ｘｉえた磁気ディスクの概１略断面図である。 第２図は第１図の磁気ディスクの上面に光学的に読取り
可能なサーボ・トラッキング情報ケ形成するために異な
る６種の浮子の上部無定形ノリコン層ケ使ＩＴＩＬｙｃ
！合のＲｈ　−Ｓ　ｉ二層の反射率と波長の関係勿示す
図である。 第６図は、第１図の１１　ｈ　−Ｓ　ｉ二層上にサーボ
情報’ｉｔ”４込むのに必要なレーザー・パルスの幅と
トランク書込出力密度との関係ケ示す図である。 第４図は本発明にもとづく光学的フィードバラフケ使用
したサーボ用の光学変換器及びテータ記録用の変換器ケ
備えたヘンド葡示づ一図である。 第５１図は第１図の磁気ディスクとその表向上方で浮」
ニする第４図の磁気ヘッドとの関係ケ示す図である。 第５２図は第５１図のヘッドに設けられているレーザー
・ダイオードと磁気ディスクとの関係ケ概略的に示す図
である。 第５３図はレーザー・ダイオードのリード両端間の電圧
変ａ１１と、磁気ディスクからレーザー・ダ　、イオー
　ド捷での距離との関係ケ示す図である。 第５４図はレーザー・ダイオードの下方に逆反射光の光
学的フィードバラフケ生成する反射１ｒｉ＋がある場合
およびそねかない場合のレーザー・ダイオードについて
の′電流−電圧の関係ケ示す図である。 第６１図、第６２図及び６６図は磁気トラノクケ中心と
する光学サーボ・トランクとしてのパターンケ示・す図
である。 第７図１ｌ−１′第６１ないし第６３図に示′１一様な
サーボ・トランクに関連しているレーザー・タイオード
から信号ケ受取って処理するための回路ケ示す図である
。 第８図は、第７図のノードＤとツートド゛との間のロー
ルオフ増幅器の周波数応答ケ承り一図である。 第９図は゛帯域フィルターの周波数応答ケ示す図である
。 第１０１図は第６２図に示した種類の光学サーボ・トラ
ンフケ説明の便宜上直線状にして示す図である。 第１０．２図は第１０１図の配置で、レーザー光線Ｌ　
Ｂがトラックｎ＝１．２．３にたどるときの応答信号の
レベルと時間の関係ケ示す図である。 第１１図は第１０１図および第１０２図のトラック１ケ
たどるときの応答信号と位相検出器の出力（Ｓｏ）およ
び平均出力８７ケ示す図である。 ′１ 第１２図は第１０１図のトラック１からトラックろに移
る間の位相検出器の平均出力（Ｓｏ）の変化ケ示す図で
ある。 第１３，１図は第１０１図のものと類似のサーボ・トラ
ンク勿示す図である。 第１６．２図は第１３１図のトラックＮ−１、Ｎ１Ｎ　
−１−１について盆横切るときの平均出力Ｓ００変化ケ
示す図である。 第１４図は磁気ディスクの表面から浮上しているヘッド
に設けられているレーザー・ダイオードと検出ダイオー
ドとの関係裟示す図である。 第１５図及び第１６図は°第１４図におけるレーザー・
ダイオードと検出ダイオードとｒｌつのデツプに搭載し
た構成及び２つのチップに分けて搭載した構成ケ示す図
である。 ８・・・・光学記録層、１２・・・・磁気記録層、１７
・・・・スライダ、２１・・・・光学変換器（レーザー
・ダイオード）。 出願人インターサシ田フフｖ−ヒシネス・マシーンス・
コーポレーンヨン代理人　　弁理士　　山　　　本　　
　仁　　　朗（外１名） ＦＩＧ、　５．１ ＦＩＧ、５．２

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 磁気記録層を有する磁気ディスクに関連して磁気ヘッド
   の位置決め音制御するためのサーボ装置であって、上記
   磁気ディスクの磁気記録層の上に設けられて反射率の変
   化ケもたらすサーボ・パターンケ記録したサーボ・トラ
   ンク層と、上記磁気ヘッドに細隙していて上記サーボ・
   トランク層の反射率の変化に応じて動作特性ケ変えるレ
   ーザ手段とケ有することケ特徴とする磁気ヘッド用光学
   サーボ装置。