JPS5983037A - 非破壊検査装置 - Google Patents

非破壊検査装置

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JPS5983037A
JPS5983037A JP57193082A JP19308282A JPS5983037A JP S5983037 A JPS5983037 A JP S5983037A JP 57193082 A JP57193082 A JP 57193082A JP 19308282 A JP19308282 A JP 19308282A JP S5983037 A JPS5983037 A JP S5983037A
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 よび装置、特に工場などの連続生産ラインにおいて生産
される製品や部品の内部欠陥等を、非接触、非破壊で検
査する方法および装置に関する。特K、連続走行中の金
属板、コムノート、板ガラス等にX線を照射し、透過X
線からそれらの材料の内部欠陥等を検出する連結非破壊
検査方法お,[:び装置に関ず()ものである。
鉄板、パイプ等の金属材料あるいは製品、自動車、車両
等の量産金属部品、板カラスやセラミソク碍子等の窯業
製品、タイヤ等のコム製品等の工場での品質検査(内部
欠陥の検査、厚さの検査等)に、X線を利用した非破壊
検査が行なわれている。また食品等に混入している異質
物の検出にもX線透過による検査が行なわれている。
このX線を利用した検査方法には透過X線像をフィルム
に撮影する透過検査法と、イノージインテンシファイア
( 1.i )  チューブを利用して透過X線像を直
接目で見る透視検査法があり、いずれも古くから広く行
なわれている。
これらの方法のうち透過検査法は鮮明な像が得られるた
め、精密な検査には特に適して(・るが、透過X線像を
一旦フイルムに撮影するため、結果を得るまでにはフィ
ルムを現像しなければならず、時間がかかるという欠点
がある。一方、透視検査法は瞬時に結果を知ることかで
゛きるが、画像が鮮明でなく、精密な検査には適さない
土、記録が残らないと℃・う欠点がある。
したがって、工場の生産ラインで連続して製造される材
料や製品を、高い応答性をもって高精度で検査し、しか
も検査結果を記録に残したり、電気信号にして製造ライ
ンにフィードバックするという目的には、従来の上記検
査法では十分対応することができない。
本発明は、このような問題点に鑑み、連続走行中の被検
物体を高応答性をもって連続的に非破壊検査し、その検
査結果の記録も、フィートバツク用の利用も可能にした
新規なX線非破壊検査方法およびその方法を実施するだ
めの装置を提供することを目的とするものである。
本発明の非破壊検査方法は、蓄積性螢光体ノートを使用
してこの」−に被検物体を透過したX線を照射させ、そ
の後この螢光体ノー)・に励起光を照射して蓄積記録さ
れた透過X線像を再生して読み取り、その読取信号から
検査結果を得る」゛うにしたことを特徴とするものであ
る。特に好ましくは蓄積性螢光体ノートは連続走行する
被検物体と等速度で走行させ、読み取った信号はC R
 i’にディスプレーしてモニタする一方、写真フィル
ム、磁気テープ、オプティカルティスフ等に永久記録す
るためにも使用され、また製造ラインへのフィートバン
クのための検出信号として、コントローラ等へ送られる
ものである。これらの読取信号(検出信号)の使用方法
は、要求に応じて適宜選択、組み合わされる。
上記蓄積性螢光体シートとは、蓄積性螢光体を7−1・
状の支持体−Lに塗布したものであるが、このシートと
は、一枚一枚が分離した個別シート状のもののみならず
、エツトレスベルトのように無端状に形成したものも含
むものとする。蓄積性螢光体とは、X線等の放射線を照
射したときその放射線のエネルギーを蓄積し、その後可
視光、赤外光等の励起光を照射したとき蓄積エネルギー
を可視光として放出する螢光体のことを言い、例えば特
開昭55−1.2429号に詳細に開示されている。
本発明ではこの蓄積性螢光体シートに被検物体を透過し
たX線をスリットを通して照射し、その後シートに励起
光を照射して発光した輝尽発光光を光電的に検出してい
るが、このスリットは鉛箔のようにX線を透過しない遮
蔽部利で形成され、被検物体の走行方向と直角な方向あ
るいは少なくとも走行方向に交叉する方向に延びている
励起光はスリットを通してX線に露光されたシートの部
分に照射されるが、好ましくはビーム状にされてスリッ
トに活って走査され、輝尽発光光を時系列信号として光
電的に検出する。
励起光を照射され、輝尽発光光を放出したノートは、繰
返使用のために消去手段により残留エネルギーを放出せ
しめられろ。この消去手段は、励起光と同様の波長域の
比較的強度の高い光を一様にあるいは2次元走査により
シートに照射するもので、例えは励起光を照射する位置
の下流・(ノートの移動方向の下流)に設置される。
シートは好中しくは被検物体と同じ速度で同方向に移動
され、この上に被検物体の透過X線像が1対1の大きさ
の比で記録されるようにするが、このシートの移動速度
は必ずしも被検物体と同しにする必要はない。極端な場
合は、シートを静止させ、被検物体は移動させたままX
線を露光してもよい。このときはスリットにシャッター
を設けて瞬間的にシートにX線をスリット状に露光し、
次いでシートをスリットの幅の分易上移動してまた静止
させ、再びシャッターを開(・て次の部分を記録すると
いうようにしてもよい。このときは、シートの移動方向
と被検物体の移動方向を逆にすることもできる。
以下、実施例により本発明の方法、装置を詳細に説明す
る。
第1図は多数の鉄板1,1・・・・・・の内部欠陥を7
−1・状(個別の)の蓄積性螢光体ノー ト2.2・・
・・・・によって検査する実施例を示すものである。
被検物体である多数の鉄板]、it  ・・曲は搬送ヘ
ルド3の上に載置され、矢印Aの方向に連続的に送られ
る。この下に鉛箔の遮蔽部月4が配され、この遮蔽部材
4は矢印Aに直角な方向に延びた露光スリン)4Aを有
している。このスリット4Aの」一方にはX線源5が設
置される。遮蔽部材4の下には透明な搬送ベルト6が矢
印I3方向に送られ、この上に多数のン−ト状の蓄積性
螢光体シーl−2,2・・・・・が載置され、矢印B方
向に移動せしめられる。
スリット4Aの位置より下流側、搬送ヘルド6の裏側に
、スリット4Aの長さ方向にレーザ光源7からのレーザ
光7Aを走査さぜる走査光原糸(ガルバノメータミラー
)が配され、このレーザ光7Aによって走査された蓄積
性螢光体ノート60発光する輝尽発光光を集光し、光電
的に検出する検出器9が設置される。この検出器9は、
レーザ光7Aの走査線に清った直線状の入射端面9aと
フォトマル9Bの円形の受光面に沿った環状の射出端面
91〕を有し、入射端面9aから入射した輝尽発光光を
射出端面91〕まで全反射によって案内する透明なアク
リル樹脂板製の集光器9Aと、−に言己フ第1・マル9
Bとからなっている(例えば特開昭55−87970号
に開示されている)。
このレーザ光7Aが走査される位置から下流の離れた位
置に、遮光板10を介して消去光源11が設けられる。
この消去光源11はレーザ光7Aに走査されて蓄積エネ
ルギーを輝尽発光光として放射したシート2に残留した
X線エネルキーを放射させろ光を発光するもので、白熱
電球、螢光ランプ、キセノンフラッシュ等が使用される
フォトマル9Bの出力は、モニターテレビ12、記録用
磁気テープ装置J3、欠陥検出警告装置14等に伝達さ
れ、被検物体を透過したX線から得られる’l*報を表
示、記録ある(・は警告に使用する。警告装置14は、
例えばフォトマル9Bからの出力を予め定められた参照
レベルと比較し、被検物体1のX線透過率が所定以上あ
るいは以下になったときに警告音を発するような装置と
することができる。この警告音の代わりにあるいは警告
音とともに、不良品排除信号14Aを出して別に下流に
設けた不良品排除装置(図示せず)により不良な鉄板]
を排除するようにすることもできる。
上記のように構成された装置によれば、被検物体Jを透
過したX線5Aは露光スリット4Aを通して蓄積性螢光
体シー1・2にスリット状に照射され、これによって被
検物体1の一部を走行方向に直角にスリット状に透過し
たX線の持つ画像情報がシート2に蓄積記録される。被
検物体1が矢印式方向に移動するのと同時にシート2も
矢印B方向に移動し、被検物体1のX線透過部がスリッ
ト4Aの幅の分だけ移動−「る間にノート2はス1ノッ
ト4Aの幅り、上移動され、被検物体1の全面に亘って
透過X線をシート2」二に蓄積するようにしている。す
なわち、被検物体1どシート2とが同じ速度で同方向に
移動すれば被検物体1の全域に亘って、等大の透過X線
像がノート2−1−に蓄積記録される。また、連続して
移動する物体1に対して、シート2をX線露光時と、し
〜ザ光照射時に停止させ、その間は高速で送る間欠送り
とすることもできる。このときは、例えばX線露光とレ
ーザ光照射を同時に停止中の7−ト2に対して行ない、
瞬間的なX線露光の後、スリットの幅だけ物体1が送ら
れる間にシート2をスリットの幅以上移動させ、物体が
スリットの幅だけ送られた後に次の露光を瞬間的に行な
うという方法をとることができる。このとき、シ〜l−
21には例えば第2Δ図のようにスリット幅の画像記録
部2aが多数平行に並んで形成され、これらの画像記録
部2aには被検物体1の全域に亘る透過像がスリット幅
で隣接する部分に区切られて順次記録されることになる
このように平行に記録されたスリット幅の記録部2aに
、レーザ光7Aをシート2の停止中に走査し、この記録
部2aかも発光した輝尽発光光を検出器9の集光器9A
により集光し、フォトマル9Bで時系列の画像信号を得
る。この画像信号の中には被検物体1の内部欠陥に関す
る情報が出力レベルの犬あるいは小の形で含よねている
から、この画像信刊から、内部欠陥を検出するこ七がで
きる。
もちろん、モニターチンピ12には、被検物体1の透過
X線像をその才ま映出することかで゛き、目視により内
部欠陥を検出するととも可能になる。
検出の終ったシート2は、検出部(レーザ光照射部)の
下流において消去光源11からの光を照射され、内部(
C残留するX線エネルギーは放出されて、可使m可能な
状態に再生される。遮光板10は、この消去光が集光器
9Aに入射してノイズとならないようにするためのもの
である。。
上記実施例によれは、被検物体1を連続走行させたまま
、連続的にその内部欠陥のX線透過による検査が可能と
なる。また、その検出の応答性も物体の搬出中に検出結
果を得ることができるので、き]つめて高い。
上記実施例において、シート2を連続的に移動させる場
合、シート20走行速度を被検物体1の走行速度と等し
くし、X線を連続的に照射し続けると、シート2には物
体1の透過像がそのまま蓄積記録されるが、このときは
スリット/IAの幅をきわめて小さくしないと、記録の
分N酢が低下し、実用上問題となる。スリットの幅をあ
る程度大きくする場合は、X線の照射を瞬間的に行なう
よう、スリットにンヤソターを設けるか、X線源側で瞬
間的発生をするような手段が必要に7jる。このときは
、シート2」−に記録されるスリット露光部(記録部2
a)があまり隣接すると、前回の露光で記録を終了した
部分が次回の露光により影響を受けるおそれがあるので
、各記録部2aは多少間隔をおいて記録される必要があ
る。
また、シート2が連続走行中にこのシート2をレーザ光
7Aで走査するとき、走査の方向をシート20走行方向
に直角にすると、シート2上では走査軌跡は第2B図に
錯綜で示すように斜めになる。第2B図で、実線で示る
次に、蓄積性螢光体ノートをエンドレスベルト状にして
連結使用し、圧延された鉄板の厚さを測定して、測定結
果を圧延ローラー\フィードバックする検査方法の実施
例を、第3図により説明する。
一対の圧延ローラ2]、A、21Bにより鉄板21が圧
延され、矢印A方向に送られる。
この下にスリット22Aを有する鉛箔の遮蔽部材22が
配置され、その下に蓄積性螢光体シートのエンドレスベ
ルト23が4本のローラ2/IA、  24B、2,4
.C,24,1,)に懸架されて鉄板21と同じB方向
に駆動される。スリット22Aの下にはレーザ光源25
がらのレーザ光25△をスリット22Aに涜っ−(走査
する走査ミラー26が配され、このレーザ光25Aによ
って走査されたエツトレスベルト23から発光する輝尽
発光光を集光する集光器27が、その入射端面27Aを
走査線に隣接させて配設されて(・る。この集光器27
は第1図の集光器9Aと同じもので、その射出端面を〕
刊トマル28の受光面に対向させている。
エンドレスベルト23の露光、レーーf走査部の下流の
離れた位置しζは、多数の消去ラップ29が配設されて
いる。フォトマル28の出力は、板厚計算器30に入力
され、ここでフォトマルの出力から鉄板21の厚さが計
算され、この出力は圧延ローラ2.I A、  211
3の間隔をコントロールするコントローラ31に入力さ
れる一方、さらに内部欠陥を検出する検出部32に入力
される。検出部32の出力は、原料等のコントローラへ
送られる。
」二記実施例によれば、蓄積性螢光体シートはエンドレ
スベルト23に形成されているため、繰返し使用が自動
的に行なわれ、装置全体がコンパクトになり、実用上有
利である。
また、検査出力が圧延ロールにフィードバックされるた
め、常に適正な圧延の厚さが得られるように自動制御す
ることが可能となる。
以上の説明から明らかなように、本発明の方法あるいは
装置によれば、連続的に走行する被検物体、特にウェブ
状のものを連続的に検査することが容易になり、しかも
その非接触、ブ1−破壊の検査が1司い応答性な・しっ
に司1jμとなり、工業にσ)価値は大きし・。また、
この方法は従来の1.1.による目視による方法よりも
はるかに高い解像力を得ることがて゛きる。
なお、上記方法において、被検物体が厚い鉄板である場
合のようにX線として高エネルギーのものを使用しなげ
ればならなし・ときには、蓄積性螢光体、、?−トでの
、X線吸収が低下1−1十分な情報を蓄積記録できなく
なる場合がある。このときは、被検物体に金属箔を重ね
合わせ、ここで2次電子を発生させ、この電子により蓄
積性螢光体ノートに記録するという方法をとることも可
能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法を実施する装置の−実施例を示す
概略図、 第2 A図、第2B図は本発明の方法によって被検物体
のX線透過像を記録された蓄積性螢光体シートの例を示
す平面図、 第3図は本発明の方法を実施する装置の他の実施例を示
す概略図である。 ]、2】・・・被検物体  4,22・・・遮蔽部材2
.23・・蓄積性螢光体シート 7、永5  ・レーザ光源 9A、27・・・集光器9
13.28 7第1・マル ]−1,29・・・消去光
源12・・モニタテレビ 13・・・磁気テープ装置 14.32・・・欠陥検出器 21J、、21B・・・圧延ローラ 30・・・板厚割算器 31・・・圧延ローラノコントローラ (い資)手続ネ…j]三書 aS和58 +T 3月10 )−:]待8′[庁長官
 殿 1、事イ′1の表示 特騨I昭57−193082号 2、発明の名称 非破壊検査方法a5よび装門 3、ンdi iEを4る者 4、代理人 東京都港区六水木5丁目2番1号 4Tシ ロ、補正により増加りる発明の数   な   し7、
補正の対象    明細書の「発明の詳細な説明」の欄
8、補11−の内容 1)明細内第14@第8〜9行

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)走行する被検物体にX線を透過させ、この透過X線
    を走行方向と交叉する方向に延びたスリットを介して蓄
    積性螢光体シートに照射せしめ、この蓄積性螢光体シー
    トを前記スリットと交叉する方向に移動させるとともに
    このシートの前記スリットを通してX線に露光された部
    分に励起光を照射し、この励起光照射により発光する輝
    尽発光光を光電的に検出することを特徴とする非破壊検
    査方法。 2)走行する被検物体にX線を照射するX線源、被検物
    体を透過した」二記X線を受ける位置に設けられ、被検
    物体の走行方向と交叉する方向に延びたX線露光スリッ
    トを有するX線遮蔽部材、このX線露光スリットを通過
    する上記X線を受ける位置に、このスリットと交叉する
    方向に移動可能に設けられた蓄積性螢光体シート、この
    シートを上記スリットと交叉する方向に移動する手段、
    スリット状にX線に露光された上記ノートの部分に励起
    光を照射する励起光照射手段、この励起光を照射された
    シートの部分から発光する輝尽発光光を光電的に検出す
    る光電検出手段、および輝尽発光光の発光波上記ソート
    に消去光を照射してノート中に残留するX線エネルギー
    を放出させる消去手段からなる非破壊検査装置。 3)前記蓄積性螢光体ソートがエンドレスベルト状に形
    成されていることを特徴とする特許請求の範囲第2項記
    載の非破壊検査装置。 4)前記シートを移動する手段が、該ソートを前記被検
    物体と同じ方向に移動させるものであることを特徴とす
    る特許請求の範囲第2項または第3項記載の非破壊検査
    装置。 5)前記励起光照射手段が、励起光をビーム状にして前
    記シートのスリット状にX線に露光された部分を走査す
    る走査光学系を備えたものであることを特徴とする特許
    請求の範囲第2項、第3項または第4項記載の非破壊検
    査装置。
JP57193082A 1982-11-02 1982-11-02 非破壊検査装置 Granted JPS5983037A (ja)

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JPH0376403B2 JPH0376403B2 (ja) 1991-12-05

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US9417337B2 (en) 2005-09-27 2016-08-16 Michael Thorns Device for reading out exposed imaging plates

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