JPS5987383A - レ−ザ測距装置の受光回路 - Google Patents
レ−ザ測距装置の受光回路Info
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- JPS5987383A JPS5987383A JP57198223A JP19822382A JPS5987383A JP S5987383 A JPS5987383 A JP S5987383A JP 57198223 A JP57198223 A JP 57198223A JP 19822382 A JP19822382 A JP 19822382A JP S5987383 A JPS5987383 A JP S5987383A
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 17
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 6
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 240000001548 Camellia japonica Species 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 235000018597 common camellia Nutrition 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
- G01S17/10—Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of interrupted, pulse-modulated waves
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はレーザ測距装置の受光回路に関する。
レーザ発振器から指向性の鋭い単一パルスのレザ投光パ
ルスをレーザ目標に向けて発射し、その反射パルスとレ
ーザ投光パルスとの時間差からレーザ目標までの距離を
測定するレーザ測距装置は近時よく知られている。
ルスをレーザ目標に向けて発射し、その反射パルスとレ
ーザ投光パルスとの時間差からレーザ目標までの距離を
測定するレーザ測距装置は近時よく知られている。
このようなレーザi11距装置においては、その目的上
レーザ発振器からレーザ目標に向けて投光するレーザ投
光パルスはエネルギーの大きい単一パルスを用い、また
レーザ目標からのレーザ反射パルスは通常これをホトマ
ルチプライア等の光検出器で検出し、レーザ投光パルス
に同期したスタートパルスとレーザ反射パルスから形成
するストップパルスとにより基準周波数を有する基準パ
ルス発振器を内蔵した計数器を動作させ、スタートパル
スとストップパルスとによってカウントされた基準パル
スの数からその時間差を計測してこの時間差とレーザ光
速とによってレーザ目標までの距離を求めるような構成
となっておシ、動作原理はレーダ装置の場合と同様であ
ることもまたよく知られている。
レーザ発振器からレーザ目標に向けて投光するレーザ投
光パルスはエネルギーの大きい単一パルスを用い、また
レーザ目標からのレーザ反射パルスは通常これをホトマ
ルチプライア等の光検出器で検出し、レーザ投光パルス
に同期したスタートパルスとレーザ反射パルスから形成
するストップパルスとにより基準周波数を有する基準パ
ルス発振器を内蔵した計数器を動作させ、スタートパル
スとストップパルスとによってカウントされた基準パル
スの数からその時間差を計測してこの時間差とレーザ光
速とによってレーザ目標までの距離を求めるような構成
となっておシ、動作原理はレーダ装置の場合と同様であ
ることもまたよく知られている。
v−v投光パルスをレーザ目標に向けて発射した場合、
レーザ反射パルスの強度はレーザ目標までの距離の2乗
に比例して低下するだけでなく、レーザ投光パルスの伝
播媒質、たとえば大気中における吸収、散乱等によるレ
ーザ光透過率の減少に対応してレーザ目標までの距離の
増加とともに急激に低下する。従って遠距離のレーザ目
標の測距においてはレーザ測距装置のレーザ投光パルス
の強度を上げるとともに受光回路の利得も大幅に増加さ
せることが必要となる。
レーザ反射パルスの強度はレーザ目標までの距離の2乗
に比例して低下するだけでなく、レーザ投光パルスの伝
播媒質、たとえば大気中における吸収、散乱等によるレ
ーザ光透過率の減少に対応してレーザ目標までの距離の
増加とともに急激に低下する。従って遠距離のレーザ目
標の測距においてはレーザ測距装置のレーザ投光パルス
の強度を上げるとともに受光回路の利得も大幅に増加さ
せることが必要となる。
しかしながら、レーザ投光パルスの強度を上けかつ受光
回路の利得を増加させると必然的に大気等の伝播媒質中
に含まれる分子あるいけ粒子等たとえば大気中の水蒸気
、霧、雨、雪あるいは塵埃等による乱反射パルスが大き
くなシこれがレーザ測距装置の受光回路によって疑似ス
トップパルスとして形成されてしまい、レーザ目標から
のレーザ反射パルスによる正常な測距を妨害しこのため
測距を誤る確率が非常に大きくなるという問題が発生す
る。
回路の利得を増加させると必然的に大気等の伝播媒質中
に含まれる分子あるいけ粒子等たとえば大気中の水蒸気
、霧、雨、雪あるいは塵埃等による乱反射パルスが大き
くなシこれがレーザ測距装置の受光回路によって疑似ス
トップパルスとして形成されてしまい、レーザ目標から
のレーザ反射パルスによる正常な測距を妨害しこのため
測距を誤る確率が非常に大きくなるという問題が発生す
る。
従来、レーザ測距装置の受光回路で形成されるこの種の
疑似ストップパルスを除去する手段としては一般的に、
近距離はど受光回路の利得を低下させる方法がとられて
いる。これは大気中の分子あるいは粒子等による乱反射
パルスは、レーザ測距装置の投光光学系を介して発射さ
れるレーザ投光パルスの投光ビームと受光光学系による
光学的視野とが一致する距離で受光回路に入力され始め
、このあとレーザ投光パルスの投光ビームと受光光学系
の光学的視野とが交差する範囲、通常は受光範囲のうち
数100朋程度の比較的限定された距離範囲にわたって
発生しかつその強度は比較的近距離で急激に最大値に達
し以後は発生範囲に互って比較的緩やかに減衰する特性
を示すことが数多くの実測データから明らかにされてい
る。また、乱反射パルス強度特性は全体としてコンデン
サと電気抵抗とによる充放電特性にほぼ類似した特性を
有するものであることが数多い計測の結果知られておシ
、受光光学系に入力する乱反射パルスの強度は比較的近
距離で充電特性にほぼ類似した特性で急激に最大値に達
したあとはほぼ放電特性に類似した比較的緩やかな減衰
特性で減衰していく。
疑似ストップパルスを除去する手段としては一般的に、
近距離はど受光回路の利得を低下させる方法がとられて
いる。これは大気中の分子あるいは粒子等による乱反射
パルスは、レーザ測距装置の投光光学系を介して発射さ
れるレーザ投光パルスの投光ビームと受光光学系による
光学的視野とが一致する距離で受光回路に入力され始め
、このあとレーザ投光パルスの投光ビームと受光光学系
の光学的視野とが交差する範囲、通常は受光範囲のうち
数100朋程度の比較的限定された距離範囲にわたって
発生しかつその強度は比較的近距離で急激に最大値に達
し以後は発生範囲に互って比較的緩やかに減衰する特性
を示すことが数多くの実測データから明らかにされてい
る。また、乱反射パルス強度特性は全体としてコンデン
サと電気抵抗とによる充放電特性にほぼ類似した特性を
有するものであることが数多い計測の結果知られておシ
、受光光学系に入力する乱反射パルスの強度は比較的近
距離で充電特性にほぼ類似した特性で急激に最大値に達
したあとはほぼ放電特性に類似した比較的緩やかな減衰
特性で減衰していく。
この乱反射強度特性および最大強度性大気等の伝播媒質
の状況等によって左右されるが、レーザ測距装置の測距
距離は数1000m程度もしくはそれ以上を対象として
おシ、これに比して乱反射パルスは十分近距離範囲で発
生し、また最大値に達する距離はさらに近距離である。
の状況等によって左右されるが、レーザ測距装置の測距
距離は数1000m程度もしくはそれ以上を対象として
おシ、これに比して乱反射パルスは十分近距離範囲で発
生し、また最大値に達する距離はさらに近距離である。
従って近距離はど受光回路の利得を低下せしめることに
よりこの乱5− 反射パルスの影智を大幅に減少させることができる0 従来、近距離はど受光回路の利得を減少させるにはスタ
ートパルス発生時刻の受光回路のオU得を最小とし時間
経過とともに利得を増加させ遠距離から受光するレーザ
目標反射パルスを感度良く検出してストップパルスを正
確に発生させようとするもので、通常光検出器の特性を
上述した受光回路の利得補正に対応させたものとするよ
うにしている。
よりこの乱5− 反射パルスの影智を大幅に減少させることができる0 従来、近距離はど受光回路の利得を減少させるにはスタ
ートパルス発生時刻の受光回路のオU得を最小とし時間
経過とともに利得を増加させ遠距離から受光するレーザ
目標反射パルスを感度良く検出してストップパルスを正
確に発生させようとするもので、通常光検出器の特性を
上述した受光回路の利得補正に対応させたものとするよ
うにしている。
たとえは光検出器としてホトマルチプライアを利用する
夢合には、ホトマルチプライアのダイノード電圧に、補
正すべき内容に対応して時間とともに変化する利得補正
電圧を印加することによって光検出特性の補正を行なっ
ている。しかしながら、ホトマルチプライアのダイノー
ド電圧は通常1000V程度の高電圧を使用するため利
得補正電圧も数1oovの電圧を必要とし、電圧制御素
子も真空管または高耐圧トランジスタ等が必要とな如、
従って受光回路の小型化は困難となるうえ電6− 源効率の向上も望めないという欠点がある。
夢合には、ホトマルチプライアのダイノード電圧に、補
正すべき内容に対応して時間とともに変化する利得補正
電圧を印加することによって光検出特性の補正を行なっ
ている。しかしながら、ホトマルチプライアのダイノー
ド電圧は通常1000V程度の高電圧を使用するため利
得補正電圧も数1oovの電圧を必要とし、電圧制御素
子も真空管または高耐圧トランジスタ等が必要とな如、
従って受光回路の小型化は困難となるうえ電6− 源効率の向上も望めないという欠点がある。
才だ光検出器としてホトダイオードあるいはホトトラン
ジスタ等の半導体光検出器を利用する場合にも数100
ボルトの利得制御電圧を必要とし、さらにこれらの光検
出器は検出感度はすぐれているものの出力レベルが低い
ので増幅器と組合せてこれを補償しているため、上述し
た高電圧の利得制御電圧発生ごとにこの増幅器を誤動作
せしめ易く、誤シ計測を生じ易いという欠点がある。さ
らに上述したいずれの方法によっても変動性の多い乱反
射パルスを完全に除去することは極めて困難であるとい
う欠点がある。
ジスタ等の半導体光検出器を利用する場合にも数100
ボルトの利得制御電圧を必要とし、さらにこれらの光検
出器は検出感度はすぐれているものの出力レベルが低い
ので増幅器と組合せてこれを補償しているため、上述し
た高電圧の利得制御電圧発生ごとにこの増幅器を誤動作
せしめ易く、誤シ計測を生じ易いという欠点がある。さ
らに上述したいずれの方法によっても変動性の多い乱反
射パルスを完全に除去することは極めて困難であるとい
う欠点がある。
本発明の目的は上述した欠点を除去し、レーザ測距装置
の受光回路に乱反射パルス入力ごとにこの乱反射パルス
とほぼ相似な波形で振幅が常に大きいパルスを自動的に
発生し、これと乱反射パルスとの差をとシ増幅するとい
う手段を備えることにより、大気等の伝播媒質に含壕れ
る分子あるいは粒子による乱反射パルスの影響を抑圧し
、従って疑似ストップパルスの発生を自動的に除去する
ことができる簡単な構造のレーザ測距装置の受光回路を
提供することにある。
の受光回路に乱反射パルス入力ごとにこの乱反射パルス
とほぼ相似な波形で振幅が常に大きいパルスを自動的に
発生し、これと乱反射パルスとの差をとシ増幅するとい
う手段を備えることにより、大気等の伝播媒質に含壕れ
る分子あるいは粒子による乱反射パルスの影響を抑圧し
、従って疑似ストップパルスの発生を自動的に除去する
ことができる簡単な構造のレーザ測距装置の受光回路を
提供することにある。
本発明の回路は、レーザ発振器から投光するレーザ投光
パルスととのレーザ投光パルスによシレーザ目標から受
光するレーザ反射パルスとの時間差を求めてレーザ目標
までの距離を測定するレーザ迎」距装置において、大気
等の伝播媒質中に含まれる分子あるいは粒子からの乱反
射パルスを受けてこの乱反射パルスに波形がほは相似す
るとともに振幅が常に前記乱反射パルスより大きい乱反
射パルス補償信号を前記乱反射パルス入力ごとに自動的
に発生する乱反射パルス補償信号発生回路と、この乱反
射パルス補償信号発生回路の発生する前記乱反射パルス
補償信号と前記乱反射パルスを伴う前記レーザ反射パル
スとを入力しこれら2人力の差をと9増幅することによ
って前記乱反射パルスを除去するように補償する乱反射
パルス補償回路と、この乱反射補償回路によって得られ
る前君己2人力の差を受けこの振幅と予め設定するレベ
ルのレーザ反射パルス弁別域値とを比較して振幅弁別を
行なうことによシ前記レーザ目標からのレーザ反射パル
スを抽出する反射パルス振幅弁別回路とを備えて構成さ
れる。
パルスととのレーザ投光パルスによシレーザ目標から受
光するレーザ反射パルスとの時間差を求めてレーザ目標
までの距離を測定するレーザ迎」距装置において、大気
等の伝播媒質中に含まれる分子あるいは粒子からの乱反
射パルスを受けてこの乱反射パルスに波形がほは相似す
るとともに振幅が常に前記乱反射パルスより大きい乱反
射パルス補償信号を前記乱反射パルス入力ごとに自動的
に発生する乱反射パルス補償信号発生回路と、この乱反
射パルス補償信号発生回路の発生する前記乱反射パルス
補償信号と前記乱反射パルスを伴う前記レーザ反射パル
スとを入力しこれら2人力の差をと9増幅することによ
って前記乱反射パルスを除去するように補償する乱反射
パルス補償回路と、この乱反射補償回路によって得られ
る前君己2人力の差を受けこの振幅と予め設定するレベ
ルのレーザ反射パルス弁別域値とを比較して振幅弁別を
行なうことによシ前記レーザ目標からのレーザ反射パル
スを抽出する反射パルス振幅弁別回路とを備えて構成さ
れる。
次に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明による回路の一実施例を示すブロック図
である。
である。
第1図に示す実施例は、Qスイッチレーザ発振器1.送
光光学系2.スタートパルス発生回路3゜パルス計数回
路4.フリップフロップ回路5.受光光学系6.受光信
号発生回路7.乱反射パルス補償信号発生回路8.乱反
射パルス補償回路9ンよび反射パルス振幅弁別回j&1
0を備えて構成される。
光光学系2.スタートパルス発生回路3゜パルス計数回
路4.フリップフロップ回路5.受光光学系6.受光信
号発生回路7.乱反射パルス補償信号発生回路8.乱反
射パルス補償回路9ンよび反射パルス振幅弁別回j&1
0を備えて構成される。
第2図は第1図の実施例のブロック図における主要部分
の動作波形の特性を示す動作波形特性図であ)、第2図
の(a) −(b) * (c) + (d) 、(e
)および(f)はそれぞれ第1図のブロック図に示す回
路部分a。
の動作波形の特性を示す動作波形特性図であ)、第2図
の(a) −(b) * (c) + (d) 、(e
)および(f)はそれぞれ第1図のブロック図に示す回
路部分a。
b、c、d、eおよびfにおける動作波形の特性を示す
ものである。以下に第2図の動作波形特性図を参照しな
がら第1図の実施例について説明す9− る0 第1図において、Qスイッチレーザ発振器1はQスイッ
チレーザ発振による単一パルスのレーザ、いわゆるジア
イアントパルスレーザを発振し、これをレーザ発振出力
101として送光光学系2に送光する。送光光学系2は
レーザ発振出力101に、内蔵するレンズ群を介して所
定の指向角を与えこれがレーザ投光パルス201として
大気等の伝播媒質を介してレーザ目標に向けて発射され
る。
ものである。以下に第2図の動作波形特性図を参照しな
がら第1図の実施例について説明す9− る0 第1図において、Qスイッチレーザ発振器1はQスイッ
チレーザ発振による単一パルスのレーザ、いわゆるジア
イアントパルスレーザを発振し、これをレーザ発振出力
101として送光光学系2に送光する。送光光学系2は
レーザ発振出力101に、内蔵するレンズ群を介して所
定の指向角を与えこれがレーザ投光パルス201として
大気等の伝播媒質を介してレーザ目標に向けて発射され
る。
Qスイッチレーザ発振器1はまた、レーザ発振出力10
1の一部をスタート同期パルス102としてスタートパ
ルス発生回路3に送光する。
1の一部をスタート同期パルス102としてスタートパ
ルス発生回路3に送光する。
スタートパルス発生回路3はホトダイオード。
パルス形成回路、増幅回路等を有し受光したスタート同
期パルス102をホトダイオードで検出したうえパルス
形成回路、増幅回路によって所定のパルス幅、レベルの
スタートパルスaを発生しこれをパルス計数回路4およ
びフリップフロップ回路5に送出する。スタートパルス
aを第2図(a)に経過時間tを時間軸として示す。
期パルス102をホトダイオードで検出したうえパルス
形成回路、増幅回路によって所定のパルス幅、レベルの
スタートパルスaを発生しこれをパルス計数回路4およ
びフリップフロップ回路5に送出する。スタートパルス
aを第2図(a)に経過時間tを時間軸として示す。
10−
さて、パルス計数回路4は、基準周波数から基準パルス
を発生する基準パルス発生器、パルスカウンタ、時間差
計数器およびスタートパルスおよびストップパルスによ
ってこのパルスカウンタのカウント動作のスタートおよ
びストップを行わしめるパルスカウンタゲート回路等を
有し、本実施例においてはスタートパルスaによってパ
ルスカウンタゲート回路を介してパルスカウンタによる
基準パルスのカウントを開始し、後述する反射パルス振
幅弁別回路10から出力するストップパルスgでカウン
トを終了するように動作せしめ、このスタートパルスa
とストップパルスgとによってカウントした基準パルス
のカウント数からその時間差を時間差計測器によって求
めこれを時間差信号401として表示回路(図示せず)
に送出しこの時間差に対応した距離表示を行なっている
。
を発生する基準パルス発生器、パルスカウンタ、時間差
計数器およびスタートパルスおよびストップパルスによ
ってこのパルスカウンタのカウント動作のスタートおよ
びストップを行わしめるパルスカウンタゲート回路等を
有し、本実施例においてはスタートパルスaによってパ
ルスカウンタゲート回路を介してパルスカウンタによる
基準パルスのカウントを開始し、後述する反射パルス振
幅弁別回路10から出力するストップパルスgでカウン
トを終了するように動作せしめ、このスタートパルスa
とストップパルスgとによってカウントした基準パルス
のカウント数からその時間差を時間差計測器によって求
めこれを時間差信号401として表示回路(図示せず)
に送出しこの時間差に対応した距離表示を行なっている
。
フリップフロップ回路5は単安定マルチバイブレータ回
路を有し、これによシ予め特定するレベルとパルス幅t
。を有するゲートパルスbを出力する。このゲートパル
スbのパルス幅t g Fi %レーザ側距装飯による
測距が不要である期間、すなわち測距レンジに対して十
分短い距離に対応して予め設定する時間であシ、また前
述した乱反射パルスのレベルが最大となるまでの時間を
含むように設定しである。第2図(b)にケートパルス
bを示す。
路を有し、これによシ予め特定するレベルとパルス幅t
。を有するゲートパルスbを出力する。このゲートパル
スbのパルス幅t g Fi %レーザ側距装飯による
測距が不要である期間、すなわち測距レンジに対して十
分短い距離に対応して予め設定する時間であシ、また前
述した乱反射パルスのレベルが最大となるまでの時間を
含むように設定しである。第2図(b)にケートパルス
bを示す。
さて、レーザ目標からのレーザ反射パルス601は受光
指向性を形成するレンズ群を有する受光光学系6によっ
て受光され、この受光人力602は受光信号発生回路7
に送光される。
指向性を形成するレンズ群を有する受光光学系6によっ
て受光され、この受光人力602は受光信号発生回路7
に送光される。
受光信号発生回路71d、ホトマルチプライアを利用す
る光検出回路を備え受光した受光入力602を電気信号
に変換しこれを受光信号Cとして出力する。この受光信
号Cにはレーザ目標反射パルスPoとともに乱反射パル
スP1が含まれている。
る光検出回路を備え受光した受光入力602を電気信号
に変換しこれを受光信号Cとして出力する。この受光信
号Cにはレーザ目標反射パルスPoとともに乱反射パル
スP1が含まれている。
第2図(c)は受光信号Cの動作波形の特性を示すもの
で、ホトマルチプライアによって椿性が反転して検出さ
れたレーザ目標反射パルスP0および乱反射パルスP1
を示し、乱反射パルスPlはレーザ投光パルス201と
受光光学系の受光視野とが一致する距離に対応する時間
11経過後急激にそのレベルを増大して最大値R0に達
しその後は比較的緩やかに減衰していく。第2図(b)
に示す前述したゲートパルスbのパルス幅t。は測距不
要時間であシ、かつ乱反射パルスP1が最大値几。に達
するまでの時間とほぼ等しくなるように設定しているが
、このパルス幅t0は後述する理由により、厳密に最大
値R0に達するまでの時間に合せて設定する必要はなく
、測距不要期間において予め回路特性等から決定しり不
時間itの設定幅の範囲で設定すればよい。
で、ホトマルチプライアによって椿性が反転して検出さ
れたレーザ目標反射パルスP0および乱反射パルスP1
を示し、乱反射パルスPlはレーザ投光パルス201と
受光光学系の受光視野とが一致する距離に対応する時間
11経過後急激にそのレベルを増大して最大値R0に達
しその後は比較的緩やかに減衰していく。第2図(b)
に示す前述したゲートパルスbのパルス幅t。は測距不
要時間であシ、かつ乱反射パルスP1が最大値几。に達
するまでの時間とほぼ等しくなるように設定しているが
、このパルス幅t0は後述する理由により、厳密に最大
値R0に達するまでの時間に合せて設定する必要はなく
、測距不要期間において予め回路特性等から決定しり不
時間itの設定幅の範囲で設定すればよい。
乱反射パルスP1は第2図(clからも明らかな如く、
はぼコンデンサCと電気抵抗Rとを組合せた〇R回路に
よるコンデンサの充放電特性に類似する立上シおよび減
衰特性を有している。
はぼコンデンサCと電気抵抗Rとを組合せた〇R回路に
よるコンデンサの充放電特性に類似する立上シおよび減
衰特性を有している。
通常は、このような乱反射パルスPlによる°影響を抑
えるためにレーザ投光パルス201発射後、受光信号発
生回路6による受光検出利得を低下させ、時間経過とと
もにこれを少しずつ回復させて乱反射パルスPlの受光
を抑圧しつつレーザ目標反射パルスP0のみを感度良く
検出する方法が行われ13− ているが、この方法については前述したような欠点があ
る。
えるためにレーザ投光パルス201発射後、受光信号発
生回路6による受光検出利得を低下させ、時間経過とと
もにこれを少しずつ回復させて乱反射パルスPlの受光
を抑圧しつつレーザ目標反射パルスP0のみを感度良く
検出する方法が行われ13− ているが、この方法については前述したような欠点があ
る。
そこで、本実施例においては第1図に大枠で示す乱反射
パルス補償信号発生回路8.乱反射パルス補償回路9お
よび反射パルス振幅弁別回路10を備えてこの欠点を除
去した乱反射パルスの抑圧を次のようにして行なってい
る。
パルス補償信号発生回路8.乱反射パルス補償回路9お
よび反射パルス振幅弁別回路10を備えてこの欠点を除
去した乱反射パルスの抑圧を次のようにして行なってい
る。
乱反射パルス補償信号発生回路8は、アナログスイッチ
回路81.抵抗R3,R14および演算増幅器82より
成る演算増幅回路およびコンデンサC1ならびに抵抗R
11から成る充放電回路を備えて構成される。
回路81.抵抗R3,R14および演算増幅器82より
成る演算増幅回路およびコンデンサC1ならびに抵抗R
11から成る充放電回路を備えて構成される。
アナログスイッチ回路81はフリップフロップ回路5か
ら出力するゲートパルスbと受光信号発生回路7から出
力する受光信号Cとを受け、受光信号Cをゲートパルス
bによってゲートし、時間t0の間これを出力する。こ
のアナログスイッチ回路81の出力は第2図rd)に示
す如く時間t0の間だけ第2図(c)に示す受光信号C
が出力ゲートされ出力するアナログスイッチ回路出力パ
ルスdと14− して演算増幅器82および抵抗R3,、R+4によって
構成される演算増幅回路に入力される。この演算増幅回
路は予め設定した抵抗値を有する抵抗R3゜R4によっ
て決定される増幅度を有し、入力したアナログスイッチ
回路出力パルスdは上述した増幅度に対応して増幅され
かつ極性反転されたパルスとして出力すると同時に、コ
ンデンサC1および抵抗R11によって決定される時定
数τ=CIR。
ら出力するゲートパルスbと受光信号発生回路7から出
力する受光信号Cとを受け、受光信号Cをゲートパルス
bによってゲートし、時間t0の間これを出力する。こ
のアナログスイッチ回路81の出力は第2図rd)に示
す如く時間t0の間だけ第2図(c)に示す受光信号C
が出力ゲートされ出力するアナログスイッチ回路出力パ
ルスdと14− して演算増幅器82および抵抗R3,、R+4によって
構成される演算増幅回路に入力される。この演算増幅回
路は予め設定した抵抗値を有する抵抗R3゜R4によっ
て決定される増幅度を有し、入力したアナログスイッチ
回路出力パルスdは上述した増幅度に対応して増幅され
かつ極性反転されたパルスとして出力すると同時に、コ
ンデンサC1および抵抗R11によって決定される時定
数τ=CIR。
に対応する充電特性でコンデンサC1を充電し、アナロ
グスイッチ回路出力パルスdの入力が断となると時定数
τに対応する放’is性でコンデンサC1から放電され
、かくして乱反射パルス補償信号eを発生する。この乱
反射パルス補償信号eを第2図(e)に示す。第2図(
e)の波形P2はコンデンサC1および抵抗R6による
充放電期間における充電期間、また波形P3は放電期間
の波形を示し、予め設定する時定数τによってその波形
が受光信号C1すなわち第2図(C)の乱反射パルスの
波形P。
グスイッチ回路出力パルスdの入力が断となると時定数
τに対応する放’is性でコンデンサC1から放電され
、かくして乱反射パルス補償信号eを発生する。この乱
反射パルス補償信号eを第2図(e)に示す。第2図(
e)の波形P2はコンデンサC1および抵抗R6による
充放電期間における充電期間、また波形P3は放電期間
の波形を示し、予め設定する時定数τによってその波形
が受光信号C1すなわち第2図(C)の乱反射パルスの
波形P。
にほぼ等しく、かつ常にレベルがこれよシも大で逆極性
のパルスとして得られる。
のパルスとして得られる。
この乱反射パルス補償信号eは受光信号Cに乱反射パル
スが含まれるときには自動的に上述し7た特性を有する
パルスとして出力され、乱反射パルス補償回路9に送出
される。乱反射パルス補償回路9け、等しい抵抗値を有
する2個の抵抗R1,および抵抗R,ならびに演算増幅
器91より成る2人力演算増幅回路を有し、受光信号C
および乱反射パルス補償信号eの2人力を受けこれらを
重畳し増幅することによって差の乱反射パルス補償回路
出力fを得てこれを反射パルス振幅弁別回路10に送出
する。
スが含まれるときには自動的に上述し7た特性を有する
パルスとして出力され、乱反射パルス補償回路9に送出
される。乱反射パルス補償回路9け、等しい抵抗値を有
する2個の抵抗R1,および抵抗R,ならびに演算増幅
器91より成る2人力演算増幅回路を有し、受光信号C
および乱反射パルス補償信号eの2人力を受けこれらを
重畳し増幅することによって差の乱反射パルス補償回路
出力fを得てこれを反射パルス振幅弁別回路10に送出
する。
乱反射パルス補償回路出力fは第2図げ)に示す如く、
乱反射パルス補償回路9に入力する2人力、すなわち受
光信号Cと乱反射パルス補償信号eとの差、従って第2
!?!IfC)と(e)とによって示される波形の差が
抵抗R,とR2とによって決定される増幅度で増幅され
、かつ極性が逆転されて第2図(f)に示す波形P4お
よびレーザ目標反射パルスP。′を有するものとして出
力される。
乱反射パルス補償回路9に入力する2人力、すなわち受
光信号Cと乱反射パルス補償信号eとの差、従って第2
!?!IfC)と(e)とによって示される波形の差が
抵抗R,とR2とによって決定される増幅度で増幅され
、かつ極性が逆転されて第2図(f)に示す波形P4お
よびレーザ目標反射パルスP。′を有するものとして出
力される。
反射パルス振幅弁別回路10は、第2図(f)に示す反
射パルス振幅弁別域値りを比較基準電圧として有するシ
ュミット回路を利用した振幅弁別回路によって第2図(
f)に示す乱反射パルス補償回路出力fの振幅弁別を行
なってレーザ目標反射パルスP0′のみを抽出し、さら
にパルス整形回路および増幅回路によってこれを所望の
レベル、波形のレーザ目標反射パルスとしたうえストッ
プパルスgとしてパルス計数回路4に送出する。
射パルス振幅弁別域値りを比較基準電圧として有するシ
ュミット回路を利用した振幅弁別回路によって第2図(
f)に示す乱反射パルス補償回路出力fの振幅弁別を行
なってレーザ目標反射パルスP0′のみを抽出し、さら
にパルス整形回路および増幅回路によってこれを所望の
レベル、波形のレーザ目標反射パルスとしたうえストッ
プパルスgとしてパルス計数回路4に送出する。
第2図(g)はこのようにして得られたストップパルス
gを示す。
gを示す。
パルス計数回路4は、上述したスタートパルスaによっ
てレーザ投光パルス201発射と同時に基準パルスのカ
ウントを開始し、ストップパルスgによってカウントを
終了しこの間カウントした基準パルスのカウント数から
これに対応した時間、すなわちレーザ測距装置によるレ
ーザ目標までの測距時間、従って距離情報を計測する。
てレーザ投光パルス201発射と同時に基準パルスのカ
ウントを開始し、ストップパルスgによってカウントを
終了しこの間カウントした基準パルスのカウント数から
これに対応した時間、すなわちレーザ測距装置によるレ
ーザ目標までの測距時間、従って距離情報を計測する。
この場合乱反射パルスの影響は自動的にかつ本質的に除
去し得て誤シのない測距を行なうことができ、さらに乱
反射パルスを完全に除去しうることによって17− レーザ目標の移動もしくは体勢の変化等によシ受光レベ
ルが低下したレーザ反射波パルスに対しても従来の方法
よシもはるかにこれを検出し易い状態となる。
去し得て誤シのない測距を行なうことができ、さらに乱
反射パルスを完全に除去しうることによって17− レーザ目標の移動もしくは体勢の変化等によシ受光レベ
ルが低下したレーザ反射波パルスに対しても従来の方法
よシもはるかにこれを検出し易い状態となる。
本発明はレーザ測距装置の受光回路に、大気等のレーザ
伝播媒質の分子あるいは粒子等による乱反射パルス入力
ごとにこの乱反射パルスとほぼ相似な波形で振幅が常に
大きいパルスを自動的に発生しこれと乱反射パルスとの
差をとり増幅することによって乱反射パルスを等測的に
除去するという手段を備えてレーザ目標による反射パル
スのみを抽出しこれにもとづいてレーザ測距装置のスト
ップパルスを発生して乱反射パルスによる疑似ストップ
パルスの発生の抑止を図る点に基本的な特徴を有するも
のであシ、第1図は本発明の一実施例としての基本的な
実施例をとシあげて説明したものであシ、その他の変形
例についても本発明を適用できることは明らかである。
伝播媒質の分子あるいは粒子等による乱反射パルス入力
ごとにこの乱反射パルスとほぼ相似な波形で振幅が常に
大きいパルスを自動的に発生しこれと乱反射パルスとの
差をとり増幅することによって乱反射パルスを等測的に
除去するという手段を備えてレーザ目標による反射パル
スのみを抽出しこれにもとづいてレーザ測距装置のスト
ップパルスを発生して乱反射パルスによる疑似ストップ
パルスの発生の抑止を図る点に基本的な特徴を有するも
のであシ、第1図は本発明の一実施例としての基本的な
実施例をとシあげて説明したものであシ、その他の変形
例についても本発明を適用できることは明らかである。
たとえば、第1図の実施例においては乱反射パルスと重
畳すべき乱反射パルス補償信号とを乱尺 18− 射パルス補償信号発生回路8の有するアナログスイッチ
回路81、および演算増幅器82等によって構成される
演算増幅回路、ならびにコンデンサC1および抵抗R5
によって形成される充放電回路によって発生しているこ
とは前述したとおシであるが、この乱反射パルス補償信
号は乱反射パルスと波形がほぼ等しくかつ振幅が常にそ
れよシ大きいパルスであればよく、従って、たとえば乱
反射パルスとレーザ目標反射パルスの周波数成分が第2
図(c)に示す如く大幅に異ることに着目し、これらの
両反射パルスのうち周波数成分が低い乱反射パルスのみ
通過せしめる狭帯域の演算増幅回路等を介して増幅する
ことによシ乱反射パルス補償信号を発生することなども
容易に実施しうることは明らかである。
畳すべき乱反射パルス補償信号とを乱尺 18− 射パルス補償信号発生回路8の有するアナログスイッチ
回路81、および演算増幅器82等によって構成される
演算増幅回路、ならびにコンデンサC1および抵抗R5
によって形成される充放電回路によって発生しているこ
とは前述したとおシであるが、この乱反射パルス補償信
号は乱反射パルスと波形がほぼ等しくかつ振幅が常にそ
れよシ大きいパルスであればよく、従って、たとえば乱
反射パルスとレーザ目標反射パルスの周波数成分が第2
図(c)に示す如く大幅に異ることに着目し、これらの
両反射パルスのうち周波数成分が低い乱反射パルスのみ
通過せしめる狭帯域の演算増幅回路等を介して増幅する
ことによシ乱反射パルス補償信号を発生することなども
容易に実施しうることは明らかである。
また、本実施例では第2図等からも明らかな如く、乱反
射パルス補償信号発生回路8によって第2図(e)に示
す乱反射パルス補償信号eを発生する際に、入力する第
2図(c)に示す乱反射パルスに対してそのレベルがほ
ぼ最大となる時間に対応して出力ゲートを行なっている
が、乱反射パルス補償信号は第2図(c)の波形Plで
示す乱反射パルスと波形かはは等しくかつ振幅が常に大
であるもの、さらに言えば乱反射パルスとの差をと郵増
幅することによって等価的に乱反射パルスを除去しうる
ものであればよいので、この出力ゲート時間は必らずし
も乱反射パルスかはは最大となる時間を対象とする必要
はなく、これに対応して第2図(b)に示すゲートパル
スのゲート時間t0を測距不要時間帯内で第2図(c)
に示す時間1.にわたって伸縮しても差支えなく、また
この時間1.は乱反射パルス補償信号発生回路8の回路
構成常数等で予め設定しうろことも明らかである。
射パルス補償信号発生回路8によって第2図(e)に示
す乱反射パルス補償信号eを発生する際に、入力する第
2図(c)に示す乱反射パルスに対してそのレベルがほ
ぼ最大となる時間に対応して出力ゲートを行なっている
が、乱反射パルス補償信号は第2図(c)の波形Plで
示す乱反射パルスと波形かはは等しくかつ振幅が常に大
であるもの、さらに言えば乱反射パルスとの差をと郵増
幅することによって等価的に乱反射パルスを除去しうる
ものであればよいので、この出力ゲート時間は必らずし
も乱反射パルスかはは最大となる時間を対象とする必要
はなく、これに対応して第2図(b)に示すゲートパル
スのゲート時間t0を測距不要時間帯内で第2図(c)
に示す時間1.にわたって伸縮しても差支えなく、また
この時間1.は乱反射パルス補償信号発生回路8の回路
構成常数等で予め設定しうろことも明らかである。
さらに、本実施例では反射パルス振幅弁別回路10にお
ける振幅弁別はシュミット回路を利用しているが、これ
は予め設定した反射パルス振幅弁別域値、すなわち第2
図ば)に示す反射パルス振幅弁別域値りと比較して振幅
弁別が出来る等価な機能を有する他の回路を利用しても
同様に実施しうることは明らかである。
ける振幅弁別はシュミット回路を利用しているが、これ
は予め設定した反射パルス振幅弁別域値、すなわち第2
図ば)に示す反射パルス振幅弁別域値りと比較して振幅
弁別が出来る等価な機能を有する他の回路を利用しても
同様に実施しうることは明らかである。
なお、本実施例では受光信号発生回路7の受光検出には
ホトマルチプライアを利用した場合について述べている
が、この受光検出に他の光検出素子たとえば半導体受光
素子等を用いた場合でも同様に実施しうろことは明らか
であ如、さらに乱反射パルス補償信号発生回路8.乱反
射パルス補償回路9および反射パルス振幅弁別回路10
は、これらすべてもしくは任意の組合せを一体とした構
造として構成することなども容易に実施できるものであ
シ、また本発明はレーザ測距装置の受光回路に限定され
るものではなく、レーザ測距を行なう他の装置たとえば
レーザレーダ等の受光回路にも適用できることは明らか
であシ、以上はすべて本発明の主旨を損うことなく容易
に実施できるものである。
ホトマルチプライアを利用した場合について述べている
が、この受光検出に他の光検出素子たとえば半導体受光
素子等を用いた場合でも同様に実施しうろことは明らか
であ如、さらに乱反射パルス補償信号発生回路8.乱反
射パルス補償回路9および反射パルス振幅弁別回路10
は、これらすべてもしくは任意の組合せを一体とした構
造として構成することなども容易に実施できるものであ
シ、また本発明はレーザ測距装置の受光回路に限定され
るものではなく、レーザ測距を行なう他の装置たとえば
レーザレーダ等の受光回路にも適用できることは明らか
であシ、以上はすべて本発明の主旨を損うことなく容易
に実施できるものである。
以上説明したように本発明によれば、レーザ測距装置の
受光回路において、大気等のレーザ伝播媒質の分子ある
いは粒子等による乱反射パルス入力ごとにこの乱反射パ
ルスと波形がほぼ相似して振幅が常に大きいパルスを自
動的に発注しこれと21− 乱反射パルスとの差をとシこれを増幅することによって
乱反射パルスを等価的に除去するという手段を備えて乱
反射パルスによる測距の誤シ計測を自動的かつ完全に除
去し得て、かつこのために高電圧による利得補正電圧も
必要とせず従って回路の構成の小型化ならびに電源効率
の向上が図れるうえ、レーザ目標の移動もしく社体勢の
変化等によるレーザ反射パルスの変動、特にレベル低下
があっても乱反射パルスの影響を完全に除去した状態で
容易にこれを検出することができるレーザ測距装置の受
光回路が実現できるという効果がある。
受光回路において、大気等のレーザ伝播媒質の分子ある
いは粒子等による乱反射パルス入力ごとにこの乱反射パ
ルスと波形がほぼ相似して振幅が常に大きいパルスを自
動的に発注しこれと21− 乱反射パルスとの差をとシこれを増幅することによって
乱反射パルスを等価的に除去するという手段を備えて乱
反射パルスによる測距の誤シ計測を自動的かつ完全に除
去し得て、かつこのために高電圧による利得補正電圧も
必要とせず従って回路の構成の小型化ならびに電源効率
の向上が図れるうえ、レーザ目標の移動もしく社体勢の
変化等によるレーザ反射パルスの変動、特にレベル低下
があっても乱反射パルスの影響を完全に除去した状態で
容易にこれを検出することができるレーザ測距装置の受
光回路が実現できるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の実施例における主要部分の動作波形の特性を示
す動作波形特性図である。 1・・・・・・Qスイッチレーザ発振器、2・・団°送
光光学系、3・・・・・・スタートパルス発生回路、4
・・・・・・パルス計数回路、5・・・・・・フリツプ
フロツプ回路、6・・・・・・受光光学系、7・・・・
・・受光信号発生回路、8・・・22− ・・・乱反射パルス補償信号発生回路、9・・団・乱反
射パルス補償回路、10・・団・反射パルス振幅弁別回
路、81・・・・・・アナログスイッチ回路、82.9
1・・・・・・演算増幅器。 23−
第1図の実施例における主要部分の動作波形の特性を示
す動作波形特性図である。 1・・・・・・Qスイッチレーザ発振器、2・・団°送
光光学系、3・・・・・・スタートパルス発生回路、4
・・・・・・パルス計数回路、5・・・・・・フリツプ
フロツプ回路、6・・・・・・受光光学系、7・・・・
・・受光信号発生回路、8・・・22− ・・・乱反射パルス補償信号発生回路、9・・団・乱反
射パルス補償回路、10・・団・反射パルス振幅弁別回
路、81・・・・・・アナログスイッチ回路、82.9
1・・・・・・演算増幅器。 23−
Claims (1)
- レーザ発振器から投光するレーザ投光パルスととのレー
ザ投光パルスによシレーザ目標から受光するレーザ反射
パルスとの時間差を求めてレーザ目標までの距離を測定
するレーザ測距装置において、大気等の伝播媒質中に含
まれる分子あるいは粒子からの乱反射パルスを受けてノ
この乱反射パルスに波形がほぼ相似するとともに振幅が
常に前記乱反射パルスよシ大きい乱反射パルス補償信号
を前記乱反射パルス入力ごとに自動的に発生する乱反射
パルス補償信号発生回路と、この乱反射パルス補償信号
発生回路の発生する前記乱反射パルス補償信号と前記乱
反射パルスを伴う前記レーザ反射パルスとを入力しこれ
ら2人力の差をとシ増幅することによって前記乱反射パ
ルスを除去するように補償する乱反射パルス補償回路と
、この乱反射補償回路によって得られる前記2人力の差
を受けこの振幅と予め設定するレベルのレーザ反射パル
ス弁別域値とを比較して振幅弁別を行なうことによシ前
記レーザ目標からのレーザ反射パルスを抽出する反射パ
ルス振幅弁別回路とを備え、前記乱反射パルスによる前
記レーザ測距装置のpb計測を防止することを特徴とす
るレーザ測距装置の受光回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57198223A JPS5987383A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | レ−ザ測距装置の受光回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57198223A JPS5987383A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | レ−ザ測距装置の受光回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5987383A true JPS5987383A (ja) | 1984-05-19 |
Family
ID=16387548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57198223A Pending JPS5987383A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | レ−ザ測距装置の受光回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5987383A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0449890U (ja) * | 1990-09-03 | 1992-04-27 | ||
| JP2017161377A (ja) * | 2016-03-10 | 2017-09-14 | 株式会社リコー | 物体検出装置、センシング装置、及び物体検出方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5347866A (en) * | 1976-10-12 | 1978-04-28 | Nec Corp | Light receptor circuit for laser distance measurement equipment |
-
1982
- 1982-11-11 JP JP57198223A patent/JPS5987383A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5347866A (en) * | 1976-10-12 | 1978-04-28 | Nec Corp | Light receptor circuit for laser distance measurement equipment |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0449890U (ja) * | 1990-09-03 | 1992-04-27 | ||
| JP2017161377A (ja) * | 2016-03-10 | 2017-09-14 | 株式会社リコー | 物体検出装置、センシング装置、及び物体検出方法 |
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