JPS5987738A - イオン発生装置 - Google Patents
イオン発生装置Info
- Publication number
- JPS5987738A JPS5987738A JP57197671A JP19767182A JPS5987738A JP S5987738 A JPS5987738 A JP S5987738A JP 57197671 A JP57197671 A JP 57197671A JP 19767182 A JP19767182 A JP 19767182A JP S5987738 A JPS5987738 A JP S5987738A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- anode
- cathode
- ion
- hollow part
- potential
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/08—Ion sources; Ion guns using arc discharge
- H01J27/14—Other arc discharge ion sources using an applied magnetic field
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
し発明の属する技術分野]
この発明はイオン発生装置に係シ、就中低圧気中成、電
の一種のクロストフィールド放電を用いたーイオン発生
装置に関する。 [従来技術とその問題点] 最近、核融合の分野をはじめ、半導体や金属などの表面
加工(イオンインプランテーシ目ン、イオンプレイティ
ング、エツチングなど)、表面分析、植物理学などでは
イオン源として多種のイオン発生装置Rの利用が増加し
ている。イオン発生量ノ多いイオン源として、代表的な
ものはプラズマを生成してその構成粒子のイオンを引出
す形式のもので、デュオプラズマトロン、デュオピガト
ロン、無外部磁場アーク放電形などが多く使用されでい
る。このプラズマ生成形イオン源は共通して、ガス効率
が悪いという欠点を有する。ガス効率が悪いこととはイ
オンビームとともに大量の中性気体分子θSイオン源か
ら流出することで、その結果としてイオン加速部で絶縁
破壊を生起し易くなυ高エネルギ加速が困難になること
、イオンビームがそのまわりにプラズマを形成し、その
電子がイオン加速部でイオンと逆向きにイオン源側へ加
速されて電極に衝突し、更にイオン源に向って加速され
る途中の電子は、イオン源から流出する気体分子を屯内
[Lすることにより数を増すので、電極の昇温か急速で
、長時間イオンを加末すると′1梶極が破壊さ?tも欠
へがあった。 四にプラズマ生成形イオン源は、成子供給のだめに熱陰
極を持ち、熱陰極の寿命が短いことが、この形のイオン
源の共通の欠へであることは周知されている。 これらの欠点を解決するものとして、冷陰極でガス効率
の良いPIG形イオン源が提案されている。 例えば第1図に示すような構成のイオン発生装置がある
。この従来のイオン発生装置は同筒状の陽極(1)とこ
の陽極(1)の中空部(2)を覆うように陽極(1)の
両端部に近接して設けた一対の陰極(31、(4)とこ
れらの陽極(1)および陰極(3) 、 (4)を収納
する真空容器(5)と、この真空容器(5)の外に絶縁
して陽極(1)および陰(ffi(3) 、 (4)に
所定の電位を与える導出部、すなわちリード線(6)
、 (7)と、陽極(1)の筒軸方向に磁場を印加する
磁場発生装置(8)とを主たる要素として構成されてい
る。陽極(1)は両端に開口部を有し、陰極(3) 、
(4)との間に空隙を設けて中空部(2)内にガス体
が侵入できるようになっている。陰極(3)はイオン(
Ii)を取り出す側に設けられ、円板状でその中心部に
陽極(1)の中空部(2)と同軸に貫通孔(9)が設け
られている。陰極(4)は陰極(御と対向して設けられ
ているが共通の電位となるように電気的に接続されでい
る。陽極(1)は直流電源(t3)に接続され陰極(3
) 、 f4)は電流測定装置([9を介して接地され
ている。ここに流れる電流(■k)は電流測定装置(ハ
)で測定される。磁場発生装置f (8)は真空容器(
5)の周囲を円筒状に包囲してなシ、電源(8a)の伺
勢により陽極の中空部(2)の筒軸方向に平行した磁場
を発生するように構成されている。 このように構成されたイオン発生装置は真空容器(5)
の開放側(図中左端)を、例えば図示しないイオンエツ
チング装置に接続して、このイオンエツチング装置と共
に真空容器(5)内を図示しない排気装置によって予め
所望の真空度に排気しておく。 そしてこのイオン発生装置を作動する時に、イオンエツ
チング装置4の側から真空容器(5)の内部に所望の気
体例えばA「ガス等を供給し、陽極(1)の中空部(2
)で気中放′6モを行なわせ、イオンを発生させる。 発生したイオンは陰極(3)の貫通孔(9)からイオン
エツチング装[11,に放出され、エツチングに利用さ
れる。イオン発生装置の作動条件は、用途によって適宜
に選べばよいが、−例を示すと、真空容器(5)内の作
動気体密度はI X 1017m’ 3、陽極中空部半
径は?、5.?m、陽陰極間心圧は5KV 、磁」局は
0.15Tである。イオンは該開口(9)から矢印方向
にをり出される。すなわち、このイオン発生装置はPI
G形で通常高真空領域の中性気体分子密度を有する空間
における気中放電の一種であるPIG放電を生成し、放
電空間で生成されたイオンが陰極の陽極空間の中心的軸
が陰極表面と交わる部位に集中的に、衝突するこさを利
用し、陰極の該部位に開口を設はイオンを取り出すもの
であり、冷陰極であること、ガス効率の1いものを製作
できることの長所を有する。反面、 (1) J 、 C、Helmer and几、J、、
Jensen :B:IecLricalCharac
teristics of a penning Di
scharge ; 1)roe。 IRJ似(61)1920 (2) W、 Knauer : Mechanism
of ’the Penn111g Dischar
geat LOW Pressnres ;
J 、 Appl 、 Phys 、 3
3 (62)。 093 に示される様に、取出されたイオンビームの運動エネル
ギーの幅が広く、ビームの集束や平行度を良くするため
にはビームラインの構成が非常に困改良したもので、イ
オン発生装置に制御電極を設けることによシ、冷陰極で
ガス効率が良い、しかも取出されたイオンビームの運動
エネルギーの幅を小さくでき、さらには、イオン加速部
などを付加せずにイオン源だけを制御することにより、
出力ビームのイオン運動エネルギの平均値を、大幅かつ
簡易に制御できるという、従来のPIG形及びプラズマ
生成形イオン源では不可能であった有用な機能を実現す
るイオン発生装置を提供することこの陽極の一方の開口
端に近接して設け、かつiIJ記開口の周辺部を覆う如
く設けた板状部き、該板状部に固着され前記陽極の中空
部((延在L7かつ該陽極の中空部と同軸の管状部とか
らなる制御電極と、制御電極の管状部の中空部を覆うご
とく配設された21%−の陰極と、陽極の他方の開口端
に近接して設け、陽極の中空部と同軸の貫通孔を有する
第二の陰極と、前記各電極を真空内に配置し、前記陽極
と前記制御電極との間及び前記制御電極と前記陰極吉の
間に電圧を印加し、かつ前記陽極の中空’lXl5の軸
心方向に磁場を印加し、前記陽極の中空部内にガスを導
入して気中放電を発生させ、この放電により発生したイ
オンを前記第二の陰極に設けた11孔から取り出す如く
構成したイオン発明する。第2及び3図は、この発明に
よるイオン発生装置の一実施例を示すもので、第2図は
回路図、第3図は要部縦断面図である。なお第1図で示
した部分と共通の部分は同一符号で示し、その詳、?+
l]を省略する。この実施例では従来装置の共通部分を
用いて適用したが、これに限定されるものではなく、こ
の発明の主旨を逸脱しない範囲で自由に適用できる。 この実施例に示すイオン発生装置の主要部は、貫通した
中空部(2)を有する陽極(1)と、この中空部(2)
にその軸心に平行な磁場を印加する磁場発生装置(8)
と、上記陽極(1)の一方の開口端に離間かつ近接して
配設され、該陽極(1)の開口の周辺部を覆うごとく配
設された板状部(10a)4、それに固着され陽極の中
空部(2)に延在しかつ中空部(2)と同軸の管状部(
+ob)c!:からなる制御#電極(10)と、該制御
電極の管状部(Jol))の中空部を覆うごとく配設さ
れた第一の陰極aυと、陽極(1)の他方の開口端に離
間かつ近接して配設され、陽極の中空部(2)と同軸に
穿設されたイオン取出し用の貫通孔(9)を有する第二
の陰極(1りと、陽極(1)に制御電極(10)のα位
よりも高い電位を与える電源α[有]と、制御tffl
<11に第−及び第二の陰極の11位よりも高い電位
を与える電源(14)吉陽極の中2P都へイオンとなる
べき気体を供給する開示さ1tない気体源で構成される
。この実施例では、二つの11極(Ill 、 (13
は接地されているつ陽極(1)の電位v3及び制御i電
極(1o)の゛1d位vgは適宜選択できるが、放電の
特性りからは好ましくは600V<Vg〈V3 500
V=4500V (’)関係がある。 次にこの発明の作用効果を説明する0従来の実施例の特
性を示す線図第4図と1本発明の実施例の特性を示す線
図第5図を対比させながら説明す・るQ 第4図(a) 、 (b)および第5図(a) 、 (
b)は、放電部分の空間電位■を、陽極の円筒状中空部
の対称軸に一致する+Ml+をもつ円筒座標(r 、
’2 )で示しだものである。陰極(4)あるいは(t
υの陽極側の表面を2二〇、陰極(3)あるいはα功の
陽極側の表面を2=、24、陽極の長手方向の中心面を
Z ” Z 1で示しである。 陽極の中空部(2)の半径を「8、陽極心位ンva、陰
1極電位を0ミして示しである。 第4図(a)及び第5図(a)は「=0の線に?Rつだ
空間電位を示し、・篤4図(b)及び第5図(b)は平
面2−z1上の空間電位を示す。まず従来の装置の場合
を第4図で説明する。放電していない状態で、陽極に電
圧■3が印加されている場合、陽極中空部の中心付近で
は、空間電位はほぼvaK等しくなる0この空間電位を
点線で示しである。放電している状態では、陽極中空部
と2枚の陰極面で包囲される空間に、電子が多数捕獲さ
れ、電子群による空間電荷により陽極中空部に′α場が
形成され、陽極中空部の電位は放電していないときの電
位より大き2下降する。放電している状態での空間電位
分布′を、第4図(a) 、 (b)に実線で示す。V
oは陰極降下であり、その値は、イオン源として通常使
用されるPIG放電においてはvaに較べて非常に小さ
い。 第4図(C)は陰極の貝通部(9)より取出されたイオ
ンビームの、イオンの運動エネルギの分布を示す。 なお本発明は取出すイオンの種類を制限するものでなく
、電荷イオンも取出してよいが、説明の簡単な電荷イオ
ンを実施例として採る。横軸Uは運動エネルギであり、
縦軸fは運動エネルギがU以−ヒu+du未満・パ)イ
オンの、単位時間に取出される数がfduであると定義
した分布函数である。 イオンは、放′4部に導入された中性分子等が、電子と
衝突し電離することで生成される。中性分子等と′11
L子の大きな質量比のため、衝突で得るイオンの運動エ
ネルギは非常に小さい。イオンが取出された部f(′1
のI’J、位は陰極電位と等しく、0であるから、イオ
ンの運動エネルギは、実際北、その発生した部位の空間
電位Vと陰極は位の差だけ加速されたもので、電子の゛
電荷を−e、5おくと、evである。イオンはvo以上
va未満の電位で生成されるので、fはeV、)≦U≦
e Vaの範囲だけで、0で吃い値をとり得る。第4図
(C)は実測した例である。 1) I (]イオン源の大きな欠点であるfの広い分
布は空間電位がvoからvaの広い範囲に分布すること
が原因である。 以下第5図を用いて本発明の作用、効果を説明する。 本発明による装置は、空間t1位の分布を狭い範囲に限
り、fの狭い分布を実現したものである。 U御電極(10)の電位Vgは、外部より与えられるの
で制御電極のある位置での制御電極がないと仮想した場
合(第4図で示した様な場合)の空間電位vg′と実際
ト一致しないと考えてよい。まずv、 > vg’の場
合を考えると、電子はポテンシャルエネルギの低い制御
電極(lO)に衝突吸収される。ドリフト速度は非常に
大きいので、電子の密度は急激に減少し、その空間電荷
による電場は同じく急激に減少する。陽極の電位vaは
外部から与えられているので、電場の減少の結果、空間
電位は陽極電位に近づき、v / 、−Vgミなるまで
この変化は進行する。 電子はドリフト運動とドリフト中心の牛わりの軸回;軍
動とにより大きな運動エネルギを有するOkってv、’
=vgとなっても引きつづきα子密度の減少は続き・■
g′〉Vgとなる。vg′と■2の差h′−vgが過大
になると、制御成極のポテンシャルエネルギが過大とな
るため、′電子は制御成極に到達しなくなり、制御il
I電極との衝突による′成子密度に減少は無くなシ、制
御電極が無い場合の空間シ位分布に近づく様に、成子密
度が増加し、その結果として■2′が減少し、vg′−
vgが過大でなくなる中でこの過程は進行する。Vg’
−Vgが、・1子の運動エネルギ等で決まる一定値に
なったときに、放i[は安定L、かつ安定でない場合に
は安定状態へ移行する。すなわち、空間電位等を制御゛
Tるという作用を、f:ill (ill ’i[極は
有する。制御された空間電イオンビームの運動エネルギ
分布函数fを示す第5図(C)に示される。
の一種のクロストフィールド放電を用いたーイオン発生
装置に関する。 [従来技術とその問題点] 最近、核融合の分野をはじめ、半導体や金属などの表面
加工(イオンインプランテーシ目ン、イオンプレイティ
ング、エツチングなど)、表面分析、植物理学などでは
イオン源として多種のイオン発生装置Rの利用が増加し
ている。イオン発生量ノ多いイオン源として、代表的な
ものはプラズマを生成してその構成粒子のイオンを引出
す形式のもので、デュオプラズマトロン、デュオピガト
ロン、無外部磁場アーク放電形などが多く使用されでい
る。このプラズマ生成形イオン源は共通して、ガス効率
が悪いという欠点を有する。ガス効率が悪いこととはイ
オンビームとともに大量の中性気体分子θSイオン源か
ら流出することで、その結果としてイオン加速部で絶縁
破壊を生起し易くなυ高エネルギ加速が困難になること
、イオンビームがそのまわりにプラズマを形成し、その
電子がイオン加速部でイオンと逆向きにイオン源側へ加
速されて電極に衝突し、更にイオン源に向って加速され
る途中の電子は、イオン源から流出する気体分子を屯内
[Lすることにより数を増すので、電極の昇温か急速で
、長時間イオンを加末すると′1梶極が破壊さ?tも欠
へがあった。 四にプラズマ生成形イオン源は、成子供給のだめに熱陰
極を持ち、熱陰極の寿命が短いことが、この形のイオン
源の共通の欠へであることは周知されている。 これらの欠点を解決するものとして、冷陰極でガス効率
の良いPIG形イオン源が提案されている。 例えば第1図に示すような構成のイオン発生装置がある
。この従来のイオン発生装置は同筒状の陽極(1)とこ
の陽極(1)の中空部(2)を覆うように陽極(1)の
両端部に近接して設けた一対の陰極(31、(4)とこ
れらの陽極(1)および陰極(3) 、 (4)を収納
する真空容器(5)と、この真空容器(5)の外に絶縁
して陽極(1)および陰(ffi(3) 、 (4)に
所定の電位を与える導出部、すなわちリード線(6)
、 (7)と、陽極(1)の筒軸方向に磁場を印加する
磁場発生装置(8)とを主たる要素として構成されてい
る。陽極(1)は両端に開口部を有し、陰極(3) 、
(4)との間に空隙を設けて中空部(2)内にガス体
が侵入できるようになっている。陰極(3)はイオン(
Ii)を取り出す側に設けられ、円板状でその中心部に
陽極(1)の中空部(2)と同軸に貫通孔(9)が設け
られている。陰極(4)は陰極(御と対向して設けられ
ているが共通の電位となるように電気的に接続されでい
る。陽極(1)は直流電源(t3)に接続され陰極(3
) 、 f4)は電流測定装置([9を介して接地され
ている。ここに流れる電流(■k)は電流測定装置(ハ
)で測定される。磁場発生装置f (8)は真空容器(
5)の周囲を円筒状に包囲してなシ、電源(8a)の伺
勢により陽極の中空部(2)の筒軸方向に平行した磁場
を発生するように構成されている。 このように構成されたイオン発生装置は真空容器(5)
の開放側(図中左端)を、例えば図示しないイオンエツ
チング装置に接続して、このイオンエツチング装置と共
に真空容器(5)内を図示しない排気装置によって予め
所望の真空度に排気しておく。 そしてこのイオン発生装置を作動する時に、イオンエツ
チング装置4の側から真空容器(5)の内部に所望の気
体例えばA「ガス等を供給し、陽極(1)の中空部(2
)で気中放′6モを行なわせ、イオンを発生させる。 発生したイオンは陰極(3)の貫通孔(9)からイオン
エツチング装[11,に放出され、エツチングに利用さ
れる。イオン発生装置の作動条件は、用途によって適宜
に選べばよいが、−例を示すと、真空容器(5)内の作
動気体密度はI X 1017m’ 3、陽極中空部半
径は?、5.?m、陽陰極間心圧は5KV 、磁」局は
0.15Tである。イオンは該開口(9)から矢印方向
にをり出される。すなわち、このイオン発生装置はPI
G形で通常高真空領域の中性気体分子密度を有する空間
における気中放電の一種であるPIG放電を生成し、放
電空間で生成されたイオンが陰極の陽極空間の中心的軸
が陰極表面と交わる部位に集中的に、衝突するこさを利
用し、陰極の該部位に開口を設はイオンを取り出すもの
であり、冷陰極であること、ガス効率の1いものを製作
できることの長所を有する。反面、 (1) J 、 C、Helmer and几、J、、
Jensen :B:IecLricalCharac
teristics of a penning Di
scharge ; 1)roe。 IRJ似(61)1920 (2) W、 Knauer : Mechanism
of ’the Penn111g Dischar
geat LOW Pressnres ;
J 、 Appl 、 Phys 、 3
3 (62)。 093 に示される様に、取出されたイオンビームの運動エネル
ギーの幅が広く、ビームの集束や平行度を良くするため
にはビームラインの構成が非常に困改良したもので、イ
オン発生装置に制御電極を設けることによシ、冷陰極で
ガス効率が良い、しかも取出されたイオンビームの運動
エネルギーの幅を小さくでき、さらには、イオン加速部
などを付加せずにイオン源だけを制御することにより、
出力ビームのイオン運動エネルギの平均値を、大幅かつ
簡易に制御できるという、従来のPIG形及びプラズマ
生成形イオン源では不可能であった有用な機能を実現す
るイオン発生装置を提供することこの陽極の一方の開口
端に近接して設け、かつiIJ記開口の周辺部を覆う如
く設けた板状部き、該板状部に固着され前記陽極の中空
部((延在L7かつ該陽極の中空部と同軸の管状部とか
らなる制御電極と、制御電極の管状部の中空部を覆うご
とく配設された21%−の陰極と、陽極の他方の開口端
に近接して設け、陽極の中空部と同軸の貫通孔を有する
第二の陰極と、前記各電極を真空内に配置し、前記陽極
と前記制御電極との間及び前記制御電極と前記陰極吉の
間に電圧を印加し、かつ前記陽極の中空’lXl5の軸
心方向に磁場を印加し、前記陽極の中空部内にガスを導
入して気中放電を発生させ、この放電により発生したイ
オンを前記第二の陰極に設けた11孔から取り出す如く
構成したイオン発明する。第2及び3図は、この発明に
よるイオン発生装置の一実施例を示すもので、第2図は
回路図、第3図は要部縦断面図である。なお第1図で示
した部分と共通の部分は同一符号で示し、その詳、?+
l]を省略する。この実施例では従来装置の共通部分を
用いて適用したが、これに限定されるものではなく、こ
の発明の主旨を逸脱しない範囲で自由に適用できる。 この実施例に示すイオン発生装置の主要部は、貫通した
中空部(2)を有する陽極(1)と、この中空部(2)
にその軸心に平行な磁場を印加する磁場発生装置(8)
と、上記陽極(1)の一方の開口端に離間かつ近接して
配設され、該陽極(1)の開口の周辺部を覆うごとく配
設された板状部(10a)4、それに固着され陽極の中
空部(2)に延在しかつ中空部(2)と同軸の管状部(
+ob)c!:からなる制御#電極(10)と、該制御
電極の管状部(Jol))の中空部を覆うごとく配設さ
れた第一の陰極aυと、陽極(1)の他方の開口端に離
間かつ近接して配設され、陽極の中空部(2)と同軸に
穿設されたイオン取出し用の貫通孔(9)を有する第二
の陰極(1りと、陽極(1)に制御電極(10)のα位
よりも高い電位を与える電源α[有]と、制御tffl
<11に第−及び第二の陰極の11位よりも高い電位
を与える電源(14)吉陽極の中2P都へイオンとなる
べき気体を供給する開示さ1tない気体源で構成される
。この実施例では、二つの11極(Ill 、 (13
は接地されているつ陽極(1)の電位v3及び制御i電
極(1o)の゛1d位vgは適宜選択できるが、放電の
特性りからは好ましくは600V<Vg〈V3 500
V=4500V (’)関係がある。 次にこの発明の作用効果を説明する0従来の実施例の特
性を示す線図第4図と1本発明の実施例の特性を示す線
図第5図を対比させながら説明す・るQ 第4図(a) 、 (b)および第5図(a) 、 (
b)は、放電部分の空間電位■を、陽極の円筒状中空部
の対称軸に一致する+Ml+をもつ円筒座標(r 、
’2 )で示しだものである。陰極(4)あるいは(t
υの陽極側の表面を2二〇、陰極(3)あるいはα功の
陽極側の表面を2=、24、陽極の長手方向の中心面を
Z ” Z 1で示しである。 陽極の中空部(2)の半径を「8、陽極心位ンva、陰
1極電位を0ミして示しである。 第4図(a)及び第5図(a)は「=0の線に?Rつだ
空間電位を示し、・篤4図(b)及び第5図(b)は平
面2−z1上の空間電位を示す。まず従来の装置の場合
を第4図で説明する。放電していない状態で、陽極に電
圧■3が印加されている場合、陽極中空部の中心付近で
は、空間電位はほぼvaK等しくなる0この空間電位を
点線で示しである。放電している状態では、陽極中空部
と2枚の陰極面で包囲される空間に、電子が多数捕獲さ
れ、電子群による空間電荷により陽極中空部に′α場が
形成され、陽極中空部の電位は放電していないときの電
位より大き2下降する。放電している状態での空間電位
分布′を、第4図(a) 、 (b)に実線で示す。V
oは陰極降下であり、その値は、イオン源として通常使
用されるPIG放電においてはvaに較べて非常に小さ
い。 第4図(C)は陰極の貝通部(9)より取出されたイオ
ンビームの、イオンの運動エネルギの分布を示す。 なお本発明は取出すイオンの種類を制限するものでなく
、電荷イオンも取出してよいが、説明の簡単な電荷イオ
ンを実施例として採る。横軸Uは運動エネルギであり、
縦軸fは運動エネルギがU以−ヒu+du未満・パ)イ
オンの、単位時間に取出される数がfduであると定義
した分布函数である。 イオンは、放′4部に導入された中性分子等が、電子と
衝突し電離することで生成される。中性分子等と′11
L子の大きな質量比のため、衝突で得るイオンの運動エ
ネルギは非常に小さい。イオンが取出された部f(′1
のI’J、位は陰極電位と等しく、0であるから、イオ
ンの運動エネルギは、実際北、その発生した部位の空間
電位Vと陰極は位の差だけ加速されたもので、電子の゛
電荷を−e、5おくと、evである。イオンはvo以上
va未満の電位で生成されるので、fはeV、)≦U≦
e Vaの範囲だけで、0で吃い値をとり得る。第4図
(C)は実測した例である。 1) I (]イオン源の大きな欠点であるfの広い分
布は空間電位がvoからvaの広い範囲に分布すること
が原因である。 以下第5図を用いて本発明の作用、効果を説明する。 本発明による装置は、空間t1位の分布を狭い範囲に限
り、fの狭い分布を実現したものである。 U御電極(10)の電位Vgは、外部より与えられるの
で制御電極のある位置での制御電極がないと仮想した場
合(第4図で示した様な場合)の空間電位vg′と実際
ト一致しないと考えてよい。まずv、 > vg’の場
合を考えると、電子はポテンシャルエネルギの低い制御
電極(lO)に衝突吸収される。ドリフト速度は非常に
大きいので、電子の密度は急激に減少し、その空間電荷
による電場は同じく急激に減少する。陽極の電位vaは
外部から与えられているので、電場の減少の結果、空間
電位は陽極電位に近づき、v / 、−Vgミなるまで
この変化は進行する。 電子はドリフト運動とドリフト中心の牛わりの軸回;軍
動とにより大きな運動エネルギを有するOkってv、’
=vgとなっても引きつづきα子密度の減少は続き・■
g′〉Vgとなる。vg′と■2の差h′−vgが過大
になると、制御成極のポテンシャルエネルギが過大とな
るため、′電子は制御成極に到達しなくなり、制御il
I電極との衝突による′成子密度に減少は無くなシ、制
御電極が無い場合の空間シ位分布に近づく様に、成子密
度が増加し、その結果として■2′が減少し、vg′−
vgが過大でなくなる中でこの過程は進行する。Vg’
−Vgが、・1子の運動エネルギ等で決まる一定値に
なったときに、放i[は安定L、かつ安定でない場合に
は安定状態へ移行する。すなわち、空間電位等を制御゛
Tるという作用を、f:ill (ill ’i[極は
有する。制御された空間電イオンビームの運動エネルギ
分布函数fを示す第5図(C)に示される。
【は、第4
図(c)に示しだ場合と同様に、eV(、< u (e
vaだけで零でない値を持し、第5図CC)に示される
様な曲線となる。制i、[(tされた放11ではりの最
小値eVoは、必要に応じ技術的に可能な範囲で、犬き
くできる。エネルギの最大値と最小値の差e(va−V
o)は、放成を維持するため一定値以上必要であるが、
Va及びV。を可能な限シ犬きくすることKより、エネ
ルギ幅の相対値を表わす数γ tシ(V −V ) V。 vava は】より非常に小さくできる。一方従来の装置では「ミ
1である。これがこの発明の第一の効果である。 次にこの発明による他の効果を説明すると、電源(14
)の出力電圧を変化させると、V、 =Voの随を変化
させずに、voの値を変化させることができる。 すなわち、陰極と他の電極の間の電圧で、イオンの平均
エネルギを制御することができる。これがこの発明の第
二の効果である。
図(c)に示しだ場合と同様に、eV(、< u (e
vaだけで零でない値を持し、第5図CC)に示される
様な曲線となる。制i、[(tされた放11ではりの最
小値eVoは、必要に応じ技術的に可能な範囲で、犬き
くできる。エネルギの最大値と最小値の差e(va−V
o)は、放成を維持するため一定値以上必要であるが、
Va及びV。を可能な限シ犬きくすることKより、エネ
ルギ幅の相対値を表わす数γ tシ(V −V ) V。 vava は】より非常に小さくできる。一方従来の装置では「ミ
1である。これがこの発明の第一の効果である。 次にこの発明による他の効果を説明すると、電源(14
)の出力電圧を変化させると、V、 =Voの随を変化
させずに、voの値を変化させることができる。 すなわち、陰極と他の電極の間の電圧で、イオンの平均
エネルギを制御することができる。これがこの発明の第
二の効果である。
第1 jXJは従来のPIG形イオン96生装置の榴成
を示す図、第2図(・よこのう6明のイオン発生装置4
の一実施例を示す回路図、第3図はこの発明の一実施例
の要部を示す断面図、第4図は従来のP I Gイオン
発生装置の特性を示す線図、第5図はこの発明の実施例
の特性を示す線図、である。 (1)・・・陽極、(2)・・・中空部、(3) 、
(4)・陰極、(5)・・・真空容器、(8)・・・磁
場発生装置、(9)・・イオン取出し貫通孔、鱈・・制
御電極、(loa)・・・板状部、(Job )・・管
状部、aυ・・・第一の1粛極、(121−第二の陰極
、(!3) 、 H・・・id源。 第 1 図 第 2 図 第 4 図 (α)(ム) 第5図 (Cノ ヂ (C〕 ρ ピVl u
を示す図、第2図(・よこのう6明のイオン発生装置4
の一実施例を示す回路図、第3図はこの発明の一実施例
の要部を示す断面図、第4図は従来のP I Gイオン
発生装置の特性を示す線図、第5図はこの発明の実施例
の特性を示す線図、である。 (1)・・・陽極、(2)・・・中空部、(3) 、
(4)・陰極、(5)・・・真空容器、(8)・・・磁
場発生装置、(9)・・イオン取出し貫通孔、鱈・・制
御電極、(loa)・・・板状部、(Job )・・管
状部、aυ・・・第一の1粛極、(121−第二の陰極
、(!3) 、 H・・・id源。 第 1 図 第 2 図 第 4 図 (α)(ム) 第5図 (Cノ ヂ (C〕 ρ ピVl u
Claims (1)
- 貫通した中空部を肩する陽極と、この陽極の一方の開口
端に離間かつ近接して配設され、該陽極のし:40の周
辺部を覆うごとく配設された板状部と該板状部に固着さ
れ該陽極の中空部に延在し、かつ該陽極の中空部と同軸
の管状部とからなる制御゛「電極と、該制御電極の管状
部の中空部を覆うごとく配設された第一の陰極と、陽極
の他方の開口端に離間かつ近接して配設され、該陽極の
中空部と同軸のに通孔を有する第二の陰極と、陽極には
制御電極電位よりも高い電位を与える手段と、第−及び
第二の陰極には制御電極電位よシも低い電位を与える手
段と、前記陽極の中空部にその軸心に実質的に平行な磁
場を印加する手段と、前記陽極の中空部にイオンとなる
べき気体を供給する手段とを具備したことを特徴とする
イオン発生装置0
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57197671A JPS5987738A (ja) | 1982-11-12 | 1982-11-12 | イオン発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57197671A JPS5987738A (ja) | 1982-11-12 | 1982-11-12 | イオン発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5987738A true JPS5987738A (ja) | 1984-05-21 |
| JPH0129295B2 JPH0129295B2 (ja) | 1989-06-09 |
Family
ID=16378392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57197671A Granted JPS5987738A (ja) | 1982-11-12 | 1982-11-12 | イオン発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5987738A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5150010A (en) * | 1990-03-14 | 1992-09-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Discharge-in-magnetic-field type ion generating apparatus |
| JP2021158092A (ja) * | 2020-03-30 | 2021-10-07 | 住友重機械工業株式会社 | Pigイオン源装置およびイオン源ガス供給システム |
-
1982
- 1982-11-12 JP JP57197671A patent/JPS5987738A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5150010A (en) * | 1990-03-14 | 1992-09-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Discharge-in-magnetic-field type ion generating apparatus |
| JP2021158092A (ja) * | 2020-03-30 | 2021-10-07 | 住友重機械工業株式会社 | Pigイオン源装置およびイオン源ガス供給システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0129295B2 (ja) | 1989-06-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2344577C2 (ru) | Плазменный ускоритель с закрытым дрейфом электронов | |
| CN100512592C (zh) | 等离子加速器装置 | |
| JPH0360139B2 (ja) | ||
| JP2001236897A (ja) | イオン源およびその運転方法 | |
| US3406349A (en) | Ion beam generator having laseractivated ion source | |
| Goncharov et al. | Focusing of high-current, large-area, heavy-ion beams with an electrostatic plasma lens | |
| US7579578B2 (en) | Advanced multipurpose pseudospark switch having a hollow cathode with a planar spiral electrode and an aperture | |
| Takamatsu et al. | Inertial electrostatic confinement fusion device with an ion source using a magnetron discharge | |
| US3275867A (en) | Charged particle generator | |
| JPS62502023A (ja) | エネルギ−変換システム | |
| JPH07169425A (ja) | イオン源 | |
| JPS5987738A (ja) | イオン発生装置 | |
| US3546513A (en) | High yield ion source | |
| JPH08306329A (ja) | 高磁束密度イオン源 | |
| Becker | Electron beam ion sources and traps | |
| CN114540777A (zh) | 一种结合磁控溅射的离子注入方法 | |
| JPH06310297A (ja) | 低エネルギー中性粒子線発生方法及び装置 | |
| JPH08190995A (ja) | 高速原子線源 | |
| Kobayashi et al. | Studies of the hollow discharge duoplasmatron as a source of H− ions | |
| CN216947171U (zh) | 一种具有磁控溅射组件的离子注入设备 | |
| JPH10275566A (ja) | イオン源 | |
| Basko et al. | Plasma lens for the heavy ion accelerator at ITEP | |
| RU1766201C (ru) | Источник ионов | |
| Glavish | Recent Advances in Polarized Ion Sources | |
| RU1745080C (ru) | Источник ионов паров металлов |