JPS5993492A - 陰極線表示管を用いた表示装置 - Google Patents
陰極線表示管を用いた表示装置Info
- Publication number
- JPS5993492A JPS5993492A JP20334682A JP20334682A JPS5993492A JP S5993492 A JPS5993492 A JP S5993492A JP 20334682 A JP20334682 A JP 20334682A JP 20334682 A JP20334682 A JP 20334682A JP S5993492 A JPS5993492 A JP S5993492A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cathode ray
- raster
- sweep
- display tube
- signals
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- Pending
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- Indicating Measured Values (AREA)
- Details Of Television Scanning (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ラスタスキャン方式の陰極線表示管(以下C
RTという)を用いた表示装置に関するものである。
RTという)を用いた表示装置に関するものである。
従来より、CRTR7表示膜けた螢光膜に、映像信号に
よって付勢され、かつ走査される電子ビームを当てて、
表示面に文字や図形、絵等を表示するテレビジョンのよ
うな表示装置、あるいは、螢光膜上の光スポットを一定
速度で繰シ出される感光紙上に照射し、感光体上に文字
や図形、絵等を得るようにしたファクシミリのような表
示装置がある。
よって付勢され、かつ走査される電子ビームを当てて、
表示面に文字や図形、絵等を表示するテレビジョンのよ
うな表示装置、あるいは、螢光膜上の光スポットを一定
速度で繰シ出される感光紙上に照射し、感光体上に文字
や図形、絵等を得るようにしたファクシミリのような表
示装置がある。
これらの表示装置に用いられているCRTにおいて、何
んらかの原因、例えば軽年変化による回路定数の変化や
、温度変化の影響によって、電子ビームの偏向や走査が
正常に行な′われなくなると、得られる画像は歪んだも
のとなったシ、良質の画像が得られなくなったりする。
んらかの原因、例えば軽年変化による回路定数の変化や
、温度変化の影響によって、電子ビームの偏向や走査が
正常に行な′われなくなると、得られる画像は歪んだも
のとなったシ、良質の画像が得られなくなったりする。
また、螢光膜がカラー光を表示するように構成されてい
る場合には、色づれが生じたりする。
る場合には、色づれが生じたりする。
ここにおいて、本発明の目的は、CRTの電子ビームの
偏向が常に正常に行なわれ、常に歪がなく、良質な画像
を得ることのできる表示装置を提供することにある。
偏向が常に正常に行なわれ、常に歪がなく、良質な画像
を得ることのできる表示装置を提供することにある。
本発明に係る装置は、CRT表示面の領域を挾む2個所
に、光電素子で構成される受光面をもち、この受光面上
に照射される光スポットの位置に対応した信号を出力す
るラスタ検出手段を設置し、ここから得られる信号を演
算処理することによってラスタの走査状況を検知すると
ともに、このラスタの走査状態を示す信号を利用して電
子ビームの偏向回路及び又はラスタの光量を制御する点
に特徴がある。
に、光電素子で構成される受光面をもち、この受光面上
に照射される光スポットの位置に対応した信号を出力す
るラスタ検出手段を設置し、ここから得られる信号を演
算処理することによってラスタの走査状況を検知すると
ともに、このラスタの走査状態を示す信号を利用して電
子ビームの偏向回路及び又はラスタの光量を制御する点
に特徴がある。
第1図は本発明に係る装置の一例を示す構成ブロック図
である。ここでVicRTとして、ファクシミリやプリ
ンタに用いられているものであって、電子ビーム(ラス
タ)は、CRTの画面において、垂直掃引速度の方が水
平掃引速度より非常に早く、矢印に示すように上下方向
に走査されているものを示す。図において、1はCRT
、2はこのCRTの電子ビーム偏向用のコイル、3はC
RT表示面、4.5はCRT表示而3面領域を挾むよう
に設置したラスタ検出手段である。一方のラスタ検出手
段4は、ラスタの出発点位置で光るスタート光スポット
sps 6通す集光レンズ40と、このレンズ40を通
った光スポットを受光する4個の(4分割の)光電素子
41.42,43.44 で構成されている。他方のラ
スタ検出手段5V′i、ラスタの終点位置で光る終点光
スポラ) EPS ’i通す集光レンズ50と、このレ
ンズ50を通った光スポットを受光する4個の(4分割
の)光電素子51.52゜53.54で構成されている
。45は光電素子41〜44からの信号81〜S4 を
増巾する4チヤンネルの増巾器、55は光電素子51〜
54からの信号E、〜E4ヲ増巾する4チヤンネルの増
巾器、6はこれらの各4チヤンネル増巾器からの信号を
入力とし、ラスタ位置及びラスタの明るさく光i)を演
算する演算回路である。7は電子ビームの垂直、水平掃
引を行なう掃引回路、8はラスタの明るさく2軸)制御
を行なう2軸制御回路で、いずれも演算回路6からの信
号を入力している。9は各種の制御信号、クロックパル
スを発生する信号発生回路で、演算回路、掃引回路7.
z軸制御回路8に制御信号や同期パルスを出力している
。
である。ここでVicRTとして、ファクシミリやプリ
ンタに用いられているものであって、電子ビーム(ラス
タ)は、CRTの画面において、垂直掃引速度の方が水
平掃引速度より非常に早く、矢印に示すように上下方向
に走査されているものを示す。図において、1はCRT
、2はこのCRTの電子ビーム偏向用のコイル、3はC
RT表示面、4.5はCRT表示而3面領域を挾むよう
に設置したラスタ検出手段である。一方のラスタ検出手
段4は、ラスタの出発点位置で光るスタート光スポット
sps 6通す集光レンズ40と、このレンズ40を通
った光スポットを受光する4個の(4分割の)光電素子
41.42,43.44 で構成されている。他方のラ
スタ検出手段5V′i、ラスタの終点位置で光る終点光
スポラ) EPS ’i通す集光レンズ50と、このレ
ンズ50を通った光スポットを受光する4個の(4分割
の)光電素子51.52゜53.54で構成されている
。45は光電素子41〜44からの信号81〜S4 を
増巾する4チヤンネルの増巾器、55は光電素子51〜
54からの信号E、〜E4ヲ増巾する4チヤンネルの増
巾器、6はこれらの各4チヤンネル増巾器からの信号を
入力とし、ラスタ位置及びラスタの明るさく光i)を演
算する演算回路である。7は電子ビームの垂直、水平掃
引を行なう掃引回路、8はラスタの明るさく2軸)制御
を行なう2軸制御回路で、いずれも演算回路6からの信
号を入力している。9は各種の制御信号、クロックパル
スを発生する信号発生回路で、演算回路、掃引回路7.
z軸制御回路8に制御信号や同期パルスを出力している
。
このように構成した装置の動作を次に第2図の波形図を
参照しながら説明する。第2図では、水平掃引の終点付
近から、次の出発点付近についてのみ、代表して示す。
参照しながら説明する。第2図では、水平掃引の終点付
近から、次の出発点付近についてのみ、代表して示す。
掃引回路7は、信号発生回路9から第2図(イ)及び(
ハ)に示すような垂直同期パルスVTと、水平同期パル
スHTを受け、(ロ)及びに)に示すような垂直軸掃引
のこぎシ波v8及び水平軸掃引のこぎシ波H8を偏向コ
イル2に与え、電子ビームをCRT表示面3上で走査す
る。これによって、CRT表示面3上では、矢印に示す
ようなラスタ走査が行なわれる。
ハ)に示すような垂直同期パルスVTと、水平同期パル
スHTを受け、(ロ)及びに)に示すような垂直軸掃引
のこぎシ波v8及び水平軸掃引のこぎシ波H8を偏向コ
イル2に与え、電子ビームをCRT表示面3上で走査す
る。これによって、CRT表示面3上では、矢印に示す
ようなラスタ走査が行なわれる。
Z軸制御回路8は、画像信号pcs及び信号発生回路9
からの各種制御信号を受け、第2図(ホ)に示すような
輝度信号CGをCRTlのビーム電流制御格子に与える
。この輝度信号CGにおいて、VB LKは垂直帰線消
去パルス、EPBLKは水平掃引の終点側消去パルス、
HBLKは水平帰線消去パルス、5PBLK ij水平
掃引の出発点側消去パルスで、これらの各消去パルスは
、そのレベルがいずれも映像信号のカットオフレベル以
下にあって、この期間中FicRT表示面3にラスタは
表われない。
からの各種制御信号を受け、第2図(ホ)に示すような
輝度信号CGをCRTlのビーム電流制御格子に与える
。この輝度信号CGにおいて、VB LKは垂直帰線消
去パルス、EPBLKは水平掃引の終点側消去パルス、
HBLKは水平帰線消去パルス、5PBLK ij水平
掃引の出発点側消去パルスで、これらの各消去パルスは
、そのレベルがいずれも映像信号のカットオフレベル以
下にあって、この期間中FicRT表示面3にラスタは
表われない。
EPは水平軸掃引の終了(終点)直前に発生する終点位
置決めパルス、spは水平軸掃引の開始(出発点)と同
時に発生する起点位置決めパルスで、これらのパルスの
レベルはいずれも映像信号の最大レベル以上であって、
この時点でCRT表示面3上に終点位置決め光スポラ)
EP8及び起点位置決め光スポラ) SPBを表示す
る。
置決めパルス、spは水平軸掃引の開始(出発点)と同
時に発生する起点位置決めパルスで、これらのパルスの
レベルはいずれも映像信号の最大レベル以上であって、
この時点でCRT表示面3上に終点位置決め光スポラ)
EP8及び起点位置決め光スポラ) SPBを表示す
る。
CRT表示面3の左上側隅に表示された光スポラ) 8
PSは、集光レンズ40を通って4分割でかつ感度の揃
った光電素子41〜44で受光され、また、CRT表示
面3の右下側隅に表示された光スポツ) KPSは、集
光レンズ50を通って同じく4分割で、かつ感度の揃っ
た光電素子51〜54で受光される。
PSは、集光レンズ40を通って4分割でかつ感度の揃
った光電素子41〜44で受光され、また、CRT表示
面3の右下側隅に表示された光スポツ) KPSは、集
光レンズ50を通って同じく4分割で、かつ感度の揃っ
た光電素子51〜54で受光される。
ここで、各光電素子41〜44(51〜54)は、光ス
ポットSPS (gPs)がCR7表示面3上であっ
て、正しい所定位置に表示されている時は、各出力信号
S、〜S4(E、〜E4)が等しくなるように配置され
ている。
ポットSPS (gPs)がCR7表示面3上であっ
て、正しい所定位置に表示されている時は、各出力信号
S、〜S4(E、〜E4)が等しくなるように配置され
ている。
第3図は、表示された光スポットの位置と、各光電素子
41〜44(51〜55)からの信号の形態を示す波形
図である。すなわち、表示された光スポツ) 5PS(
KPS) が正しい所定位置を上から下に走査したと
すると、受光面上に照射される光スポットの実像の中心
は光電素子41.44から42.43の間を通シ抜け、
各素子に同量の光を与えるので、各素子からの信号S、
〜S4 は(イ)に示す通シとなる。以下、表示され
る光スポットが所定位置よシ、上下、左右にづれた時の
各素子からの信号S、〜S4は、それぞれ(ロ)〜(ホ
)に示す通りとなる。
41〜44(51〜55)からの信号の形態を示す波形
図である。すなわち、表示された光スポツ) 5PS(
KPS) が正しい所定位置を上から下に走査したと
すると、受光面上に照射される光スポットの実像の中心
は光電素子41.44から42.43の間を通シ抜け、
各素子に同量の光を与えるので、各素子からの信号S、
〜S4 は(イ)に示す通シとなる。以下、表示され
る光スポットが所定位置よシ、上下、左右にづれた時の
各素子からの信号S、〜S4は、それぞれ(ロ)〜(ホ
)に示す通りとなる。
演算回路6は、4チャンネル増巾器45.55からの各
信号S、〜S4及びE、〜E4を入力しており、ここで
、例えば、第4図に示すようなサンプルホールド回路を
それぞれ介し1各信号81〜S4及びE、〜E4のピー
ク値を得る(各サンプルホールド回路は、第2図(へ)
〜(す)に示すようなタイミングで、各データをホール
ドする)とともに、ラスタの走査状況を検知するための
所定の演算、例えば(11〜(6)式に示すような演算
を行なう。
信号S、〜S4及びE、〜E4を入力しており、ここで
、例えば、第4図に示すようなサンプルホールド回路を
それぞれ介し1各信号81〜S4及びE、〜E4のピー
ク値を得る(各サンプルホールド回路は、第2図(へ)
〜(す)に示すようなタイミングで、各データをホール
ドする)とともに、ラスタの走査状況を検知するための
所定の演算、例えば(11〜(6)式に示すような演算
を行なう。
Δsv−□ 四囲・(3)
S
ΔH−ΔEH−Δ軸 ・・・・・・・・・f
51ΔV−ΔEv−ΔSv ・・・・・・
・・・(6)たソし、S、〜S4.E、〜E4 は、
それぞれ光電素子41〜44.51〜54からの信号の
ピーク値ΔSH:水平掃引出発点の規定位置からの偏差 ΔEH:水平掃引終点の規定位置からの偏差 ΔSv;垂直掃引出発点の規定位置からの偏差 ΔEv:垂直掃垂直掃引観点位置からの偏差 ΔH:水平掃引長の偏差量 ΔV :垂直掃引長の偏差量 Ks:出発点位置での感度係数 K。=終点位置での感度係数 (Ks、に、は、いずれも螢光体、ビーム電圧電流によ
シ決まる。) 演算回路6は、前記した(11〜(6)式の演算結果を
掃引回路7に出力し、ここで各偏差がなくなるように垂
直軸掃引のこぎシ波vs及び水平軸掃引のこぎシ波Hs
を制御する。すなわち、出発点における偏差については
、偏向コイル2に与える直流バイアスを変化することに
より、また、振巾の誤差については、垂直、水平掃引の
こぎシ波発振器の各電源電圧の増減によって制御するこ
とができる。また、演算回路6から、光スポッ) 8P
8又はEPBの明るさに関連する信号(例えば演算回路
6で、s、 + s2+ s、 + s4 を演算し
た信号)′tl−得るようにし、これを2軸制御回路8
に出力させ、ここで光スポットの明るさく光量)が規定
値になるように制御する。この光1:制御は位置決めの
ためには必ずしも必要でない。
51ΔV−ΔEv−ΔSv ・・・・・・
・・・(6)たソし、S、〜S4.E、〜E4 は、
それぞれ光電素子41〜44.51〜54からの信号の
ピーク値ΔSH:水平掃引出発点の規定位置からの偏差 ΔEH:水平掃引終点の規定位置からの偏差 ΔSv;垂直掃引出発点の規定位置からの偏差 ΔEv:垂直掃垂直掃引観点位置からの偏差 ΔH:水平掃引長の偏差量 ΔV :垂直掃引長の偏差量 Ks:出発点位置での感度係数 K。=終点位置での感度係数 (Ks、に、は、いずれも螢光体、ビーム電圧電流によ
シ決まる。) 演算回路6は、前記した(11〜(6)式の演算結果を
掃引回路7に出力し、ここで各偏差がなくなるように垂
直軸掃引のこぎシ波vs及び水平軸掃引のこぎシ波Hs
を制御する。すなわち、出発点における偏差については
、偏向コイル2に与える直流バイアスを変化することに
より、また、振巾の誤差については、垂直、水平掃引の
こぎシ波発振器の各電源電圧の増減によって制御するこ
とができる。また、演算回路6から、光スポッ) 8P
8又はEPBの明るさに関連する信号(例えば演算回路
6で、s、 + s2+ s、 + s4 を演算し
た信号)′tl−得るようにし、これを2軸制御回路8
に出力させ、ここで光スポットの明るさく光量)が規定
値になるように制御する。この光1:制御は位置決めの
ためには必ずしも必要でない。
なお、上記の実施例では、ラスタ検出手段4゜5は4分
割した光電素子を用いたものについて例示したが、水平
又は垂直掃引のいずれかについてのみ制御する場合には
、このラスク検出手段f′i、2分割した光′w1累子
を用いてもよい。また、これには、光半導体装置検出器
(PAD)等、その他の2次元の光スポツト位置を検出
する手段を用いてもよい。また、元スポット8PS、E
P8 は、CR’r衣示面の正面両側において光るよ
うにしたものであるが、これらの光スポットはCRTl
の側面で光るようにしてもよい。また、ここでは、ラス
タは上下方向に走査される場合を例示し九が、水平方向
に走査されるものでもよい。
割した光電素子を用いたものについて例示したが、水平
又は垂直掃引のいずれかについてのみ制御する場合には
、このラスク検出手段f′i、2分割した光′w1累子
を用いてもよい。また、これには、光半導体装置検出器
(PAD)等、その他の2次元の光スポツト位置を検出
する手段を用いてもよい。また、元スポット8PS、E
P8 は、CR’r衣示面の正面両側において光るよ
うにしたものであるが、これらの光スポットはCRTl
の側面で光るようにしてもよい。また、ここでは、ラス
タは上下方向に走査される場合を例示し九が、水平方向
に走査されるものでもよい。
以上説明したように、本発明に係る装置によれば、電子
ビームの偏向、すなわちラスタスキャンを常に正常に行
なうことができ、良質の画像を得ることができる。
ビームの偏向、すなわちラスタスキャンを常に正常に行
なうことができ、良質の画像を得ることができる。
第1図は本発明に係る装置の一例を示す構成ブロック図
、第2図はその動作波形図、第3図は第1図装置におけ
る光電素子の信号の形態を示す波形図、第4図は第1図
装置における演算回路内にあるサンプルホールド回路の
一例を示す接続図である。
、第2図はその動作波形図、第3図は第1図装置におけ
る光電素子の信号の形態を示す波形図、第4図は第1図
装置における演算回路内にあるサンプルホールド回路の
一例を示す接続図である。
Claims (2)
- (1) 表示面が螢光膜で構成されたラスタスキャン
方式の陰極線表示管を用いた表示装置において、 前記陰極線表示管の表示面の領域を挾む2個所に設置さ
れ光電素子で構成した受光面上のスポット光位置に関連
した信号を出力するラスタ検出手段と、このラスタ検出
手段からの信号を入力しこれらの各信号を演算処理する
ことによって前記陰極線表示管のラスタの走査状況を検
知する演算回路と、前記陰極線表示管の所定位置に掃引
起点位置決めのスポットと掃引終点位置決めのスポット
表示をそれぞれ行なう回路手段とを設け、 前記演算回路からの信号によって前記陰極線表示管の掃
引条件を制御することを特徴とする陰極線表示管を用い
た表示装置。 - (2)演算回路からの信号によって陰極線表示管の明る
さを制御することを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の陰極線表示管を用いた表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20334682A JPS5993492A (ja) | 1982-11-19 | 1982-11-19 | 陰極線表示管を用いた表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20334682A JPS5993492A (ja) | 1982-11-19 | 1982-11-19 | 陰極線表示管を用いた表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5993492A true JPS5993492A (ja) | 1984-05-29 |
Family
ID=16472499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20334682A Pending JPS5993492A (ja) | 1982-11-19 | 1982-11-19 | 陰極線表示管を用いた表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5993492A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61263389A (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-21 | Nippon Abionikusu Kk | 陰極線管の外部磁界補正装置 |
| JPS6278585A (ja) * | 1985-10-01 | 1987-04-10 | キヤノン株式会社 | 表示制御方法 |
| JPH01310392A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-14 | Yokogawa Electric Corp | Crtディスプレイ装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS566586A (en) * | 1979-06-27 | 1981-01-23 | Ibm | Color braun tube device |
-
1982
- 1982-11-19 JP JP20334682A patent/JPS5993492A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS566586A (en) * | 1979-06-27 | 1981-01-23 | Ibm | Color braun tube device |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61263389A (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-21 | Nippon Abionikusu Kk | 陰極線管の外部磁界補正装置 |
| JPS6278585A (ja) * | 1985-10-01 | 1987-04-10 | キヤノン株式会社 | 表示制御方法 |
| JPH01310392A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-14 | Yokogawa Electric Corp | Crtディスプレイ装置 |
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