JPS59945A - 半導体沸騰冷却装置 - Google Patents
半導体沸騰冷却装置Info
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- JPS59945A JPS59945A JP57110103A JP11010382A JPS59945A JP S59945 A JPS59945 A JP S59945A JP 57110103 A JP57110103 A JP 57110103A JP 11010382 A JP11010382 A JP 11010382A JP S59945 A JPS59945 A JP S59945A
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- JP
- Japan
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- semiconductor
- sealed container
- case
- capacitor
- condenser
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W40/00—Arrangements for thermal protection or thermal control
- H10W40/70—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control
- H10W40/73—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control for cooling by change of state
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体沸騰冷却装置、特に、凝縮性冷却媒体
の液相と気相との間の相変化を利用して、半導体を冷却
すると共にスナバ−回路が設けられている半導体沸騰冷
却装置に関するものである。
の液相と気相との間の相変化を利用して、半導体を冷却
すると共にスナバ−回路が設けられている半導体沸騰冷
却装置に関するものである。
一般に半導体沸騰冷却装置では、密封容器内に半導体を
収納し、この半導体を浸漬するようにして冷媒1例えば
、70ンR//J等の凝□縮性冷媒を封入して構成され
る。
収納し、この半導体を浸漬するようにして冷媒1例えば
、70ンR//J等の凝□縮性冷媒を封入して構成され
る。
このような装置において、半導体が通電により発熱する
と、冷媒はその熱によって沸騰して液相から気相に相変
化し、その際、半導体より潜熱に相当する熱を奪うこと
によって、半導体を冷却する。このために、密封容器の
上部には、凝縮器が設けられており、密封容器内で相変
化した気相冷媒は、上部に設置の凝縮器に流入し、凝縮
器外部の空気等へ潜熱を放出して冷媒は凝縮液化して液
相冷媒となり、再び密封容器内に戻る。このように、冷
媒が液相と気相との相変化により、密封容器と凝縮器と
の間を循環して密封容器内に収納した半導体の熱を凝縮
器に効率よく伝達し放散する。
と、冷媒はその熱によって沸騰して液相から気相に相変
化し、その際、半導体より潜熱に相当する熱を奪うこと
によって、半導体を冷却する。このために、密封容器の
上部には、凝縮器が設けられており、密封容器内で相変
化した気相冷媒は、上部に設置の凝縮器に流入し、凝縮
器外部の空気等へ潜熱を放出して冷媒は凝縮液化して液
相冷媒となり、再び密封容器内に戻る。このように、冷
媒が液相と気相との相変化により、密封容器と凝縮器と
の間を循環して密封容器内に収納した半導体の熱を凝縮
器に効率よく伝達し放散する。
一方、半導体は、サージ電圧抑制等の目的をもって、半
導体に並列にスナバ−回路が設げられている。
導体に並列にスナバ−回路が設げられている。
添付図面第1図はこのスナバ−回路の一例を示す構成図
であって、図において、符号/はサイリスタ、ゲートタ
ーンオフサ4イリスタCGTOザイリスタ)、ダイオー
ド等の半導体、コ、3.ダはスナバ−回路を構成する部
品であって、コはコンデンサ、3はダイオード、41は
抵抗器を示す。
であって、図において、符号/はサイリスタ、ゲートタ
ーンオフサ4イリスタCGTOザイリスタ)、ダイオー
ド等の半導体、コ、3.ダはスナバ−回路を構成する部
品であって、コはコンデンサ、3はダイオード、41は
抵抗器を示す。
いま、半導体/が直流高圧大電流回路をON −0FF
制御する半導体、例えば、GTOサイリスタの場合に
ついて説明すると“、高速でスイッチング動作を行なう
と半導体の両端に異常電圧が発生し、この電圧が半導体
の許容電圧を越えると、半導体が半導体lに並列して接
続されているが、このスナバ−回路の内、特に、コンデ
ンサコとダイオード3と半導体lとによって形成される
閉回路を構成する配線は極力短かくする方が好ましい。
制御する半導体、例えば、GTOサイリスタの場合に
ついて説明すると“、高速でスイッチング動作を行なう
と半導体の両端に異常電圧が発生し、この電圧が半導体
の許容電圧を越えると、半導体が半導体lに並列して接
続されているが、このスナバ−回路の内、特に、コンデ
ンサコとダイオード3と半導体lとによって形成される
閉回路を構成する配線は極力短かくする方が好ましい。
このスナバ−回路の配線が長(なると配線インダクタン
スが増大してサージ電圧吸収効果が低下し、半導体lは
破壊する危険性が生じる。
スが増大してサージ電圧吸収効果が低下し、半導体lは
破壊する危険性が生じる。
しかるに、従来の半導体沸騰冷却装置では、密封容器内
に半導体/を内蔵し、スナバ−回路の構成部品は密封容
器外に設置して、密封容器の壁部に設けた気密ブッシン
グを介して、半導体lとスナバ−回路の部品であるコン
デンサコ、ダイオード3、抵抗器ダとを配線で接続して
いるために、配線長さを短かくするのにもおのずと限界
があり、半導体lのサージ電圧吸収効果が十分得られな
いという欠点があった。
に半導体/を内蔵し、スナバ−回路の構成部品は密封容
器外に設置して、密封容器の壁部に設けた気密ブッシン
グを介して、半導体lとスナバ−回路の部品であるコン
デンサコ、ダイオード3、抵抗器ダとを配線で接続して
いるために、配線長さを短かくするのにもおのずと限界
があり、半導体lのサージ電圧吸収効果が十分得られな
いという欠点があった。
このような従来の半導体沸騰冷却装置の構成を示すと添
付図面第1図のとおりである。
付図面第1図のとおりである。
図において符号10は密封容器、//は凝縮器、lコは
密封容器IO内で発生した気相冷媒を凝縮器t、iに導
くための蒸気管、isは凝縮器1.lで凝縮した液相冷
媒を密封容器IOに戻すための液管を示す。また、密封
容器10内には、半導体lと液相の凝縮性冷媒/41と
を封入し、液相冷媒/lによって、半導体lが十分浸漬
されるように、所定量の液相冷媒74E″が封入されて
いる。更に、密封容器lOの上部空間及び凝縮器/lの
内部には、空気等の非凝縮性気体が混入することなく、
気相冷媒iqaが満たされるように構成される。
密封容器IO内で発生した気相冷媒を凝縮器t、iに導
くための蒸気管、isは凝縮器1.lで凝縮した液相冷
媒を密封容器IOに戻すための液管を示す。また、密封
容器10内には、半導体lと液相の凝縮性冷媒/41と
を封入し、液相冷媒/lによって、半導体lが十分浸漬
されるように、所定量の液相冷媒74E″が封入されて
いる。更に、密封容器lOの上部空間及び凝縮器/lの
内部には、空気等の非凝縮性気体が混入することなく、
気相冷媒iqaが満たされるように構成される。
また、密封容器ioの壁部には、ブッシングlSが配設
されており、密封容器lo内に格納されている半導体l
どの間を導体16で電気的に接続している。
されており、密封容器lo内に格納されている半導体l
どの間を導体16で電気的に接続している。
従来の半導体沸騰冷却装置は上記のように構成されてい
るが1次にその作用について述べる。
るが1次にその作用について述べる。
まず、半導体lが通電等によって発熱すると、半導体l
に接触している液相冷媒lダは沸騰し、液相から気相に
相変換する。この時、半導体/より潜熱に相当する熱を
奪うので、半導体lは冷却される。一方、相変換して気
相となった気相冷媒/4Iaは、密度差のために、上方
に上昇し蒸気管/λを通って凝縮器//に導かれる。凝
縮器//は多数のフィンチューブ//aより構成されて
おり、また、このフィンチューブl/aの外部は空気に
よって冷却されているために、気相冷媒/4!aは凝縮
器//の内部で潜熱を放出して凝縮し液化して液相冷媒
/41となる。
に接触している液相冷媒lダは沸騰し、液相から気相に
相変換する。この時、半導体/より潜熱に相当する熱を
奪うので、半導体lは冷却される。一方、相変換して気
相となった気相冷媒/4Iaは、密度差のために、上方
に上昇し蒸気管/λを通って凝縮器//に導かれる。凝
縮器//は多数のフィンチューブ//aより構成されて
おり、また、このフィンチューブl/aの外部は空気に
よって冷却されているために、気相冷媒/4!aは凝縮
器//の内部で潜熱を放出して凝縮し液化して液相冷媒
/41となる。
この液相冷媒lダは、重力の作用により、液管13を通
って密封容器IOに戻り1、再び、半導体lの冷却に当
たる。
って密封容器IOに戻り1、再び、半導体lの冷却に当
たる。
以上のように、冷媒llは相変化を伴いながら密封容器
10と凝縮器/lどの8を循環し、半導体Iで発生した
熱量を効率よく凝縮器//に熱伝達し、凝縮器//の表
面より空気中に放散する。
10と凝縮器/lどの8を循環し、半導体Iで発生した
熱量を効率よく凝縮器//に熱伝達し、凝縮器//の表
面より空気中に放散する。
一方、第一図に示す従来装置では、密封容器10内に半
導体lを内蔵しているために、密封容器/θの外部に設
置されているコンデンサコ、ダイオード3及び抵抗器ダ
から成るスナバ−回路を構成するために図に示すように
、これらスナバ−回路とブッシングlSとの間に導体/
7 a e / ? b +/?Cが配線している。
導体lを内蔵しているために、密封容器/θの外部に設
置されているコンデンサコ、ダイオード3及び抵抗器ダ
から成るスナバ−回路を構成するために図に示すように
、これらスナバ−回路とブッシングlSとの間に導体/
7 a e / ? b +/?Cが配線している。
しかしながら、スナバ−回路の内ダイオード3及びコン
デンサコと半導体lとによって形成される閉回路は特に
インダクタンスを小さくすることが必要であるのにもか
かわらず、このような従来装置では、半導体l−導体/
6−ブッシング/、lt−導体/7a−ダイオード3−
導体/?b−コンデンサコー導体/7cmブッシング/
S−導体/ A−4−導体lの配S経路によってスナバ
−回路が構成されているために、配線をこの範囲内でで
きるだけ短かくしても、インダクタンスの低減にはおの
ずから限界があり、その結果、サージ電圧吸収効果が十
分得られないという欠点があった。
デンサコと半導体lとによって形成される閉回路は特に
インダクタンスを小さくすることが必要であるのにもか
かわらず、このような従来装置では、半導体l−導体/
6−ブッシング/、lt−導体/7a−ダイオード3−
導体/?b−コンデンサコー導体/7cmブッシング/
S−導体/ A−4−導体lの配S経路によってスナバ
−回路が構成されているために、配線をこの範囲内でで
きるだけ短かくしても、インダクタンスの低減にはおの
ずから限界があり、その結果、サージ電圧吸収効果が十
分得られないという欠点があった。
このような従来装置における欠点を改曽するために、第
3図に示すように、密封容器10内に半導体lと共にダ
イオード3及びコンデンサコを収納し、これらの部品間
を導体/ ? a * / 7 b + / ? cに
よって配線する方法が考えられる。なお、抵抗器ダは密
耐容器IO外に設置し、ブッシングlSを介して図に示
すように配線される。
3図に示すように、密封容器10内に半導体lと共にダ
イオード3及びコンデンサコを収納し、これらの部品間
を導体/ ? a * / 7 b + / ? cに
よって配線する方法が考えられる。なお、抵抗器ダは密
耐容器IO外に設置し、ブッシングlSを介して図に示
すように配線される。
このような第3図に示す方法によると、半導体/にダイ
オード3及びコンデンサコを近接して配設することが可
能であり、従って、配線インダクタンスを小さくするこ
とができてサージ電圧吸収効果が増大するという特長は
ある。しかしながら、この方法によると、次のような欠
点がある。すなわち。
オード3及びコンデンサコを近接して配設することが可
能であり、従って、配線インダクタンスを小さくするこ
とができてサージ電圧吸収効果が増大するという特長は
ある。しかしながら、この方法によると、次のような欠
点がある。すなわち。
(1)直流電圧回路で0N−OFF動作を高速で行なう
半導体のスナバ−回路には、Wk100アンペアの高周
波電流であるピーク電流が流れる。従って、コンデンサ
は耐電圧性と冷却性との点から、金属ケース内にコンデ
ンサ素子と絶縁油とを封入した、いわゆる、油入コンデ
ンサが用いられている。このような油入コンデンサは、
通常一端が開放した金属ケースの内部にコンデンサ素子
を入れ、ブッシング付きの天板と称する金属板によって
、金属ケースの開放部をはんだ付けにより閉塞し絶縁油
、を充填して製作されている。
半導体のスナバ−回路には、Wk100アンペアの高周
波電流であるピーク電流が流れる。従って、コンデンサ
は耐電圧性と冷却性との点から、金属ケース内にコンデ
ンサ素子と絶縁油とを封入した、いわゆる、油入コンデ
ンサが用いられている。このような油入コンデンサは、
通常一端が開放した金属ケースの内部にコンデンサ素子
を入れ、ブッシング付きの天板と称する金属板によって
、金属ケースの開放部をはんだ付けにより閉塞し絶縁油
、を充填して製作されている。
しかしながら、沸騰冷却装置の密封容器IO内に内蔵す
るコンデンサは、コンデンサ内の絶縁油が漏出して冷媒
中に混入すると沸騰冷却効果が著しく低下し、また、逆
に冷媒蒸気がコンデンサの内部に浸入すると、冷媒であ
るフロンによって、コンデンサエレメントが腐蝕劣化す
る危険性を生ずるために、コンデンサのケースは完全気
密構造とする必要がある。このためにはコンデンサのケ
ースを従来のようにはんだ付けで密封しても、十分な気
密性が確保できないために、溶接する必要が生じる。し
かしながらスナバ−用コンデンサのように比較的小形(
通常大きさは約1soxioox!Ommの直方体)の
ものでは、金属ケースと天板とを溶接するとなれば、溶
接の際発生する高温度の熱によって、内部のコンデンサ
エレメントが熱劣化を起こす危険性が生ずる。また、こ
の熱劣化を防ぐためには、ケースを大きくして溶接点と
エレメントとの間に十分な距離を設けて断熱材を挿入す
れば可能であるが、コンデンサが著しく大きくなり、従
って、非常に不経済な設計となる。゛(2) コンデ
ンサのエレメントは、通常紙、プラスチック等の誘電体
で構成さ1れているために、エレメントの最高許容温度
は7S〜tts℃と比較的低温度である。一方、半導体
の許容温度は723〜730℃であり、沸騰冷却装置に
おける冷媒温度は一般に70〜?j℃に設定されろう従
って、密封容器内にコンデンサを収納すると、コンデン
サケースの壁面温度が冷媒温度の70〜?j℃となり、
更に、コンデンサ自体の発熱により、エレメント中心温
度はケースの冷媒温度よりも高くなって、コンデンサの
許容温度を越えることになる。
るコンデンサは、コンデンサ内の絶縁油が漏出して冷媒
中に混入すると沸騰冷却効果が著しく低下し、また、逆
に冷媒蒸気がコンデンサの内部に浸入すると、冷媒であ
るフロンによって、コンデンサエレメントが腐蝕劣化す
る危険性を生ずるために、コンデンサのケースは完全気
密構造とする必要がある。このためにはコンデンサのケ
ースを従来のようにはんだ付けで密封しても、十分な気
密性が確保できないために、溶接する必要が生じる。し
かしながらスナバ−用コンデンサのように比較的小形(
通常大きさは約1soxioox!Ommの直方体)の
ものでは、金属ケースと天板とを溶接するとなれば、溶
接の際発生する高温度の熱によって、内部のコンデンサ
エレメントが熱劣化を起こす危険性が生ずる。また、こ
の熱劣化を防ぐためには、ケースを大きくして溶接点と
エレメントとの間に十分な距離を設けて断熱材を挿入す
れば可能であるが、コンデンサが著しく大きくなり、従
って、非常に不経済な設計となる。゛(2) コンデ
ンサのエレメントは、通常紙、プラスチック等の誘電体
で構成さ1れているために、エレメントの最高許容温度
は7S〜tts℃と比較的低温度である。一方、半導体
の許容温度は723〜730℃であり、沸騰冷却装置に
おける冷媒温度は一般に70〜?j℃に設定されろう従
って、密封容器内にコンデンサを収納すると、コンデン
サケースの壁面温度が冷媒温度の70〜?j℃となり、
更に、コンデンサ自体の発熱により、エレメント中心温
度はケースの冷媒温度よりも高くなって、コンデンサの
許容温度を越えることになる。
従って、コンデンサのエレメント中心温度を許容温度以
下にするとなれば、冷媒温度を低く設定しなければなら
ず、そのためには、凝縮器を大きくすることが必要とな
り、半導体沸騰冷却装置そのものが大形化して重量が増
大し、極めて不経済な装置となる。
下にするとなれば、冷媒温度を低く設定しなければなら
ず、そのためには、凝縮器を大きくすることが必要とな
り、半導体沸騰冷却装置そのものが大形化して重量が増
大し、極めて不経済な装置となる。
(3) コンデンサを密封容器内に入れると密封容器
が大きくなり、従って、上記111項の凝縮器の大形化
とも合わせそ、ますます半導体沸騰冷却装置は大形化す
る。
が大きくなり、従って、上記111項の凝縮器の大形化
とも合わせそ、ますます半導体沸騰冷却装置は大形化す
る。
更に、沸騰冷却装置は、冷媒であるフロンR−//3を
使用した場合、冷媒温度がダ7℃を越ると、容器内圧力
が外気圧に比べて高くなる。従って、沸騰冷却装置は労
働安全衛生法に定める圧力容器の規制を受けるが、密封
容器内にコンデンサを収納しないものでは容器の内容積
が小さく圧力容器としての規制を受けない、いわゆる、
簡易容器の範囲内にあったものが、コンデソ(を収納す
ることにより、容器の内容積が大きくなって圧力容器と
しての規制を受けることになる。このように、圧力容器
としての規制を受けると、検査義務を生じ、この結果、
製作期間が長くなると共に。
使用した場合、冷媒温度がダ7℃を越ると、容器内圧力
が外気圧に比べて高くなる。従って、沸騰冷却装置は労
働安全衛生法に定める圧力容器の規制を受けるが、密封
容器内にコンデンサを収納しないものでは容器の内容積
が小さく圧力容器としての規制を受けない、いわゆる、
簡易容器の範囲内にあったものが、コンデソ(を収納す
ることにより、容器の内容積が大きくなって圧力容器と
しての規制を受けることになる。このように、圧力容器
としての規制を受けると、検査義務を生じ、この結果、
製作期間が長くなると共に。
製作工数も増加して製作コストが増大する。
このように、第3図に示すところの構成、すなわち、密
封容器IO内にコンデンサー及びダイオード3を収納す
る方法は、半導体l、コンデンサコ及びダイオード3よ
り成る閉回路の配線を短かくする方法としては適してい
るが、その反面において、上記のような欠点を有し、従
って、実用性に欠ける方法ということができる。
封容器IO内にコンデンサー及びダイオード3を収納す
る方法は、半導体l、コンデンサコ及びダイオード3よ
り成る閉回路の配線を短かくする方法としては適してい
るが、その反面において、上記のような欠点を有し、従
って、実用性に欠ける方法ということができる。
本発明は、上記した従来装装置における欠点を改曽し、
しかも、半導体lとスナバ−回路との配線長を短か(し
て配線インダクタンスの減少を図り、もって、サージ電
圧吸収効果を向上させるのに好適な半導体沸騰冷却装置
を提供することを、その目的とするものである。
しかも、半導体lとスナバ−回路との配線長を短か(し
て配線インダクタンスの減少を図り、もって、サージ電
圧吸収効果を向上させるのに好適な半導体沸騰冷却装置
を提供することを、その目的とするものである。
本発明は、この目的を達成するために、密封容器の一部
を開放して開放部を設け、この開放部に、開放部を閉塞
するようにスナバ−回路用コンデンサのケースが接合さ
れていることを特徴とするものである。
を開放して開放部を設け、この開放部に、開放部を閉塞
するようにスナバ−回路用コンデンサのケースが接合さ
れていることを特徴とするものである。
以下、本発明をその構成の一実施例を示す添付図面第q
図に基づいて説明する。
図に基づいて説明する。
図において、密封容器IO内には、半導体lとスナバ−
用ダイオード3とを収納し、液相冷媒lIIを充填する
。また、密封容器IOの壁部にはブッシング/Sを設け
、このブッシングlsと半導体lの端子との間を導体7
Aによって接続しである。
用ダイオード3とを収納し、液相冷媒lIIを充填する
。また、密封容器IOの壁部にはブッシング/Sを設け
、このブッシングlsと半導体lの端子との間を導体7
Aによって接続しである。
また、スナバ−用コンデンサーは、そのケース、21が
ケース板コC,コd、コeから構成され、ケースコ1の
内部にコンデンサニレメントコaを収納させると共に絶
縁油コhを充填して構成されている。更に、ケース板、
2cには貫通した気密プラシンクコbを、また、ケース
板コeには貫通プラシンクコfをそれぞれ設け、これら
のブツシングコbとコeとはそれぞれコンデンサエレメ
ントJaの端子に導体−gによって接続されている。
ケース板コC,コd、コeから構成され、ケースコ1の
内部にコンデンサニレメントコaを収納させると共に絶
縁油コhを充填して構成されている。更に、ケース板、
2cには貫通した気密プラシンクコbを、また、ケース
板コeには貫通プラシンクコfをそれぞれ設け、これら
のブツシングコbとコeとはそれぞれコンデンサエレメ
ントJaの端子に導体−gによって接続されている。
また、密封容器IOには、所定の部分に開放部!Oaを
設け、この開放部ioaを閉塞するようにコンデンサー
のケース板−20を気密に溶接している。
設け、この開放部ioaを閉塞するようにコンデンサー
のケース板−20を気密に溶接している。
従って、コンデンサコの気密プラシンクコbは、密封容
器lθ内に突出して構成され、この気密ブッシングJb
と半導体lの端子B及びダイオード3とに、導体/6a
により配線する。一方、ダイオード3と半導体lの端子
Aとの間にも、導体/Aaにより配線する。
器lθ内に突出して構成され、この気密ブッシングJb
と半導体lの端子B及びダイオード3とに、導体/6a
により配線する。一方、ダイオード3と半導体lの端子
Aとの間にも、導体/Aaにより配線する。
なお、コンデンサコを密封容器ioに溶接する。
場合、溶接熱によってコンデンサー内のコンデンサニレ
メントコaを熱劣化させる恐れがあるために、コンデン
サコの製作は次のようにすればよい、まず、ケース板コ
Cとコdとを溶接等の方法によって接合し、一端が開放
したケースを形成し、このケースを密封容器10に気密
に溶接して取り付ける。次に、このケース内にコンデン
サエレメント、2aを収納した後、コンデンサニレメン
トコaと貫通気密プラシンクコbとの間を導体−gによ
って配線接続し、ケース板コeに設置の貫通ブッシング
−fとコンデンサニレメントコaとの間も導体2gによ
って配線接続する。最後にケースの開放部を閉塞するよ
うに、ケース板、2eをはんだ付は等の方法によって接
合し密閉する、このようにして、コンデンサコを構成し
た後1図示していない前日より絶縁油を真空注入し、前
日を閉塞すればコンデンサーが完成スル。
メントコaを熱劣化させる恐れがあるために、コンデン
サコの製作は次のようにすればよい、まず、ケース板コ
Cとコdとを溶接等の方法によって接合し、一端が開放
したケースを形成し、このケースを密封容器10に気密
に溶接して取り付ける。次に、このケース内にコンデン
サエレメント、2aを収納した後、コンデンサニレメン
トコaと貫通気密プラシンクコbとの間を導体−gによ
って配線接続し、ケース板コeに設置の貫通ブッシング
−fとコンデンサニレメントコaとの間も導体2gによ
って配線接続する。最後にケースの開放部を閉塞するよ
うに、ケース板、2eをはんだ付は等の方法によって接
合し密閉する、このようにして、コンデンサコを構成し
た後1図示していない前日より絶縁油を真空注入し、前
日を閉塞すればコンデンサーが完成スル。
なお、プツシングコfは、高価ま気密ブッシングを用い
る必要はなく、従来のコンデンサに用いている安価なも
のが使用できる。また、第4図に示す実施例では、この
プツシングコfをケース板コeに取り付けているが、こ
れに限るものではなく、ケース板コdに取り付けてもよ
く、この場合テ41 、 ”コンデンサニレメントコa
とブツシングコfとの配線が容易に行なえる。また、ス
ナノ(−回路用の抵抗器ダは、一方の端子とコンデンサ
コのプツシングコfとの間を、また、他方の端子とブッ
シングlSとの間を導体17で配線することにより、半
導体lに対してダイオード3、コンデンサー及び抵抗器
ダからなるスナノ(−回路が構成される。
る必要はなく、従来のコンデンサに用いている安価なも
のが使用できる。また、第4図に示す実施例では、この
プツシングコfをケース板コeに取り付けているが、こ
れに限るものではなく、ケース板コdに取り付けてもよ
く、この場合テ41 、 ”コンデンサニレメントコa
とブツシングコfとの配線が容易に行なえる。また、ス
ナノ(−回路用の抵抗器ダは、一方の端子とコンデンサ
コのプツシングコfとの間を、また、他方の端子とブッ
シングlSとの間を導体17で配線することにより、半
導体lに対してダイオード3、コンデンサー及び抵抗器
ダからなるスナノ(−回路が構成される。
本発明の半導体沸騰冷却装置、特に、そのスナバ−回路
は、以上のように構成されるので、次に示すような特長
を有するという効果を奏することができる。すなわち、 (1) コンデンサコの気密ブッシング2bを密封容
器10内に、半導体lの端子に向かって突出させている
ために、#!コ図に示す従来装置に比べて、スナバ−回
路の配線長を著しく短かくすることができ、従って、配
線インダクタンスの低減によってサージ電圧吸収効果を
向上することができる。
は、以上のように構成されるので、次に示すような特長
を有するという効果を奏することができる。すなわち、 (1) コンデンサコの気密ブッシング2bを密封容
器10内に、半導体lの端子に向かって突出させている
ために、#!コ図に示す従来装置に比べて、スナバ−回
路の配線長を著しく短かくすることができ、従って、配
線インダクタンスの低減によってサージ電圧吸収効果を
向上することができる。
(2) コンデンサーのケース板コC,コd、コeで
構成されるケースコ1の内、−面のケース板コCのみが
密封容器lo内の液相冷媒IQに接触しているから、液
相冷媒lダからコンデンサコに受ける熱影響は少な(な
る。また、コンデンサ自体の発熱は、空気中に露出して
いるケース板コd、コe′より熱放散されるので、第3
図に示したコンデンサを密封容器内に収納するものに比
べて、コンデンサエレメントの温度は非常に低く、コン
デンサエレメントの温度が許容温度を越えないように設
計することは極めて容易にできる。
構成されるケースコ1の内、−面のケース板コCのみが
密封容器lo内の液相冷媒IQに接触しているから、液
相冷媒lダからコンデンサコに受ける熱影響は少な(な
る。また、コンデンサ自体の発熱は、空気中に露出して
いるケース板コd、コe′より熱放散されるので、第3
図に示したコンデンサを密封容器内に収納するものに比
べて、コンデンサエレメントの温度は非常に低く、コン
デンサエレメントの温度が許容温度を越えないように設
計することは極めて容易にできる。
(3) 密封容器内にコンデンサを内蔵しないために
、密封容器が小形とな′す、従って、労働安全衛生法に
定める圧力容器の規制を受けない簡易容器とすることが
可能であり、従って、製造工数も少なく、また、製作期
間も短く、従って、経済的な製作が可能となる。
、密封容器が小形とな′す、従って、労働安全衛生法に
定める圧力容器の規制を受けない簡易容器とすることが
可能であり、従って、製造工数も少なく、また、製作期
間も短く、従って、経済的な製作が可能となる。
(4) 密封容器10とコンデンサコのケース板、2
cとの溶接接合部及び気密ブッシング2bのみ気密構造
とすればよく、他の部分は従来のコンデンサ技術で簡易
に製作可能であるから、比較的安価に製作が可能である
。
cとの溶接接合部及び気密ブッシング2bのみ気密構造
とすればよく、他の部分は従来のコンデンサ技術で簡易
に製作可能であるから、比較的安価に製作が可能である
。
(5) 万一、コンデンサコが故障した場合には、第
3図に示す従来装置を改善したものにあっては、密封容
器を開放し、コンデンサを取り出して交換又は修理した
後、再度密封して冷媒を真空注入しなければならないが
、本発明装置においては、コンデンサーのケースコ1の
ケース板コdとコeとの間を分離して開封することによ
り、コンデンサニレメントコa1に容易に交換すること
が可能であり、従って、修理が容易となる。
3図に示す従来装置を改善したものにあっては、密封容
器を開放し、コンデンサを取り出して交換又は修理した
後、再度密封して冷媒を真空注入しなければならないが
、本発明装置においては、コンデンサーのケースコ1の
ケース板コdとコeとの間を分離して開封することによ
り、コンデンサニレメントコa1に容易に交換すること
が可能であり、従って、修理が容易となる。
以上述べたように、本発明の半導体沸騰冷却装置では、
数々の特長を有しており、極めて実用性の高い半導体沸
騰冷却装置が得られるという効果を有している。
数々の特長を有しており、極めて実用性の高い半導体沸
騰冷却装置が得られるという効果を有している。
なお、第参図に示す実施例においては、密封容器10の
下方にコンデンサーを配設しているが。
下方にコンデンサーを配設しているが。
必ずしもこれに限る必要はなく、密封容器10のいかな
る方向に配設することも可能である。
る方向に配設することも可能である。
また、同実施例では、ダイオード3を密封容器10内に
収納した場合を示しているが、これも上記に限る必要は
なく、密封容器外に設置しても差し支えない。
収納した場合を示しているが、これも上記に限る必要は
なく、密封容器外に設置しても差し支えない。
更に、抵抗器ダを密封容器/θ内に内蔵してもよく、こ
の場合はコンデンサのブツシングコ4fが不要となるこ
とは容易に理解できよう。
の場合はコンデンサのブツシングコ4fが不要となるこ
とは容易に理解できよう。
また、上記実施例を示す第参図は、密封容器10とコン
デンサコとの接合の一形1Iltl−示したものであっ
て、第4図に示す以外の接合方法、接合形状によっても
1本発明の構成及び効果に、何ら影響を与えるものでは
ない。
デンサコとの接合の一形1Iltl−示したものであっ
て、第4図に示す以外の接合方法、接合形状によっても
1本発明の構成及び効果に、何ら影響を与えるものでは
ない。
第1図は、半導体とスナバ−回路との構成の一例を示す
回路構成図、第一図は従来の半導体沸騰冷却装置の構成
を示す縦断面説明図、第3図は従来装置の欠点を改良す
るための一方法を示す装置の縦断面構造説明図、第1図
は本発明の半導体沸騰冷却装置の一実施例を示す縦断面
構成説明図である。 /・・半導に、J−・コンデンサ、−a・・コンデンサ
エレメント、Jb−・気密ブッシング、ノC,コd、コ
e・・ケース板、Jf、/j・・ブッシング、コh@愉
絶縁油、−1@−ケース、3・・ダイオード、ダ・・抵
抗器、10.拳密封容器、/θa・・開放部。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 焔1図 ム 焔2図 1 手続補正書(自発) 昭和57年11月19日 1、事件の表示 特願昭 Sクー/10103号
3、補正をする者 図 面 lla」と補正する。
回路構成図、第一図は従来の半導体沸騰冷却装置の構成
を示す縦断面説明図、第3図は従来装置の欠点を改良す
るための一方法を示す装置の縦断面構造説明図、第1図
は本発明の半導体沸騰冷却装置の一実施例を示す縦断面
構成説明図である。 /・・半導に、J−・コンデンサ、−a・・コンデンサ
エレメント、Jb−・気密ブッシング、ノC,コd、コ
e・・ケース板、Jf、/j・・ブッシング、コh@愉
絶縁油、−1@−ケース、3・・ダイオード、ダ・・抵
抗器、10.拳密封容器、/θa・・開放部。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 焔1図 ム 焔2図 1 手続補正書(自発) 昭和57年11月19日 1、事件の表示 特願昭 Sクー/10103号
3、補正をする者 図 面 lla」と補正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +1) 密封容器内に半導体と上記半導体を浸漬する
冷却媒体とを収納し、冷却媒体の液相と気相との相変化
を利用して半導体に発生した熱を凝縮器に熱伝達すると
共にスナバ−回路が設けられている半導体沸騰冷却装置
において、上記密封容器の一部を開放にして開放部を設
け、この開放部に、開放部を閉塞するようにスナバ−回
路用コンデンサのケースが接合されていることを特徴と
する半導体沸騰冷却装置。 121 密封容器の開放部を閉塞しているコンデンサ
のケースには、少くとも1個の気密ブッシングが設けら
れ、この気密ブッシングを介して密封容器内の半導体及
び半導体に接続するスナバ−回路用部品のいずれかと、
コンデンサのケース内のコンデンサエレメントとが電気
的に接続されている特許請求の範囲第1項記載の半導体
沸騰冷却装置。 (3)密封容器の開放部を閉塞しているコンデンサのケ
ースには、上記閉塞部分のケースの壁部に気密ブッシン
グを設け、且つ、閉塞部分以外の壁部にブッシングを設
けている特許請求の範囲第1項又は第一項記載の半導体
沸騰冷却装置。 (4) コンデンサは絶縁油等の冷却材が封入されて
いる特許請求の範囲第1項〜第J項のいずれかに記載の
半導体沸騰冷却装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57110103A JPS59945A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 半導体沸騰冷却装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57110103A JPS59945A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 半導体沸騰冷却装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59945A true JPS59945A (ja) | 1984-01-06 |
| JPS636145B2 JPS636145B2 (ja) | 1988-02-08 |
Family
ID=14527108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57110103A Granted JPS59945A (ja) | 1982-06-25 | 1982-06-25 | 半導体沸騰冷却装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59945A (ja) |
-
1982
- 1982-06-25 JP JP57110103A patent/JPS59945A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS636145B2 (ja) | 1988-02-08 |
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