JPS599854B2 - タンシヨウキニオケル ケンシユツキ ノ カンドセツテイソウチ - Google Patents
タンシヨウキニオケル ケンシユツキ ノ カンドセツテイソウチInfo
- Publication number
- JPS599854B2 JPS599854B2 JP50128480A JP12848075A JPS599854B2 JP S599854 B2 JPS599854 B2 JP S599854B2 JP 50128480 A JP50128480 A JP 50128480A JP 12848075 A JP12848075 A JP 12848075A JP S599854 B2 JPS599854 B2 JP S599854B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- circuit
- signal
- voltage
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は被検査材の表面を検出器が走査しながら欠陥
部からの信号を検出する探傷機において欠陥の判定基準
を得るための信号処理回路における感度設定回路に関す
るものである。
部からの信号を検出する探傷機において欠陥の判定基準
を得るための信号処理回路における感度設定回路に関す
るものである。
探傷機で棒鋼、鋼管などを検査する場合、被検査材を搬
送ライン上を直進させて被検査材の円周表面上を検出器
が回転し、全面走査して探傷する。
送ライン上を直進させて被検査材の円周表面上を検出器
が回転し、全面走査して探傷する。
あるいは被検査材をその場で回転させておき、検５ 出
器が被検査材の長手方向に移動することにより探傷する
場合などがある。この楊合被検査材の円周表面上の走査
ピッチは検出素子の大きさ及び検出したい最小欠陥の長
さに応じて選ばれる、検査能率を上げるために検出素子
を大きくするか、検１０出素子の配列を増し走査ピッチ
を上げることとなる。一般には検出素子を大きくすると
小さい欠陥については感度低下につながり、従つて後者
の方式で検出器中に多数の検出素子が組込まれて用いら
れることとなる。一例として検出素子の大きさ１５が約
３ＷｌＪｎある場合、探傷機をオンライン化し検査能率
を上げるために検出素子３６個が用いられた実績がある
。探傷に際してはこれら多数の検出素子について検出感
度を一様に揃えてから行なう必要がある。通常これらの
感度設定には被検査材の２θ 軸方向に付けられた深さ
や幅を一様にした長い人工キズが用いられ、検出器の位
置に人工キズを置いてその場で検出器を回転させること
により感度設定を行なう。キズ信号は検出器の１回転毎
に１目視われることとなり、これをも各検出素子の検２
５出感度が一様になる様に調整することにより感度設定
がなされる。これらの感度設定には通常電子回路に組込
まれたゲイン調整用可変抵抗器でもつてレコーダやシン
クロスコープなどで出力信号の大きさをみながら所定の
レベルに達するように各３０検出素子について調整され
る。従つて検出素子数が増える程に調整に時間がかかる
ことになる。またこれらの設定を自動的に行なおうとす
る場合でも前述の可変抵抗器をモータ駆動などにより他
にあらかじめ設定された基準電圧と比較しながら設３５
定されたりする場合もあるがモータの応答速度に限度が
あること、慣性により設定精度が不安定であること、モ
ータを可変抵抗器が機械的に直結され、それらの部品の
損傷などにより消耗品扱いとなるなどの欠点がある。こ
の発明はこれらの感度設定を電子回路のみの構成で自動
的に行なおうとするものである。以下この発明を実施例
について説明する。
器が被検査材の長手方向に移動することにより探傷する
場合などがある。この楊合被検査材の円周表面上の走査
ピッチは検出素子の大きさ及び検出したい最小欠陥の長
さに応じて選ばれる、検査能率を上げるために検出素子
を大きくするか、検１０出素子の配列を増し走査ピッチ
を上げることとなる。一般には検出素子を大きくすると
小さい欠陥については感度低下につながり、従つて後者
の方式で検出器中に多数の検出素子が組込まれて用いら
れることとなる。一例として検出素子の大きさ１５が約
３ＷｌＪｎある場合、探傷機をオンライン化し検査能率
を上げるために検出素子３６個が用いられた実績がある
。探傷に際してはこれら多数の検出素子について検出感
度を一様に揃えてから行なう必要がある。通常これらの
感度設定には被検査材の２θ 軸方向に付けられた深さ
や幅を一様にした長い人工キズが用いられ、検出器の位
置に人工キズを置いてその場で検出器を回転させること
により感度設定を行なう。キズ信号は検出器の１回転毎
に１目視われることとなり、これをも各検出素子の検２
５出感度が一様になる様に調整することにより感度設定
がなされる。これらの感度設定には通常電子回路に組込
まれたゲイン調整用可変抵抗器でもつてレコーダやシン
クロスコープなどで出力信号の大きさをみながら所定の
レベルに達するように各３０検出素子について調整され
る。従つて検出素子数が増える程に調整に時間がかかる
ことになる。またこれらの設定を自動的に行なおうとす
る場合でも前述の可変抵抗器をモータ駆動などにより他
にあらかじめ設定された基準電圧と比較しながら設３５
定されたりする場合もあるがモータの応答速度に限度が
あること、慣性により設定精度が不安定であること、モ
ータを可変抵抗器が機械的に直結され、それらの部品の
損傷などにより消耗品扱いとなるなどの欠点がある。こ
の発明はこれらの感度設定を電子回路のみの構成で自動
的に行なおうとするものである。以下この発明を実施例
について説明する。
第１図において１は端子Ａからの入力信号（キズ信号）
について所定のレベルに増幅するための乗算器、２は入
力信号が正、負ある場合に極性を揃えるための絶対値ア
ンプ、３は感度設定値の基準を得るための判定レベル設
定用のコンパレータ、５はデイジタルカウンタで入力の
クロツクパルス（端子Ｃに加えられる）に対してＢＣＤ
の２進数で出力されてデイジタルーアナログ変換器４に
加えられ、階段波を発生させるものである。７はフリツ
プフロツプ回路で端子Ａからの入力信号が端子Ｂにおけ
る出力において所定の感度設定レベルに到達した時に自
動設定をストツプさせたり回路全体をりセツトしたりす
るために用いる。
について所定のレベルに増幅するための乗算器、２は入
力信号が正、負ある場合に極性を揃えるための絶対値ア
ンプ、３は感度設定値の基準を得るための判定レベル設
定用のコンパレータ、５はデイジタルカウンタで入力の
クロツクパルス（端子Ｃに加えられる）に対してＢＣＤ
の２進数で出力されてデイジタルーアナログ変換器４に
加えられ、階段波を発生させるものである。７はフリツ
プフロツプ回路で端子Ａからの入力信号が端子Ｂにおけ
る出力において所定の感度設定レベルに到達した時に自
動設定をストツプさせたり回路全体をりセツトしたりす
るために用いる。
６はカウンタへのクロツクパルスの印加をスタート、ま
たはストツプさせるためのゲート回路で、キズ信号が一
定レベルに到達した時にストツプがかけられる。
たはストツプさせるためのゲート回路で、キズ信号が一
定レベルに到達した時にストツプがかけられる。
第２図は各部の動作波形について示す。第１図における
（ ）付記号で示めされている部分の波形と第２図の記
号とは説明の都合上一致させてある。図においてａは端
子Ｅに加えられるクロツクパルスで検出器が少くとも３
回転以上要する時間の連続繰返し周期で発生しているも
のである。今ゲート回路６が閉じている場合についてみ
ると、このクロツクパルスによりカウンタ５及びデイジ
タルーアナログ変換器４を通じて波形ｂに示めされる階
段波が現われる。この階段波の段数はカウンタ５のビツ
ト数によつて定まり、図の場合は４ビツト１６進カウン
タを用いた例である。また−段当りの電位は変換器４で
セツトされた直流電位によつて定まり、これは自動的に
感度設定を行な Ｊうについての精度に関するものであ
る。今検出器が被検査材（ともに図示されていない）の
円周上を１回転するごとにクロツクパルスが１回発生し
、連続繰返し運転されているものとすると被検査材上の
人工傷による検出器からのキズ信号（出力信 ４号）は
波形Ｃで示され端子Ａより乗算器１の入力信号として加
えられる。乗算器１の信号は波形ｂと波形Ｃによつて定
まる波形ｄとして現われる。波形ｄは絶対値アンプ２に
よつて一方向の出力（両波整流される）にまとめられコ
ンパレータ３へ送られる。コンパレータ３は内部で基準
電圧がセツトされていて入力信号が基準電圧値以上にな
つた時に出力を出す様に組立てられている。波形ｄにお
いて１０番目の出力信号によつてこの基準電圧Ｖをこえ
たものとする。その瞬間に波形ｅなる出力を発生しこれ
にてフリツプフロツプ回路７を通じてゲート６を開き階
段波ｂをその時点でストツプさせ波形ｂ′及び波形ｄ′
がセツトさせる。波形ｂ′のレベルは端子Ｄにりセツト
信号を入れない限りキズ信号の有無に関係なしに保持さ
れる。このレベル値は手動で感度設定を行なう場合など
の可変抵抗器の設定値に相当するものである。階段波の
変わりに鋸波状の電圧を用いて連続した波形を使用する
ことも可能であるが時定数が大きく長時間にわたつて直
線性のすぐれた波形及び所定レベル値にてストツプさせ
た時にその電位を安定して保持させておくことなどに設
計上困難さがあり、階段波を用いることにより簡単にし
て一段と安定したものが得られる。
（ ）付記号で示めされている部分の波形と第２図の記
号とは説明の都合上一致させてある。図においてａは端
子Ｅに加えられるクロツクパルスで検出器が少くとも３
回転以上要する時間の連続繰返し周期で発生しているも
のである。今ゲート回路６が閉じている場合についてみ
ると、このクロツクパルスによりカウンタ５及びデイジ
タルーアナログ変換器４を通じて波形ｂに示めされる階
段波が現われる。この階段波の段数はカウンタ５のビツ
ト数によつて定まり、図の場合は４ビツト１６進カウン
タを用いた例である。また−段当りの電位は変換器４で
セツトされた直流電位によつて定まり、これは自動的に
感度設定を行な Ｊうについての精度に関するものであ
る。今検出器が被検査材（ともに図示されていない）の
円周上を１回転するごとにクロツクパルスが１回発生し
、連続繰返し運転されているものとすると被検査材上の
人工傷による検出器からのキズ信号（出力信 ４号）は
波形Ｃで示され端子Ａより乗算器１の入力信号として加
えられる。乗算器１の信号は波形ｂと波形Ｃによつて定
まる波形ｄとして現われる。波形ｄは絶対値アンプ２に
よつて一方向の出力（両波整流される）にまとめられコ
ンパレータ３へ送られる。コンパレータ３は内部で基準
電圧がセツトされていて入力信号が基準電圧値以上にな
つた時に出力を出す様に組立てられている。波形ｄにお
いて１０番目の出力信号によつてこの基準電圧Ｖをこえ
たものとする。その瞬間に波形ｅなる出力を発生しこれ
にてフリツプフロツプ回路７を通じてゲート６を開き階
段波ｂをその時点でストツプさせ波形ｂ′及び波形ｄ′
がセツトさせる。波形ｂ′のレベルは端子Ｄにりセツト
信号を入れない限りキズ信号の有無に関係なしに保持さ
れる。このレベル値は手動で感度設定を行なう場合など
の可変抵抗器の設定値に相当するものである。階段波の
変わりに鋸波状の電圧を用いて連続した波形を使用する
ことも可能であるが時定数が大きく長時間にわたつて直
線性のすぐれた波形及び所定レベル値にてストツプさせ
た時にその電位を安定して保持させておくことなどに設
計上困難さがあり、階段波を用いることにより簡単にし
て一段と安定したものが得られる。
ただしこの発明はこれら両波形電圧を含む電圧を発生さ
せる発生回路を構成条件としており、特許請求の範囲の
記載からして波形の選択は自由である。検出器の出力信
号に増幅電圧を入力させる乗算回路、さらに乗算回路か
らの出力が基準設定値に到達したか否かを比較し到達し
たとき信号を発する比較回路の構成も図面に限定される
ものではない。図示例の場合比較回路の中にフリツプフ
ロツプ回路７が技術的に含まれている。この発明は以上
詳述したとおりであるから検出器の感度設定が自動的に
行なわれ従来の手動の場合のような繁雑さは勿論自動式
の場合における問題も完全に解消された。
せる発生回路を構成条件としており、特許請求の範囲の
記載からして波形の選択は自由である。検出器の出力信
号に増幅電圧を入力させる乗算回路、さらに乗算回路か
らの出力が基準設定値に到達したか否かを比較し到達し
たとき信号を発する比較回路の構成も図面に限定される
ものではない。図示例の場合比較回路の中にフリツプフ
ロツプ回路７が技術的に含まれている。この発明は以上
詳述したとおりであるから検出器の感度設定が自動的に
行なわれ従来の手動の場合のような繁雑さは勿論自動式
の場合における問題も完全に解消された。
図面第１図はこの発明実施例装置の構成を示めすプロツ
ク図、第２図は第１図装置の各部の動作を説明するため
の信号波形図である。 １・・・・・・乗算器、２・・・・・・絶対値増幅器、
３・・・・・・コンパレータ、５・・・・・・デイジタ
ルカウンタ、６・・・・・・ゲート回路、７・・・・・
・フリツプフロツプ回路、Ａ〜Ｅ・・・・・・端子、ａ
−ｄ・・・・・・信号。
ク図、第２図は第１図装置の各部の動作を説明するため
の信号波形図である。 １・・・・・・乗算器、２・・・・・・絶対値増幅器、
３・・・・・・コンパレータ、５・・・・・・デイジタ
ルカウンタ、６・・・・・・ゲート回路、７・・・・・
・フリツプフロツプ回路、Ａ〜Ｅ・・・・・・端子、ａ
−ｄ・・・・・・信号。
Claims (1)
- １ 人工傷を検出器にて連続繰返して探傷させその出力
信号により検出器の感度設定を行なう装置において、出
力信号に増幅電圧を乗算して増幅出力させる乗算回路と
、この乗算回路からの出力が所定の値に達したとき信号
を発する比較回路と、検出器からの出力信号の繰返し周
期に関連して順次一定量増大される形の階段波あるいは
鋸波状電圧を発生させ、これを増幅電圧として前記乗算
回路に入力させる増幅電圧発生回路とを備え有し、比較
回路からの信号が増幅電圧発生回路に入力された時、こ
の発生回路からの出力電圧の増大がストップされ、その
時点での電圧値が増幅電圧として常時乗算回路に入力さ
れ検出器の感度設定が自動的に行なわれるようにされて
いることを特徴とする探傷機における検出器の感度設定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50128480A JPS599854B2 (ja) | 1975-10-24 | 1975-10-24 | タンシヨウキニオケル ケンシユツキ ノ カンドセツテイソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50128480A JPS599854B2 (ja) | 1975-10-24 | 1975-10-24 | タンシヨウキニオケル ケンシユツキ ノ カンドセツテイソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5252688A JPS5252688A (en) | 1977-04-27 |
| JPS599854B2 true JPS599854B2 (ja) | 1984-03-05 |
Family
ID=14985769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50128480A Expired JPS599854B2 (ja) | 1975-10-24 | 1975-10-24 | タンシヨウキニオケル ケンシユツキ ノ カンドセツテイソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS599854B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0189181U (ja) * | 1987-12-02 | 1989-06-13 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2756244A1 (de) * | 1977-12-16 | 1979-06-21 | Graenges Oxeloesunds Jaernverk | Verfahren und vorrichtung zum ueberpruefen der funktionsfaehigkeit und zum einstellen und eichen einer pruefvorrichtung zum zerstoerungsfreien elektrischen oder magnetischen pruefen von metallenen rohlingen |
-
1975
- 1975-10-24 JP JP50128480A patent/JPS599854B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0189181U (ja) * | 1987-12-02 | 1989-06-13 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5252688A (en) | 1977-04-27 |
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