JPS5999340A - 降温試験方法および装置 - Google Patents
降温試験方法および装置Info
- Publication number
- JPS5999340A JPS5999340A JP21163282A JP21163282A JPS5999340A JP S5999340 A JPS5999340 A JP S5999340A JP 21163282 A JP21163282 A JP 21163282A JP 21163282 A JP21163282 A JP 21163282A JP S5999340 A JPS5999340 A JP S5999340A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- heating means
- control
- refrigerant
- heating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/02—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating changes of state or changes of phase; by investigating sintering
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は新規な降温試験方法及びそのための装置に関す
るものである。
るものである。
従来等速昇温試験を行なって試料の溶融点、溶解点や、
各温度における流れ値を測定することは広く行われてい
るが、昇温における特性だけでなく降温することによっ
て得られるデータとの比較によってより深く試料の温度
特性を知ることができる。しかしながら、等速昇湿制御
は比較的容易に行なうことができるが、等速降温制御は
単なる冷却手段のみをもってしてはきわめて困難である
。すなわち例えば冷媒循環路を有する冷却手段で試料を
冷却して降温せしめる場合には、冷却開始初期には温度
は急速に降下するが、次第に降温速度がゆるやかになら
ざるを得ない。このような降温特性を有するものを等速
降温特性を得るように冷却手段を制御することはきわめ
て困難である。本発明は冷却手段だけでなく同時に制御
容易な加熱手段を併用することにより低速降温その他の
所望の降温特′１ツ二を得ることを可能にしたものであ
る。
各温度における流れ値を測定することは広く行われてい
るが、昇温における特性だけでなく降温することによっ
て得られるデータとの比較によってより深く試料の温度
特性を知ることができる。しかしながら、等速昇湿制御
は比較的容易に行なうことができるが、等速降温制御は
単なる冷却手段のみをもってしてはきわめて困難である
。すなわち例えば冷媒循環路を有する冷却手段で試料を
冷却して降温せしめる場合には、冷却開始初期には温度
は急速に降下するが、次第に降温速度がゆるやかになら
ざるを得ない。このような降温特性を有するものを等速
降温特性を得るように冷却手段を制御することはきわめ
て困難である。本発明は冷却手段だけでなく同時に制御
容易な加熱手段を併用することにより低速降温その他の
所望の降温特′１ツ二を得ることを可能にしたものであ
る。
したがって本発明の降温試験方法は被試験材料を冷媒循
環路を有する冷却手段で冷却して降温せしめるに際し、
制御可能な加熱手段を併用し、前記加熱手段の加熱制御
によって所望の降温特性を得ることを特徴とする降温試
験方法を生５長とする。所望の降温特性としては特に等
速降ｌ、１１特性が典型的なものである。そして上記の
降温試験方法を実施するだめの装置として一定設定条件
で運転される冷媒循環路を有する冷却手段と、制御可能
な加熱手段と、所望の湿度変化速度をイＩＩるように前
記加熱手段を制御する手段を具えたことを特長とする降
１１１１試験装置が与えられる。なねこの降温試験装置
は特定の条件下において低湿からの昇温試験にも利用で
きるものである。
環路を有する冷却手段で冷却して降温せしめるに際し、
制御可能な加熱手段を併用し、前記加熱手段の加熱制御
によって所望の降温特性を得ることを特徴とする降温試
験方法を生５長とする。所望の降温特性としては特に等
速降ｌ、１１特性が典型的なものである。そして上記の
降温試験方法を実施するだめの装置として一定設定条件
で運転される冷媒循環路を有する冷却手段と、制御可能
な加熱手段と、所望の湿度変化速度をイＩＩるように前
記加熱手段を制御する手段を具えたことを特長とする降
１１１１試験装置が与えられる。なねこの降温試験装置
は特定の条件下において低湿からの昇温試験にも利用で
きるものである。
本発明は常温で流動性のある液体を冷却するに従って流
動性が少なくなり、ついには凝固点に達するような液体
試料をフローテスタを用いて降温試験を行なうような場
合に特に有益な情報が得られる。また常温近くての湿度
変化による試料の特性あるいは０°Ｃ近くの低湿からの
昇温試験等にも有用性を見出すものである。
動性が少なくなり、ついには凝固点に達するような液体
試料をフローテスタを用いて降温試験を行なうような場
合に特に有益な情報が得られる。また常温近くての湿度
変化による試料の特性あるいは０°Ｃ近くの低湿からの
昇温試験等にも有用性を見出すものである。
以下本発明の降温試験方法を概略的に説明する。
ある温度の試料を一定ｄ１□（度（例えば−１０°Ｃ〜
−２０°Ｃ）に保たれている冷媒（例えばエチレングリ
コールと水を混合した不凍液）の循環路を有する冷却装
置を用いて冷却せしめると、試料は最初急速に降温する
が次第に降温速度はゆるやかになる。この状態は第１図
のグラフにおいて冷媒による温度降下曲線として示す通
りである。本発明ではこのような冷媒循環路を有する冷
却手段の他に制御可能な加熱手段を利用して等速降温速
度を得ようとするものである。加熱手段による温度制御
は冷却手段による温度制御よりもはるかに容易である。
−２０°Ｃ）に保たれている冷媒（例えばエチレングリ
コールと水を混合した不凍液）の循環路を有する冷却装
置を用いて冷却せしめると、試料は最初急速に降温する
が次第に降温速度はゆるやかになる。この状態は第１図
のグラフにおいて冷媒による温度降下曲線として示す通
りである。本発明ではこのような冷媒循環路を有する冷
却手段の他に制御可能な加熱手段を利用して等速降温速
度を得ようとするものである。加熱手段による温度制御
は冷却手段による温度制御よりもはるかに容易である。
したがって加熱手段の加熱制御を冷媒による冷却と平行
して行なうことにより試料の湿度降下ｑヲ性を直線的な
もの、すなわち定速降温特性にすることが可能となるも
のである。加熱手段（ヒータ）の湿度特性（制御曲線）
、理想的温度特性（目標温度特性）が第１図に併せて図
示されている。更に詳細に説明すると、冷媒循環路を有
する冷却手段と制御可能な加熱手段を併備した温度制御
装置を用いて、まず試料を一定温度から冷媒による冷却
手段のみを用いて冷却を行ない、その際の温度降下曲線
を求め、これをコンピュータに記憶させる。そしてこの
温度降下特性が所望の低速降温特性に変化させるに必要
な制御特性を得るための演算を行ない、再度同一初期設
定温度から同一条件で冷媒による冷却を実施すると共に
、加熱手段の加熱制御を予め演算して得られたデータに
基いて行なうことにより第１図で理想的温度特性として
示す等速降温特性が得られるものである。この場合に加
熱手段の加熱制御特性にきわめて大きな変動がある場合
には、冷却手段の冷媒の流量制御をある程度補助的に行
なうことによって、より容易に等速降温特性を得ること
ができる。
して行なうことにより試料の湿度降下ｑヲ性を直線的な
もの、すなわち定速降温特性にすることが可能となるも
のである。加熱手段（ヒータ）の湿度特性（制御曲線）
、理想的温度特性（目標温度特性）が第１図に併せて図
示されている。更に詳細に説明すると、冷媒循環路を有
する冷却手段と制御可能な加熱手段を併備した温度制御
装置を用いて、まず試料を一定温度から冷媒による冷却
手段のみを用いて冷却を行ない、その際の温度降下曲線
を求め、これをコンピュータに記憶させる。そしてこの
温度降下特性が所望の低速降温特性に変化させるに必要
な制御特性を得るための演算を行ない、再度同一初期設
定温度から同一条件で冷媒による冷却を実施すると共に
、加熱手段の加熱制御を予め演算して得られたデータに
基いて行なうことにより第１図で理想的温度特性として
示す等速降温特性が得られるものである。この場合に加
熱手段の加熱制御特性にきわめて大きな変動がある場合
には、冷却手段の冷媒の流量制御をある程度補助的に行
なうことによって、より容易に等速降温特性を得ること
ができる。
本発明の降温試験方法は特に定速降温特性を得るのに適
した方法であるが、必ずしも低速降温特性だけでなく、
それ以外の所望の降温特性を得るのにも利用できる。
した方法であるが、必ずしも低速降温特性だけでなく、
それ以外の所望の降温特性を得るのにも利用できる。
次に上記の本発明の降温試験方法を実施するに適した装
置の態様を第２図を参照して説明する。第２図はフロー
テスタにおいて本発明の降温試験装置を具えた実施例を
示すもので、温度制御セル（１）内に流動性の試料を収
容するシリンダ（２）が収容され、その流動性の試験を
行なうようになっているものである。温度制御セル（１
）には冷媒通路（３）とヒータ（４）が併備される。冷
媒通路（３）は冷媒溜（５）に一方向循環路（６）によ
って接続されている。冷媒は冷媒溜（５）において低温
に保持され、定吐出量型ポンプ（７）により定流ｔｌｉ
：で循環路を循環するように送られる。循環路（６）中
にはコントロールバルブ（８）が設けられ、冷媒の温度
制御セルへの流量をある程度変化できるようになってお
り、温度制御セル（１）に送られない吐出量はバイパス
回路（９）を介して冷媒溜に還流せしめられるようにな
っている。（１０）は逆止め弁である。湿度制御セル（
１）には温度検出器（１１）が設けられ、この湿度検出
器によって検出された温度が計測制御装置０２）に与え
られ、これによってヒータ（４）のＯＮ −ＯＦＦ制御
を行なうことができるようになっている。またこの計測
制御装置はコントロールバルブ（８）を制御して温度セ
ル（１）に流れる冷媒の流量をも制御することができる
ようになっている。コントロールバルブ（８）ヲ有する
冷媒循環路（６）の代わりに可変吐出型ポンプを使用し
てその吐出量を計測制御装置（（２）によって制御して
もよい。上記の装置を使用して冷媒使用による湿度降下
特性が直線的でないのにかかわらず・ヒータの加熱制御
を行なうことにより定速降温特性が得られることはすで
に述べた通りである。
置の態様を第２図を参照して説明する。第２図はフロー
テスタにおいて本発明の降温試験装置を具えた実施例を
示すもので、温度制御セル（１）内に流動性の試料を収
容するシリンダ（２）が収容され、その流動性の試験を
行なうようになっているものである。温度制御セル（１
）には冷媒通路（３）とヒータ（４）が併備される。冷
媒通路（３）は冷媒溜（５）に一方向循環路（６）によ
って接続されている。冷媒は冷媒溜（５）において低温
に保持され、定吐出量型ポンプ（７）により定流ｔｌｉ
：で循環路を循環するように送られる。循環路（６）中
にはコントロールバルブ（８）が設けられ、冷媒の温度
制御セルへの流量をある程度変化できるようになってお
り、温度制御セル（１）に送られない吐出量はバイパス
回路（９）を介して冷媒溜に還流せしめられるようにな
っている。（１０）は逆止め弁である。湿度制御セル（
１）には温度検出器（１１）が設けられ、この湿度検出
器によって検出された温度が計測制御装置０２）に与え
られ、これによってヒータ（４）のＯＮ −ＯＦＦ制御
を行なうことができるようになっている。またこの計測
制御装置はコントロールバルブ（８）を制御して温度セ
ル（１）に流れる冷媒の流量をも制御することができる
ようになっている。コントロールバルブ（８）ヲ有する
冷媒循環路（６）の代わりに可変吐出型ポンプを使用し
てその吐出量を計測制御装置（（２）によって制御して
もよい。上記の装置を使用して冷媒使用による湿度降下
特性が直線的でないのにかかわらず・ヒータの加熱制御
を行なうことにより定速降温特性が得られることはすで
に述べた通りである。
上述の定速降温特性その他の所望の降温特性を得ること
ができる他、本発明の装置は次のような場合にもきわめ
て有利に利用できる。
ができる他、本発明の装置は次のような場合にもきわめ
て有利に利用できる。
すなわち従来ｏ ’ｃ ＋Ｊ近でフローテストにょる試
験を行なう場合、室温のｈ’ｃ” 響を受けるため温度
セル（１）の温度を一定に保つのはきわめて困難である
が、冷媒溜（５）から供給される冷媒の流１ｉをコント
ロールバルブ（８）によって一定にしておき、温度検出
器（１１）によって検出した温度が所定の設定温度にな
るように計測制御装置（ロ）によっテヒータ（４）を制
御することにより温度セル（１）全室温の影響を受ける
ことなく一定に保つことができる。
験を行なう場合、室温のｈ’ｃ” 響を受けるため温度
セル（１）の温度を一定に保つのはきわめて困難である
が、冷媒溜（５）から供給される冷媒の流１ｉをコント
ロールバルブ（８）によって一定にしておき、温度検出
器（１１）によって検出した温度が所定の設定温度にな
るように計測制御装置（ロ）によっテヒータ（４）を制
御することにより温度セル（１）全室温の影響を受ける
ことなく一定に保つことができる。
シリンダ（２）における試験温度如何によって温度セル
（１）へ供給する冷媒の流量を変化させることができる
。
（１）へ供給する冷媒の流量を変化させることができる
。
０ ’Ｃ付近の試験の場合だけでなく、常温（室温）付
近での試験を実施するのにも本発明はイｊ利である。す
なわち試験温度と周Ｕ温度の差が少なくても（通常試験
温度と周囲温度との差が２０°Ｃ以上でないと所望通り
制御することが困難である）、本発明では冷媒による冷
却手段を併用しているので所望通り正確に温度制御を行
なうことができる。
近での試験を実施するのにも本発明はイｊ利である。す
なわち試験温度と周Ｕ温度の差が少なくても（通常試験
温度と周囲温度との差が２０°Ｃ以上でないと所望通り
制御することが困難である）、本発明では冷媒による冷
却手段を併用しているので所望通り正確に温度制御を行
なうことができる。
更に上述の装置は、例えば０°Ｃ近辺からの等速昇濡試
験にも使用可能である。
験にも使用可能である。
等速昇ｎ１１）試験においては予熱時間中では温度セル
（］）内のシリンダ（２）の温度を昇温開始湿度に一定
に保ぢ、予熱時間終了直前に温度セル（１）への冷媒の
供給を止める。予熱時間が終了するとヒータ（４）によ
って温度セル（１）の温度が所定の速度で」二昇する。
（］）内のシリンダ（２）の温度を昇温開始湿度に一定
に保ぢ、予熱時間終了直前に温度セル（１）への冷媒の
供給を止める。予熱時間が終了するとヒータ（４）によ
って温度セル（１）の温度が所定の速度で」二昇する。
試験終了後、元の温度に戻すにはコントロールバルブ（
８）を全開し、温度セル（］、）の湿度を降下させ昇温
開始湿度へ復帰したならば、その温度を保持するように
コントロールバルブ（８）によって温度セル（１）に流
れる冷媒の流量を制御して次の試験に備えるものである
。
８）を全開し、温度セル（］、）の湿度を降下させ昇温
開始湿度へ復帰したならば、その温度を保持するように
コントロールバルブ（８）によって温度セル（１）に流
れる冷媒の流量を制御して次の試験に備えるものである
。
第１図は本発明の方法による降温試験方法を実施した場
合の温度特性を示すグラ、フ、第２図は本発明の実施例
装置の態様を示すブロック線図１ （１）・・・・・・・・・・・・・・・温度制御セル（
２）・・・・・−・・・・・・・・試料シリンダ（３ン
・・・・・・・・・・・・・・・冷媒通路（４） ・・
・・・・・・・・・・・・・ヒータ（５）・・・・・・
・・・・・・・・・冷媒溜（６）・・・・・・・・・・
・・・・・冷媒循環路（７）・・・・・・・・・・・・
・・・冷媒吐出ポンプ（８）−・・・曲−冊コンゝトロ
ールバルブ（９）・・・・・・・・・・・・・・・バイ
パス回路０１ン・・・・・・・・・・・・・・・温度検
出器（（２）・・・・・・・・・・・・・・・計測制御
装置特許出願人 株式会礼島津製作所 代 理 人 新 実 健 部外１名
合の温度特性を示すグラ、フ、第２図は本発明の実施例
装置の態様を示すブロック線図１ （１）・・・・・・・・・・・・・・・温度制御セル（
２）・・・・・−・・・・・・・・試料シリンダ（３ン
・・・・・・・・・・・・・・・冷媒通路（４） ・・
・・・・・・・・・・・・・ヒータ（５）・・・・・・
・・・・・・・・・冷媒溜（６）・・・・・・・・・・
・・・・・冷媒循環路（７）・・・・・・・・・・・・
・・・冷媒吐出ポンプ（８）−・・・曲−冊コンゝトロ
ールバルブ（９）・・・・・・・・・・・・・・・バイ
パス回路０１ン・・・・・・・・・・・・・・・温度検
出器（（２）・・・・・・・・・・・・・・・計測制御
装置特許出願人 株式会礼島津製作所 代 理 人 新 実 健 部外１名
Claims (3)
- （１）被試験材料を冷媒循環路を有する冷却手段で冷却
して降温せしめるに際し、制御可能な加熱手段を併用し
、前記加熱手段の加熱制御によって所望の降温特性を得
ることを特徴とする降温試験方法。 - （２）前記所望の降温特性が等速降温特性であることを
特徴とする特許請求の範囲第（１）項に記載の降温試験
方法。 - （３）一定設定条件で運転される冷媒循環路を有する冷
却手段と、制御可能な加熱手段と、所望の７１１ｉｌｉ
度変化特性を得るよう前記加熱手段を制御する手段を具
えたことを特徴とする昇降温試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21163282A JPS5999340A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 降温試験方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21163282A JPS5999340A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 降温試験方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5999340A true JPS5999340A (ja) | 1984-06-08 |
Family
ID=16608986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21163282A Pending JPS5999340A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 降温試験方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5999340A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6135856A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-20 | Yamato Scient Co Ltd | 恒温装置の温度制御方法 |
| JPS6242041A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-24 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 熱分析用温度制御装置 |
| JPH0197244U (ja) * | 1987-12-22 | 1989-06-28 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS456157Y1 (ja) * | 1965-12-27 | 1970-03-26 |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP21163282A patent/JPS5999340A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS456157Y1 (ja) * | 1965-12-27 | 1970-03-26 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6135856A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-20 | Yamato Scient Co Ltd | 恒温装置の温度制御方法 |
| JPS6242041A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-24 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 熱分析用温度制御装置 |
| JPH0197244U (ja) * | 1987-12-22 | 1989-06-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4784213A (en) | Mixing valve air source | |
| US9752814B2 (en) | Cooling apparatus used for cryonic preservation, and corresponding operating method | |
| WO2006072598A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum testen von halbleiterwafern mittels einer temperierbaren aufspanneinrichtung | |
| JPH0361843A (ja) | ガスの熱伝導率測定方法およびその装置 | |
| JPS5999340A (ja) | 降温試験方法および装置 | |
| US4428684A (en) | Apparatus for measuring melting point and boiling point of gas | |
| JP2023133387A (ja) | 液循環式試験装置及び液循環式試験方法 | |
| Pegg et al. | Cooling equipment for use in cryopreservation | |
| US4508460A (en) | Process and apparatus for continuous measurement of the pour point of oil | |
| Michielsen et al. | Small-angle X-ray scattering from supercooled water | |
| JPS58214847A (ja) | 温度制御装置 | |
| US7589520B2 (en) | Soak profiling | |
| US10101416B2 (en) | Method and device for controlling the temperature of a flow of fluid intended to be used by an NMR analysis probe, and corresponding NMR analysis system | |
| US2883857A (en) | Apparatus for measuring oxygen content | |
| SU436334A1 (ru) | Терморегулируемое криостатиое устройство | |
| Shewchun et al. | A computer controlled automatic system for measuring the conductivity and Hall effect in semiconducting samples | |
| JP2998557B2 (ja) | 恒温槽の常温コントロール装置 | |
| US20240068930A1 (en) | Snow environment test apparatus and snow environment test method | |
| JP2520558Y2 (ja) | 低温ハンドラ | |
| JP2003240743A (ja) | 吸着材の吸着エネルギー測定装置 | |
| Stevens et al. | A thermocouple psychrometer with rapid automatic scanning and digital printout of 100 channels | |
| US3381490A (en) | Constant temperature system | |
| Läuger et al. | TruGapTM: A new device for controlling the true gap size in real time during rheological testing. | |
| JPH0748062B2 (ja) | 熱衝撃試験器の予熱・予冷温度自動設定装置 | |
| JPH0512626B2 (ja) |