JPS60102532A - 温度検知方法 - Google Patents
温度検知方法Info
- Publication number
- JPS60102532A JPS60102532A JP58210574A JP21057483A JPS60102532A JP S60102532 A JPS60102532 A JP S60102532A JP 58210574 A JP58210574 A JP 58210574A JP 21057483 A JP21057483 A JP 21057483A JP S60102532 A JPS60102532 A JP S60102532A
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- JP
- Japan
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- circuit
- temperature
- chopper
- output
- offset
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- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 101150079361 fet5 gene Proteins 0.000 abstract 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000010415 tidying Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0803—Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
- G01J5/0805—Means for chopping radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明ば焦電素子を用いた非接触の温度検出方法に関し
、更に詳述すれば検出装置の回路構成を簡略化できる温
度検出方法を提供するものである。
、更に詳述すれば検出装置の回路構成を簡略化できる温
度検出方法を提供するものである。
第1図は電子レンジ等に用いられているこの種の温度検
出装置の構成を示す模式図である。調理対象食品等の温
度測定対象Aはその表面温度に応じた赤外線を発するが
これを上方に配設した焦電素子よりなる赤外線センサ1
にて検出すべくなしである。赤外線センサ1の直下には
赤外線を断続するチョッパ2が配設しである。チョッパ
2は赤外線を透過する部分と遮断する部分とを交互的に
配した円i2aを図示しないモータにて回転させ、温度
測定対象Aが発する赤外線を赤外線センサ1に断続して
到達せしめるようにしである。換言すれば赤外線センサ
1は温度測定対象Aとチョッパ20円盤2aとからの赤
外線を交互に受けることになる。この信号は増幅器3に
与えられてここで増幅され、次に演算増幅器(以下オペ
アンプという)4aを用いてなるバイパスフィルタ回路
4に与えられる。デジソバ2の円盤2aの回転域にはフ
ォトインクラブタ2bを設けてあり、チョッパ2の赤外
線断続周期に同期した信号を得るようにしてあり、これ
をバイパスフィルタ回路4の出力端子に接続したFET
5に与え、フィルタ回路出力を同期整流するようにな
しである。このようにして同期整流された信号ばオペア
ンプ6aを用いてなる積分回路6に与えられ、ここで積
分された信号はゲイン闘整回路7にてゲイン調整をされ
て増幅器8へ与えられるようにしである。ゲイン調整回
路7出力は温度測定回路八と円盤2aの赤外線遮断部と
の温度差相当の信号となっている。
出装置の構成を示す模式図である。調理対象食品等の温
度測定対象Aはその表面温度に応じた赤外線を発するが
これを上方に配設した焦電素子よりなる赤外線センサ1
にて検出すべくなしである。赤外線センサ1の直下には
赤外線を断続するチョッパ2が配設しである。チョッパ
2は赤外線を透過する部分と遮断する部分とを交互的に
配した円i2aを図示しないモータにて回転させ、温度
測定対象Aが発する赤外線を赤外線センサ1に断続して
到達せしめるようにしである。換言すれば赤外線センサ
1は温度測定対象Aとチョッパ20円盤2aとからの赤
外線を交互に受けることになる。この信号は増幅器3に
与えられてここで増幅され、次に演算増幅器(以下オペ
アンプという)4aを用いてなるバイパスフィルタ回路
4に与えられる。デジソバ2の円盤2aの回転域にはフ
ォトインクラブタ2bを設けてあり、チョッパ2の赤外
線断続周期に同期した信号を得るようにしてあり、これ
をバイパスフィルタ回路4の出力端子に接続したFET
5に与え、フィルタ回路出力を同期整流するようにな
しである。このようにして同期整流された信号ばオペア
ンプ6aを用いてなる積分回路6に与えられ、ここで積
分された信号はゲイン闘整回路7にてゲイン調整をされ
て増幅器8へ与えられるようにしである。ゲイン調整回
路7出力は温度測定回路八と円盤2aの赤外線遮断部と
の温度差相当の信号となっている。
ダイオード9はチョッパ2の円!It2 aの赤外線遮
断部の温度を測定するためのものであり、赤外線センサ
1及びチョッパ2等を収納した筐体内に設置される。こ
のダイオード9出力は差動増幅器1゜の一端子に入力さ
れ、またその子端子には可変抵抗器、固定抵抗器からな
る分圧回路11の出力が与えられCいる。そして差動増
幅器10出力は更に増幅されて適宜レベルになされる。
断部の温度を測定するためのものであり、赤外線センサ
1及びチョッパ2等を収納した筐体内に設置される。こ
のダイオード9出力は差動増幅器1゜の一端子に入力さ
れ、またその子端子には可変抵抗器、固定抵抗器からな
る分圧回路11の出力が与えられCいる。そして差動増
幅器10出力は更に増幅されて適宜レベルになされる。
このようなチョッパ温度測定回路12の出力はゲイン調
整回路7出力と共に増幅器8へ与えられる。なお分圧回
路11はチョッパ温度測定回路12出力の調整を行うた
めのものである。
整回路7出力と共に増幅器8へ与えられる。なお分圧回
路11はチョッパ温度測定回路12出力の調整を行うた
めのものである。
ごれによっ゛ζ増幅器8出力にばチョッパ2の円i2a
の赤外線遮断91(の温度と、この温度と温度測定対象
Aの表面温度との差との和に相当する信号、つまり温度
測定対象Aの表面温度相当の信号が得られることになる
。
の赤外線遮断91(の温度と、この温度と温度測定対象
Aの表面温度との差との和に相当する信号、つまり温度
測定対象Aの表面温度相当の信号が得られることになる
。
さて、このような従来の装置にあってはオペアンプ4a
、 6aのオフセント調整が不可欠であり、夫々に内蔵
されているオフセント補償回路に接続された外イ1り可
変抵抗の調節によりオフセント調整を行うようにしてい
た。このような調整を行っておかない場合は入力電圧が
0であっても出力電圧が0とはならず測定誤差を生じる
からである。
、 6aのオフセント調整が不可欠であり、夫々に内蔵
されているオフセント補償回路に接続された外イ1り可
変抵抗の調節によりオフセント調整を行うようにしてい
た。このような調整を行っておかない場合は入力電圧が
0であっても出力電圧が0とはならず測定誤差を生じる
からである。
本発明はこのようなオペアンプの外付抵抗によるオフセ
ント調整を不要とし、回路構成を簡単になし得る温度検
知方法を提供することを目的とする。
ント調整を不要とし、回路構成を簡単になし得る温度検
知方法を提供することを目的とする。
本発明に係る温度、検知方法は物体が放射する赤外線を
チョッパにて断続して赤外線センサに入射し、赤外線セ
ンサ出力を演算増幅器に与えて前記物体とチョッパとの
温度差を測定し、またチョッパの温度を測定して前記物
体の温度をめる温度検知方法において、前記チョッパの
温度測定回路に回路定数可変の回路を設けておき、前記
回路定数の調節により前記演算増幅器のオフセラ)II
整をすることを特徴とする。
チョッパにて断続して赤外線センサに入射し、赤外線セ
ンサ出力を演算増幅器に与えて前記物体とチョッパとの
温度差を測定し、またチョッパの温度を測定して前記物
体の温度をめる温度検知方法において、前記チョッパの
温度測定回路に回路定数可変の回路を設けておき、前記
回路定数の調節により前記演算増幅器のオフセラ)II
整をすることを特徴とする。
以下本発明を図面に基づき具体的に説明する。
第2図はオペアンプのオフセントによる測定誤差を説明
するためのものである。第2図(イ)に破線で示すよう
にオフセット電圧VOが調整されていないものとすると
フィルタ回路4出力■4はこのオフセラ1−電圧を中心
に変化するのでFET 5のオンオフの反復(矩形波で
示す)によってフィルタ回路出力V4が積分回路6へ与
えられる期間はA周期より長くなり、第2図(ロ)にハ
ンチングを付して示す分だけ余分に積分されることとな
り、積分の結果は第2図(ハ)に実線で示すように、オ
フセラ1−(II整をした場合に得られる正しい結果(
2点鎖線)よりも大きな値となる。
するためのものである。第2図(イ)に破線で示すよう
にオフセット電圧VOが調整されていないものとすると
フィルタ回路4出力■4はこのオフセラ1−電圧を中心
に変化するのでFET 5のオンオフの反復(矩形波で
示す)によってフィルタ回路出力V4が積分回路6へ与
えられる期間はA周期より長くなり、第2図(ロ)にハ
ンチングを付して示す分だけ余分に積分されることとな
り、積分の結果は第2図(ハ)に実線で示すように、オ
フセラ1−(II整をした場合に得られる正しい結果(
2点鎖線)よりも大きな値となる。
さてこのオフセット電圧による出力誤差は入力信号の大
小とは無関係に一定であるので、温度測定対象への温度
が変化しても、赤外線放射エネルギーはその絶対温度の
4乗に比例するというT4特性は一定の大きさでシフト
されたようなものとなると考えられる。第3図は絶対温
度Tと積分回路6出力■6との関係を示すグラフであり
、オフセラl−による誤差がない場合のT Vcの関係
は2点鎖線で、また誤差がある場合は実線で示しである
。そして両者の差αは一定となっている。従ってこの差
αはオペアンプ4a、 6aのオフセント調整によらず
とも積分回路出力■6を入力とするゲイン調整回路7出
力に加えられるチョッパ温度測定回路12の出力の温度
補償回路の調整で補正することが可能である。これを図
面に基づいて説明すると以下のようになる。
小とは無関係に一定であるので、温度測定対象への温度
が変化しても、赤外線放射エネルギーはその絶対温度の
4乗に比例するというT4特性は一定の大きさでシフト
されたようなものとなると考えられる。第3図は絶対温
度Tと積分回路6出力■6との関係を示すグラフであり
、オフセラl−による誤差がない場合のT Vcの関係
は2点鎖線で、また誤差がある場合は実線で示しである
。そして両者の差αは一定となっている。従ってこの差
αはオペアンプ4a、 6aのオフセント調整によらず
とも積分回路出力■6を入力とするゲイン調整回路7出
力に加えられるチョッパ温度測定回路12の出力の温度
補償回路の調整で補正することが可能である。これを図
面に基づいて説明すると以下のようになる。
第4図はオペアンプ4a、 6aのオフセット電圧が0
であり、チョッパ温度が正しく測定された場合について
の絶対温度(横軸)と電圧(縦軸)との関係を示してあ
り、第4図(イ)はフィルタ回路出力V4をFET 5
で同期整流した電圧■5の特性を示しており、温度測定
対象Aが室温Tc (−チョッパ2の温度)である場合
にV5が0となる。
であり、チョッパ温度が正しく測定された場合について
の絶対温度(横軸)と電圧(縦軸)との関係を示してあ
り、第4図(イ)はフィルタ回路出力V4をFET 5
で同期整流した電圧■5の特性を示しており、温度測定
対象Aが室温Tc (−チョッパ2の温度)である場合
にV5が0となる。
第4図(ロ)はチョッパ温度測定回路12の出力V2の
特性を示しており、室温TcのときにVcとなる。第4
図(ハ)はこの両者を加算した電圧V ADDを示して
いる。(実際には電圧■、が積分され、ゲイン調整され
てV12と加算される)。
特性を示しており、室温TcのときにVcとなる。第4
図(ハ)はこの両者を加算した電圧V ADDを示して
いる。(実際には電圧■、が積分され、ゲイン調整され
てV12と加算される)。
第5図はオフセット電圧が0でない場合の絶対温度と電
圧との関係を示している。第5図(イ)に示す電圧V5
の特性は第3図に示したものと同様であり、室温Tcの
場合にV5=0となる正しい特性(2点鎖線)から実線
のようにαだけ上方にシフトする。第5図(ロ)はチョ
ッパ温度測定回路出力V12の特性を示すが、本発明に
おいては室温′rcのときにV12=Vcとするオフセ
ント電圧=0の場合の特性(2点鎖線)から、上記した
αの上方へのシフI・を補償すべくαだけ下方へシフト
シた実線で示す出力特性を得るよう分圧回路11にて調
整する。これによりV 5 + V 12を加算した特
性は第5図(ハ)に示したように、第4図(ハ)に示し
たのと同様の特性を得ることができる。
圧との関係を示している。第5図(イ)に示す電圧V5
の特性は第3図に示したものと同様であり、室温Tcの
場合にV5=0となる正しい特性(2点鎖線)から実線
のようにαだけ上方にシフトする。第5図(ロ)はチョ
ッパ温度測定回路出力V12の特性を示すが、本発明に
おいては室温′rcのときにV12=Vcとするオフセ
ント電圧=0の場合の特性(2点鎖線)から、上記した
αの上方へのシフI・を補償すべくαだけ下方へシフト
シた実線で示す出力特性を得るよう分圧回路11にて調
整する。これによりV 5 + V 12を加算した特
性は第5図(ハ)に示したように、第4図(ハ)に示し
たのと同様の特性を得ることができる。
第6図は本発明方法を実施する場合の温度測定装置の構
成を示している。第1図の回路と相違するのは可変抵抗
器4b、 6bが省略されている点てあり、他は同符号
を付して説明を省略する。つまり本発明による場合はこ
の外付は抵抗を省略することができ、更にオペアンプ4
a、 6aとして外付は端子を有しない安価なものを用
いることが可能となる。更に回路の調整箇処は分圧回路
11のみとなり調整作業の煩わしさが解消される等、本
発明は優れた効果を奏する。
成を示している。第1図の回路と相違するのは可変抵抗
器4b、 6bが省略されている点てあり、他は同符号
を付して説明を省略する。つまり本発明による場合はこ
の外付は抵抗を省略することができ、更にオペアンプ4
a、 6aとして外付は端子を有しない安価なものを用
いることが可能となる。更に回路の調整箇処は分圧回路
11のみとなり調整作業の煩わしさが解消される等、本
発明は優れた効果を奏する。
第1図は従来の温度測定装置の模式図、第2゜3図はオ
フセント電圧による誤差を説明するための説明図、第4
.5図は本発明方法の説明図、第6図は本発明方法を適
用する場合の温度測定装置の模式図である。 ■・・・赤外線センサ 2・・・チョッパ 4・・・フ
ィルタ回路 5・・・FliT 6・・・積分回路 9
・・・ダイオード 12・・・チョッパ温度測定回路 時 許 出願人 三洋電機株式会社 代理人 弁理士 河 野 登 夫 (イン ¥、 3 図 T′ 三 T−〒 (ロ)、(ノリ 舞ζ 4 図 (ロ) (ハ) ¥、 S 図
フセント電圧による誤差を説明するための説明図、第4
.5図は本発明方法の説明図、第6図は本発明方法を適
用する場合の温度測定装置の模式図である。 ■・・・赤外線センサ 2・・・チョッパ 4・・・フ
ィルタ回路 5・・・FliT 6・・・積分回路 9
・・・ダイオード 12・・・チョッパ温度測定回路 時 許 出願人 三洋電機株式会社 代理人 弁理士 河 野 登 夫 (イン ¥、 3 図 T′ 三 T−〒 (ロ)、(ノリ 舞ζ 4 図 (ロ) (ハ) ¥、 S 図
Claims (1)
- 1、物体が放射する赤外線をチョッパにて断続して赤外
線センサに入射し、赤外線センサ出力を演算増幅器に与
えて前記物体とチョッパとの温度差を測定し、またチョ
ッパの温度を測定して前記物体の温度をめる温度検知方
法において、前記チョッパの温度測定回路に回路定数可
変の回路を設けておき、前記回路定数の調節により前記
演算増幅器のオフセン1−a整をすることを特徴とする
温度検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58210574A JPS60102532A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 温度検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58210574A JPS60102532A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 温度検知方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60102532A true JPS60102532A (ja) | 1985-06-06 |
Family
ID=16591565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58210574A Pending JPS60102532A (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 温度検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60102532A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2593285A1 (fr) * | 1986-01-17 | 1987-07-24 | Toshiba Kk | Dispositif de detection de temperature, appareil de cuisson a micro-ondes utilisant un tel dispositif et procede de correction de donnees de ce dernier |
-
1983
- 1983-11-08 JP JP58210574A patent/JPS60102532A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2593285A1 (fr) * | 1986-01-17 | 1987-07-24 | Toshiba Kk | Dispositif de detection de temperature, appareil de cuisson a micro-ondes utilisant un tel dispositif et procede de correction de donnees de ce dernier |
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