JPS60103520A - 基板及び基板ホルダー - Google Patents

基板及び基板ホルダー

Info

Publication number
JPS60103520A
JPS60103520A JP59218730A JP21873084A JPS60103520A JP S60103520 A JPS60103520 A JP S60103520A JP 59218730 A JP59218730 A JP 59218730A JP 21873084 A JP21873084 A JP 21873084A JP S60103520 A JPS60103520 A JP S60103520A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
blade
coating
groove
grade
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59218730A
Other languages
English (en)
Inventor
ウオルター・エドガー・グレイブス、ジユニア
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Varian Medical Systems Inc
Original Assignee
Varian Associates Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Varian Associates Inc filed Critical Varian Associates Inc
Publication of JPS60103520A publication Critical patent/JPS60103520A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50Substrate holders
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、基板の被覆その他の処理を行なうための方法
及び装置に関する。
特に2通常は平坦である周縁端部に溝が設けられている
基板をグレード妃よシ保持するようにして、基板の処理
を行なうための方法及び装置に関するっ本発明はさらに
、そのような溝付き端部を有する基板、及びそのような
基板であって被覆された基板にも関するものである。
〔発明の背景〕
成る基板においては、基板の両平坦表面を真空中で同時
に被覆することが望まれる。特にウィンチェスタ−又は
他の型のハード磁気ディスクは。
非磁性基板の平坦両面上に磁性材料を同時に真空ス/ぐ
ツタリングすることによ多形成される。ディスク表面上
への微粒子の沈降を最、J\にするために。
被覆中のディスクを鉛直に保持することが望まれる。真
空ス・ぐツタリング装置内では微粒子が良く発生するか
らである。
〔従来技術〕
基板の端部を支持するための従来技術構造が米国特許第
4,311,427号に開示されている。この特許にお
いては、鉛直方向に伸びた溝を有する上昇ブレードによ
って基板の端部が保合支持されている。上昇ブレードが
上昇する表、その溝がホルダー内の基板の端部に係合す
る。ブレードは、基板の端部を保持したまま、基板を持
ち上げる。この特許の上昇ブレード構造物を使用するも
のとして。
磁気ディスク基板をブレードによシ上昇させ、その平行
両面を磁性材料により同時に被覆する技術がある。被覆
工程中において、基板がブレード中の溝同に置かれ、そ
のために基板中の一部である小さな部分が被覆拐料から
陰になったり隠されたシする。それによりこの隠れた小
部分は被覆されずに残る。このことはハード磁性ディス
クを製造することにおいて問題となる。伺故ならば、デ
ィスク表面の全てをデータ記憶のために最大限に利用す
べきだからである。被覆後の基板は、ブレードを下方に
下げることによシ被覆位置から下降される。基板がホル
ダーへと戻ったら1次に真空中の他の被覆位置又はアン
ローディングロックステーションなどの他の領域へと移
送される。
〔発明の目的〕
本発明の一目的は、真空中で被覆されている基板をその
表面と被覆材料源との間の何の障害もなしに支持するた
めの装置及び方法を提供することである。
他の目的は、基板の平行両平面を垂直に維持したまま、
非磁性ディスク形状基板の両面の端部に至るまで磁性材
料で同時に被覆するだめの装置及び方法に関する。
他の目的は、薄くてほぼ円形の両面基板を表面接触なし
に支持するだめの装置及び方法に関する。
他の目的は2片面又は両面の端部に至る寸で被覆材料を
付着できるように支持され得る基板を提供することであ
る。
他の目的は、基板の平行な平坦両面を鉛iα平面内に位
置して2両面の端部に至るまで材料を付着させることに
よって、被覆基板を提供することである。
〔発明の概要〕
本発明の上記特徴に従い、基板の平行両面を兵空中で同
時に被覆するために、基板端部内の溝にグレードを挿入
することによシ真空被覆中の基板を鉛直平面内に保持す
る。ブレード、端部及び溝は都合良く形状づけられて、
基板表面のうちどの部分も保持構造により蔽われること
なく、また両面を同時に被覆する材料源と表面との間に
何の障害もない。それにより、−*たディスク表面上へ
の微粒汚染物の沈降が最小にされ、かつ基板全面が被覆
されることができる。
基板は、グレードの上に載置されるようにグレードによ
って支持される。ブレードは、被覆工程中の基板を保持
するだけでなく、ホルダーと被覆実行位置との間で基板
を昇降させる構造をも有する1、基板が上昇下降又は保
持されている間に基板に接触する部材は単一のグレード
のみである。1実施例においては、ブレードは好適にナ
イフエッソ形状として作られ、はぼ鉛直で平坦な両面を
有し、さらにそれらの間にほぼ水平な上方端部を有する
。この平坦表面は、基板の溝内の平坦表面間に嵌合する
。ブレードのほぼ水平な端部は、溝の平坦表面間の根底
部に接近又は係合する。磁気ディスクの場合には、平面
図における溝は円形の根底部を有する。プレーP−はそ
の平面図において。
円形の一部としての形状の上方端部を有する。溝及びプ
レート9の断面は、はぼ三角形状である。
本発明の他の特徴において、基板から成る新規な物品が
被覆装置及び方法とともに用いられるうそのような基板
は剛性のものであり、2つの平行な平坦面とグレードを
受ける溝を有する少なくとも1つの溝とを有するっブレ
ードは真空中の基板を独立に保持して、基板の両面の端
部に芋る捷で全てが同時に被覆されることができる7、
物品は当初、非磁性体の未被覆ディスクであり、それを
被覆して磁性ディスクを形成する。仕上げられた磁性デ
ィスクは、全面にわたシ完全に磁性材料が被覆されてい
る。
他の実施例において、基板の端部内の溝が、支持手段に
よって係合されている。この支持手段は。
異なる方向から基板内の溝に係合するための複数のグレ
ードから成るうそのような実施例においては、基板を鉛
直又は水平方向又は他の任意の方向に支持することが可
能である。そして、一枚の支持構造体上に複数の基板を
保持できる。
本発明の上記の及び別の目的は、添付図面を参照して以
下の明細書を考察することによって、よシ明確になるで
あろう。
〔発明を実施するための最良の形態〕
本発明を陰極ス・ぐツタリング構造体に組合わせた場合
の実施例を第1図に示す。もちろん本発明は陰極ス・ぞ
ツタリングに限定されることなく他の型の真空被覆装置
にも適用可能である。例えば本発明はスパッタエツチン
グなどのような他の型の基板処理装置にも適用可能であ
る。
第1図を参照すると、好適にはアルミニウムディスクで
ある剛性非磁性体で製作された基板11が示されている
。基板11は、ブレード14により真空処理チェンバ1
2と真空ス・やツタコーティングチェンバ13との間を
鉛直方向に運動される。
基板11が被覆されている間には、ブレード14が基板
の縁を支持し、それにより基板の平行な平坦表面15及
び16が鉛直に保たれる(第2図参照)。、表面15及
び16を鉛直方向になるように基板11を位置づけるこ
とによシ、ス・やツタリング動作中に真空チェンバ13
内で発生しゃすい微粒子の付着が最小にきれる。それに
ょシ表面15及び16は、比較的汚染からまぬがれるこ
とができる。
表面15及び16は、ターグット17及び18から放出
された材料によって同時に被覆される。
ターグット17及び18はチェノ・ぐ13内に配置され
、それによジターグツトはそれぞれ表面15及び16に
対面している。スパッタリング効果をもたらすために、
ターグット17及び18は陰極の一部を形成している。
ディスク11を被覆して。
コンピュータで用いられるタイグの磁性ディスクを形成
することが望まれる場合には、ターグット17及び18
は磁性材料で製造される。それにょシ基板11上に付着
された材料が磁気的情報をL憶することが可能になる。
ターグット17及び18と基板11との間に陰極スノぐ
ツタリンググラズマをもたらすために、チェノ・ぐ13
のエンベロf19が陽極として機能する。直流電源20
が、ターrノド17及び18をかなシ低い負のDCiI
!圧に維持する。一方今属性のエンベロア”19はアー
スされる。代表的にはアルゴンである不活性ガスが。
適切なガス源21からチェンノ々13の内部へと供給さ
れる。チェンノぐ13は真空源22によって排気される
コーティング処理が完了された後に、グレード14が下
降し、基板11を処理チェンノ々12へともどす。基板
11が処理チェンノぐ12へともどった後に、基板11
はブレード14から取下され。
適切な手段によって他の真空コーティングステーション
又はアンローディング真空ロックステーションへと輸送
される。基板11がブレード14によシ支持されている
間中ずつと、基板は縁で保持されているので、その表面
15及び16は鉛直に保たれる。
ブレード14及び基板11を上昇及び下降させるために
、かつコーティング動作中に一定位置にグレード及び基
板を維持することのために、好適には空気源によシ駆動
される作動シリンダ27が設けられる。シリンダ2−7
は、上方水平表面を有するピストン28を駆動する。こ
の表面にブラットフオーム29が固着されブラットフオ
ーム29はブレード14を支持する。
コーティングすべき表面15及び16をすべて360°
にわたり完全に露出させるために1周縁31に溝32が
設けられる。溝32は基板全体と同心的であり、かつ周
縁31の全周にわたって設けられている。
溝32の断面は11は三角形状をしている(第2図参照
)。大体鉛直方向であるがわずかに傾斜している平坦表
面33及び34が、溝32の根底部32′において交わ
っている。表面33と34との交差部における根底部3
2′は、湾曲しており溝32の製造が容易となっている
。表面33と34との間の角度は代表的には60°であ
る。代表的な磁性ディスクとしての基板11においては
2表面15と16との間の厚さははff 1.9 rm
である。溝32の半径方向の深さは約1.0頭である。
根底部32′先端は2表面15と16との間のほぼ中心
にある。
溝32は周縁31において開口を有している。そしてそ
の開口の表面15と16との間の幅は約1.2餌である
。本発明に従えば、基板がかなり薄い場合においても、
溝320両側にある程度の厚さがあったほうが良いこと
がわかった。その理由は表面33と15との間及び表面
34と16との間の強度を適尚に保つためである。
第2図に示すようにプレー1’14が都合良く形状づけ
られているので、グレード14の断面形状は溝32の断
面形状に一致する。グレード14は。
平行で鉛直にのびる表面35及び36を含む。表面35
及び36は、ブラットフオーム29から上方へとのびて
いる。表面35及び36の上方端において、水平肩部3
9及び40が設けられる。ナイフェツジ部分37及び3
8が、 74部39及び40ノ内端から上方へのびてい
る。これらの部分37及び38は上方へ向けて互いにテ
ィ/4’−づけられ。
それにより表面33及び34に一致する形状を有してい
る。ナイフェツジ37及び38の寸法及び形状は1表面
33と34との間の溝32に都合良く適合するように決
められる。ナイフェツジ37及び38はその端部におい
て丸められ、溝に当接する円形縁部41を形成する。円
形縁41の半径(第3図における側面図参照)は、根底
部32′の半径に大体等しいがそれよシもわずかに大き
くしである。それによシ円形縁部41が根底部32′に
密接して係合する。円形縁部41は約90°の角度にわ
たってのびている。それにより基板110周縁のうち約
%が円形縁部41によって支持されることになる。すな
わち基板11とグレード14との間の接触領域は基板1
1の全周のうち約%であるということである。円形縁4
1の角度の範囲は90°以外でも良い。しかし好適には
180°を越えることはない。なぜならばそうするとブ
レードが基板の直径を越えて外方に広がってしまうから
である。
スzeツタコーティングにおいて、ス・ぐツタされた粒
子は全ての方向にむいてターク゛ノドから跳んでゆく。
そのためターゲット17及び18が基板よシも大径であ
る場合には2表拘15及び16上に付着されるべき材料
のうちには、基板の周縁の外側から基板に向いた軌跡に
沿って跳んでくるものがある。この効果は、ス・やツタ
された粒子のあるものがコーティングチェンノZ内のガ
ス原子により反射されるという事実で説明することがで
きる。
この様子を第1図に示す。軌跡30は、ス・母ツタされ
た粒子がガス原子30′に衝突した場合のものである。
遮蔽効果を防止しかつスフ4ツタされたコーティング材
料が表面15及び16の全面にわたり付着されることを
保障するために2次のことが重要である。すなわち、第
2図に示すようにブレード14はコーティング前の基板
11よりも幅の広い部分であシかつ基板の縁31に近接
した部分を有してはならない。強度の理由のためにもし
ブレード14が第2図に示すよりも広くしなければなら
ない場合には、肩部39及び40をティ・ヤーづけるこ
とにより9表面37及び38が十分下方の位置から始っ
ているようにすることができる。
これはブレードが基板11を支持している場合に遮蔽効
゛果を回避するためである。このようにして表面37及
び38は十分長くなり、ブレード14が溝32内に完全
に挿入されたときにおいても。
肩部39及び40が周縁31から十分に離れていること
になる。
基板110周縁31の全周にわたって溝32が設けられ
ているときには、基板11の方向はどのようなものでも
良い。言いかえれば、基板11特定の方向にしなければ
ならないという必要性がない。ターゲット17及び18
又は被覆材料と表面15及び16との間に々にも障害が
ないので、被覆24及び25は基板11の表面の全体に
わたって付着され9周縁部31にまで完全に付着される
ことになる。周縁31におけるコーティング24及び2
5の厚さは、基板11の他の部分の被覆の厚さと同一に
することができる。
基板及び基板を支持するグレードの製造の容易性の見地
から言えば連続的な円形の溝が好適であるが、他の溝の
形状も可能である。例えば、溝32は基板の全周にわた
ることなく、第3図に示すブレード14の幅よりもいく
ぶん大きい程度の°円弧部分にわたるだけでも良い。さ
らには、ブレード14の上方縁の中央部分は凹部を設け
ることによって、ブレードの両側で基板を支持しても良
い。
例えばこの中央の凹部はブレードの幅の約2程度にして
も良い。従って、ブレードの外方部分において上方に延
びる二つの部分で基板を支持することになる。いずれに
しても重要な点は、基板の中心を通る鉛直の直径の両側
における二カ所の位置において基板にブレードが係合し
々ければならないということである。そして基板の一番
下の部分から離れた位置すなわち上方の位置において基
板を支持しなければ力らない。これは基板の傾斜を防ぐ
ためである。このような基板の支持の場合には、基板に
は二つの離れた溝部分を設けるだけで良い。そしてその
二つの溝にブレードからの二つの突起が挿入することに
なる。
ディスク11などのようなハード磁性ディスク基板は2
通常は第3図に示すようにその中央に孔43が設けられ
る。ディスクの外形は約50 WRから約355mmの
間で変化する。
第4〜7図を参照すると、ブレード14及び溝32につ
いての変形的な形状が示されている。これら全ての変形
実施例において、ブレードは溝32の中にはいり込むた
めの突出部を有している。この突出部が十分に長い距離
を有しているので表面15及び16を遮蔽する効果が取
りのぞかれる。
全ての実施例において、溝32は好適には約1.0閲の
深さを有し1周縁31の全周にわたって設けられている
第4図に示す形状において、溝32の断面形状は5角形
のようなものである。ff1732は壁面42及び43
を有する。これらの壁面は互いに平行であシ、かつ表面
15及び16にも平行である。平行壁42及び43は、
それぞれ傾斜壁44及び45に交差する。壁面44及び
45が交差する点は。
溝32の断面が円形である根底部46である。壁面44
と45とのなす角は大体45°である。ぞして壁面42
及び43は、基板11の内部へ向けて半径方向に約0−
5 wn ITEびている。
溝32に係合して基板11を支持しそれを保持゛するだ
めのブレード14の端部は、傾斜端壁47及び48を含
む5角形形状である。端壁47及び48はそれぞれ、壁
面44及び45と大体同じ長さを有する。端壁47及び
48は、屈曲先端部49において互いに接合している。
この先端部49は丸い根底部46の形状に一致する。傾
斜壁47及び48は、平行壁51及び52から延びてい
る。
平行壁51及び52は、壁面42及び43の長さの大体
2倍の長さを有している。それによシ壁面51及び52
が傾斜肩部53及び54からそれぞれ延び、従ってその
肩部はディスク基板11の表面15及び16から離れそ
してそれらを遮蔽することはない。
第5図の形状において、溝32は傾斜壁55及び56を
有する。これらの傾斜壁55及び56は。
端部31から始まり、ディスク基板11の中心へ向けて
半径方向内方へと延びて互いにティパーづけられている
。傾斜壁55及び56は、ディスク11の半径方向に約
0.5mの長さを有する。そして傾斜壁55及び56は
、壁面57及び58にそれぞれ交差する。壁面5−7及
び58は互いに平行であり、かつ表面15及び16とも
平行である。
壁面57及び58はディスク基板IIの半径方向内方へ
と延びて2円形根底部分59に交差する。
第5図に示すディスク基板11は、一対の伸長壁面61
及び62を含むグレードによって支持される。伸長壁面
61及び62は互いに離れて対置し、それらの間隔は壁
面57と58との間隔よりもわずかに小さい。壁面61
及び62の長さは。
端部31と根底部59との間の距離よりも長い。
このことにより表面15及び16を遮蔽する効果が取除
かれる。この目的のために、壁面61及び62はグレー
ド14の傾斜肩部63から長く延びている。壁面6T及
び62け1円形先端部60に接続している。傾斜壁面5
5と56との間において端部31が比較的広くおいてい
るので、ブレード14を基板11に対して位置づけると
きに許容差を大きくすることができる。仁のためプレー
ト。
を溝32へと挿入する操作が非常に楽になる。
第6図の実施例において、溝32は断面半円形状を有す
る。溝32の周縁部64の直径は端部31の部分の間隔
である。この半円形の端部はそれぞれ表面15及び16
からの遠距離の位置にある。
ところでこの実施例だけでなく他の実施例においても溝
は基板の対向表面間において中心に位置づけられること
が好ましい。他の実施例の溝に比べてこの半円形状の溝
64は製作が容易である。し。
かし他の実施例に比べ基板を保持すると七における安定
性において多少劣るものとなる。
第6図の溝32によって基板11を保持するために、ブ
レード14は半円形の周縁部65を有するように形状づ
けられる。この半円形周縁部65の半径はほぼ周縁半径
64と同じであシしかしわずかに小さい。半円形の周縁
部65は、壁面66及び67から垂直方向に向けて延び
ている。そして周縁部65は壁面66及び67に接して
いて。
その接点は半円形状の半径である。鉛直壁66及び67
の長さけ、端部付近の表面15及び16に対しての遮蔽
効果を防止するために十分な長さである。壁面66及び
67は肩部68から延びている。
第7図のグレード及び溝の形状において、溝32は2つ
の平行壁面71及び72を有して形成される。壁面71
及び72は端部31がら延びて、それらは互いに平行で
あり、かつ表面15及び16にも平行である。壁面71
及び72は、fイック11の中心方向へ向は半径方向に
約0.5mだけ延びている。壁面71及び72が半円形
状の部分73に交差する点において、半円形部分73は
これらの壁面71及び72に接する。従ってこれらの点
の間の距離はちょうど円形部分73の直径となり−Cい
る。
グレード14は、第7図に示した溝と大体同じような形
状の端部を有している。特に、グレード14の端部は、
断面半円形状の周縁部74を有している。周縁部74の
直径は周縁部分73の直径よりもわずかに小さい。この
周縁部74の直径上の対向する両側の点において平行壁
面75及び76とそれぞれ交差する。交差というよシも
むしろそれらの壁面75及び76に接している。この両
点の間隔は、壁面71及び720間の間隔よりもわずか
に小さい。壁面75及び76の長さは、壁面71及び7
2の長さよシも十分に長く、それによシ端部31におけ
る交差部付近の表面15及び16に対して遮蔽するよう
な効果を防止する。壁面75及び76はブレード14の
傾斜肩部77から延びている。
第5〜7図において、基板がブレードによシ鉛直方向に
支持されているときに、ブレードの先端端部は溝32の
根底部に係合している。このような保合状態は、第2,
4及び10図の場合には生じない。
上記の実施例の全てにおいて、端部31において円形の
溝32を形成するためには通常の技術を用いることがで
きる。特に基板11は、成型アルミニウム又はその他の
成型非磁性金属によって形成することができる。これら
の形状は9通常の成型ダイを用いて所望の形状にするこ
とができる。
変形的には、端部31内に溝32を形成するためには1
例えばのこぎシやミルなどのような機械的手段を用いる
ことも可能である。
第8,9及び10図において2本発明の他の実施例を示
す。この実施例において複数の支持グレードによって基
板11が支持され移送されるように支持構造が設計され
ている。この支持構造は単一の基板を支持することもで
き、或いは複数の基板を支持することもできる。後者の
場合にはその支持構造は第8図のような拡大プラテン5
0の形態にすることができる。もちろんプラテンのサイ
ズは単一の基板のみを支持するような大きさにすること
も可能である。
第8〜10図に示すように、プラテン50などのような
支持構造物には、−又は複数の開孔52が設けられる。
複数の支持プレー)’54.55及び56がこの開孔5
2に沿って陥れた位置においてプラテンへと取付けられ
る。ブレード54’、55は固定とし、ブレード56は
基板の端部31へ近づいたり離れたジする方向に移動す
ることが可能である。ブレード54及び55は好適には
互いに離れた位置にあシ、それらの間隔は好適には約1
20゜の角度を成すようなものである。或いはこれよシ
も小さくても良いが好ましくは約90°よシも小さくて
はいけない。可動グレード56は、固定グレード54と
55との成す角度を2等分するような開孔52の直径上
に設置することが好ましい。変形的にはブレード54及
び55は単一の固定ブレードで置換えることが可能であ
る。この場合には単一のグレードは好適には可動ブレー
ド56の直径方向反対側に位置づけることが良く、そし
てその単一ブレードの長さは十分長いことが望ましい。
それによシ基板とこのブレードとが接触する領域の長さ
が十分となシ、基板を一つの一定の平面内に確実に保持
することが可能となる。
ブレード56の移動は様々な方法によって達成すること
ができ名。第9及び10図に拡大して示しであるように
、ブレード56は一体的なアーム58を有している。こ
のアーム58は軸60に剛的に付着されている。軸60
はプラテン50内の軸受孔の中に支持され、ナツト62
によって軸方向移動に対向して保持されている。ローレ
ット回転ノブ64が、軸6oの軸線に同心的にアーム5
8へと剛的に付着されている。この配列についての重要
な点は、基板のローディング及びアンローダインクの動
作中においてグレード5671QI]60 ノ軸線の回
シに回転するけれどもそれは一定平面内に維持されると
いうことである。このように配列したので、アーム58
はプラテンの収容壁66に対して摺接して回転すること
ができる。或いはワッシャを介在させることも可能であ
る。プラテンの反対側の壁面に対してはナツト62又は
その均等物が摺接して回転する。ナツト62等はシャフ
ト60に対して振込まれているので、シャフトの軸の回
シにアーム58が回転する際において軸に対してナツト
が回転することが防止される。更に次のことが必要であ
る。アーム58が回転して基板11の端部内の溝68(
第10図参照)にブレード56が接触するような位置に
なるときに、基板をアンロードするときまでにブレード
はそのような接触状態から移ることが完全に防止される
第9図に略示するように、このことはピン72に回転可
能に支持された円形末端部を有する圧縮スプリング型0
によって達成される。ビン72は。
アーム58及びプラテン50から外方へと突出している
。アーム58が第9及び10図の支持位置にあるときに
、スプリングの圧縮力がブレード56を基板内の溝68
との接触状態に維持するように配列がなされている。ス
ゲリング70の配列は好ましくは次の様なものである。
アーム58が時計方向に回転して後退位置(その位置に
おいては基板の脱着が可能となる)にある時において、
スゲリングはアーム58に力を及ぼしてその位置に止る
ようにする。次にノブ64が反時計方向に回転されると
、グレード56は後退させられて基板との保合が解かれ
る。
ブレード54〜56のそれぞれの端部及び溝68の断面
形状を第10図に示す。そこではグレードの形状はナイ
フェツジチー・ぐ−であり、溝の壁面もそれにマツチす
るようなテーノe−であるっちょうど第2図のものと類
似しているが肩部39及び40は有していない。変形的
には第8〜1o図の実施例のだめの溝及びブレードの形
状は、第2及び4〜7図に示すような形状としても良い
。第8〜10図の多数ブレード実施例においては、第6
図のような溝の形状が用いられたとしても単一ブレード
の場合におとシ得るような支持の不安定性は取除かれる
第8〜10図の実施例についての基板のローダイング処
理を以下に説明する。まずオペレータがノブ64をその
後退位置へと回転させる。その位置においてはグレード
56の内端は外方へと移動させられる。それによって基
板IIをブレード54及び55へと接近させそれらを溝
68の中に収容するように位置づけることが可能となる
。次にオペレータがノブ64を回転してブレード56を
溝内へと挿入させる。アンローディングのためには。
オにレータはノf64を回転させてブレード56を完全
に後退させる。その後基板をブレード54及び55から
取出す。オペレータは基板のローラ゛ィンダ及びアンロ
ーディングの際に基板を千によシ保持することが可能で
ある。このごとはホール43について−っの指を通し残
りの指を基板の外側の端部に添えることによってつかむ
ことができる。或いは基板全体を外周をつかむことによ
って保持することもできる。基板の外周の全体を保持す
る場合には、開孔52は十分に大きくなければならずそ
のようにしてオペレータの指を収容させなければならな
い。変形的にはオペレータはスプリング型のビンセント
を用いて基板の内周又は外周のいずれかをつかむことも
できる。
プラテン5oに−又は複数の基板がロードされた後に、
7°ラテン5oは真空チェンバ内において垂直に固定さ
れることができる。或いはチェンバ内において移動する
ことも可能である。プラテンの方向は垂直ばがシでなく
、水平又は他の角度の方向にしても良い。そして−又は
複数の基板が。
プラテンの一方側又は両側に設けられたー又は複数の被
覆装置にょシ被覆することができる。
もし基板の片面のみを被覆するだけである場合には、或
いは同時には片面のみを被覆する場合には、グレード5
4〜56及びブレード56のだめの移動機構は未開孔グ
ラテン50の表面上に取付けることができる。そのよう
な装置においても。
第9図に示すようなグレードの円形配列を用いることが
可能である。又第8図に示すような配列を用いることも
可能でアシ、各基板を保持するためにそれぞれ3つのブ
レードの組が用いられる。
これまで本発明の特定の実施例についてのみ説明してき
たが9図示した実施例の詳細以外に多くの変形を成し得
ることは描業者に明白であシそのような変形は本発明の
真の範囲を逸脱しないということは明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図は2本発明を実施した被覆装置の断面図である。 第2図は、第1図に示した支持構造の拡大側面断面図で
ある。 第3図は2本発明に従った基板の平面図であり。 支持構造をも示している。 第4.5.6及び7図は2本発明の他の実施例の拡大側
面断面図である。 第8図は、支持構造体の他の実施例の平面図である。 第9図は、第8図の拡大部分平面図である。 第10図は、第9図の10−10線に沿った断面図であ
る。 〔主要符号の説明〕 11・・・基板 12・・・真空処理チェンバ 13・・・X 空ス、9ツタコーティングチェンバ14
・・・ブレード 15.16・・・平坦表面 17.18・・・ターゲット 19・・・エンペロ! 20・・・直流電源 21・・・ガス源 22・・・真空源 24.25・・・コーティング 27・・・シリンダ 28・・・ピストン 29・・・ノラット7ォーム 31・・・周縁 32・・・溝 33.34・・・平坦斜面 32′・・・根底部 35.36・・・垂直面 37.38・・・ナイフェツジ部分 39.40・・・水平肩部 41−・・円形縁 43・・・孔 50・・グラテン 52・・・開孔 54.55・・・固定グレード 56・・・可動ブレード 58・・・一体アーム 画商の浄書(内容に変更なし) FIG、3 手続補正書 特許庁長官 志 賀 学 殿 1、事件の表示 昭和59年特許願第218730号2
、 発明の名称 基板及び基板ホルダー3、補正をする
者 事件との関係 特許出願人 住 所(居所) 氏 名(名称) バリアンーアソシエイツ―インコーポ
レイテッド4、代理人 住所東京都ja区西新橋1丁口6番21号大和銀行虎の
門ビルディノグ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 l、真空中の基板の平行な両表面を同時的に被覆するだ
    めの方法であって: 基板の縁部の溝内にブレードを挿入することによシ、真
    空被覆中の基板を鉛直平面内に支持する段階から成シ; 以て平面のうちどの部分も支持構造により蔽われること
    なく、かつ被覆材料源手段と表面との間に支持構造によ
    って障害がもたらされるということがない; ことを特徴とする方法。 2、特許請求の範囲第1項に記載された方法であって: 基板がプレーr上に載置されるように、ブレードが基板
    を支持する; ことを特徴とする方法。 3、特許請求の範囲第2項に記載された方法であって: 基板が単一のグレードのみによって支持される: ことを特徴とする方法。 4.2つの平行な平坦表面:並びに 真空中で該表面に同時に材料が被覆される際に基板をも
    っばら支持するためのグレードを受容し得る溝を有する
    少なくとも1つの端部;を有する実質的に剛性の基板か
    ら成シ。 該端部付近の両表面の部分が同時に被覆され得る; ことを特徴とする物品。 5、特許請求の範囲第4項に記載された物品であって: 磁気ディスクを形成するために被覆すべき未被覆ディス
    ク基板であり; 非磁性体であシ:かつ 端部全周にわたシ溝が設けられている;ことを特徴とす
    る物品。 6、特許請求の範囲第4項に記載された物品であって: 当該基板が非磁性体である磁気ディスクであり; ディスク基板の全面にわたって磁性材料が被覆されてい
    て;かつ 端部全周にわたり溝が設けられている;ことを特徴とす
    る物品。 7、特許請求の範囲第4項に記載された物品であって: 当該基板が円形の周縁を有するディヌクであり:かつ 前記溝が、ディスク周縁と同心的である円形根底部を有
    する; ことを特徴とする物品。 8、特許請求の範囲第7項に記載された物品であって: 前記溝が、はぼ三角形断面形状の部分を有する; ことを特徴とする物品。 9、溝を設けた端部を有する基板の第1及び第2の平坦
    平行表面を被覆するだめの装置であって二基板を被覆の
    ために据付ける位置へと反対方向から同時に被覆材料源
    手段づけるための手段を備える真空チェンバ;並びに 前記平行表面を鉛直方向にしたまま基板をその縁によっ
    て昇降させるだめの手段; から成シ。 以て基板の第1及び第2の表面が前記被覆手段からの材
    料の進路を遮断し得るような位置に鉛直方向に保持され
    るように、基板が前記昇降手段によ多位置づけられ;か
    つ 前記昇降手段が前記溝内へと挿入するようなグレードを
    有し、それにより基板が前記被覆手段からの材料の進路
    を遮断し得るように位置づけられたときに、前記表面の
    うちのどの部分も支持構造によシ蔽われることなく、か
    つ被覆材料源手段と前記表面との間に支持構造によって
    障害がもたらされるということがない:ことを特徴とす
    る装置。 10、特許請求の範囲第9項に記載された装置であって
    : 基板が昇降され又は所定位置に保持されている際にブレ
    ード上に載置されるように、グレードが構成され配置さ
    れている; ことを特徴とする装置。 11、特許請求の範囲第9項に記載された装置であって
    : 前記昇降手段が単一のブレードを含み;がっ該ブレード
    が、基板の昇降保持にあたシ基板に接触する唯一の物で
    ある: ことを特徴とする装置。 12、特許請求の範囲第10項に記載された装置であっ
    て: 前記グレードが、2つの平坦鉛直表面を有するナイフェ
    ツジと、該鉛直表面間でほぼ水平に延在する上方エツジ
    とを有し: 前記平坦表面が溝を画成する壁面の間に嵌合するように
    され;かっ 前記水平延在エツジが前記平坦表面間の溝の根底部に係
    合する; ことを特徴とする装置。 13、特許請求の範囲第12項に記載された装置であっ
    て: 前記基板は円形周縁を有するyh イスクであシ:前記
    溝はディス゛り周縁と同心的な円形根底部を有し: 前記水平延在エツジが前記円形根底部の牛径とほぼ同径
    の円形部分の一部として形状づけられている: ことを特徴とする装置。 14、特許請求の範囲第13項に記載された装置であっ
    て: 前記溝及びブレードが、はぼ対応するような断面形状を
    有する; ことを特徴とする装置っ 15、%許請求の範囲第14項に記載きれた装置であっ
    て: 前記ブレード鉛直表面が、7Jイスクの鉛直表面の間で
    ナイフェツジよシも十分に下方に延びて、縁におけるデ
    ィスク表面を材料源から遮蔽することを防止する: ことを特徴とする装置。 16、溝を設けた端部を有する基板の第1及び第2の平
    坦平行表面を被覆するための装置であって二基板を被覆
    のために据付ける位置へと反対方向から同時に被覆材料
    を方向づけるための手段を備える真空チェンバ:並びに 前記第1及び第2の平行表面を鉛直方向にしたまま基板
    をその縁によって保持させるための手段; から成シ。 以て基板の第1及び第2の表面が前記被覆手段からの材
    料の進路を遮断し得るような位置に鉛直方向に保持され
    るように、基板が前記保持手段によシ位置づけられ:か
    つ 前記保持手段が前記溝内へと挿入するようなブレードを
    有し、それによシ前記表面のうちのどの部分も支持構造
    によシ蔽われることなく。 かつ被覆材料源手段と表面との間に支持構造によって障
    害がもたらされるということがない:ことを特徴とする
    装置。 17、%許請求の範囲第16項に記載された装置であっ
    て: 基板が被覆手段による被覆のために保持されている際に
    ブレード上に載置されるように、ブレードが構成され配
    置されている; ことを特徴とする装置、 18、特許請求の範囲第16項に記載された装置であっ
    て: 前記保持手段が単一のブレードを含み;かつ該ブレード
    が、基板の被覆時の保持にあたり 、基板に接触する唯
    一の物である; ことを特徴とする装置。 19、特許請求の範囲第18項に記載された装置であっ
    て: 前記ブレードが、2つの平坦鉛直表面を有するナイフェ
    ツジと、該鉛直表面間でほぼ水平に延在する上方エツジ
    とを有し; 前記平坦表面が溝を画成する壁面の間に嵌合するように
    され;かつ 前記水平延在エツジが前記平坦表面間の溝の根底部に係
    合する; ことを特徴とする装置。 2、特許請求の範囲第19項に記載された装置であって
    : 前記基板は円形周縁を有するディスクでアシ;前記溝は
    ディスク周縁と同心的な円形根底部を有し; 前記水平延在エツジが前記円形根底部の半径とほぼ同径
    の円形部分の一部として形状づけられている; ことを特徴とする装置。 2、特許請求の範囲第20項に記載された装置であって
    : 前記ブレード鉛直表面が、ディスクの鉛直表面の間でナ
    イフェツジよシも十分に下方に延びて、縁におけるディ
    スク表面を材料源から遮蔽することを防止する; ことを特徴とする装置。 22、処理手段を備える真空チェン/f内でほぼ円形の
    基板の少なくとも1面を処理するための方法であって: 該基板の縁の溝部分内に少なくとも1つのブレード手段
    を挿入させることによシ、処理中の該基板を保持する段
    階; から成)。 以て、前記少なくとも1面のうちのどの部分も支持構造
    に蔽われることなく、かつ被覆材料源手段と表面との間
    に支持構造がもたらされるということがない; ことを特徴とする方法。 23、 %許請求の範囲第22項に記載された方法であ
    って: 基板がグレード上に載置されるように、前記ブレード手
    段が基板を支持する; ことを特徴とする方法。 2、特許請求の範囲第22項に記載された方法であって
    : 前記基板が複数のプレー1手段によシ保持され、以て基
    板がどのような角度でも保持され得る; ことを特徴とする方法。 2、特許請求の範囲第24項に記載された方法であって
    : 複数の基板を保持可能な一枚の支持部材上に。 複数グレード手段の複数の組が設けられている:ことを
    特徴とする方法。 26.2つの平行な平坦表面;並びに 真空中で該表面に材料が被覆される際に基板をもっばら
    支持するためのグレード手段を受容し得る溝部分を有す
    る周縁端部; を有する実質的に剛性のほぼ円形の基板から成シ。 両表面のうち端部に近接する部分が、実質的に内方の表
    面部分における被覆厚と実質的に同一の厚さに被覆され
    ることができ; 基板中の溝はブレード手段を受容すること以外の目的を
    有する; ことを特徴とする物品。 2、特許請求の範囲第26項に記載された物品であって
    : 磁気ディスクを形成するために被覆すべき未被覆ディス
    ク基板で多少: 非磁性体であ夛;かつ 端部全周にわたり溝が設けられている:ことを特徴とす
    る物品。 2、特許請求の範囲第26項に記載された物品であって
    : 当該基板が非磁性体である磁気ディスクであシ:かっ ディスク基板の両面が磁性材料で被覆されている; ことを特徴とする物品。 29、溝部分を設けた端部を有するほぼ円形の基板の少
    なくとも1つの表面を被覆するだめの装置であって: 基板を被覆中に据付ける位置へと被覆材料を方向づける
    ための手段を備える真空チェンバ;並びに 被覆中の基板を保持するだめの手段であって。 基板が被覆手段からの材料の進路を遮断し得るような位
    置に保持するために、前記溝部分へ挿入するブレード手
    段を含む保持手段; から成シ。 前記少なくとも1つの表面のうちのどの部分も支持構造
    によシ蔽われることなく、かつ被覆手段と前記少なくと
    も1つの表面との間に支持構造によって障害がもたらさ
    れるということがない; ことを特徴とする装置。 30、特許請求の範囲第29項に記載された装置であっ
    て: 基板が被覆中に保持される際にグレード上に載置される
    ように、fソー1手段が構成され配置され; グレード手段が基板に接融する唯一の保持手段である: ことを特徴とする装置。 31、特許請求の範囲第29項に記載された装置であっ
    て: 前記保持手段が複数のグレード手段を含み。 以て基板が鉛直或いは何れの方向にも保持し得る: ことを特徴とする装置。 32、溝部分を設けた端部及び対向表面を有する薄くて
    ほぼ円形の基板を保持するための装置であって: 基板の溝部分に挿入し得るプレート°手段;から成シ。 以て前記対向表面の少なくとも1つの表面のうちのどの
    部分も当該保持装置によって蔽われることがない; ことを特徴とする。 33、特許請求の範囲第32項に記載された装置であっ
    て: 前記ブレード手段が、基板の鉛直直径の反対側で基板底
    部よシ実質的に上方の少なくとも2点における溝に係合
    するように形状づけられた鉛直グレードから成る; ことを特徴とする特許 34、特許請求の範囲第32項に記載された装置であっ
    て:さらに 基板の移動をもたらすための、グレード手段の移動手段
    ; から成る装置。 35、特許請求の範囲第32項に記載された装置であっ
    て: 前記ブレード手段が、基板に接触する唯一の保持手段で
    ある単一のブレードを含む;ことを特徴とする装置。 36 %許請求の範囲第32項に記載された装置であっ
    て: 前記グレード手段が、はぼ円周上に沿って互いに離れて
    配置された複数のブレードと、該ブレードのうちの1つ
    を他のブレードに対して移動させるための手段と、を含
    む ことを特徴とする装置。
JP59218730A 1983-11-02 1984-10-19 基板及び基板ホルダー Pending JPS60103520A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/548,124 US4558388A (en) 1983-11-02 1983-11-02 Substrate and substrate holder
US548124 1983-11-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60103520A true JPS60103520A (ja) 1985-06-07

Family

ID=24187523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59218730A Pending JPS60103520A (ja) 1983-11-02 1984-10-19 基板及び基板ホルダー

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4558388A (ja)
JP (1) JPS60103520A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0190167U (ja) * 1987-12-02 1989-06-14

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4634512A (en) * 1984-08-21 1987-01-06 Komag, Inc. Disk and plug
US4790921A (en) * 1984-10-12 1988-12-13 Hewlett-Packard Company Planetary substrate carrier method and apparatus
US4834855A (en) * 1985-05-02 1989-05-30 Hewlett-Packard Company Method for sputter depositing thin films
US4749465A (en) * 1985-05-09 1988-06-07 Seagate Technology In-line disk sputtering system
WO1986006753A1 (en) * 1985-05-09 1986-11-20 Seagate Technology IN-lINE DISK SPUTTERING SYSTEM
EP0222459A3 (en) * 1985-11-15 1989-08-23 Komag, Inc. Robotic disk handler system and method
US4701251A (en) * 1986-02-03 1987-10-20 Bvt Limited Apparatus for sputter coating discs
DE3606152A1 (de) * 1986-02-26 1987-08-27 Basf Ag Halterung fuer substratplatten auf traegerplatten
US4909185A (en) * 1988-02-03 1990-03-20 Weiss Scientific Glass Blowing Co. Cantilever and cold zone assembly for loading and unloading an oven
GB2226966B (en) * 1988-12-19 1992-09-30 Murata Manufacturing Co Method and apparatus for forming electrode on electronic component
DE3912297C2 (de) * 1989-04-14 1996-07-18 Leybold Ag Katodenzerstäubungsanlage
JP2934711B2 (ja) * 1989-12-07 1999-08-16 カシオ計算機株式会社 スパッタ装置
US5516545A (en) * 1991-03-26 1996-05-14 Sandock; Leonard R. Coating processes and apparatus
EP0577766B1 (en) * 1991-04-04 1999-12-29 Seagate Technology, Inc. Apparatus and method for high throughput sputtering
US5244555A (en) * 1991-11-27 1993-09-14 Komag, Inc. Floating pocket memory disk carrier, memory disk and method
DE4140862A1 (de) * 1991-12-11 1993-06-17 Leybold Ag Kathodenzerstaeubungsanlage
US5356522A (en) * 1992-02-18 1994-10-18 Hmt Technology Corporation Method for manufacturing thin-film medium with chromium underlayer gradient
AU4652993A (en) 1992-06-26 1994-01-24 Materials Research Corporation Transport system for wafer processing line
DE9306789U1 (de) * 1993-05-05 1993-07-08 Hoechst Ag, 6230 Frankfurt Trägerpalette für Substrate von optischen Speichermedien
SE509984C2 (sv) * 1994-03-18 1999-03-29 Sandvik Ab Chargeringssystem för CVD
US5543022A (en) * 1995-01-17 1996-08-06 Hmt Technology Corporation Disc-handling apparatus
DE19617155B4 (de) * 1995-06-28 2007-07-26 Oc Oerlikon Balzers Ag Sputterbeschichtungsstation, Verfahren zur Herstellung sputterbeschichteter Werkstücke und Verwendung der Station oder des Verfahrens zur Beschichtung scheibenförmiger Substrate
TW283250B (en) 1995-07-10 1996-08-11 Watkins Johnson Co Plasma enhanced chemical processing reactor and method
US5830327A (en) * 1996-10-02 1998-11-03 Intevac, Inc. Methods and apparatus for sputtering with rotating magnet sputter sources
US6286451B1 (en) * 1997-05-29 2001-09-11 Applied Materials, Inc. Dome: shape and temperature controlled surfaces
JP4059549B2 (ja) * 1997-09-20 2008-03-12 キヤノンアネルバ株式会社 基板支持装置
JP3909944B2 (ja) 1998-01-12 2007-04-25 キヤノンアネルバ株式会社 情報記録ディスク用基板の冷却機構及びこの冷却機構を備えた基板処理装置
US6605195B2 (en) 2000-04-14 2003-08-12 Seagate Technology Llc Multi-layer deposition process using four ring sputter sources
US6497799B1 (en) 2000-04-14 2002-12-24 Seagate Technology Llc Method and apparatus for sputter deposition of multilayer films
US6567240B2 (en) * 2001-02-26 2003-05-20 International Business Machines Corporation Disk drive platter using sputter shadows thereon for determining orientation thereof
CN101146935A (zh) * 2005-01-24 2008-03-19 丹福斯有限公司 涂敷物体的方法
KR101309363B1 (ko) * 2007-12-14 2013-09-17 가부시키가이샤 알박 챔버 및 성막 장치
US8101054B2 (en) * 2009-05-28 2012-01-24 Wd Media, Inc. Magnetic particle trapper for a disk sputtering system
WO2011024853A1 (ja) * 2009-08-26 2011-03-03 キヤノンアネルバ株式会社 成膜装置
JP7364405B2 (ja) * 2019-09-20 2023-10-18 信越化学工業株式会社 希土類磁石の製造方法
US11643751B2 (en) 2020-03-10 2023-05-09 Matrix Sensors, Inc. Apparatus and method for producing a crystalline film on a substrate surface

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1229428A (en) * 1917-03-03 1917-06-12 Thoralf Fabritius Golf-ball hanger.
US1945572A (en) * 1932-06-04 1934-02-06 Sandbrook Arthur Screen holder
US2349908A (en) * 1941-03-03 1944-05-30 Int Harvester Co Holder for deplating articles
US3516386A (en) * 1965-07-16 1970-06-23 Boeing Co Thin film deposition fixture
US3396696A (en) * 1966-10-06 1968-08-13 Ralph F. Becker Lens turner for high vacuum evaporators
GB1348780A (en) * 1969-12-29 1974-03-20 Fuji Photo Film Co Ltd Method of making a magnetic disc
US3874525A (en) * 1973-06-29 1975-04-01 Ibm Method and apparatus for handling workpieces
US4311427A (en) * 1979-12-21 1982-01-19 Varian Associates, Inc. Wafer transfer system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0190167U (ja) * 1987-12-02 1989-06-14

Also Published As

Publication number Publication date
US4558388A (en) 1985-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS60103520A (ja) 基板及び基板ホルダー
US11049761B2 (en) Shutter disk for physical vapor deposition chamber
US20030057089A1 (en) Disk carrier
JP4907125B2 (ja) 蒸着システム用の基板ホルダ
US5135635A (en) Sputtering apparatus
JPH0146589B2 (ja)
KR102699890B1 (ko) 자기-중심조정 피쳐를 갖는 2-피스 셔터 디스크 조립체
GB2156861A (en) Holder device for substrates in vaccum deposition apparatus
US20050072668A1 (en) Sputter target having modified surface texture
TWI262500B (en) Substrate replacing unit for thin film forming device, and method of replacing substrate
US20050016466A1 (en) Susceptor with raised tabs for semiconductor wafer processing
TW200402054A (en) Method for delivery of substrate to film forming device for disk-like substrate, substrate delivery mechanism and substrate holder used for the method, and method of manufacturing disk-like recording medium using the method
JPH03130359A (ja) 均一な厚さの層で平坦な表面を被覆する装置
US5089110A (en) Data storage disk and plug
JPH02251143A (ja) イオンビーム式スパッタリング装置
TWI236014B (en) Method of delivering substrate to film forming device for disk-like substrate, mechanism for delivering substrate used for the method, substrate holder, and method of manufacturing disk-like recording medium using the method
JP2005113267A (ja) 表面構造が改良されたスパッタターゲット及びその製造方法
US7100813B2 (en) System and method for achieving planar alignment of a substrate during solder ball mounting for use in semiconductor fabrication
JPH07150350A (ja) 真空成膜装置の基板用受け皿に扁平な円環ディスク状の基板をロックする装置
JPH0523570Y2 (ja)
CN223660182U (zh) 遮蔽组件及半导体加工设备
CN221297138U (zh) 用于外延生长装置的晶圆载具及外延生长装置
CN223780345U (zh) 一种mcp晶片真空镀膜装置
CN216445455U (zh) 一种镀锅用晶圆固定组件
CN117187762B (zh) 一种靶材支架