JPS60103600A - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

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Publication number
JPS60103600A
JPS60103600A JP58211792A JP21179283A JPS60103600A JP S60103600 A JPS60103600 A JP S60103600A JP 58211792 A JP58211792 A JP 58211792A JP 21179283 A JP21179283 A JP 21179283A JP S60103600 A JPS60103600 A JP S60103600A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay
pad
semiconductor memory
probe
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58211792A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Sanada
真田 孝司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP58211792A priority Critical patent/JPS60103600A/ja
Publication of JPS60103600A publication Critical patent/JPS60103600A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明げ、チップ内の任意の信号を遅延させる遅延N路
を設けた半導体メモリ足間する。
〔従来技術〕
従来、半導体メモリで汀、チップ内の波形がきわめて複
雑であるため設計上の欠陥で数多く動作不良が生じてい
た。そして、その欠陥がチップ内の任意のイぎ号を遅延
させることで改善されることが推測された場合であって
もチップ内の任意の信号を遅延させることげ困難であり
、そのため欠陥の改善をチップ上で確認することができ
なかった。
例えば、チップ内の任意の信号を遅延させるために汀、
チップ内のある箇所に外部から探針全上記箇所VC康触
させ、探針のもつ大きな容量で信号を遅延させるという
方法が考えら力る。しかし、この方法で汀、ドライブ能
力のないトランジスタから出力される信号ぼ、探針全上
記箇所に立てるだけで出力信号が乱れて有効な振幅ケ失
い遅延させることができなくなる。又、探針の容量で遅
延させているため、どの程度の容量Vcよる信号の遅延
で、どのくらい欠陥が改善されるのかわからない0 従って、従米汀欠陥が改善される適度の遅延を得るの(
容量やトランジスタサイズの異なる数種類のマスクを作
成するという方法が竹われていた。
しかし、この様な方法でに、適度な遅延ケもったマスク
以外a本米不要なマスクであり、その工うなマスクを作
らなけilばならないという欠点があった0 〔発明の目的〕 本発明の目的に1こわらの欠点會除き、半導体メモリ上
の任意の箇所の信号を乱丁ことなしに遅゛延できる遅延
回路を有する半導体メモIJ k提供することVCある
〔発明の構成〕
本発明の半導体メモリに、複数のメモリセル全有する半
導体メモリにおいて、該半導体メモリ内の少なくとも一
つの遅延箇P′9rvc制御入力がパッドVc41続さ
れてなるトランジスタ回路を介して接続された遅延回路
を含むことから構成さfl−る。
〔実施例の説明〕
以下、本発明の実施例九ついて図面全参照して説明する
第1図に本発明の第1の実施例の要部を示す回路図であ
る。
本実施例は、複数のメモリセル?有する半導体メモリr
Cおいて、この千尋体メモリ内の一つの遅延箇所N1y
c、制御入力がパッドPに汲続されてなるトランジスタ
回路としてのドレインが遅延箇所N11Cゲートがバッ
ドPrCl1続されたnチャネルM08トランジスタ(
以下nM(JETという。)QNのソースにその一端が
他端が啜地電位1c啜続された遅延回路としての容量C
を含むことから構成される0 ここで、パッドPl’l全体のチップ面積ニ比し無視で
きる程度に小さく、かつ外部からの探針の針先で啜触す
るのに十分な程度の面積を有する金属層から形収される
0又、Rは高抵抗でnMUsTQNの安定用さして挿入
したものである。
本実施例において、任意の遅延箇所N1を遅延させるI
c汀、外部から正電位にある探針をバッドPVc9触さ
せてnMO8TQNThオンさせろ。そのことにエフ、
遅延箇WrN1に容量Cが負荷として汲続され、任意の
遅延箇所N+’ir遅延させることができる。
そしてこの場合容量Crcよる遅延であるので、探針に
工って本来の信号が乱されることH7ffiい。
第2図a本発明の第2の突施例會示す回路図である。本
実施例げ、第1図に示した第1の実施例においてn M
U S T QN全Pチャンネル型M(JSトランジス
タ(以下、pMUSTという。)Qpに置換え、かつ高
抵抗凡の一端を電源電位?もつ電源’S/corc啜続
したものである。
ここで、外部から接地箪位又r負電位にある探針をパッ
ドPrc妥触させ、I)M(J81’QPをオンさせて
任意の遅延箇所へ1九答量Cを負荷として法統させるこ
と’/CL9、任意の遅延箇所Nlk遅延させることが
できる。
第3図及び第4図a、そわそわ本発明の第3及び第4の
実施例?示す回路図である。これらの実施例においてに
、n MUST QN トp MUS i’ Qp f
並列汲続し、スレッショルド電圧に工6電圧降下全生じ
ない工うvcs成したものであり、インバータIrcc
 vnMO8TQNとpMO8TQpのゲートに互いに
逆相の電圧が入力され、6J、うになっている。
ここで、外部から第3図でa正電位、第4図でσ啜地電
位又a負電位にある探針をパッドPIC阪触させれば、
n M(J 8 T QNNトルMU S T Qpが
オンするため、遅延箇所N1vc容景Cが負荷として汲
続さ力任意の遅延箇所N1を遅延させろことができる。
以上の実施例九工り、ば、任意の遅延箇所の波形全乱丁
こと無しに遅延でき、前もって容量を変えたものを任意
の遅延箇所に幾つか設置しておけば、どのくらいの容量
であれば、どのくらい遅延でき、又、どのくらい欠陥が
改善で@るのかチップ上で確かめることができる。
なお、上記の説明TtXM(J8型集積回路vcよる半
導体メモリを例にとって行ったが、本発明汀これに限ら
ずバイポーラ集積回路メモリの場合vcも同様に適用で
きることば言うまで%lない。又、遅延回路として容量
を用いたが、他の適切な遅延回路であってもよい。
〔発明の効果〕
以上詳細に説明したとおり、本発明の半導体メモIJ 
rx、該半導体メモリの任意の遅延箇7vri’c、制
御入力がパッドrc接続されたトランジスタ回路を介し
て遅延回路が法統されているので、探針7CJ:り容易
に任意の遅延箇所をその箇所のイH号を乱丁ことなく遅
延させることができろという効果を有している。従って
本発明によれば従米行lわわていた不要なマスクf’l
l’5y、の工程を除くことができその効果a大である
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図及び第4図に、それぞh本発明
の第1.第2.第3及び第4の実施例の回路図である。 C・・・容量、l・・・インバータ、Nl・・・遅延箇
所、P・・・パッド、QN・・・nチャネルM(JS)
ランジスタ、Qp・・・pチャネルMUSトランジスタ
、R・・・高抵抗、Voo…電源。 7’、、−’、)’1’:11’ r

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のメモリセルkWする半導体メモリにおいて、該半
    導体メモリ内の少なくとも一つの遅延箇Wrvc1制御
    入力がパッド/cH続さ力てlるトランジスタ回路?介
    して験絖ぎわだ遅延回路′fr含むことを特徴とする半
    導体メモリ。
JP58211792A 1983-11-11 1983-11-11 半導体メモリ Pending JPS60103600A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58211792A JPS60103600A (ja) 1983-11-11 1983-11-11 半導体メモリ

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JP58211792A JPS60103600A (ja) 1983-11-11 1983-11-11 半導体メモリ

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Publication Number Publication Date
JPS60103600A true JPS60103600A (ja) 1985-06-07

Family

ID=16611682

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58211792A Pending JPS60103600A (ja) 1983-11-11 1983-11-11 半導体メモリ

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JP (1) JPS60103600A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0291900A (ja) * 1988-09-27 1990-03-30 Nec Corp 半導体メモリ回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0291900A (ja) * 1988-09-27 1990-03-30 Nec Corp 半導体メモリ回路

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