JPS60112376A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
- Publication number
- JPS60112376A JPS60112376A JP58219784A JP21978483A JPS60112376A JP S60112376 A JPS60112376 A JP S60112376A JP 58219784 A JP58219784 A JP 58219784A JP 21978483 A JP21978483 A JP 21978483A JP S60112376 A JPS60112376 A JP S60112376A
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- JP
- Japan
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- signal
- charge
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/62—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
- H04N25/621—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/62—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
- H04N25/625—Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of smear
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は画像の撮影を行なう撮像装置に関する。
(ロ)従来技術
近年、テレビカメラ等に用いられる撮像装置のイ乙
開発が進められ、その小型軽量を満す為に、従来へ
からの撮像管に代えて半導体構成の電荷結合素子(CC
D)Qの固体撮像素子が出現している。
D)Qの固体撮像素子が出現している。
斯様な固体撮像素子は、基本的には行列配置された複数
の光電変換部に光像が投射されることに依り電荷パター
ンのフィールドを発生し、このパターンがCCDの転送
機能にて画像信号として外部へ出力されるものであるが
、強い光のスポットが投射されると、電荷パターンの垂
直転送中にスミア電荷信号が発生し、これに依って再生
画像の垂直方向に光のにじみが広がり、非常に見苦しい
ものとなる欠点があった。
の光電変換部に光像が投射されることに依り電荷パター
ンのフィールドを発生し、このパターンがCCDの転送
機能にて画像信号として外部へ出力されるものであるが
、強い光のスポットが投射されると、電荷パターンの垂
直転送中にスミア電荷信号が発生し、これに依って再生
画像の垂直方向に光のにじみが広がり、非常に見苦しい
ものとなる欠点があった。
そこで、従来からスミア現象の影響を解消した撮像装置
が特公昭56−35067号公報、特開昭57−172
76号公報等で提案されている。
が特公昭56−35067号公報、特開昭57−172
76号公報等で提案されている。
新様な従来の撮像装置を第1図に示す。同図に於いて、
(1)はフレームトランスファ一方式のCCD型の固体
撮像素子であり、感光領域(11)、蓄積領域Q東水平
転送領域(13)とからなり、感光領域(11)の最下
段の一水平うイン斡)の光電変換部P’、P、・・・位
置と蓄積領域(1′4と水平転送領域α3)とが遮光さ
れ、感光領域(lすの残りの部分の光電変換部P、P、
・・・に光像が投射される構成となっている。該素子+
1)の動作は局知の如く、各領域(n) 、 (+21
.(13)を構成するCCD列にクロックパルスを印加
する事に依って、感光領域(ll)の各光電変換部P、
P、・・・で光電変換した画像信号が蓄積領域02)、
水平転送領域α3)を介して一水平ライン毎に出力され
る事となる。(2)は該素子(1)の水平転送饋[03
)に切り換えスイッチSを介して連なったラインメモリ
であり、このスイvfSをa側に閉成する事に依って上
記素子fl)の感光領域(11)の最下段の一水平ライ
ン()Ifの光電変換部P’IP’l・・・で検知した
スミア電荷信号のみが格納される。(3)は上記素子+
11の水平転送領域(latに上記切り換えスイッチS
を介して連なると共に、上記ラインメモリ(2)と連な
った減算器であり、このスイッチSをb側に閉成する事
に依って、上記素子(11の感光領域(II)の光電変
換部#:P 、 P 、・・・にて得られる一水平うイ
ン分毎の画像信号から、上記ラインメモリ(2)のスミ
ア電荷信号が減算される。
(1)はフレームトランスファ一方式のCCD型の固体
撮像素子であり、感光領域(11)、蓄積領域Q東水平
転送領域(13)とからなり、感光領域(11)の最下
段の一水平うイン斡)の光電変換部P’、P、・・・位
置と蓄積領域(1′4と水平転送領域α3)とが遮光さ
れ、感光領域(lすの残りの部分の光電変換部P、P、
・・・に光像が投射される構成となっている。該素子+
1)の動作は局知の如く、各領域(n) 、 (+21
.(13)を構成するCCD列にクロックパルスを印加
する事に依って、感光領域(ll)の各光電変換部P、
P、・・・で光電変換した画像信号が蓄積領域02)、
水平転送領域α3)を介して一水平ライン毎に出力され
る事となる。(2)は該素子(1)の水平転送饋[03
)に切り換えスイッチSを介して連なったラインメモリ
であり、このスイvfSをa側に閉成する事に依って上
記素子fl)の感光領域(11)の最下段の一水平ライ
ン()Ifの光電変換部P’IP’l・・・で検知した
スミア電荷信号のみが格納される。(3)は上記素子+
11の水平転送領域(latに上記切り換えスイッチS
を介して連なると共に、上記ラインメモリ(2)と連な
った減算器であり、このスイッチSをb側に閉成する事
に依って、上記素子(11の感光領域(II)の光電変
換部#:P 、 P 、・・・にて得られる一水平うイ
ン分毎の画像信号から、上記ラインメモリ(2)のスミ
ア電荷信号が減算される。
上述の如き構成の従来の撮像装置に於いて、その撮像素
子(1)の感光領域(lt)に第2図(1)に示す如く
スポット光(L)が投影され、該スポット(L)の垂直
方向にスミア電荷が発生した時、スポラ) (L)を含
む水平ラインA−Aでの電荷信号は同図(11)に示す
如くスポット(L)位置で非常に大きな光電変換電荷量
を示し、スポット(L)を含′−4々い水平ラインB−
B及び遮光されている最下段の一水平うインC−Cでの
画像信号は同図(++i)に示す如くスミア電荷量を示
す事と彦る。従って、この−水平ライン(H)′αスミ
ア電荷信号はラインメモリ(2)に貯えられ、減算器(
3)にて撮像素子illの感光領域(11)からの水平
ライン毎の電荷信号からメモリ(2)のスミア電荷信号
が減算される事となり、この減算器(3)からはスミア
電荷信号のない画像信号Vが得られる。
子(1)の感光領域(lt)に第2図(1)に示す如く
スポット光(L)が投影され、該スポット(L)の垂直
方向にスミア電荷が発生した時、スポラ) (L)を含
む水平ラインA−Aでの電荷信号は同図(11)に示す
如くスポット(L)位置で非常に大きな光電変換電荷量
を示し、スポット(L)を含′−4々い水平ラインB−
B及び遮光されている最下段の一水平うインC−Cでの
画像信号は同図(++i)に示す如くスミア電荷量を示
す事と彦る。従って、この−水平ライン(H)′αスミ
ア電荷信号はラインメモリ(2)に貯えられ、減算器(
3)にて撮像素子illの感光領域(11)からの水平
ライン毎の電荷信号からメモリ(2)のスミア電荷信号
が減算される事となり、この減算器(3)からはスミア
電荷信号のない画像信号Vが得られる。
一方、従来から上述の如きスミア現象の他にも撮像素子
filの感光領1域(llにスポットが投影されるとこ
のスポット位置で光電変換された多量の過剰電荷がこの
スポット位置から周囲に広がり白いにじみが発生するブ
ルーミング現象が問題となっており、このブルーミング
現象対策としては、感光領*(Iすの各光電変換部P、
P、・・・に近接して過剰電荷を吸収するオーバーフロ
ードレインt[ffる事が有効である。
filの感光領1域(llにスポットが投影されるとこ
のスポット位置で光電変換された多量の過剰電荷がこの
スポット位置から周囲に広がり白いにじみが発生するブ
ルーミング現象が問題となっており、このブルーミング
現象対策としては、感光領*(Iすの各光電変換部P、
P、・・・に近接して過剰電荷を吸収するオーバーフロ
ードレインt[ffる事が有効である。
しかしながら、この様にプルーミング現象対策として感
光領Vi、(川の各光電変換部P、Pでの発生電荷量を
制限する手段を内設した撮像素子を用いて第1図の如き
スーミア現象の解消策を施した場合には、以下の如き不
都合が生じる事となる。
光領Vi、(川の各光電変換部P、Pでの発生電荷量を
制限する手段を内設した撮像素子を用いて第1図の如き
スーミア現象の解消策を施した場合には、以下の如き不
都合が生じる事となる。
即ち、各光電変換部P、P、・・・での発生電荷量を制
限した撮像素子の感光@域(川でのスポラ) (L)位
置に於ける水平ラインA−Aの電荷信号は第3図(1)
に示す如くその上限がVmaxに制限されるので、感光
領域(U)の各水平ラインの電荷信号からラインメモリ
(2)の第2図(11)に示す如きスミア電荷信号を減
算する減算器(3)からの出力の内、水平ラインA−A
に対応する画像信号V ilf: ’t43図(l))
K示す如く、スポラl−(L)の中央部がその両端部よ
シ低くなってしまい、第3図(ili)に示す如く再生
画像に於いて本来最も明るいはずのスポラ) (L)の
中央部かその周囲に比べて暗くなる不都合が生じていた
。
限した撮像素子の感光@域(川でのスポラ) (L)位
置に於ける水平ラインA−Aの電荷信号は第3図(1)
に示す如くその上限がVmaxに制限されるので、感光
領域(U)の各水平ラインの電荷信号からラインメモリ
(2)の第2図(11)に示す如きスミア電荷信号を減
算する減算器(3)からの出力の内、水平ラインA−A
に対応する画像信号V ilf: ’t43図(l))
K示す如く、スポラl−(L)の中央部がその両端部よ
シ低くなってしまい、第3図(ili)に示す如く再生
画像に於いて本来最も明るいはずのスポラ) (L)の
中央部かその周囲に比べて暗くなる不都合が生じていた
。
(ハ)発明の目的
本発明は斯る不都合を解消する目的でなされ、スミア現
象を抑制すると共にスポットの自然な再生をも可能とし
た撮像装置を提供するものである。
象を抑制すると共にスポットの自然な再生をも可能とし
た撮像装置を提供するものである。
に)発明の構成
本発明の撮像装置は、固体撮像素子からの電荷信号列の
内、この値が特定の閾値よシ小なる時には、この電荷信
号列からスミア電荷成分を差し引いた補正笛、荷信号列
を画像信号として出力し、逆にこの値が特定の閾値よシ
大なる時には、該素子からの電荷信号列を画像信号とし
て出力するものである。
内、この値が特定の閾値よシ小なる時には、この電荷信
号列からスミア電荷成分を差し引いた補正笛、荷信号列
を画像信号として出力し、逆にこの値が特定の閾値よシ
大なる時には、該素子からの電荷信号列を画像信号とし
て出力するものである。
0→去施例
第4図に本発明の撮像装置の一実施例を示す。
同図に於いて、fl) 、 +21 、 +3+は第1
図と同様に1休撮像素子、ラインメモリ、及び減算器を
示しており、木発1lll:I実施例装置が従来装置と
異なる所は、撮像索子+11の感光領域(ll)からそ
の蓄積領域(+2)、水平転送領域(I鋤を経て得られ
る水平ライン毎の電荷信号列をb側に接続された第1の
切り換えスイッチS1を介して導入し、この電荷46号
列の各光電変換部P、P、・・・単位の電荷信号値と予
じめ設定された閾値vthとを比較する比較回路(4)
を倫えた点にある。さらに本実施例装置に於いては撮像
素子+1)からの出力をラインメモリ(2)か、又は減
算器(3)と比較回路(4)に切換え供給する上記第1
の切換えスイッチS1の他に、減算器(3)からの出力
が、又は撮像素子ftlからの出力かを切換え供給する
第2の切換えスイッチS2が設けられており、該第2の
切シ換えスイッチS2の切り換え動作は上記比較回路(
4)での比較結果に依って行なわれるものである。詳し
くは、上記比較回路(4)での閾値vthは上記撮像素
子f1+の感光領域(Iすでのオーバーフロドレイン板
部にて制限され水;第3図(1)の電荷信号の最大値V
maxと等しい値か又はこの値Vmaxより数%低い値
に設定されており、上記撮像素子Tl+からの電荷信号
値が該閾値vthより小である時には、この時の電荷信
号かスポット以外の位置に対応した信号である事を検知
して、第2の切り換えスイッチS2をC側に接続せしめ
、減算器(3)からの補正電荷信号を撮像信号として出
力し、逆に上記撮像素子+11からの電荷信号が該閾値
Vthと等しいか大である時には、この時の電荷信号が
スポット(L)位置に対応した信号である事を検知して
、第2の切り換えスイッチS2をd側に接続せしめ、上
記撮像素子+1)からの電荷信号がそのまま撮像信号と
して出力する事となる。
図と同様に1休撮像素子、ラインメモリ、及び減算器を
示しており、木発1lll:I実施例装置が従来装置と
異なる所は、撮像索子+11の感光領域(ll)からそ
の蓄積領域(+2)、水平転送領域(I鋤を経て得られ
る水平ライン毎の電荷信号列をb側に接続された第1の
切り換えスイッチS1を介して導入し、この電荷46号
列の各光電変換部P、P、・・・単位の電荷信号値と予
じめ設定された閾値vthとを比較する比較回路(4)
を倫えた点にある。さらに本実施例装置に於いては撮像
素子+1)からの出力をラインメモリ(2)か、又は減
算器(3)と比較回路(4)に切換え供給する上記第1
の切換えスイッチS1の他に、減算器(3)からの出力
が、又は撮像素子ftlからの出力かを切換え供給する
第2の切換えスイッチS2が設けられており、該第2の
切シ換えスイッチS2の切り換え動作は上記比較回路(
4)での比較結果に依って行なわれるものである。詳し
くは、上記比較回路(4)での閾値vthは上記撮像素
子f1+の感光領域(Iすでのオーバーフロドレイン板
部にて制限され水;第3図(1)の電荷信号の最大値V
maxと等しい値か又はこの値Vmaxより数%低い値
に設定されており、上記撮像素子Tl+からの電荷信号
値が該閾値vthより小である時には、この時の電荷信
号かスポット以外の位置に対応した信号である事を検知
して、第2の切り換えスイッチS2をC側に接続せしめ
、減算器(3)からの補正電荷信号を撮像信号として出
力し、逆に上記撮像素子+11からの電荷信号が該閾値
Vthと等しいか大である時には、この時の電荷信号が
スポット(L)位置に対応した信号である事を検知して
、第2の切り換えスイッチS2をd側に接続せしめ、上
記撮像素子+1)からの電荷信号がそのまま撮像信号と
して出力する事となる。
従って、斯る本発明実施例装置にて例えば2つのスポッ
トを撮影した場合には、この装置から得られる画像信号
Vは、水平ラインA′−x眞ついては、第5図(11)
に示す如く、第1のスポラ)(Ll)位置の画像信号■
1はvthを越えてVmaxに制限された値となり、従
来装置で生じていたスポットの中央部での信号値の低下
はなく、しかも、第2のスポラ1−(L2)位置の垂直
箇所の画像信号V1ではこの第2のスポラ)(L2)に
起因するスミア電荷が除去される。又、水平ラインB
−B′の画像信号v2には、第5図(li+)に示す如
く、第2のスポラ1−(L2)位置での中央部の信号値
の低下はなく、第1のスポラ)(Ll)に起因するスミ
ア電荷も除去される。従って、第5図(1)に示した再
生画像には、第1及び第2のスポット(Ll)、(L2
)についてのスミア現象が解消された上に、各スポット
(LL)、(L2)の中央部に不自然な暗部が生じる事
もない。
トを撮影した場合には、この装置から得られる画像信号
Vは、水平ラインA′−x眞ついては、第5図(11)
に示す如く、第1のスポラ)(Ll)位置の画像信号■
1はvthを越えてVmaxに制限された値となり、従
来装置で生じていたスポットの中央部での信号値の低下
はなく、しかも、第2のスポラ1−(L2)位置の垂直
箇所の画像信号V1ではこの第2のスポラ)(L2)に
起因するスミア電荷が除去される。又、水平ラインB
−B′の画像信号v2には、第5図(li+)に示す如
く、第2のスポラ1−(L2)位置での中央部の信号値
の低下はなく、第1のスポラ)(Ll)に起因するスミ
ア電荷も除去される。従って、第5図(1)に示した再
生画像には、第1及び第2のスポット(Ll)、(L2
)についてのスミア現象が解消された上に、各スポット
(LL)、(L2)の中央部に不自然な暗部が生じる事
もない。
(へ)発明の効果
本発明の撮像装置は、以上の説明から明らかな如く、固
体撮像素子からの電荷信号列の内、この値が特定の閾値
よシ小なる時には、この電荷信号列からスミア電荷成分
を差し引いた補正電荷信号列を画像信号として出力し、
逆にこの値が特定の閾値より大なる時には、該素子から
の電荷信号列を画像信号として出力するものであるので
、特定の閾値より大なる電荷信号値を示す木来明かるい
光像箇所から垂直方向に発生するスミア現象を除去する
と共に、この光像箇所での中央部が暗くな再生画像が得
られる。
体撮像素子からの電荷信号列の内、この値が特定の閾値
よシ小なる時には、この電荷信号列からスミア電荷成分
を差し引いた補正電荷信号列を画像信号として出力し、
逆にこの値が特定の閾値より大なる時には、該素子から
の電荷信号列を画像信号として出力するものであるので
、特定の閾値より大なる電荷信号値を示す木来明かるい
光像箇所から垂直方向に発生するスミア現象を除去する
と共に、この光像箇所での中央部が暗くな再生画像が得
られる。
第1図は従来の撮像装置の構成を示すブロック図、第2
図(i) 、 (Ii) 、 (m)Fi従来装置での
受光状態を示す平面模式図、そのA−A線に沿った電荷
信号図、及びそのB−B線並びにC−C線に沿った電荷
信号図、第3図(+ ) 、 (n) 、 (+++)
は他の従来装置に於けるA−A線に沿った電荷信号図、
そのA−A線に沿った画像信号図、及びその再生画像の
平面模式図、第4図は本発明の撮像装置の構成を示すブ
ロック図、第5図(+) 、 It) 、 (m)は本
発明装置での再生画像の平面図、そのA’−A’に沿っ
た画像信号図、及びそのB’−B’に沿った画像信号図
である。 +1+・・・固体撮像素子、(2)・・・ラインメモリ
、(3)・・・減算器、(4)・・・比較回路。 第1図 1 (山) CC 第3図(1) (iii) 二4図 ÷
図(i) 、 (Ii) 、 (m)Fi従来装置での
受光状態を示す平面模式図、そのA−A線に沿った電荷
信号図、及びそのB−B線並びにC−C線に沿った電荷
信号図、第3図(+ ) 、 (n) 、 (+++)
は他の従来装置に於けるA−A線に沿った電荷信号図、
そのA−A線に沿った画像信号図、及びその再生画像の
平面模式図、第4図は本発明の撮像装置の構成を示すブ
ロック図、第5図(+) 、 It) 、 (m)は本
発明装置での再生画像の平面図、そのA’−A’に沿っ
た画像信号図、及びそのB’−B’に沿った画像信号図
である。 +1+・・・固体撮像素子、(2)・・・ラインメモリ
、(3)・・・減算器、(4)・・・比較回路。 第1図 1 (山) CC 第3図(1) (iii) 二4図 ÷
Claims (1)
- fi+ 水平垂直方向に複数の光電変換部を行列配置し
、特定水平ラインの光電変換部を遮光してなる固体撮像
素子と、該素子から得られる特定水平ライン分の電荷信
号列を貯えるラインメモリと、該ラインメモリの電荷信
号列を上記固体撮像素子から順次得られる各水平ライン
分の電荷信号列から差引いて補正電荷信号列を得る減算
回路と、これとは別に上記固体撮像素子から順次得られ
る各水平ライン分の電荷信号列の値を特定の閾値と比較
する比較回路と、からなり、上記比較回路にて上記素子
からの電荷信号列の値が特定の閾値より小である事を検
知した時には、上記減勢回路からの補正電荷信号列を画
像信号として出力し、逆に比較回路にて上記素子からの
電荷信号列の値が特定の閾値より大である事を検知した
時には、この電荷信号列を画像信号として出力する事を
特徴とした撮像装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58219784A JPS60112376A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | 撮像装置 |
| GB08428276A GB2151105B (en) | 1983-11-22 | 1984-11-08 | Ccd imager |
| US06/673,252 US4547807A (en) | 1983-11-22 | 1984-11-20 | CCD Imager |
| DE19843442647 DE3442647A1 (de) | 1983-11-22 | 1984-11-22 | Ccd-bildwandler |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58219784A JPS60112376A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | 撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60112376A true JPS60112376A (ja) | 1985-06-18 |
Family
ID=16740951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58219784A Pending JPS60112376A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | 撮像装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4547807A (ja) |
| JP (1) | JPS60112376A (ja) |
| DE (1) | DE3442647A1 (ja) |
| GB (1) | GB2151105B (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006004096A3 (ja) * | 2004-07-06 | 2006-03-09 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | 固体撮像装置 |
| JP2006324976A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Casio Comput Co Ltd | 動画撮像装置及びそのプログラム |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2151430A (en) * | 1983-11-30 | 1985-07-17 | Hitachi Ltd | Solid-state imaging system with smear suppression circuits |
| JPH0771238B2 (ja) * | 1986-09-24 | 1995-07-31 | 株式会社日立製作所 | 固体撮像装置 |
| US4803554A (en) * | 1987-09-30 | 1989-02-07 | Polaroid Corporation | Electronic imaging camera utilizing EPROM memory |
| US4843473A (en) * | 1988-03-21 | 1989-06-27 | Polaroid Corporation | Charge injection device with low noise readout |
| JPH02301270A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-13 | Sanyo Electric Co Ltd | 固体撮像素子のスミア除去回路 |
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