JPS60125513A - 超音波による塗膜上からの板厚測定装置 - Google Patents

超音波による塗膜上からの板厚測定装置

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Publication number
JPS60125513A
JPS60125513A JP23140883A JP23140883A JPS60125513A JP S60125513 A JPS60125513 A JP S60125513A JP 23140883 A JP23140883 A JP 23140883A JP 23140883 A JP23140883 A JP 23140883A JP S60125513 A JPS60125513 A JP S60125513A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
echo
measured
thickness
reflected
plate thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23140883A
Other languages
English (en)
Inventor
Sumio Kogure
木暮　澄夫
Mikio Wakamatsu
若松　幹雄
Yasuji Sakuma
佐久間　保二
Iwao Kuroda
黒田　巖
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Industry and Control Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd Ibaraki
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd Ibaraki, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd Ibaraki
Priority to JP23140883A priority Critical patent/JPS60125513A/ja
Publication of JPS60125513A publication Critical patent/JPS60125513A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B17/00—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations
    • G01B17/02—Measuring arrangements characterised by the use of infrasonic, sonic or ultrasonic vibrations for measuring thickness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は材料の肉厚測定に係り、特に塗膜を有する材料
の塗膜面下の材料の板厚測定に好適な超音波厚さ計に関
する。
〔発明の背景〕
従来の板厚測定としては、超音波厚さ計による方式と、
超音波探傷による方式とがあるが、板の表面に塗装があ
る場合、塗膜の厚さが加算され真の板厚を測定できない
という欠点があった。
また、電磁超音波探傷装置（ＭＡＧＣＡＳＴ）　では、
塗膜面上から肉厚測定が可能であるが、探触子に電磁石
が組み込まれているので重量的に重く作業性が劣るとい
う欠点があった。
〔発明の目的〕
ペンキ等非金属塗膜を有する材料におりて、塗膜面上か
ら塗膜面下の材料肉厚を測定することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は、塗膜を有する材蔦を超音波厚み計により、塗
膜面を通過して材料の裏面から反射した最初の信号を時
間軸のスタート信号とし、第２回目の裏面からのエコー
を計測して、その時間差から肉厚を測定するようＫした
ものである。
〔発明の実施例〕
以下発明の原理図と実施例を図面を用いて説明する。
第１図は垂直探触子１を塗装膜２上に接触媒質３を介し
て、被測定体４に超音波５を送受している状態を示す。
垂直探触子１から送信した超音波５ｉｉ塗膜面を通過し
て被測定体４の裏面で反射ＣＢ１　）し、探触子に戻る
。この超音波の一部は探触子に戻らず被測定体と塗膜の
境界で反射し、第２回底面エコー（Ｂ、）を生ずる。
第２図は第１回底面エコーＢ１と第２回底面エコーＢ２
をブラウン管６で観測した状態を示す。
以下に測定方法の計算式を示す。
（１）超音波投入後、第１回底面エコー受信迄の時間Ｗ
　Ｂ　＋は ＷＢ１＝ｖｔｓ＋Ｖ（Ｔｔ＋Ｔｚ）＋ｖｔｌ＝２ｖｔ＋
２ＶＴ（２）第２回底面エコーＢ２受信迄の時間ＷＢｚ
はＷＢ２　＝　ｖ　ｔｓ　＋Ｖ　（ＴＩ　＋Ｔ＊＋Ｔｓ
＋Ｔ４）　＋ｖ　ｔｓ　＝　２　ｖ　ｔ　＋４ＶＴ（３
）塗膜を除いた板厚Ｔは 但し　Ｖ：塗膜の音速 Ｖ：材料の音速 ｔ＝ｔ、　＝：＋ｌｔ　＝ｔ３：塗膜厚さＴ＝ＴＩ　＝
Ｔ２＝’ｌ’ｓ　：材料の厚さ第３図は板厚測定装置の
ブロックダイヤグラムを示す。同期回路７は時間系をＩ
ｆｌ制御し信号回路８を経てクロックカウンタ１３へ伝
達される。また送信回路９から超音波パルスを出し裏面
で受信されエコー増幅器１０て増幅されアナログ変換器
１１を経てエコーピーク検出器１２で第１回底面エコー
Ｂ１と第２回底面エコーＢ２を検出する。
第２回底面エコーは読み込みラッチメモリ１４に行き時
間差を出し、ドライバー１５を経て表示部１６に板厚が
表示される。
第１回底面エコーＢ１までのビーム路程Ｗ　Ｂ　１から
測定した材料の厚さＴを差引くと塗膜厚の通過時間をめ
ることができる。塗膜の音速を知ると塗膜の厚さを測定
できる効果がある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、被測定体にペンキ等非金属塗膜を肩す
る材料でも塗膜を除いた板厚を測定できるので、塗膜を
除去せず減肉状況等把握できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図、第２図は垂直探傷による塗膜上からの真の板厚
測定方法の原理図、第３図は板厚測定装置のブロックダ
イヤグラムを示す。 １・・・垂直探触子、２・・・塗装膜、３・・・接触媒
質、４・・・被測定体、５・・・超音波、６・・・ブラ
ウン管、７・・・同期発生器、８・・・信号回路、９・
・・送信回路、１０・・・エコー増幅器、１１・・・ア
ナログ変換器、１２・・・エコーピーク検出器、１３・
・・クロックカウンタ、１４・・・読み込みラッチメモ
リ、】５・・・ドライノ（、＃１　目 茅２目 ｊＩ　３　口 ｔ 第１頁の続き ［相］発　明　者　黒　１）　巖　日立重重社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １、送信回路、探触子、エコー増幅器１時間軸回路及び
    指示器から成る超音波厚み計において、塗膜面を通過し
    て材料の裏面から反射した最初の裏面エコーを時間軸の
    スタート信号とし、第２回目の裏面からのエコーを計測
    してその時間差から肉厚を測定するようにしたことを特
    徴とする超音波による塗膜上からの板厚測定装置。
JP23140883A 1983-12-09 1983-12-09 超音波による塗膜上からの板厚測定装置 Pending JPS60125513A (ja)

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JPS60125513A true JPS60125513A (ja) 1985-07-04

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6291806A (ja) * 1985-10-18 1987-04-27 Nippon Kokan Kk <Nkk> クラツド厚さ測定方法
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CN112433217A (zh) * 2020-11-10 2021-03-02 广州市东儒电子科技有限公司 基于超声波的物体测厚方法、装置、系统、设备及介质

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