JPS60131893A - 3−5族化合物半導体混晶結晶の成長方法 - Google Patents

3−5族化合物半導体混晶結晶の成長方法

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JPS60131893A
JPS60131893A JP23673883A JP23673883A JPS60131893A JP S60131893 A JPS60131893 A JP S60131893A JP 23673883 A JP23673883 A JP 23673883A JP 23673883 A JP23673883 A JP 23673883A JP S60131893 A JPS60131893 A JP S60131893A
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JP
Japan
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crystal
composition
grown
mixed crystal
mixed
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Pending
Application number
JP23673883A
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English (en)
Inventor
Hisao Watanabe
渡邊 久夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS60131893A publication Critical patent/JPS60131893A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/36Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method characterised by the seed, e.g. its crystallographic orientation

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は液体封止引上法により■−■族化合物半導俸混
晶結晶を成長させる方法に関するものである。
InAsxPl−x、、InGaxAsl−x )Ga
AsxP、 x等の■−■族化合物混晶結晶は高速素子
、光素子等を製造するのに必要でかつ恵要な材料である
これ等の混晶結晶を成長させるには従来より気相成長法
が用いられている。InAsXPl−xの混晶結晶の成
長を例にとればInPの結晶を基板としてこの基板上に
気相成長法によりI n A s x P 1 x結晶
を成長させる方法がとられている。しかしながら気相成
長法は成長速度も遅く大量の結晶を成長させや方法とし
ては融液より引上法により直接混晶結晶を成長する方法
が有利である。このよ、うなことから液体封止引上法に
より混晶結晶の引上厄長が試みられている。液体封止引
上法によるnt−v族混晶結晶の成長をInAsxP□
−エ結晶の成長を例に4i図を用い工説明する。
、高圧容器l内に石英又はPBN(Pyrolytrc
Boron N1tride )製のるつぼ2を設置し
このるつぼ内に混晶原料としてInAsとInP の多
結晶3を入れる。るつぼはサセプター4により支持され
加熱ヒーター5により加熱される。6は封止用の酸化硼
素で、7は引上用シャフト、8は種結晶である。原料溶
融直後に種結晶8を封止用酸化硼素6を通し原料融液3
に接触させ原料融液の温度、引上速度、種結晶の回転数
などを制御しながら引上ることにより混晶結晶9を成長
させる。
このような方法でI nAj z P 1−x混晶結晶
の引上成長をおこなう場合種結晶としてI n A、s
 x P 1 x混晶の融点より高いInP結晶を使用
するために成長させる混晶の組成(X)の値によっては
種結晶と成長結晶との格子定数の差等の影響により成長
結晶は単結晶に成長出来ないと言う問題があった。
本発明はこのような問題を除去するためになされたもの
で、その特徴は液体封止引上法を用いて融液より■−■
族混晶結晶を成長する際に用いる種結晶を成長する混晶
結晶と同一な混晶とし、しかも成長する結晶の組成体)
の値の上下0.15以内の組成(3)を持つ結晶を種結
晶として使用することにある・。
以下本発明に到る実験結果と実施例を述べる。
例−1 原料融液の組成がモル比でInP80%、1nAs20
%になるようにInP多結晶116.6 g及び1nA
sの多結晶33゜9gをPBNるつぼに入れ、しかる後
に封止用酸化硼素の厚さ10m、加圧圧力は窒素カス銘
気圧、種結晶に〈lll〉万位の1nP結晶を用い引上
速度0.1 tea /分、種結晶の回転数10〜15
回/分の条件でInAsxPl−xの結晶の引上成長を
したところ結晶全停が単結晶に成長した。又成長した結
晶の組成(X)をX線ボンド法で測定した格子常数より
めたところ種付点より同化率(以下gと言う)が0.1
の部分での組成(ト)は0.12、gが0.6の部分で
は組成(3)は0.17であり原料融液中の組成の(3
)の値に対して成長結晶内の組H,(3)の値はgが0
.1の部分で約50Sち、gが0.6の部分で約80%
の値であった。
例−2 原料融液の組成がモル比でInP70%、InAs:3
0つの融液より引上成長を行った、InP多結晶102
g、I n A s多結晶56.9g”a:’ P B
 Nるつはlこ入れ封止用酸化硼素の厚さは10mとし
加圧圧力は窒素ガス28気圧、種結晶にはInP 結晶
を用い成長方位は<111>とじた。引上成長速度を0
.10/分、種結晶の口伝は10〜15回/分として引
上成長をしたが成長結晶の種付点より成長結晶は多結晶
に成長し何度繰り返し成長をおこなっても単結晶には成
長しなかった。
例−3 原料融液の量、融液のml成、成長条件は例−2と同一
として種結晶のみを組成(3)が0.12〜0.15に
成長した混晶結晶より<ILD方位に種結晶を切出して
用いたところ成長結晶は単結晶に成長した。成長結晶を
前記の方法と同一方法で測定し組成体)の値をめたとこ
ろg = 0.1の部分で(X)は0.18、g=0.
6 の部分で休)は0.24であった。
以後原料融液の組成がモnt比でInP60%、I n
 A s40%の融液、InP50%、I’nA、s 
50%の融液、InP40%、InAs60%の融液よ
り成長をおこなったかいづれの場合でも成長される混晶
結晶の組成(X)fこ刀して使用する種結晶の混晶組成
(X′)の値とが0.15以内のものを種結晶として用
いることにより任意の組成(X)をもつ1nAtX’P
1−X 混晶の単結晶を液体封止引上法を用いて成長出
来ることが確認され文種の■−■族混晶結晶についても
同様の結果が得られた。
以上記述した実験事実から本発明の目的とする内容を第
2図を用いてまとめて説明する。第2図の横軸は成長さ
れる混晶結晶の組成体)縦’11I+は前記の組成体)
を有する混晶結晶を得るために使用する種結晶の組成(
X′)との関係を示すもので図中の実線はX=X’即ち
成長結晶の組成体)と使用する種結晶のm成(X′)と
が等しい場合である。前述した実験事実から組成体)の
成長結晶を得るため憂こ許容される種結晶の組成(X′
)は必すしも休)と等しい必要はなくi禾の点線範囲内
即ちX二0.15≦X′≦X+0.15 であればよい
ことを示している。
以下一連の実験事実から液俸到止引上法による■−■族
化族化合物混晶結晶成長剤いる種結晶は引上成長する混
晶結晶のル[1成伏)の値Q)上、下0.15以内の組
成体)の値を持つ同一混晶の結晶を種結晶として使用す
れば成長結晶の単結晶化に非常に有効であると結論され
た。尚不采施例では1 nA S XP!□X混晶結A
tこついてのみ述べたが他の■−■族混晶結晶のGaA
8)(Pt−x、工nGaxP1−x等の引」ニ成長に
も鏑用されることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図は液体封止引上法による混晶結晶の引上成長を説
明するための樟、略断面図である。第2図は成長混晶結
晶の組成取ハこ対して使用する種結晶の組成(X)の値
を示した図である。 図においで、 ■・・・高圧祭器、 2・・・るつぼ、 3・・・混晶
原料、4・・・サセプター、5・・・加熱ヒーター、6
°゛封止用酸化1jpj素、 7・・・引上/ヤフト、
 8・・・種結晶、 9・・・混晶結晶。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 液体封止引上法により■−■族化合物半導体混晶結晶を
    成長させる際に用いる種結晶として、成長させる混晶結
    晶組成の休)の値との差が0.15以内の組成の休)の
    値を持った成長結晶合同−混晶を用いることを特徴とす
    る■−■族化合物半導体混晶結晶の成長方法。
JP23673883A 1983-12-15 1983-12-15 3−5族化合物半導体混晶結晶の成長方法 Pending JPS60131893A (ja)

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JPS60131893A true JPS60131893A (ja) 1985-07-13

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