JPS6013254A - フロ−スル型分析装置の汚れ検出方法 - Google Patents
フロ−スル型分析装置の汚れ検出方法Info
- Publication number
- JPS6013254A JPS6013254A JP58121392A JP12139283A JPS6013254A JP S6013254 A JPS6013254 A JP S6013254A JP 58121392 A JP58121392 A JP 58121392A JP 12139283 A JP12139283 A JP 12139283A JP S6013254 A JPS6013254 A JP S6013254A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contamination
- electrode
- degree
- standard solution
- concentration
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/4163—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus
- G01N27/4165—Systems checking the operation of, or calibrating, the measuring apparatus for pH meters
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は、フロースル型分析装置の流路内の汚れ検出方
法に関する。
法に関する。
口 従来技術
フロースル型電極を使用した分析装置は、一端が試料吸
引ポンプに、他端がサンプリングノズルにパイプにより
連通ずるセル内にセンサ電極を浸清し、サンプリングノ
ズルから吸引した試料をセルを通して廃液槽に搬送する
過程でセンサ電極によりＰＨやイオン濃度を連続的に測
定するものである。
引ポンプに、他端がサンプリングノズルにパイプにより
連通ずるセル内にセンサ電極を浸清し、サンプリングノ
ズルから吸引した試料をセルを通して廃液槽に搬送する
過程でセンサ電極によりＰＨやイオン濃度を連続的に測
定するものである。
このような分析装置によってｆｆｌｌｌ間の分析作業を
行なうと、ノズル、パイプ、電磁ブｆ、及び電極槽 等
の流路構成要素の内面やセンサ電極の表面に試料が付着
して汚染して検出ミスを生じるという不都合がある。
行なうと、ノズル、パイプ、電磁ブｆ、及び電極槽 等
の流路構成要素の内面やセンサ電極の表面に試料が付着
して汚染して検出ミスを生じるという不都合がある。
従来、このような不都合を解消するため、一定時間継続
して分析を行なうと、流路内に洗浄液を流して汚れを洗
節するようにしていた。
して分析を行なうと、流路内に洗浄液を流して汚れを洗
節するようにしていた。
しかし、このような手法によると、汚染が軽微な場合に
も洗節を行なうことになるため、センサ７［極が強酸性
や強アルカリ性の洗浄液に曝され。
も洗節を行なうことになるため、センサ７［極が強酸性
や強アルカリ性の洗浄液に曝され。
その寿命を縮めるという問題があった。
ハ１発明の目的
本発明は、このような問題に鑑み流路内及びセンサ電極
の汚染の程度を簡単な手法により的確に検出することが
できる汚れ検出方法を提案することを］］的とする６ 二、発明の構成 すなわち１本発明の特徴とするところは、分析作業の開
始に先立って行なわれる標準液による校正時のセンサ心
極の電位差応答により汚染の程度を定量的に検出するよ
うにした点にある。
の汚染の程度を簡単な手法により的確に検出することが
できる汚れ検出方法を提案することを］］的とする６ 二、発明の構成 すなわち１本発明の特徴とするところは、分析作業の開
始に先立って行なわれる標準液による校正時のセンサ心
極の電位差応答により汚染の程度を定量的に検出するよ
うにした点にある。
ホ、実施例
そこで、以下に本発明の詳細を実施例に基づいて説明す
る。
る。
第１図は、本発明が適用されるフロースル型分析装置の
一例を示す構成図であって、図中符号１は、一端が試料
吸引ポンプ２を介して廃液槽３に、他端がサンプリング
ノズル４に連通ずる電極槽で、分析対象に応じたセンサ
電極５を浸漬して構成されている。６は１校正作業時に
電極５の電位差応答速度を検出する微分回路で、これか
らの出力は微分出力測定回路７を介して汚れ表示器８に
入力して汚染の程度を定量的に表示し、同時に基準信号
発生器９からの要洗浄レベル設定信号が人力する比較回
路１０に入力して汚染が進行したる。なお、図中符号１
２．１３は、切り換え弁１４を介してそれぞれサンプリ
ングノズルに連通する２種類の濃度を持つ標準液Δ、Ｂ
を収容した標準液槽を、１５は、仕νＪ用空気層を形成
する空気取込み用の電磁ノ゛Ｃをそれぞれ示している。
一例を示す構成図であって、図中符号１は、一端が試料
吸引ポンプ２を介して廃液槽３に、他端がサンプリング
ノズル４に連通ずる電極槽で、分析対象に応じたセンサ
電極５を浸漬して構成されている。６は１校正作業時に
電極５の電位差応答速度を検出する微分回路で、これか
らの出力は微分出力測定回路７を介して汚れ表示器８に
入力して汚染の程度を定量的に表示し、同時に基準信号
発生器９からの要洗浄レベル設定信号が人力する比較回
路１０に入力して汚染が進行したる。なお、図中符号１
２．１３は、切り換え弁１４を介してそれぞれサンプリ
ングノズルに連通する２種類の濃度を持つ標準液Δ、Ｂ
を収容した標準液槽を、１５は、仕νＪ用空気層を形成
する空気取込み用の電磁ノ゛Ｃをそれぞれ示している。
このように構成した装置の動作を第２図に示した波形図
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
分析作業に先立って切り換え弁１４により電極槽１を濃
度が低い標準液Ａに連通し、ポンプ２を作動して電極槽
１に標準液Ａを注入すると、電極５は標準ｉｌｌの濃度
に比例したレベルＬｌの信号を出力する。これが定常値
に達した時点で、第１点の校正を行なう。この第１点の
校正が終わった時点で、電磁ＪＰ１５を短時間開いてパ
イプ内に空気層を形成し、同時に切り換えゴｆ１４を濃
度が高い標準液Ｂに切り換えると、電極槽ｌ内の標準液
の濃度が階段状に変化する。これにより電極５の電位差
出力は、流路内の汚染の程度に応じた頭側、つまり汚染
の程度が低いときには急な頭像１により、また汚染の程
度が高いときには緩やかな傾斜により増大する。この電
位差ＩＩ力の増大変化は微分回路６により微分され表示
器８により表示され、同時に比較回路１０により基準信
号と比較され、基準信号よりも低いときには警報器１１
を作動して分析装置の流路内の洗浄を促す。
度が低い標準液Ａに連通し、ポンプ２を作動して電極槽
１に標準液Ａを注入すると、電極５は標準ｉｌｌの濃度
に比例したレベルＬｌの信号を出力する。これが定常値
に達した時点で、第１点の校正を行なう。この第１点の
校正が終わった時点で、電磁ＪＰ１５を短時間開いてパ
イプ内に空気層を形成し、同時に切り換えゴｆ１４を濃
度が高い標準液Ｂに切り換えると、電極槽ｌ内の標準液
の濃度が階段状に変化する。これにより電極５の電位差
出力は、流路内の汚染の程度に応じた頭側、つまり汚染
の程度が低いときには急な頭像１により、また汚染の程
度が高いときには緩やかな傾斜により増大する。この電
位差ＩＩ力の増大変化は微分回路６により微分され表示
器８により表示され、同時に比較回路１０により基準信
号と比較され、基準信号よりも低いときには警報器１１
を作動して分析装置の流路内の洗浄を促す。
［実施例］
試料管路系を洗浄液により洗浄した直後に４ｍＥｑ／ｕ
のカリウム！夜を第１の標準液として注入し、次に６ｍ
Ｅｑ／文のカリウム液を第２の標準液として注入したと
ころ、両標準液の切り換え時の電極出力は、はぼ垂直に
立ち上がった（第３図工）。次に、この分析装置により
ヘパリン動作検体を１００検体分析した後、上述の２種
類の標準ｌｆｋを交“互に切り換えて電極からの出力を
調べたところ、その傾斜が少し緩やかとなり、その微分
出力は、洗浄直後の微分出力の８２％となった（ ＩＩ
）。さらに、上述の検体を１００検体分析したのち、
標準液の切り換え時の微分出力を調べたところ、６３％
にまで低下した（ＩＩＩ）。このことから省路系の汚染
の度合ど微分出力とが反比例して汚染の度合を定量的に
測定できた。
のカリウム！夜を第１の標準液として注入し、次に６ｍ
Ｅｑ／文のカリウム液を第２の標準液として注入したと
ころ、両標準液の切り換え時の電極出力は、はぼ垂直に
立ち上がった（第３図工）。次に、この分析装置により
ヘパリン動作検体を１００検体分析した後、上述の２種
類の標準ｌｆｋを交“互に切り換えて電極からの出力を
調べたところ、その傾斜が少し緩やかとなり、その微分
出力は、洗浄直後の微分出力の８２％となった（ ＩＩ
）。さらに、上述の検体を１００検体分析したのち、
標準液の切り換え時の微分出力を調べたところ、６３％
にまで低下した（ＩＩＩ）。このことから省路系の汚染
の度合ど微分出力とが反比例して汚染の度合を定量的に
測定できた。
なお、この実施例では標ｆｉ液を低儂度から高濃度に切
り換えるようにしたが、反対に高濃度から低濃度に切り
換えても同様の作用効果があることは明白である。
り換えるようにしたが、反対に高濃度から低濃度に切り
換えても同様の作用効果があることは明白である。
へ、効果
以上、説明したように本発明によれば、２種類の標準液
の切り換え時に発生ずるセンサ出力の微分値により汚染
の程度を定量的にＡ１１ｌ定するようにしたので、電極
を含む管路系を適切な時期に洗浄することができ、過度
な洗浄による電極のノｆ命の短縮や分析ミスの発生を未
然に防止して信頼性の高い分析装置を実現することがで
きる。
の切り換え時に発生ずるセンサ出力の微分値により汚染
の程度を定量的にＡ１１ｌ定するようにしたので、電極
を含む管路系を適切な時期に洗浄することができ、過度
な洗浄による電極のノｆ命の短縮や分析ミスの発生を未
然に防止して信頼性の高い分析装置を実現することがで
きる。
第１図は、本発明の方法が適用された装置の一一例を示
す構成図、第２図は、同上装置の動作を示す波形図、第
３図工、Ｉｌ、ＩＩＩは、それぞれ流路系の汚染と゛上
極電位差出力の関係を示す説明図である。 １・・・・電極槽 ２・・・・ポンプ ３・・・・廃液槽 ４・・・・サンプリングノズル５・
・・・センサ電極 １２．１３・・・・標準液槽出願人
株式会社 島津製作所 代理人 Ｊ１゛理士 西 川 慶 拍 回 木 村 勝 彦 竿／コ 悶ｑ■Ｃ ＄３回
す構成図、第２図は、同上装置の動作を示す波形図、第
３図工、Ｉｌ、ＩＩＩは、それぞれ流路系の汚染と゛上
極電位差出力の関係を示す説明図である。 １・・・・電極槽 ２・・・・ポンプ ３・・・・廃液槽 ４・・・・サンプリングノズル５・
・・・センサ電極 １２．１３・・・・標準液槽出願人
株式会社 島津製作所 代理人 Ｊ１゛理士 西 川 慶 拍 回 木 村 勝 彦 竿／コ 悶ｑ■Ｃ ＄３回
Claims (1)
- 一端から他端に至る試料流路が形成された電極槽内にセ
ンサ電極を浸漬してなるフロースル型分析装置にそれぞ
れ濃度が異なる標準液を交互に注入し、−・力の標準液
から他方のｇ準液に切り換えたときに発生する前記電極
からの出力信号の微分値をめ、この値に基づいて前記分
析装置の汚染のＰ１度を判定するフロースル型分析装置
の汚れ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58121392A JPS6013254A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | フロ−スル型分析装置の汚れ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58121392A JPS6013254A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | フロ−スル型分析装置の汚れ検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6013254A true JPS6013254A (ja) | 1985-01-23 |
Family
ID=14810056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58121392A Pending JPS6013254A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | フロ−スル型分析装置の汚れ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013254A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108431599A (zh) * | 2015-12-22 | 2018-08-21 | 雷迪奥米特医学公司 | 检测液体样本分析仪中是否存在凝块的方法 |
| JP2019184301A (ja) * | 2018-04-04 | 2019-10-24 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
-
1983
- 1983-07-04 JP JP58121392A patent/JPS6013254A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108431599A (zh) * | 2015-12-22 | 2018-08-21 | 雷迪奥米特医学公司 | 检测液体样本分析仪中是否存在凝块的方法 |
| JP2018534579A (ja) * | 2015-12-22 | 2018-11-22 | ラジオメーター・メディカル・アー・ペー・エス | 液体サンプル分析器内における凝塊の存在又は不存在を検出する方法 |
| CN113156098A (zh) * | 2015-12-22 | 2021-07-23 | 雷迪奥米特医学公司 | 检测液体样本分析仪中是否存在凝块的方法 |
| US11226328B2 (en) | 2015-12-22 | 2022-01-18 | Radiometer Medical Aps | Method of detecting the presence or absence of a clot in a liquid sample analyzer |
| CN113156098B (zh) * | 2015-12-22 | 2024-07-26 | 雷迪奥米特医学公司 | 检测液体样本分析仪中是否存在凝块的方法 |
| JP2019184301A (ja) * | 2018-04-04 | 2019-10-24 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 自動分析装置 |
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