JPS60140110A - 物体表面の法線方向の測定方法及び装置 - Google Patents

物体表面の法線方向の測定方法及び装置

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JPS60140110A
JPS60140110A JP24513783A JP24513783A JPS60140110A JP S60140110 A JPS60140110 A JP S60140110A JP 24513783 A JP24513783 A JP 24513783A JP 24513783 A JP24513783 A JP 24513783A JP S60140110 A JPS60140110 A JP S60140110A
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    • B23Q1/00—Members which are comprised in the general build-up of a form of machine, particularly relatively large fixed members
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、被測定物表面の法線方向の渾1定方法及び装
置に関する。
〔従来技術〕
従来は、たとえば被醇1定物との当接を検出するタッチ
プローブと、このタッチプローブを移動する位置決め装
置とから成る6次元測定装着があった。この6次元間1
定装置は、位置決め装置によりタッチグローブを被邸1
定物に接触させ、接触時のイXT if?決め装Jfj
の移動距離から予め決められた座棒糸における接触点の
座標を検出するものである。
したかつて、被測定物の任意の測定点における法線方向
を測定するには、測定点近傍の少なくとも6点の座標を
6111定して計算を行なう必要があシ、座標測定時の
誤差と計算時の誤差が累積され、高精度の測定ができな
いという欠点があった。
〔発明の概要〕
本発明は、上記のような欠点を解決するためになされた
もので、6分力検出グローブを被測定物に押し付けたと
きに生ずる反力方向から、6分力検出グローブと被測定
物との接触点における法線を高精度に測定することので
きる物体表面の法線方向の測定方法及びその装置を提供
するものである。
第1図は6分力検出プローブ(1)が被測定物(2)に
接触したときに生ずる力の状態を6分力検出グローブ(
11を基準とした直交座標系X+y+・2上で示した説
明図である。6分力検出グローブ(1)に作用する力を
検出しながら、6分力検出グローブ(1)を2軸方向へ
移動させて被測定物(2)に接触させ、6分力検出グロ
ーブf11に作用するXe )’+ Z軸方向の力xl
 l 3’I r zl のいずれかが所定の値以上に
達したところで、2軸方向への移動を停止する。接触点
での面の法線方向が2軸方向tzければ、6分力検出プ
ローブ(1)には法線方向抗力N と摩擦力Faとの合
力FMが作用する。3分力検出プローブi11に作用1
する力FstJ:、接触点での面の法線方向ベクトルと
X、y平面とのなす角θ2が90・−〇。
〉θf190u−θ2≦θfの場合によって異なる。
ここでθfは摩擦角であシ、6分力検出プローブ(1)
と被測定物(2)との間の摩擦係数がμであれば、−〇
。
=μであるo9U−−θ2〉θfの場合6分力検出グロ
ーブ(11に作用する力F+の各方向の成分!++y1
+Zlは次式で与えられる。
一方、900−θ、≦θfの場合、6分力検出10−ブ
r11に作用する力Fl の各方向の成分xt l y
+ FZlは、次式で与えられる。
各方向の成分xi l )’I * ZIは、次式で与
えられる。
しlこがって、6分力検出グローブfi+に作用する力
F1 (D X * ’i方向成分より、90°−02
〉θf190°−θ2≦θfの状態が明確に判別できる
。
9o・−〇、〉θfの場合には、前記の2軸方向からの
接触動作に次いで、−θt=”/xlで与えられるθ1
の方向へ6分力検出グローブ(1)を移動し、6分力検
出グローブ(1)に力が作用しないところで停止した後
、θ1の逆方向へ移動し、6分力検出プローブfllに
作用する法線方向の力Nと摩擦力2、のいずれかが所定
の値以上に達したところで移動を停止する。この時点で
、6分力検出グローブ(1)に作用する力F2の各方向
の成分X2+y1+Z2は次式で与えられる。
前記2回の接触動作によシ得られた力X1+)’ItZ
1+ Xzt Vmr ZI から、接触点での面の法
線ペクトルt=邸θ!・邸θ11十邸θ3拳幽θ1ノ十
内θ!にのXt y。
2方向の成分は、次式で与えられる。ここでiTL k
はそれぞれX、y、z方向の単位ベクトルを示している
。
一方、90°−θ2≦θfの場合は、3分力検出グロー
ブ(1)を接触点のまわりに、2軸に対して摩擦角θf
の2倍より大きい角度θ0傾ける。6分力検出グローブ
(11を傾けたときの、6分力検出プローブ(11を基
準にとった直交座標系を)C’ Hy’ + Z’とす
れば z/軸方向に6分力検出グローブ(1)を後退さ
せた彼、X’、 7’、 Z’ 座標系において90°
−θ2〉θf の場合と同様に2回の接触動作を行なう
ことにより、X’r V’r Z’座標系での法線ベク
トルが得られ、この法線ベクトルをX+ ylz、Pl
;を壁糸に変換すれは、x、y、z座標系での法線ベク
トルが祷られる。たとえば、第2図に示すようにy軸方
向の1わりに、6分力検出グローブ(1)を角度00回
転したときの、6分力検出グローブ(1)を基準とした
座標系x′、y′、z′において得られた法線方向ベク
トルの成分がtx’ + ty’ + tz’であれば
、x、y、z座標系での法線ベクトルは次式で変換され
る。
1=(axfjO−Ax’ +dnθo−1Z’)i 
+ty’j + (axθot/。
−自θ、−1÷)k ・・・■ このようにして6分力検出グローブ(1)を皺曲1定物
(2)に接触させたときのx、y、z軸方向の力・より
被rA++定物表面の法線方向が得られる。
第6図は本発明に係る物体表面の法線方向の測定装置の
機構部の全体構成を示した斜視図である。
(2)は被fAII定物、fllijx、7+ Z方向
のカを検出できる6分力検出プローブ、(3)は先端に
取付けられた3分力検出グローブ(1)のX+ 3’+
 Z方向の位置とy軸まわシの姿勢を変える4自由度の
位置決め装置である。
第4図は6分力検出グローブ(1)の実施例を示す斜視
図である。(4)はベース、(5)はベース(4)に両
端が固定された板バネ、+61は板バネ(4)の中央部
に同定され、X、X方向にそれぞれ2ケlりrづつ薄肉
部を有する;It性体、(7)は先端が球状に形成され
後端が弾性体(6)に固定された触針である。+81、
(91、(In)Id歪ゲージで、板バネ(5)には歪
ゲージ(8)が中央を対称に2個貼りつけている。また
弾性体(6)にはX方向に薄くなっている部分に歪ゲー
ジ(9)が2個貼りつけられており、X方向に薄くなっ
ている部分に歪ゲージ0(2)が2個貼9つけられてい
る。板バネ(5)及び弾性体(6)に、上記のように歪
ゲージ(8)〜ααを貼りつけ、後述のように歪ゲージ
(8)〜0υをブリッジ回路に結線することKよって、
触針(7)に作用する力の2方向成分を歪ゲージ(81
、x方向成分を歪ゲージf91、X方向成分を歪ゲージ
Unによってそれぞれ独立して検出することができる。
第5図は制御装置の一例を示すブロック図で、制御装置
矯(1υは6分力検出グローブ(1)からの出力を処理
する6分力検出回路+12と、位置決め装置jB +2
1を制御する位置決め装置制御回路(131と、マイク
ロコンピュータ(14Jとからなっている。6分力検出
回路(13は歪ゲージ(8)〜(I[11ごとにそれぞ
れ歪ゲージ出力信号処理回路(19〜(]ηを備えてい
る。たとえば、処理回路(19では、2個の歪ゲージ(
8)と2個の固定抵抗(tSで構成されたブリッジ回路
がストレインアンプ111によって印加され、このブリ
ッジの出力信号はストレインアンプ(11で増幅され、
直流信号として出力される。他の歪ゲージ出力信号処理
回路(1→、(Inも同様に直流信号を出力する。ただ
し、歪ゲージ出力信号処理回路f1511cおけるブリ
ッジ回路は、歪ゲージ(8)が貼り付けである板バネ(
5)に作用する2方向の力だけを取シ出すために、2個
の歪ゲージ(8)が対向するようVcll成し、歪ゲー
ジ出力信号処理回路+161.1171におけるブリッ
ジ回路は、弾性体(6)に作用するX、X方向の力を取
り出すためにそれぞれ2個の歪ゲージf91、(IIが
隣接するように構成されている。ゲージ出力処理回路a
S+〜(171からの直流信号はサンプルホールド回路
;刻に大刀され、マルチプレクサQυを介してA/D変
換回路+2(9でデジタル信号化された後、マイクロコ
ンピュータ+141に取り込まれる。位置決め装装置制
御回路(1濁は、6分力検出グローブf’l lの位置
と姿勢を変える位置決め装置の4個のアクチェータ駆動
回路(2ト@からなり、それぞれアクチェータ(2η〜
(至)をマイクロコンピュータ(141から出力される
指令に従って駆動する。
上記のように構成した本発明に係る物体表面の法線方向
測定装置の動作を第6図、第7図(a)〜(f)で駅、
明する。第6図は3分力検出グローブ(夏)が接触して
いる面とX−y平面のなす角度が摩擦角より大きい場合
における、6分力検出プローブ(1)の先端の動作を、
法線ベクトルを含みx−y平面に垂ICな平面上で示し
ている。第7図は3分力検出プローブ(1)が接触して
いる面とx−y平面のなす角度が摩擦角より小ざい場合
における6分力検出プローブ(1)の動作をX −Z平
面上で示している。
6分力検出グローブ(1)を位置決め装置(3)によシ
2軸方向に移動させるとともに、逐次6分力検出プロー
ブ(1)からの出力を制御装置θDへ取込む。6分力検
出プローブ(11が被測定物(2)に接触し、6分力検
出グローブ(1)に作用するXs)’yZ軸方向のいず
れかが01定の値以上になったところで、z軸方向への
移動を停止する。この時点での6分力検出プローブ(1
)に作用するx、y、z軸方向の力x1t yI+’ 
zl ヲマイクロコンピュータIに記憶シておく。
次にxl l ylのいずれかが零でないならば、マイ
クロコンピュータ(141によシーθ1=y/x1で与
えられるθ1を計算し、位置決め装置(3)によシロ分
力検出プローブ(1)を01の方向へ後退させ、6分力
検出グローブ(1)に作用する力が零になったところで
後退を停止した後、再び逆方向へ移動させ、6分力検出
プa−プt1+に作用するX * yt Z刺1方向の
力” l yt l zlのいずれかが所定の値以上に
なったところで、移動を停止する。”I l 7t+ 
zt l xfi7z*Zt よシマイクロコンピュー
タ(14)で法線方向を計算することに、よ勺、物体表
面の法線方向を得ることができる。
一方、XI l ytがともに零であれは、位置決め装
置(3)によシロ分力検出グローブ(J)の先端の球の
中心まわりに摩擦角の2倍以上の角度回転させる。
6分力検出プローブ(1)を回転したときの6分力検出
プローブ(1)を基準にとった座標系をX’+ y’+
 Z’とすれは、次に位置決め装置N f31により6
分力検出グローブ(1)を2′方向へ後退させ、6分力
検出グローブ(1)に力が作用しなくなるところで停止
した後 z/力方向′s、動じ6分力検出グローブに作
用する力Xs+ yi+ zlのいずれかが所定の値を
越えたところで移動を停止し、xS、y3.zlをマイ
クロコンピュータ(]4J VC96憶する。次にマイ
クロコンピュータ(141によt) tmol = y
Vz、で与えられる0重を計qし、位置決め装置(3)
により6分力検出プローブfi1を0重の方向へ後退さ
せ、6分力検出グローブ(11に作用する力が零になっ
たところで後退を停止した後再ひ逆方向へ移動させ、6
分力検出プローブ(11に作用するx、y、z軸方向の
力X4+y4+ z4のいずれかが所定の値以上になっ
たところで移動を停止する。xl 1 y8 r zs
 + X41 y4 +z4 よシマイクロコンピュー
タ1t(lでX’ Hy’ * Z’座標系での法線方
向を計算した後、5分力検出プローブ(1)を傾けた角
度の分を補正すれば物体表面の法線方向を得ることがで
きる。
第8図は本発明の他の実施例を示す説明図で、他の用途
への転用例を示している。この実施例では物体表面測定
装置において、5分力検出グローブfllをy軸まわす
に姿勢を変えられる。位置決め装置としているが、6分
力検出グローブ(11をX−y平面に対して傾けられる
ものであれば同様の効果が得られる。
以上の説明では6分力検出グローブが被測定物KW触し
たときに生じる力の方向から物体表面の法線方向を測定
する場合を示したが、本発明の物体表面の法線方向測定
装置fは高精度の3次元物体形状測定装置としても用い
ることができる。通常の3次元物体形状測定装置では、
位置決め装置の先に取付けたタッチプローブが被測定物
に接触したときのタッチプローブのx * y r z
 amをめる動作を多数点打なって被測定物の形状を測
定していたため、狽11定点間の補間の際の誤差とタッ
チプローブ先端の大きさによる実際の接触点と油1定し
た接触点との位置の誤差が避られない。しかしながら本
発明のように接触点での法線方向がわかれば、6I11
定点間を補間するときの情報量がふえ、補間の精度を上
げることができる。また、X軸と角バしθrなす斜面と
先端が半径rの球になっている6分力検出プローブとを
2次元で示した第8図のように、、法線方向より球の接
触位置がわかるため、正確に#湘1定物上の接触点の位
置を測定できる。したがって、本発明によれば、6次元
物体の形状測定を高N度に測定することが口J能である
。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれば祈測定
物の表面上の測定点での法線方向が直接得られ、高精度
の測定が行なえる等の顕著な効果fあげることができる
。
【図面の簡単な説明】
8P71図は6分力検出プローブが物体表面に接触した
ときの力の状態を示す説明図、第2図は6分力検出プロ
ーブを傾ける場合の力の状態を示す説明図、^36図は
物体表面の法線方向姐1(定装置の機構部を示す斜視図
、第4図は6分力検出プローブを示す斜視図、第5図は
制御回路構成の一例を示すブロック図、第6図、第7図
←)、(hb (Qb (d)j(Q)、 (f)は6
分力検出プローブの動作説明図、第8図は本発明の他の
実施例を示す説明図である。 (1)・・・6分力検出グローブ (2)・・・被測定
物 (3)・・・位置決め装置 (lυ・・・制御装置
。 なお各図中同一符号は同一または相当部分を示すものと
する。 代理人 弁理士 木 村 三 朗 第 5 図 第60 餡7図 (0) (d) 手続袖正書(自発) 昭和59年 6月22日 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭58−245137号2、発明
の名称 物体表面の法線方向の測定方法及び装置3、油止をする
者 4、代理人 6、 補正の内容 (1)明細書の「特許請求の範囲」を別紙のとおシ補正
する。 (2)明細書第4頁第19行〜第20行の「摩擦力Fa
との合力Ft Jを「摩擦力Faとの合力F1」と補正
する。 (3)明細書第5頁第1行のrFtJを「Fl」と補正
する。 (4)明細書第6頁第8行のrNJをrNJと補正する
。 (5)明細書第10貢第19行の「/D変換回路(イ)
」を「A/D変換回路四」と補正する。 (6)明細書第11貢第2行〜第6行の「位置決め装置
」を「位置決め装置(31」と補正する。 (7)明細書第16庁第10行の「−θt−/XxJを
r tu lls = ”/ Xg J ト補正スル。 (8)図面の第7図を別紙補正図面のとおシ補正する。 以上 特許請求の範囲(補正〕 「(1)作用する力のx、y、z軸方向の力検出をでき
る3分力検出グローブを被測定物表面に押しつけて被渾
1定物表面の法線方向を測定する方法において、 (i)、6分力検出プローブに作用する刀を6111定
しながら5分力検出プローブを2軸方向に移動させ、6
分力検出グローブが被淋1定物に接触して、6分力検出
プローブに作用するx、y、z軸方向の力XI+ yt
+ zlのいずれかが所定の値になると移動を停止する
。 ■、XI・yIがともに零でない場合には、−〇簾−y
ンエ、で与えられる角度01一方向へ6分力検出グロー
ブに作用する力が零になるまで移動した後停止する。次
いで、角度61の逆方向へ移動し、6分力検出グローブ
が被測定物に接触し3分力検出プローブに作用するxl
、 yz+ Zlのいずれかが所定の値になると移動を
停止する。この動作で得られたxl + 71 t z
lとVxr Vxr zm より・被測定物表面の法線
方向は法線方向の単位ベクトル(x+ +xz)/ f
iX1+x2)”+Cyt +yx)”+(z< + 
z、−)i−。 tz=(Z++Zz)/J(穐+Xs)”+(Fs+7
i)” +(zt +zx )” rを得る。 ■、xl + 3’sがともに零の場合には、6分力検
出プローブを被測定物と3分力検出グローブの摩擦角の
2倍以上の角度傾けた後、前記■、■と同様の動作で法
線方向を得、傾けた角度の補正を行なって被測定物表面
の法線方向を得ることを特徴とする物体表面の法線方向
の測定方法。 r21作用する力のXI 7r Z軸方向の成分を、独
立に検出できるように歪ゲージを貼シ付けた6分力検出
グローブと、前記6分力検出プローブを移動させる多自
由度の位置決め装置と、前記6分力装置を制御する制御
装置とを備えたことを特徴とする物体表面の法線方向測
定装置。」 第7 (a) 1 [b) (C) (d) (e)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)作用する力のX、y、Z軸方向の力検出をできる
    6分力検出グローブを被測定物表面に押しつけて被測定
    物表面の法線方向を測定する方法において、 ■、6分力検出グローブに作用する力を測定しながら6
    分力検出グローブを2軸方向に移動させ、6分力検出プ
    ローブが被測定物に接触して、6分力検出プローブに作
    用するX+ y+ Z軸方向の力X□+)’I+Z1 
    のいずれかが所定の値忙なると移動を停止する。 (す、Xly ylがともに零でない場合には、−θ=
    ”j+7x1で与えられる角度θ方向へ3分力検出グロ
    ーブに作用する力が零になるまで移動した後停止する。 次いで、角度θの逆方向へ移動し、6分力検出プローブ
    が被測定物に接触し3分力検出グローブに作用するX2
    * ’jar zfiのいずれかが所定の値になると移
    動を停止する。この動作で得られたXl1yIIz1と
    X2+ X2* Z2よシ、被測定物表面の法線方向は
    法線方向の単位ベクトル(XI +Na ) / !y
    2)”+ (Zl 、+z2 )” 。 tr、 = (Zl +Zfi )/ (X1+X! 
    ) +()’t+yz)”+(zl+zJ”を得る。 ■、’Xt + 71がともに零の場合には、6分力検
    出プローブを被測定物と6分力検出グローブの摩擦角の
    2倍以上の角度幼けた後、前記■、■と同様の動作で法
    線方向を得、傾けた角度の補正を行なって被測定物表面
    の法線方向を得ることを特徴とする物体底面の法線方向
    の測定方法。
  2. (2)作用する力のX+ 7r Z軸方向の成分を、独
    立に検出できるように歪ゲージを貼p付けた6分力検出
    グローブと、前記3分力検出グローブを移動させる多自
    由度の位置決め装置と、前記3分力検出グローブの出力
    を演算処理し、前記位置決め装置aを制御する制御装置
    とを備えたことを特徴とする物体表面の法線方向測定装
    置。
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