JPS6014143A - 鋳造金属の空隙探知法、及びその装置 - Google Patents
鋳造金属の空隙探知法、及びその装置Info
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- JPS6014143A JPS6014143A JP59125420A JP12542084A JPS6014143A JP S6014143 A JPS6014143 A JP S6014143A JP 59125420 A JP59125420 A JP 59125420A JP 12542084 A JP12542084 A JP 12542084A JP S6014143 A JPS6014143 A JP S6014143A
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は鋳造金属の表面、あるいはその中の空隙を探知
する方法に関する。本発明はこれに制限されるものでは
ないけれども金属棒やワイヤを形成するための鋳造ノζ
−にするために、周囲溝を有する鋳造ホイールと、連続
移動二ンドレスパンドとで成る機械において、溶融金属
が鋳造されるような連続鋳造工程に関して特殊な用途を
有する。
する方法に関する。本発明はこれに制限されるものでは
ないけれども金属棒やワイヤを形成するための鋳造ノζ
−にするために、周囲溝を有する鋳造ホイールと、連続
移動二ンドレスパンドとで成る機械において、溶融金属
が鋳造されるような連続鋳造工程に関して特殊な用途を
有する。
鋳造工程で、金属の表面やその中に空隙が形成されるこ
とがある。これらの空隙は空気の存在により酸化される
。普通、パーを棒に圧延する時に、その空隙は除去され
るけれどもその酸化物が残り、中心に欠陥を生じさせる
。圧延した棒をワイヤに引のばす時、普通、そのような
欠陥により破断が生じる。従って、鋳造金属・ζ−の空
隙の存在やその寸法を探知し、その情報を用いることに
よって、鋳造工程を最適状態にしたり、及び/又は、鋳
造(及び圧延)金属の品質に等級を与えたりする。
とがある。これらの空隙は空気の存在により酸化される
。普通、パーを棒に圧延する時に、その空隙は除去され
るけれどもその酸化物が残り、中心に欠陥を生じさせる
。圧延した棒をワイヤに引のばす時、普通、そのような
欠陥により破断が生じる。従って、鋳造金属・ζ−の空
隙の存在やその寸法を探知し、その情報を用いることに
よって、鋳造工程を最適状態にしたり、及び/又は、鋳
造(及び圧延)金属の品質に等級を与えたりする。
この方法に関する問題は、パーが高温で(しかしその溶
融点より低い)移動する時に連続鋳造パーの表面、又は
内部で空隙が探知されねばならないということである。
融点より低い)移動する時に連続鋳造パーの表面、又は
内部で空隙が探知されねばならないということである。
従来は超音波測定法を用いている。しかしこれは高温度
(例えば、銅の場合、鋳造パーは700°C以上となる
)の鋳造パーを直接、物理的な接触をしなければならな
いという欠点をもつ。
(例えば、銅の場合、鋳造パーは700°C以上となる
)の鋳造パーを直接、物理的な接触をしなければならな
いという欠点をもつ。
もう1つの方法は、高放射源を必要とする連続蛍光透視
法である。これはX線装置により提供されるが、X線管
は寿命が制限されていて。
法である。これはX線装置により提供されるが、X線管
は寿命が制限されていて。
連続工程を監視するのには適さない。もう1つの方法と
して適切な半減期を有する高放射性源を使用することも
できる。どちらの場合も、オンラインで使用するとき、
その装置を安全にするためには、丈夫な放射能遮蔽物を
必要とする。
して適切な半減期を有する高放射性源を使用することも
できる。どちらの場合も、オンラインで使用するとき、
その装置を安全にするためには、丈夫な放射能遮蔽物を
必要とする。
その蛍光像は、普通、像増強装置を有する閉鎖間回路テ
レビジョンシステムによって見られねばならない。そこ
に受像された像の解釈は、目で見て行うか、ビデオ信号
の分析によって行われなければならない。
レビジョンシステムによって見られねばならない。そこ
に受像された像の解釈は、目で見て行うか、ビデオ信号
の分析によって行われなければならない。
そこで本発明の目的は、前述の欠点をなくした鋳造金属
の表面、又はその内部の空隙を探知する方法及びその装
置を提供することである。
の表面、又はその内部の空隙を探知する方法及びその装
置を提供することである。
本発明によれば、鋳造金属の表面、又は内部の空隙を探
知する方法は、光量子源からの事実上平行な光量子ビー
ムを鋳造金属を通して通過させ、その鋳造金属から出る
光量子束を光量子探知器により探知し、光量子探知器の
アウトプットからの鋳造金属の内外に存在する空隙の寸
法を判断することで成る。
知する方法は、光量子源からの事実上平行な光量子ビー
ムを鋳造金属を通して通過させ、その鋳造金属から出る
光量子束を光量子探知器により探知し、光量子探知器の
アウトプットからの鋳造金属の内外に存在する空隙の寸
法を判断することで成る。
光量子探知器からのアウトプットはそこに入射した光量
子束の関数であり、光量子束はビーム通路にある総金属
量の関数である。ビーム通路にある金属の損失を表わす
空隙の存在は、光量子探知器が受容する光量子束を増大
させ、次にアウトプット信号を増大させる。
子束の関数であり、光量子束はビーム通路にある総金属
量の関数である。ビーム通路にある金属の損失を表わす
空隙の存在は、光量子探知器が受容する光量子束を増大
させ、次にアウトプット信号を増大させる。
その光量子源は、ガンマ線を発生させる放射性源(例え
ば、セシウム−137)が好ましい。
ば、セシウム−137)が好ましい。
或いはDC電位により作動する低X線ゼネレーターであ
ってもよい。
ってもよい。
光計子探知器は、イオン化室、フォトマルチシライヤー
/クリスタル探知器、又はガイガーカウンターが好まし
い。
/クリスタル探知器、又はガイガーカウンターが好まし
い。
非接触性幅測定装置は計算装置に接続する。
その幅測定装置は、鋳造金属の幅を光量子連路の方向へ
監視し、その中のいがなる変化をも探知する。そのよう
な情報はそのようないがなる変化をも許容する計算装置
へ送られる。その幅測定装置は光学装置が好ましい。
監視し、その中のいがなる変化をも探知する。そのよう
な情報はそのようないがなる変化をも許容する計算装置
へ送られる。その幅測定装置は光学装置が好ましい。
計算装置は、光歌子探知器からの出力信号をデジタル的
に処理するプログラム可能なコントローラー(例えば、
マイクロプロセッサ−1又はマイクロコンピュータ−)
が好ましい。これはそのシステムの騒音比に対して信号
を最大にし、それによって所与の例に比例した最大の探
知感度を与える。
に処理するプログラム可能なコントローラー(例えば、
マイクロプロセッサ−1又はマイクロコンピュータ−)
が好ましい。これはそのシステムの騒音比に対して信号
を最大にし、それによって所与の例に比例した最大の探
知感度を与える。
この計算装置が作動する根拠は、次の通りである。即ち
、 Nx −固形鋳造金属パーがビーム通路に存在する時の
カウント/秒単位での計算比 であり、 n =所与の寸法の空隙がビーム通路に存在する時の、
カウント/秒単位での計算 比であり、 tx=計算比を測定する期間であり、 Δx −1x (nx−Nx) σx”−Δ8の標準偏差であって、 =±n)カウントである。
、 Nx −固形鋳造金属パーがビーム通路に存在する時の
カウント/秒単位での計算比 であり、 n =所与の寸法の空隙がビーム通路に存在する時の、
カウント/秒単位での計算 比であり、 tx=計算比を測定する期間であり、 Δx −1x (nx−Nx) σx”−Δ8の標準偏差であって、 =±n)カウントである。
この計算装置は、それから連続する総合期間tXにおい
て、Δの連続値を測定し、各々の場合、σ8又はその十
分な近似値を計算し、差値、すなわち(Δ−IPσ 1
)を計算するようにゾログラx x ムされている(上式でPは仮信号を許容するための数字
セットである)。もしこれが正であればアラームが鳴り
、この差値の大きさを記録及び/又は表示する。放射能
源から出る放射束のランダムな波動以外の空隙を、その
結果が指示する可能性は、その空隙のサイズやPに対す
る値セット次第で決まる。Pの値−は少くとも2が好ま
しく、計算装置は所望のように、Pの値を2以上に選択
するようにプログラムされる。
て、Δの連続値を測定し、各々の場合、σ8又はその十
分な近似値を計算し、差値、すなわち(Δ−IPσ 1
)を計算するようにゾログラx x ムされている(上式でPは仮信号を許容するための数字
セットである)。もしこれが正であればアラームが鳴り
、この差値の大きさを記録及び/又は表示する。放射能
源から出る放射束のランダムな波動以外の空隙を、その
結果が指示する可能性は、その空隙のサイズやPに対す
る値セット次第で決まる。Pの値−は少くとも2が好ま
しく、計算装置は所望のように、Pの値を2以上に選択
するようにプログラムされる。
空隙を探知するシステムの感度は次の式により大体説明
することかできる。
することかできる。
ΔX/σ、−txNx (K−1)/ (t、(K−1
−1)N、]ンP(fζに贋C(K−1)/π冒耶〉P 上式において tx=総合時間−L/VS L −−ζ−の移動方向へ測定した空隙の寸法(、、) ■=パーの速度(朋/ s ) K−11X/NX 銅バーやセシウム−137源の場合、われわれが見い出
したパーの中心軸と一致する中心軸を有するような基本
的に円筒形空隙の場合、K″’:: kexp(Qd)
となる。ここで、d;空隙の直径(朋) q=システムの形状寸法と、使用される放射線に対する
・ζ−材料の吸収係数 とで決まる定数−0,018mtn−’に一システムの
形状寸法に関する整数 = 0. 8 7 実際のシステムにおいて、パー材料、放射線の形状寸法
及び放射線のエネルギーは一定しているので、Kは空隙
の直径dと共に基本的に指数的に変化し、その直径の減
少に従って減少する。
−1)N、]ンP(fζに贋C(K−1)/π冒耶〉P 上式において tx=総合時間−L/VS L −−ζ−の移動方向へ測定した空隙の寸法(、、) ■=パーの速度(朋/ s ) K−11X/NX 銅バーやセシウム−137源の場合、われわれが見い出
したパーの中心軸と一致する中心軸を有するような基本
的に円筒形空隙の場合、K″’:: kexp(Qd)
となる。ここで、d;空隙の直径(朋) q=システムの形状寸法と、使用される放射線に対する
・ζ−材料の吸収係数 とで決まる定数−0,018mtn−’に一システムの
形状寸法に関する整数 = 0. 8 7 実際のシステムにおいて、パー材料、放射線の形状寸法
及び放射線のエネルギーは一定しているので、Kは空隙
の直径dと共に基本的に指数的に変化し、その直径の減
少に従って減少する。
ΔX/σX>Pの状態を満足させる時に探知される空隙
の最小直径は、固形・ζ−に対して、総合時間へだけ測
定したカウント比Nxにより決定される。
の最小直径は、固形・ζ−に対して、総合時間へだけ測
定したカウント比Nxにより決定される。
Nxの大きさは計算システムと放射線束源との実際的制
限によりセットされる。そのシステムの感度を増大させ
るように調整される唯一の変数は総合時間txである。
限によりセットされる。そのシステムの感度を増大させ
るように調整される唯一の変数は総合時間txである。
tXに対する最適値はL/Vであることが示される。従
ってこの事は、そのシステムを通る空隙の長さに調和す
るように、txを調整できるようにそのシステムの最大
感度が実現されねはならない場合には、基本事項である
。空隙の長さは変比し予期できないので、計算システム
は前述のようにtX、2tx、3tx等の連続的総合時
間に対して差値(Δ−IPσXl)を計算し、前述のよ
うなデータを信号にし、記録し、表示する。tXの1直
は、そのパーにおいて生じるであろうと予想される最大
長さの空隙の場合のL/Vの値に等しくなるように設定
される。
ってこの事は、そのシステムを通る空隙の長さに調和す
るように、txを調整できるようにそのシステムの最大
感度が実現されねはならない場合には、基本事項である
。空隙の長さは変比し予期できないので、計算システム
は前述のようにtX、2tx、3tx等の連続的総合時
間に対して差値(Δ−IPσXl)を計算し、前述のよ
うなデータを信号にし、記録し、表示する。tXの1直
は、そのパーにおいて生じるであろうと予想される最大
長さの空隙の場合のL/Vの値に等しくなるように設定
される。
空隙が探知されるか、予期される場合、記録、又は表示
は、次のことを示すようにプログラムさ″れる。ずなわ
ち、 (i) 信号を発生させるために必要な測定期間tx、
2txなど。その結果、これは空隙の長さしを適切に指
示する。
は、次のことを示すようにプログラムさ″れる。ずなわ
ち、 (i) 信号を発生させるために必要な測定期間tx、
2txなど。その結果、これは空隙の長さしを適切に指
示する。
(11)信号に対する信頼度を指示し、空隙の直径を適
切に指示する選択されたPの値と、差値(ΔX−IPσ
Xl)。
切に指示する選択されたPの値と、差値(ΔX−IPσ
Xl)。
この計算装置は又、空隙が探知されたとき、聴覚的又は
視覚的アラームを作動させ、圧延機から欠陥のある鋳造
金属パーが現われる時(欠陥が存在する場合には)を予
期させ、空隙に関するデータを保管し、それをあとで分
析することができ、ホストコンピューター(例えば、情
報を・保管レベルに保管するプラントコンピューターな
ど)に連絡するようにプログラムされる。
視覚的アラームを作動させ、圧延機から欠陥のある鋳造
金属パーが現われる時(欠陥が存在する場合には)を予
期させ、空隙に関するデータを保管し、それをあとで分
析することができ、ホストコンピューター(例えば、情
報を・保管レベルに保管するプラントコンピューターな
ど)に連絡するようにプログラムされる。
本発明は又、前述のように鋳造金属の空隙を探知する装
置を有する。
置を有する。
本発明の効果は、鋳造金属の表面、又は内部にある空隙
を動的状態のもとで探知でき、空隙は長さが長くて直径
の小さいものや、長さが短かくて直径の太きいものも探
知することができ、空隙と空隙との間の差も探知するこ
とができ、所望であれば分類もできるということである
。
を動的状態のもとで探知でき、空隙は長さが長くて直径
の小さいものや、長さが短かくて直径の太きいものも探
知することができ、空隙と空隙との間の差も探知するこ
とができ、所望であれば分類もできるということである
。
ここで、本発明を更に添伺図面を参照しながら、実施に
よって説明する。
よって説明する。
第1.2図を参照すれば、銅・S−]が鋳造機械2によ
り連続的に鋳造される。鋳造された銅パー1は、それか
ら高圧水流部3を通過し、それから圧延機4へ入る。そ
の・々−1に存在する空隙5を探知するために、前記高
圧水流部3と圧延機4との間に空隙探知システムを位置
ずける。この空隙探知システムはセシウム−137の如
き光吐子源6と、光緻子探知器7(例えばイオン化室)
と、マイクロコンピュータ−10の如き計算装置とで成
りたつ。光量子孫6と光量子探知器7との間の光量子の
ビームにおける総合金属の関数である光量子探知器7か
もの出力は、信号発生コンディショナー8を通り、弄委
イソターフ!−ス9を通ってマイクロコンピュータ−]
Oに入る。そのマイクロコンピュータ−10は、探知器
7の出力から銅パー1に存在するいかなる空隙50寸法
をも判断するように ′プログラムされている。非接触
性光学的幅測定装置11も又、インターフェース9を介
してマイクロコンピュータ−10に接続する。幅測定装
置11かもの出力から、マイクロコンピュータ−10は
銅パー1の幅をいかようにも変化させることかできる。
り連続的に鋳造される。鋳造された銅パー1は、それか
ら高圧水流部3を通過し、それから圧延機4へ入る。そ
の・々−1に存在する空隙5を探知するために、前記高
圧水流部3と圧延機4との間に空隙探知システムを位置
ずける。この空隙探知システムはセシウム−137の如
き光吐子源6と、光緻子探知器7(例えばイオン化室)
と、マイクロコンピュータ−10の如き計算装置とで成
りたつ。光量子孫6と光量子探知器7との間の光量子の
ビームにおける総合金属の関数である光量子探知器7か
もの出力は、信号発生コンディショナー8を通り、弄委
イソターフ!−ス9を通ってマイクロコンピュータ−]
Oに入る。そのマイクロコンピュータ−10は、探知器
7の出力から銅パー1に存在するいかなる空隙50寸法
をも判断するように ′プログラムされている。非接触
性光学的幅測定装置11も又、インターフェース9を介
してマイクロコンピュータ−10に接続する。幅測定装
置11かもの出力から、マイクロコンピュータ−10は
銅パー1の幅をいかようにも変化させることかできる。
視覚的表示装置12はマイクロコンピュータ−10から
の出力を表示する。
の出力を表示する。
第3図に示すもう1つの配置において、銅パー1の厚み
もパー1のライン速度と同じく、マイクロコンピュータ
−10へ組みこまれる。これらの数字も又、そこに存在
する空隙の寸法や位置を判断するために使用される。マ
イクロコンピュータ−10は又、アラーム13と、シリ
ンドされるアウトプット用プリンター14と、そのアウ
トプットをグラフに表示するだめのグラフィック端子1
5と、空隙に関するデータを貯えるためのデータロツガ
−16と、プリントストックレベルに関する情報を保管
するプリントコンピューター17等とに接続される。
もパー1のライン速度と同じく、マイクロコンピュータ
−10へ組みこまれる。これらの数字も又、そこに存在
する空隙の寸法や位置を判断するために使用される。マ
イクロコンピュータ−10は又、アラーム13と、シリ
ンドされるアウトプット用プリンター14と、そのアウ
トプットをグラフに表示するだめのグラフィック端子1
5と、空隙に関するデータを貯えるためのデータロツガ
−16と、プリントストックレベルに関する情報を保管
するプリントコンピューター17等とに接続される。
第1図は空隙を有する連続的鋳造銅パーの横断面図であ
り、 第2図はその連続鋳造銅パーの空隙を探知するシステム
の概略図であり、 第3図は空隙を探知するもう1つのシステムのa1略図
で゛ある。 1・・・・・・銅パー 2・・・・・・鋳造機械3・・
・・・高圧流水部 4・・・・・・圧延機5・・・・・
・空隙 6・・・・・・光量子孫7・・・・・・光量子
探知器 8・・・・・・信号用コンディショナー9・・・・・・
インターフェース 10・・・マイクロコンピュータ− 11・・・測定装置 12・・・視覚による表示装置 I3・・・アラーム 14・・・プリンター 15・・・グラフィック端子 16・・・データロツガ− 17・・・プリントコンピューター 特許出願人 プレスコツト ロッド ローラーズ リミテッド代理人 手続補正書(自発) 昭和59年7月、23日 特許庁長官 殿 1、事件の表示 昭和59年 特許願 第1.2542
0号2、発明の名称 鋳潰金属の空隙探知法、及びその装置 3、補正をする者 事件との関係 出願人 プレスコツト ロンド ローラーズ リミテッド4、代
理人 住所 東京都港区赤坂1丁目9番20号図 面 ・−
り、 第2図はその連続鋳造銅パーの空隙を探知するシステム
の概略図であり、 第3図は空隙を探知するもう1つのシステムのa1略図
で゛ある。 1・・・・・・銅パー 2・・・・・・鋳造機械3・・
・・・高圧流水部 4・・・・・・圧延機5・・・・・
・空隙 6・・・・・・光量子孫7・・・・・・光量子
探知器 8・・・・・・信号用コンディショナー9・・・・・・
インターフェース 10・・・マイクロコンピュータ− 11・・・測定装置 12・・・視覚による表示装置 I3・・・アラーム 14・・・プリンター 15・・・グラフィック端子 16・・・データロツガ− 17・・・プリントコンピューター 特許出願人 プレスコツト ロッド ローラーズ リミテッド代理人 手続補正書(自発) 昭和59年7月、23日 特許庁長官 殿 1、事件の表示 昭和59年 特許願 第1.2542
0号2、発明の名称 鋳潰金属の空隙探知法、及びその装置 3、補正をする者 事件との関係 出願人 プレスコツト ロンド ローラーズ リミテッド4、代
理人 住所 東京都港区赤坂1丁目9番20号図 面 ・−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 J)光量子源からの光量子の実質上平行なビームを鋳造
金属を通って通過させ、該鋳造金属から出る光量子束を
光計子探知器により探知し、該光素子探知器で出力され
た、鋳造金属の表面又はその中に存在する空隙の大きさ
を計算装置により判断することで成る、鋳造金属の表面
又はその中にある空隙を探知する方法。 2)前記計算装置は、光素子探知器からのアウトプット
信号をデジタル的に処理するプログラム可能なコントロ
ーラであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の方法。 3)前記プログラム可能なコントローラーは、空隙を探
知した時、アラームを作動させるようにプログラムされ
ることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の方法。 4)前記プログラム可能なコントローラーは、空隙にお
けるデータを保管するようにプログラムされることを特
徴とする特許請求の範囲第2項記載の方法。 5)光量子の実質上平行なビームを生じさせる光量子源
と、該光量子源に対して鋳造金属の反対側に位置づけら
れた光素子探知器と、該光素子探知器で出力された、鋳
造金属の中又はその表面に存在する空隙の寸法を判断す
るため、前記光素子探知器に接続された計算装置とで成
る、前記鋳造金属の表面あるいはその中9空隙を探知す
る装置。 6)前記光量子源は、ガンマ線を出す放射能源であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第5項記載の装置。 7)前記光駿子探知器は、イオン化室、フ第1・マルチ
プライヤ−/クリスタル探知:)g、或いはガイガーカ
ウンターであることを特徴とする特許請求の範囲第5項
又は第6項記載の装置。 8)非接触性幅測定装置が鋳造金属の幅を監視し、前記
計算装置に接続されることを特徴とする%5ト「請求の
範囲第5項乃至第7項のいづれか1項に記載の装置。 9)前記計算装置は、プログラム可能なコントローラー
であることを特徴とする特許請求の範囲第5項乃至第8
項のいづれか1項に記載の装置。 10)前記計算装置は、アラームに接続され、該アラー
ムを作動させることを特徴とする特許請求の範囲第5項
乃至第9項のいづれか1項に記載の装置。 11)前記計算装置は、該計算装置からの出力を表示す
るために可視的な表示装置に接続されることを特徴とす
る特許請求の範囲第5項乃至第10項のいづれか1項に
記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8316746 | 1983-06-20 | ||
| GB838316746A GB8316746D0 (en) | 1983-06-20 | 1983-06-20 | Void detection in cast metal |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6014143A true JPS6014143A (ja) | 1985-01-24 |
Family
ID=10544508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59125420A Pending JPS6014143A (ja) | 1983-06-20 | 1984-06-20 | 鋳造金属の空隙探知法、及びその装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4582993A (ja) |
| JP (1) | JPS6014143A (ja) |
| CA (1) | CA1222073A (ja) |
| GB (1) | GB8316746D0 (ja) |
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-
1983
- 1983-06-20 GB GB838316746A patent/GB8316746D0/en active Pending
-
1984
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- 1984-06-20 JP JP59125420A patent/JPS6014143A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| GB8316746D0 (en) | 1983-07-20 |
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