JPS60167073A - 多値パタ−ン信号のスライス回路 - Google Patents
多値パタ−ン信号のスライス回路Info
- Publication number
- JPS60167073A JPS60167073A JP59024038A JP2403884A JPS60167073A JP S60167073 A JPS60167073 A JP S60167073A JP 59024038 A JP59024038 A JP 59024038A JP 2403884 A JP2403884 A JP 2403884A JP S60167073 A JPS60167073 A JP S60167073A
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- circuit
- slice
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-
- G—PHYSICS
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- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Character Input (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、画像パターンの認識に関する。特に入力する
多値パターンから文字認識に適するレベルを唯一選択す
るためのスライスレベル決定回路に関する。
多値パターンから文字認識に適するレベルを唯一選択す
るためのスライスレベル決定回路に関する。
従来多値パターンを扱う文字認識装置では、その認識に
最適なレベルを選択するための回路が種々提案されてい
る。例えば微視的な走査域内のビットに着目し、中心点
の周囲のビットのレベル変化に応じて中心ビットのレベ
ルをダイナミックに決定する方法がある。また、いくつ
かのレベルでスライスした二値化パターンを−Hメモリ
に格納し、各々で認識を繻り返し、最もよく読めた文字
を採用するという方法もある。
最適なレベルを選択するための回路が種々提案されてい
る。例えば微視的な走査域内のビットに着目し、中心点
の周囲のビットのレベル変化に応じて中心ビットのレベ
ルをダイナミックに決定する方法がある。また、いくつ
かのレベルでスライスした二値化パターンを−Hメモリ
に格納し、各々で認識を繻り返し、最もよく読めた文字
を採用するという方法もある。
前者は、微視的なエリア内でのレベル決定であったため
、走査域を広範囲で見た場合に、地色レベルが絵や模様
などで複雑に変化するようなときには、地検様を文字パ
ターンとしてひろってしまう場合があった。
、走査域を広範囲で見た場合に、地色レベルが絵や模様
などで複雑に変化するようなときには、地検様を文字パ
ターンとしてひろってしまう場合があった。
後者は、複雑レベルで文字認識を行い各々のレベルの欠
点を補って最終結果を出力するという点で優れているが
、複雑レベルで認識処理を繰り返さねばならないため処
理時間が長くなる欠点がある。また、高速化のために認
識部を複数設置することも考えられるが、ハードウェア
コストが高くなる。
点を補って最終結果を出力するという点で優れているが
、複雑レベルで認識処理を繰り返さねばならないため処
理時間が長くなる欠点がある。また、高速化のために認
識部を複数設置することも考えられるが、ハードウェア
コストが高くなる。
本発明は前記欠点を改良するもので、その目的とすると
ころは (11走査域内の細かい地色のレベル変動の影響を除去
することができ、 (2)走査域内の地模様の影響を除去することができ、 (3)走査域内の文字数が大幅に変動してもレベル決定
に影響がない、 スライス回路を提供することにある。
ころは (11走査域内の細かい地色のレベル変動の影響を除去
することができ、 (2)走査域内の地模様の影響を除去することができ、 (3)走査域内の文字数が大幅に変動してもレベル決定
に影響がない、 スライス回路を提供することにある。
さらに、他の目的は複数のレベル認識における処理時間
の増加とハードウェア規模の増大を避け、前記+11〜
(3)のスライスレベル決定回路により、複数レベル認
識に比して大幅に認識性能を低下させない最適レベルを
1つだけ選択することができるスライス回路を提供する
ところにある。
の増加とハードウェア規模の増大を避け、前記+11〜
(3)のスライスレベル決定回路により、複数レベル認
識に比して大幅に認識性能を低下させない最適レベルを
1つだけ選択することができるスライス回路を提供する
ところにある。
本発明は、走査域を走査して得られる多値パターンの黒
ビット数を計数する手段と、その走査域に含まれる文字
列の長さを計数する手段と、上記黒ビット数を文字列長
により正規化する手段と、正規化された黒ビット数によ
りスライスレベルを決定する手段とを備えたことを特徴
とする。
ビット数を計数する手段と、その走査域に含まれる文字
列の長さを計数する手段と、上記黒ビット数を文字列長
により正規化する手段と、正規化された黒ビット数によ
りスライスレベルを決定する手段とを備えたことを特徴
とする。
以下、実施例により詳しく説明する。
第1図は本発明実施例回路の構成図である。入力多値パ
ターン信号lOは画像メモリlに入力する。
ターン信号lOは画像メモリlに入力する。
この画像メモリ1は多値レベルを持つ走査パターンを一
時格納する画像メモリで、その読出し出力はスライスレ
ベル選択回路2に入力される。スライスレベル選択回路
2は最終的に決定されたスライスレベル17に基づき、
二値化パターン11を出力する。
時格納する画像メモリで、その読出し出力はスライスレ
ベル選択回路2に入力される。スライスレベル選択回路
2は最終的に決定されたスライスレベル17に基づき、
二値化パターン11を出力する。
入力釜(直パターン信号10は分岐されてスライスレベ
ル選択回路3に入力する。このスライスレベル選択回路
3は文字列長計数のための二値化パターン選択を目的と
するスライスレベル選択回路であり、このための比較基
準となるレベルはこの場合固定値である。スライスレベ
ル選択回路3の出力は文字列長計数回路4に入力する。
ル選択回路3に入力する。このスライスレベル選択回路
3は文字列長計数のための二値化パターン選択を目的と
するスライスレベル選択回路であり、このための比較基
準となるレベルはこの場合固定値である。スライスレベ
ル選択回路3の出力は文字列長計数回路4に入力する。
この文字列長計数回路4は走査域内に含まれる文字列の
長さを計数し、その計数結果12は、黒ビツト数正規化
回路6並びに文字レベル判定回路7に入力される。
長さを計数し、その計数結果12は、黒ビツト数正規化
回路6並びに文字レベル判定回路7に入力される。
人力多値レベルバクーン信号10は、さらに分岐されて
黒ビツト数計数回路5に入力する。この計数回路5は各
レベルの黒ビットを計数する回路であり、その計数結果
13は正規化回路6並びに地色レベル判定回路8に与え
られる。正規化回路6は各レベルの黒ビット数を文字列
長により正規化し、正規化用ピント数14を文字レベル
判定回路7に与える。文字レベル判定回路7は正規化黒
ビット14と基準値とを比較し、文字認識用スライスレ
ベル15を出力する。地色レベル決定回路8は前記文字
認識用スライスレベル15をもとに、正規化前の各レベ
ル黒ビット数を基準値と比較し、地色が出なくなるよう
なスライスレベル16を出力する。レベル決定回路9は
前記2つのスライスレベル15と16とを比較し最終ス
ライスレベル17を出力する。
黒ビツト数計数回路5に入力する。この計数回路5は各
レベルの黒ビットを計数する回路であり、その計数結果
13は正規化回路6並びに地色レベル判定回路8に与え
られる。正規化回路6は各レベルの黒ビット数を文字列
長により正規化し、正規化用ピント数14を文字レベル
判定回路7に与える。文字レベル判定回路7は正規化黒
ビット14と基準値とを比較し、文字認識用スライスレ
ベル15を出力する。地色レベル決定回路8は前記文字
認識用スライスレベル15をもとに、正規化前の各レベ
ル黒ビット数を基準値と比較し、地色が出なくなるよう
なスライスレベル16を出力する。レベル決定回路9は
前記2つのスライスレベル15と16とを比較し最終ス
ライスレベル17を出力する。
第2図は文字列長計数回路4の構成例を示す図である。
このように構成された回路の動作を詳細に説明する。第
3図はスライスレベル差による一般的な二値化パターン
の変化を説明する図である。例として7つのスライスレ
ベルを持つ場合を示す。第3図(alは最も濃く出る〔
レベル1〕でスライスを行った場合であり、文字がつぶ
れてしまい一部には読取不可の文字が出ることがある。
3図はスライスレベル差による一般的な二値化パターン
の変化を説明する図である。例として7つのスライスレ
ベルを持つ場合を示す。第3図(alは最も濃く出る〔
レベル1〕でスライスを行った場合であり、文字がつぶ
れてしまい一部には読取不可の文字が出ることがある。
第3図(b)は〔レベル4〕で得、られる二値化された
パターンの例で、これを最適パターンと想定している。
パターンの例で、これを最適パターンと想定している。
第3図(C1は最も薄く出るcレベル7)でスライスを
行った例であ・す、一部に文字のかずれを生じる。
行った例であ・す、一部に文字のかずれを生じる。
第3図(dlは各レベルの正規化黒ビット数の変化を表
わすグラフである。〔レベル1〕から〔レベル7〕の方
向へ黒ビットの数は除々に減少していく傾向(単調減少
)の特徴を示す。ハツチングを施した値は最適スライス
レベルによる場合である。
わすグラフである。〔レベル1〕から〔レベル7〕の方
向へ黒ビットの数は除々に減少していく傾向(単調減少
)の特徴を示す。ハツチングを施した値は最適スライス
レベルによる場合である。
例示する第3図+a)〜(C)のパターンを含む多値レ
ベルパターン信号10は画像メモリlに格納される。
ベルパターン信号10は画像メモリlに格納される。
同時に固定スライス回路3を通し特定レベルの二値化パ
ターンが文字列長計数回路4に入力される。
ターンが文字列長計数回路4に入力される。
さらに、第3図(C1に示す各レベルの黒ビア 1・数
の分布を知るため、黒ビツト数計数回路5へ入力される
。文字列長計数は、入カバターン中に存在する文字列を
検出し、その文字列長の合計をめる。
の分布を知るため、黒ビツト数計数回路5へ入力される
。文字列長計数は、入カバターン中に存在する文字列を
検出し、その文字列長の合計をめる。
第2図で符号50はl走査分の二値化パターンを格納す
るシフトレジスタで、前記スライス回路3の出力とシス
トレジスタ51の出方と論理加算されたデータが入力さ
れる。この回路により数走査分の二値化パターンの論理
和をとり、後の文字列検出回路に入力する。
るシフトレジスタで、前記スライス回路3の出力とシス
トレジスタ51の出方と論理加算されたデータが入力さ
れる。この回路により数走査分の二値化パターンの論理
和をとり、後の文字列検出回路に入力する。
この回路により、先に、スライスレベル選択回路3にお
いて固定レベルでスライスしたときに生ずる不具合を補
っている。すなわち、文字列長計数のために、最適レベ
ル決定前のいずれがルベルを採用しなければならない。
いて固定レベルでスライスしたときに生ずる不具合を補
っている。すなわち、文字列長計数のために、最適レベ
ル決定前のいずれがルベルを採用しなければならない。
このとき地色レベルの影響をさけるため、通常地色がド
ロップアウトするようなレベルを選択する。しがし、文
字が部分的にかすれ、正常に文字列を構成できなくなる
可能性がある。これを防ぐため前記論理和をとることに
より数走査分について入力し、いわゆるぼかし効果によ
って文字のかすれの影響を最小限にとどめている。
ロップアウトするようなレベルを選択する。しがし、文
字が部分的にかすれ、正常に文字列を構成できなくなる
可能性がある。これを防ぐため前記論理和をとることに
より数走査分について入力し、いわゆるぼかし効果によ
って文字のかすれの影響を最小限にとどめている。
シフトレジスタ50の出力ば黒メソシュ長および位置検
出回路52に入力され、ここで1走査内の黒メツシユ部
分の位置と長さを検出する。この検出結果に基づき文字
列検出回路53では1つ前の走査における黒メツシユデ
ータ55を文字列長メモリ54から読出し接続関係を調
べる。接続する場合は文字列長を更新し、接続しない場
合は、新文字列として文字列長メモリ54に登録する。
出回路52に入力され、ここで1走査内の黒メツシユ部
分の位置と長さを検出する。この検出結果に基づき文字
列検出回路53では1つ前の走査における黒メツシユデ
ータ55を文字列長メモリ54から読出し接続関係を調
べる。接続する場合は文字列長を更新し、接続しない場
合は、新文字列として文字列長メモリ54に登録する。
以上の動作は、走査領域の走査が終了するまで続けられ
る。走査が完了し入力多値バクーン信号が画像メモリ1
に格納し終わると、スライスレベル判定動作を開始する
。
る。走査が完了し入力多値バクーン信号が画像メモリ1
に格納し終わると、スライスレベル判定動作を開始する
。
黒ビット数計数論理回5にて計数された各レベルの黒ビ
ツトデータ13は、正規化回路6と地色レベル判定回路
8に入力される。正規化回路6は文字列長データ12に
よりこの黒ビット数を正規化し、単位長当りの黒ビツト
数データ14を文字レベル判定回路7に送る。第3図の
例では第3図(dlに示す黒ビツトデータが送られる。
ツトデータ13は、正規化回路6と地色レベル判定回路
8に入力される。正規化回路6は文字列長データ12に
よりこの黒ビット数を正規化し、単位長当りの黒ビツト
数データ14を文字レベル判定回路7に送る。第3図の
例では第3図(dlに示す黒ビツトデータが送られる。
文字レベル判定回路7では〔レベル1〕から順に黒ビッ
ト数を調べ、標準黒ビツトレンジにはいる最初のレベル
を文字判定レベルとして出力する。第3図(dlに示す
例では、標準黒ビツトレンジに最初にはいる〔レベル4
〕が文字レベル15として出力される。
ト数を調べ、標準黒ビツトレンジにはいる最初のレベル
を文字判定レベルとして出力する。第3図(dlに示す
例では、標準黒ビツトレンジに最初にはいる〔レベル4
〕が文字レベル15として出力される。
一方、地色レベル判定回路8は、走査域内の黒ビツトデ
ータ13から地色レベルの判定を行う。第4図は地色レ
ベル検出の状況を説明するための例である。第4図(a
l、(b)、(C1はそれぞれ〔レベル2〕、〔レベル
4〕、〔レベル5〕でスライスしたとき得られる二値化
パターンを示す。第4図(dlは黒ピント数の変化を示
す。地色レベル判定回路8においてこの黒ビット数を〔
レベル1〕から〔レベル7〕の方向へ順にチェックし、
地レベル判定基準値以下となるレベルを探す。そして最
初に基準値以下となったレベルより、一つ下のレベルを
地色レベルとして判定出力する。
ータ13から地色レベルの判定を行う。第4図は地色レ
ベル検出の状況を説明するための例である。第4図(a
l、(b)、(C1はそれぞれ〔レベル2〕、〔レベル
4〕、〔レベル5〕でスライスしたとき得られる二値化
パターンを示す。第4図(dlは黒ピント数の変化を示
す。地色レベル判定回路8においてこの黒ビット数を〔
レベル1〕から〔レベル7〕の方向へ順にチェックし、
地レベル判定基準値以下となるレベルを探す。そして最
初に基準値以下となったレベルより、一つ下のレベルを
地色レベルとして判定出力する。
次に、レベル決定回路9では文字レベル判定結果15と
地色レベル判定結果16とから、最適とされるレベルを
決定しスライスレベル選択回路2に送る。このレベル決
定回路9では文字レベル15と地色レベル16を比較し
、文字レベルが大きければこれを最適レベル17として
出力する。もし地色レベルが大きければ、地色レベルよ
り一段高いレベルを最適レベル17として出力する。ス
ライスレベル選択回路2は最適レベル17により、スラ
イスした二値化パターン11を出力することができる。
地色レベル判定結果16とから、最適とされるレベルを
決定しスライスレベル選択回路2に送る。このレベル決
定回路9では文字レベル15と地色レベル16を比較し
、文字レベルが大きければこれを最適レベル17として
出力する。もし地色レベルが大きければ、地色レベルよ
り一段高いレベルを最適レベル17として出力する。ス
ライスレベル選択回路2は最適レベル17により、スラ
イスした二値化パターン11を出力することができる。
以上説明したように本発明によれば走査域内の黒ビット
数に着目するため、模様などにより、地色レベルが複雑
に変化しても最適スライスレベルを決定できる。また走
査域内の黒ビット数を文字列長により正規化したデータ
を用いるため、走査域内の文字数変動があっても、最適
スライスレベルを決定する回路を提供することができる
。
数に着目するため、模様などにより、地色レベルが複雑
に変化しても最適スライスレベルを決定できる。また走
査域内の黒ビット数を文字列長により正規化したデータ
を用いるため、走査域内の文字数変動があっても、最適
スライスレベルを決定する回路を提供することができる
。
なお、本発明は先に述べた従来例回路として説明した微
視的エリア内のグイナミンクなスライスレベル決定方式
や、複数レベル認識回路に組み合わせて用いることがで
き、この場合には各回路の利点が相乗的な効果となる。
視的エリア内のグイナミンクなスライスレベル決定方式
や、複数レベル認識回路に組み合わせて用いることがで
き、この場合には各回路の利点が相乗的な効果となる。
第1図は本発明実施例回路ブロック構成図。
第2図は文字列長計数回路のブロック構成図。
第3図はスライスレベルの変化による二値化パターンの
変化を説明する図。 第4図はスライスレベルの変化による黒ビット数の変化
を説明するための図。 1・・・画像メモリ、2.3・・・スライスレベル選択
回路、4・・・文字列検出回路、5・・・黒ビツト計数
回路、6・・・正規化回路、7・・・文字レベル判定回
路、8・・・地色レベル判定回路、9・・・レベル決定
回路、10・・・入力多値パターン信号、11・・・出
力最適レベル二値化パターン、12・・・文字列長デー
タ、13・・・黒ピント計数データ、14・・・正規化
黒ビツトデータ、15・・・文字レベル判定結果の信号
、16・・・地色レベル判定結果の信号、17・・・最
適レベル判定結果の信号、50・・・シフトレジスタ、
51・・・シフトレジスタ、52・・・黒メソシュ位置
長さ検出回路、53・・・文字列検出回路、54・・・
文字列長メモリ、55・・・1走査前の文字列データ。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 井 出 直 孝
変化を説明する図。 第4図はスライスレベルの変化による黒ビット数の変化
を説明するための図。 1・・・画像メモリ、2.3・・・スライスレベル選択
回路、4・・・文字列検出回路、5・・・黒ビツト計数
回路、6・・・正規化回路、7・・・文字レベル判定回
路、8・・・地色レベル判定回路、9・・・レベル決定
回路、10・・・入力多値パターン信号、11・・・出
力最適レベル二値化パターン、12・・・文字列長デー
タ、13・・・黒ピント計数データ、14・・・正規化
黒ビツトデータ、15・・・文字レベル判定結果の信号
、16・・・地色レベル判定結果の信号、17・・・最
適レベル判定結果の信号、50・・・シフトレジスタ、
51・・・シフトレジスタ、52・・・黒メソシュ位置
長さ検出回路、53・・・文字列検出回路、54・・・
文字列長メモリ、55・・・1走査前の文字列データ。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 井 出 直 孝
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (11所定の走査域を走査して得られる多値パターン信
号を一時記憶する記憶回路と、 この記憶回路の読出し出力を基準レベルデスライスして
2値信号を出力するスライスレベル選択回路と を備えたスライス回路において 上記多値バクーン信号の複数レベル毎の黒ビット数を計
数する手段と、 上記多値パターン信号の文字列の長さを計数する手段と
、 この手段により得られた文字列の長さにより上記複数レ
ベル毎の黒レベル数を正規化する手段と、この手段によ
り得られた正規化された黒ビットの数によりスライスレ
ベルを決定し上記スライスレベル選択回路に基準レベル
として送出するレベル決定回路と を備えたことを特徴する多値パターン信号のスライス回
路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59024038A JPH0632072B2 (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 多値パタ−ン信号のスライス回路 |
| US06/699,811 US4675909A (en) | 1984-02-09 | 1985-02-08 | Binary character signal producing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59024038A JPH0632072B2 (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 多値パタ−ン信号のスライス回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60167073A true JPS60167073A (ja) | 1985-08-30 |
| JPH0632072B2 JPH0632072B2 (ja) | 1994-04-27 |
Family
ID=12127325
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59024038A Expired - Lifetime JPH0632072B2 (ja) | 1984-02-09 | 1984-02-09 | 多値パタ−ン信号のスライス回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4675909A (ja) |
| JP (1) | JPH0632072B2 (ja) |
Families Citing this family (22)
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|---|---|---|---|---|
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| JPS6297079A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-06 | Hitachi Ltd | ビデオ信号の2値化回路 |
| CA1297983C (en) * | 1986-11-12 | 1992-03-24 | Shigenobu Kasuya | Binary signal producing apparatus for optical character recognition |
| US5008950A (en) * | 1987-01-22 | 1991-04-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing method and apparatus for error-dispersion digitization without moire or spurious stripe formation |
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| US5097520A (en) * | 1989-01-20 | 1992-03-17 | Ricoh Company, Ltd. | Method of obtaining optimum threshold values |
| JPH087785B2 (ja) * | 1989-05-16 | 1996-01-29 | 松下電器産業株式会社 | 2値化処理装置 |
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| JPH0792423B2 (ja) * | 1990-05-21 | 1995-10-09 | 日産自動車株式会社 | ヘッドライトの光軸調整方法 |
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Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1483569A (ja) * | 1965-06-22 | 1967-09-06 | ||
| US3479642A (en) * | 1966-02-21 | 1969-11-18 | Ibm | Threshold system |
| US3668637A (en) * | 1969-09-16 | 1972-06-06 | Tokyo Shibaura Electric Co | Character reader having optimum quantization level |
| US3705383A (en) * | 1971-08-06 | 1972-12-05 | William W Frayer | Biological sample pattern analysis method and apparatus |
| JPS5218132A (en) * | 1975-08-01 | 1977-02-10 | Hitachi Ltd | Binary circuit |
| US4566125A (en) * | 1982-12-08 | 1986-01-21 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for pattern location |
-
1984
- 1984-02-09 JP JP59024038A patent/JPH0632072B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-02-08 US US06/699,811 patent/US4675909A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5532170A (en) * | 1978-08-29 | 1980-03-06 | Fujitsu Ltd | Optimal binary system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4675909A (en) | 1987-06-23 |
| JPH0632072B2 (ja) | 1994-04-27 |
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