JPS60168046A - 電磁誘導試験装置 - Google Patents
電磁誘導試験装置Info
- Publication number
- JPS60168046A JPS60168046A JP2381484A JP2381484A JPS60168046A JP S60168046 A JPS60168046 A JP S60168046A JP 2381484 A JP2381484 A JP 2381484A JP 2381484 A JP2381484 A JP 2381484A JP S60168046 A JPS60168046 A JP S60168046A
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- Japan
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- impedance
- coil
- conductor
- detection coil
- steel pipe
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は管材内面の材質及び性状の検査を行う電磁ＢＰ
、導試験装置に関し、特に検出コイルの走査に起因する
検査精度への悪影響をなくして積度の良い検査が行なえ
る電磁誘導試験装置を提案するものである。
、導試験装置に関し、特に検出コイルの走査に起因する
検査精度への悪影響をなくして積度の良い検査が行なえ
る電磁誘導試験装置を提案するものである。
７ｔｊ磁誘導を利用して鋼管内面の硬度、炭素含有口等
の材質及び局ｎ１；的な物性のむら、不純物の介在、疵
の存否、その深さ等の性状の検査を行う方法がある。こ
の方法の原理は、鋼管内に挿入される検出コイルのイン
ピーダンスが該鋼管内５面の透磁付．導電率の変動によ
り変化することを利用し、このインピーダンスの変化を
検出することによって、透磁率１専電率と相関関係をイ
ｊする調性内面の材質及び性状を検査せんとするもので
ある。
の材質及び局ｎ１；的な物性のむら、不純物の介在、疵
の存否、その深さ等の性状の検査を行う方法がある。こ
の方法の原理は、鋼管内に挿入される検出コイルのイン
ピーダンスが該鋼管内５面の透磁付．導電率の変動によ
り変化することを利用し、このインピーダンスの変化を
検出することによって、透磁率１専電率と相関関係をイ
ｊする調性内面の材質及び性状を検査せんとするもので
ある。
このような原理を利用して具体的に鋼管内面の（Ａ質及
び性状を検査する装置として次のようなものが知られて
いる。
び性状を検査する装置として次のようなものが知られて
いる。
即ち、第１図に示す様に短尺の材質既知の標準鋼管１．
■内に多層巻きコイルからなる検出コイル２．標準コイ
ル３を夫々挿入する。検出コイル２及び標２にラコイル
３は共にこれらに交流ｆｆｉ流を通電する発振器及びそ
のときの両コイルのインピーダンスを測定するブリッジ
回路等からなる電磁誘導試験器４にケーブル８ａ、８ｂ
を介して接続されている。
■内に多層巻きコイルからなる検出コイル２．標準コイ
ル３を夫々挿入する。検出コイル２及び標２にラコイル
３は共にこれらに交流ｆｆｉ流を通電する発振器及びそ
のときの両コイルのインピーダンスを測定するブリッジ
回路等からなる電磁誘導試験器４にケーブル８ａ、８ｂ
を介して接続されている。
このような構成において発振器から検出：１イル２、標
準コイル３に交流を印加し、ブリ・ノジ回１／８の平衡
をとるようにその調整を行なう。その後、第２図に示す
様に検出コイル２を検査対象の鋼管５に挿入して一端か
ら他端に向けて走査する。２（お、この走査は検出コイ
ル２を先端に取（＝ｔ ｉ〕た筒状の検出コイル支持部
材７を送りローラ２０によって鋼管５に挿入し、また、
巻取リール３０によってケーブル８ａを内蔵した支持部
材７を巻取ることによって行われる。
準コイル３に交流を印加し、ブリ・ノジ回１／８の平衡
をとるようにその調整を行なう。その後、第２図に示す
様に検出コイル２を検査対象の鋼管５に挿入して一端か
ら他端に向けて走査する。２（お、この走査は検出コイ
ル２を先端に取（＝ｔ ｉ〕た筒状の検出コイル支持部
材７を送りローラ２０によって鋼管５に挿入し、また、
巻取リール３０によってケーブル８ａを内蔵した支持部
材７を巻取ることによって行われる。
而して、検出コイル２．標準コイル３に交流４印加する
と、標準鋼管１の材質又は性状と検査対象の鋼管５０祠
質又は性状とが相違する場合は、ブリッジ回路によりこ
の相違に相応するインピーダンスの不平衡量が検出され
る。これにより、予め設定しであるインピーダンスの不
平出量と鋼管５の材質又は性状との相関関係に基づき鋼
管５０材質、性状を検査（判定）できる。
と、標準鋼管１の材質又は性状と検査対象の鋼管５０祠
質又は性状とが相違する場合は、ブリッジ回路によりこ
の相違に相応するインピーダンスの不平衡量が検出され
る。これにより、予め設定しであるインピーダンスの不
平出量と鋼管５の材質又は性状との相関関係に基づき鋼
管５０材質、性状を検査（判定）できる。
さて、このような装置において検出コイル２が鋼管５の
基端部Ｑ゛こ位置するときは検出コイル支持部材７及び
ケーブル８ａが巻取られ、ここにインピーダンス変化が
形成される。このため、ブリッジ回路の検出コイルを含
む辺のインピーダンスは、標ｌ曽鋼管１と鋼管５との電
磁特性又は材質、性状か同様である場合には、検出コイ
ル２の調整時のインピーダンスωＬ２と巻取部のインピ
ーダンス変化分Δω１，２との和、即ぢωＬ２ ＋Δω
Ｉ−２になる。標準コイル３のインピーダンスＱＬ３は
調整時には、例えばωＬ、２＝ωＬ３となっているが、
この装置ではωＬ２＋ΔωＩ−２≠ωｌ、３ となり、
標（（！′鋼鋼管点鋼管５とが同しであっても巻取部の
インピーダンス変化分によってブリッジ回路は不平衡に
なる。このような状態において鋼管５の材質、性状に変
化が生している部分、例えば不純物が介在している部分
を検査する場合にはブリッジ回路にて検出されるインピ
ーダンスの不平ｉ！ｊＷは巻取部のインピーダンス変化
分による誤差分を含んだものとなり、鋼管５と標′／＄
鋼管１の４１質、性状を正しく評価できず、従って精度
の良い検査が行なえない。
基端部Ｑ゛こ位置するときは検出コイル支持部材７及び
ケーブル８ａが巻取られ、ここにインピーダンス変化が
形成される。このため、ブリッジ回路の検出コイルを含
む辺のインピーダンスは、標ｌ曽鋼管１と鋼管５との電
磁特性又は材質、性状か同様である場合には、検出コイ
ル２の調整時のインピーダンスωＬ２と巻取部のインピ
ーダンス変化分Δω１，２との和、即ぢωＬ２ ＋Δω
Ｉ−２になる。標準コイル３のインピーダンスＱＬ３は
調整時には、例えばωＬ、２＝ωＬ３となっているが、
この装置ではωＬ２＋ΔωＩ−２≠ωｌ、３ となり、
標（（！′鋼鋼管点鋼管５とが同しであっても巻取部の
インピーダンス変化分によってブリッジ回路は不平衡に
なる。このような状態において鋼管５の材質、性状に変
化が生している部分、例えば不純物が介在している部分
を検査する場合にはブリッジ回路にて検出されるインピ
ーダンスの不平ｉ！ｊＷは巻取部のインピーダンス変化
分による誤差分を含んだものとなり、鋼管５と標′／＄
鋼管１の４１質、性状を正しく評価できず、従って精度
の良い検査が行なえない。
ｃ目的〕
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、検出
コイルに連なる導体の巻取りによるインピータンスの変
動を補償すべく、標準コイルにインピーダンス変動補償
用導体を接続して、これを検出こ１イルに連なる導体と
同様に巻取る構成とするごとにより、管材内面の利賀、
性状検査が精度良く行なえる電磁誘導試験装置を提（Ｊ
（することを目的とする。
コイルに連なる導体の巻取りによるインピータンスの変
動を補償すべく、標準コイルにインピーダンス変動補償
用導体を接続して、これを検出こ１イルに連なる導体と
同様に巻取る構成とするごとにより、管材内面の利賀、
性状検査が精度良く行なえる電磁誘導試験装置を提（Ｊ
（することを目的とする。
本発明に係る亀θり誘導試験装置は、検貞幻象の管月内
に挿入して管内を走査する検出ごｌイルに連なる導体の
余長骨を巻取るべくなしてあり、該検出コイルのインピ
ーダンスと標（ＪＰ−管材に挿入しである標準コイルの
インピーダンスとを比較、！ｌ−るごとにより前記管材
の内面検査を行う電磁誘導試験装置において、前記検出
コイルに連なる導体の巻取りによるインピーダンス変動
を補ｍすべく、前記標準コイルにインピーダンス変動補
償用導体を前記検出コイルに連なる導体と同様に巻取る
べく構成したことを特徴とする。
に挿入して管内を走査する検出ごｌイルに連なる導体の
余長骨を巻取るべくなしてあり、該検出コイルのインピ
ーダンスと標（ＪＰ−管材に挿入しである標準コイルの
インピーダンスとを比較、！ｌ−るごとにより前記管材
の内面検査を行う電磁誘導試験装置において、前記検出
コイルに連なる導体の巻取りによるインピーダンス変動
を補ｍすべく、前記標準コイルにインピーダンス変動補
償用導体を前記検出コイルに連なる導体と同様に巻取る
べく構成したことを特徴とする。
以下本発明をその実施例を示す図面に基づいてｄ′を達
する。第３図は本発明に係る電磁誘導試験装置の略本側
面図、第４図はその電気回ｌ洛を桧式的Ｑこ示ず回路図
である。
する。第３図は本発明に係る電磁誘導試験装置の略本側
面図、第４図はその電気回ｌ洛を桧式的Ｑこ示ず回路図
である。
第１，２図に示した従来装置と本発明装置との相違はブ
リッジ回路の標Ｉ＄コイル３を含む辺にインピーダンス
変動補償用導体１９を接続した点にある。第３図に示す
様に円筒状のコイルボビン６の周縁の溝には多層巻きの
検出＝１イル２を形成しである。：ｌイルボビン６は長
尺の円筒状の検出ｍｌｌツク持９１（月７の先端部に同
心的に取付けである。
リッジ回路の標Ｉ＄コイル３を含む辺にインピーダンス
変動補償用導体１９を接続した点にある。第３図に示す
様に円筒状のコイルボビン６の周縁の溝には多層巻きの
検出＝１イル２を形成しである。：ｌイルボビン６は長
尺の円筒状の検出ｍｌｌツク持９１（月７の先端部に同
心的に取付けである。
支持部材７は可撓性を有する硬質樹脂製チフーーブであ
って検出：１イル２に連なるケーブル１Ｂ及び標準コイ
ル３に接続すべきインピーダンス変動袖１１゛９用導体
Ｉ９を内蔵Ｌ７ており、支持部ヰ１７の基端側にｉａ長
離隔した位置に設置しである巻取り−ル３０によって巻
取られるようになっている。なお支持部材７〜８取り−
ル３０間には送りｌ：Ｊ−ラ２０を設置してあり、支持
部材７を鋼管１内に挿入しえるようになっている。導体
１９の先端は支持部材７の先端部に適当な方法で固定し
である。ケーブル１８の基端部からはその内部導体１８
ａ、１８ｂを剥き出してブリッジ回路の辺の１つを形成
すべく電磁誘導試験器４の検出端子４０ａ、入力端子４
０ｂに接続しである。導体１９の基０１１１部からは同
様にその内部導体１９ａ。
って検出：１イル２に連なるケーブル１Ｂ及び標準コイ
ル３に接続すべきインピーダンス変動袖１１゛９用導体
Ｉ９を内蔵Ｌ７ており、支持部ヰ１７の基端側にｉａ長
離隔した位置に設置しである巻取り−ル３０によって巻
取られるようになっている。なお支持部材７〜８取り−
ル３０間には送りｌ：Ｊ−ラ２０を設置してあり、支持
部材７を鋼管１内に挿入しえるようになっている。導体
１９の先端は支持部材７の先端部に適当な方法で固定し
である。ケーブル１８の基端部からはその内部導体１８
ａ、１８ｂを剥き出してブリッジ回路の辺の１つを形成
すべく電磁誘導試験器４の検出端子４０ａ、入力端子４
０ｂに接続しである。導体１９の基０１１１部からは同
様にその内部導体１９ａ。
１９ｂを剥き出してあり、導体１９ａは電磁８ｆ：ｊ専
試験器４の入力端子４０ｂに接続しである。導体１９１
１は標準鋼管１内に挿入すべき標準コイル３の一端に接
続してあり、検出＝１イル３の他端は電磁誘導試験器４
の検出端子４０ｃに接続しである。即ち、標準コイル３
と導体１９とでブリッジ回路の他の一辺を形成するよう
になしである。
試験器４の入力端子４０ｂに接続しである。導体１９１
１は標準鋼管１内に挿入すべき標準コイル３の一端に接
続してあり、検出＝１イル３の他端は電磁誘導試験器４
の検出端子４０ｃに接続しである。即ち、標準コイル３
と導体１９とでブリッジ回路の他の一辺を形成するよう
になしである。
次にこのような構成の本発明装置を用いて鋼管５の材質
、性状検森を１１う場合に・つい゛（説明する。
、性状検森を１１う場合に・つい゛（説明する。
先ず、第１図に示す様−に所定位置に定置しである標準
鋼層１内に検出コイル２を送り１−ｒ−ラ２０によって
挿入する。そして、該検出コイル２及び同様の４Ｆｊ
；ｌｌ＋鋼管１内に挿入しである標！倶二ｌイル３に電
磁誘導試験器４の発振器から５００１１ｚ程度の高周波
電流を１ｌｌｌ電する。そして試験器４のブリッジ回路
を調整してブリッジの平衡をとる。
鋼層１内に検出コイル２を送り１−ｒ−ラ２０によって
挿入する。そして、該検出コイル２及び同様の４Ｆｊ
；ｌｌ＋鋼管１内に挿入しである標！倶二ｌイル３に電
磁誘導試験器４の発振器から５００１１ｚ程度の高周波
電流を１ｌｌｌ電する。そして試験器４のブリッジ回路
を調整してブリッジの平衡をとる。
次に検出コイル２を標Ｉ４１ｉ鋼眉１から抜き去り、第
３図に示す如き検査対象の鋼管５に挿入して基端側から
先端側若しくは逆方向に走査ゼしめることにより＃ｌｌ
’ｌ清５の全長に亘って検査を行なう。
３図に示す如き検査対象の鋼管５に挿入して基端側から
先端側若しくは逆方向に走査ゼしめることにより＃ｌｌ
’ｌ清５の全長に亘って検査を行なう。
このような検査において、検出コイル２が鋼管５の基端
部寄り□に位置するときについて説明すると、ケーブル
１８及び導体１９は鋼管５の長さに略等しい分だけ巻取
リール３０に巻取られることになり、第４図に示す様な
巻取部２８．２９が巻取り−ル３０に形成されることに
なる。この場合にブリッジ回路にて検出される入力端子
４０ｂ〜検出端子４０ａ間のインピーダンスは、標準鋼
管１と鋼管５との電磁特性又は材質１性状が同様である
場合には、検出コイル２の調整時のインピーダンスωＬ
２と巻取部２８のインピーダンスΔωＬ２との和、即ら
ωＩ２．＋ΔωＬ２になる。
部寄り□に位置するときについて説明すると、ケーブル
１８及び導体１９は鋼管５の長さに略等しい分だけ巻取
リール３０に巻取られることになり、第４図に示す様な
巻取部２８．２９が巻取り−ル３０に形成されることに
なる。この場合にブリッジ回路にて検出される入力端子
４０ｂ〜検出端子４０ａ間のインピーダンスは、標準鋼
管１と鋼管５との電磁特性又は材質１性状が同様である
場合には、検出コイル２の調整時のインピーダンスωＬ
２と巻取部２８のインピーダンスΔωＬ２との和、即ら
ωＩ２．＋ΔωＬ２になる。
一方、入力端子４０ｂ〜検出品１子４０ｃ間のインピー
ダンスは標準コイル３の調整時のインピーダンスωＬ、
］ と巻取部２９のインピーダンス八〇】Ｌ３との和、
即ぢωＬ３＋ΔωＬ３になる。従って、入力端子４０ｂ
−検出端子４０ａ間のインピーダンスと入力端子４０［
）〜検出端子４０ｃ間のインピータンスの不平衡量は（
ωＬ２＋ΔωＩ−，２） （ω［７］→−ΔωＬ３）に
ムる。ところで、ケーブル１８と導体１９は略同長巻取
られるので、巻取ｒ；＋ｔ２ｓと２９のインピーダンス
は略等しく、ΔωＬ２−Δω１．］の関係が成立する。
ダンスは標準コイル３の調整時のインピーダンスωＬ、
］ と巻取部２９のインピーダンス八〇】Ｌ３との和、
即ぢωＬ３＋ΔωＬ３になる。従って、入力端子４０ｂ
−検出端子４０ａ間のインピーダンスと入力端子４０［
）〜検出端子４０ｃ間のインピータンスの不平衡量は（
ωＬ２＋ΔωＩ−，２） （ω［７］→−ΔωＬ３）に
ムる。ところで、ケーブル１８と導体１９は略同長巻取
られるので、巻取ｒ；＋ｔ２ｓと２９のインピーダンス
は略等しく、ΔωＬ２−Δω１．］の関係が成立する。
また、調整時にばωＬ、 ］ とＱ月−２との間には一
定の関係、例えばωＬ２−ωＬ３の関係が成立する。従
って、この場合に１．；Ｉ：（、）川、２＋Δω１−２
．シ）−（ωＬ、３ →−ΔωＬ３）＝Ｏとなり、ブリ
ッジ回路の平衡は保たれる。
定の関係、例えばωＬ２−ωＬ３の関係が成立する。従
って、この場合に１．；Ｉ：（、）川、２＋Δω１−２
．シ）−（ωＬ、３ →−ΔωＬ３）＝Ｏとなり、ブリ
ッジ回路の平衡は保たれる。
而して、鋼管５の電磁特性及び材質、性状が標律二鋼管
１のそれと異なる部分を検査する場合はその相違に相応
するインピーダンスの不平衡量を正確に検出することが
できるので、Ｂｉ度の良い検査が行なえる。
１のそれと異なる部分を検査する場合はその相違に相応
するインピーダンスの不平衡量を正確に検出することが
できるので、Ｂｉ度の良い検査が行なえる。
以上詳述した如く本発明に係る電磁誘導試験装置は、検
出コイルに連なる導体の巻取によるインピーダンスの変
動を補償すべく、標準コイルにインピーダンス変動補償
用導体を接続して、これを検出コイルに連なる導体と同
様に巻取る構成としたものであるので、管材内面の月質
、性状検査が精度良く行なえる等、本発明は優れた効果
を奏する。
出コイルに連なる導体の巻取によるインピーダンスの変
動を補償すべく、標準コイルにインピーダンス変動補償
用導体を接続して、これを検出コイルに連なる導体と同
様に巻取る構成としたものであるので、管材内面の月質
、性状検査が精度良く行なえる等、本発明は優れた効果
を奏する。
なお、」二連の実施例では本発明を鋼管内面の材質、性
状検査に適用する場合について述べたか他の金属管の内
面検査についても通用できることば勿論である。
状検査に適用する場合について述べたか他の金属管の内
面検査についても通用できることば勿論である。
第１．２図は従来装置の略本側面図、第３図は本発明装
置の略本側面図、第４図はその電気回路を模式的に示す
回路図である。 ■・・・標準鋼Ｔ［２・・・検出コイル ３・・・標準
コイル ４・・・電磁誘導試験器 ５・・・鋼管 ７・
・・検出コイル支持部材１）（・・・ケーブル １９・
・・インピーダンス変動補償用導体 特 許 出願人 住友金屈工業株式会社代理人 弁理士
１１σ 野 登 人
置の略本側面図、第４図はその電気回路を模式的に示す
回路図である。 ■・・・標準鋼Ｔ［２・・・検出コイル ３・・・標準
コイル ４・・・電磁誘導試験器 ５・・・鋼管 ７・
・・検出コイル支持部材１）（・・・ケーブル １９・
・・インピーダンス変動補償用導体 特 許 出願人 住友金屈工業株式会社代理人 弁理士
１１σ 野 登 人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、検査対象の管月内に挿入して管内を走査する検出コ
イルに連なる導体の余長分を巻取るべくなしてあり、該
検出コイルのインピーダンスと標準管材に挿入しである
標準コイルのインピーダンスとを比較することにより前
記管材の内面検査を行う電磁誘導試験装置において、 前記検出コイルに連なる導体の巻取りによるインピーダ
ンス変動を補償すべく、前記標準コイルにインピーダン
ス変動袖ＩｊＫ用導体を接続し、該インピーダンス変動
補（ｊλ用・ｉ体を前記検出コイルに連なる導体と同様
に巻取るべく構成したことを特徴とする電９り誘導試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2381484A JPS60168046A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 電磁誘導試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2381484A JPS60168046A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 電磁誘導試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60168046A true JPS60168046A (ja) | 1985-08-31 |
| JPH0565819B2 JPH0565819B2 (ja) | 1993-09-20 |
Family
ID=12120810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2381484A Granted JPS60168046A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | 電磁誘導試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60168046A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014178225A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Neturen Co Ltd | 焼入深さ測定用プローブ及びその焼入深さ測定用プローブを用いた焼入深さ測定方法 |
| KR20190010293A (ko) * | 2017-07-21 | 2019-01-30 | 조선대학교산학협력단 | 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5325383U (ja) * | 1976-08-10 | 1978-03-03 | ||
| JPS57135953U (ja) * | 1981-02-18 | 1982-08-25 |
-
1984
- 1984-02-10 JP JP2381484A patent/JPS60168046A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5325383U (ja) * | 1976-08-10 | 1978-03-03 | ||
| JPS57135953U (ja) * | 1981-02-18 | 1982-08-25 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014178225A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Neturen Co Ltd | 焼入深さ測定用プローブ及びその焼入深さ測定用プローブを用いた焼入深さ測定方法 |
| KR20190010293A (ko) * | 2017-07-21 | 2019-01-30 | 조선대학교산학협력단 | 비파괴 검사를 위한 와전류 검사 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0565819B2 (ja) | 1993-09-20 |
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