JPS60177251A - Νmrイメ−ジング装置 - Google Patents
Νmrイメ−ジング装置Info
- Publication number
- JPS60177251A JPS60177251A JP59032309A JP3230984A JPS60177251A JP S60177251 A JPS60177251 A JP S60177251A JP 59032309 A JP59032309 A JP 59032309A JP 3230984 A JP3230984 A JP 3230984A JP S60177251 A JPS60177251 A JP S60177251A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- pulse
- high frequency
- applying
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
- G01R33/4818—MR characterised by data acquisition along a specific k-space trajectory or by the temporal order of k-space coverage, e.g. centric or segmented coverage of k-space
- G01R33/482—MR characterised by data acquisition along a specific k-space trajectory or by the temporal order of k-space coverage, e.g. centric or segmented coverage of k-space using a Cartesian trajectory
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はNMRイメージング装置に係り、特にスキャン
時間を従来に比べ著しく短縮化するに好適なNMRイメ
ージング装置に関する。
時間を従来に比べ著しく短縮化するに好適なNMRイメ
ージング装置に関する。
従来、高速スキャンのための方法としてはステディ・ス
テート・フリー・プリセツション法(St、eady
−5tate Frje Precession −’
−5SFP法)及び多重エコー(mul、tiple
echo )を高速加算する方法があった。しかし前者
では所望断面画像の切出しに振動勾配磁場を用いるため
イライスの厚み方向の形状(S lieing P r
ofile)を理想的な矩形に近づけることが困難であ
る点、また後者では多数のエコー信号の位相を完全に一
致させるのが実際上困難であるなどの欠点があり、これ
ら従来の方法では高分解能で画質の優れたNMRイメー
ジを高速で得るのは困難であった。
テート・フリー・プリセツション法(St、eady
−5tate Frje Precession −’
−5SFP法)及び多重エコー(mul、tiple
echo )を高速加算する方法があった。しかし前者
では所望断面画像の切出しに振動勾配磁場を用いるため
イライスの厚み方向の形状(S lieing P r
ofile)を理想的な矩形に近づけることが困難であ
る点、また後者では多数のエコー信号の位相を完全に一
致させるのが実際上困難であるなどの欠点があり、これ
ら従来の方法では高分解能で画質の優れたNMRイメー
ジを高速で得るのは困難であった。
本発明の目的は、スピンフリップバック法を用いて、高
分解能で画質の優れたNMRイメージを従来に比べ著し
く短時間で得ることが可能な新しい測定手法及び測定装
置を提供することにある。
分解能で画質の優れたNMRイメージを従来に比べ著し
く短時間で得ることが可能な新しい測定手法及び測定装
置を提供することにある。
本発明はNMRイメージングにおける信号の減衰が不可
逆過程ではないことに着目し、一旦信号を測定した後、
スピン系に180″パルスを照射してやりスピン系の時
間変化を逆転させることによって、減衰した信号を再び
生成させ、生成した信号を90°パルスによって静磁場
方向に強制的に引きもどしてやることにより、次の測定
までの待ち時間を短縮し高速スキャンを可能とするもの
である。
逆過程ではないことに着目し、一旦信号を測定した後、
スピン系に180″パルスを照射してやりスピン系の時
間変化を逆転させることによって、減衰した信号を再び
生成させ、生成した信号を90°パルスによって静磁場
方向に強制的に引きもどしてやることにより、次の測定
までの待ち時間を短縮し高速スキャンを可能とするもの
である。
以下、本発明の実施域の構成及び動作の説明を行う。第
1図に本装置のブロックダイアグラムを示す。本装置は
CPU (1−1)の管理のもとにシーケンサ−(1−
2)、送信系(1−3)、受信系(1−4) 、静磁場
発生磁石(1−5)、磁場勾配発生系(1−6)、及び
信号処理系(1−7)に大別される。シーケンサ−は本
発明の方式に必要な種々の命令を各装μに送る。命令に
従って、送信系からは種々の高周波磁場(Hl )が、
磁場勾配発生系からは対象物体に磁場勾配を与えぬだめ
の種々の勾配磁場の系列が、対象物体にまかれたコイル
を通じて核スピン系に印加される。
1図に本装置のブロックダイアグラムを示す。本装置は
CPU (1−1)の管理のもとにシーケンサ−(1−
2)、送信系(1−3)、受信系(1−4) 、静磁場
発生磁石(1−5)、磁場勾配発生系(1−6)、及び
信号処理系(1−7)に大別される。シーケンサ−は本
発明の方式に必要な種々の命令を各装μに送る。命令に
従って、送信系からは種々の高周波磁場(Hl )が、
磁場勾配発生系からは対象物体に磁場勾配を与えぬだめ
の種々の勾配磁場の系列が、対象物体にまかれたコイル
を通じて核スピン系に印加される。
それに対する核スピン系の応答を同じく対象物体にまい
たコイルを通じて受信し、位相敏感検液(P S D)
等を行った後信号処理系に送る。′信号処理系ではフー
リエ変換及び像再構成等の処理を行い、断面の信号強度
分布を画像化し表示する。
たコイルを通じて受信し、位相敏感検液(P S D)
等を行った後信号処理系に送る。′信号処理系ではフー
リエ変換及び像再構成等の処理を行い、断面の信号強度
分布を画像化し表示する。
このようにして、通常は次の測定には磁化ベクトルゼロ
の状態から出発して、磁化の成長をTr時間待たなけれ
ばならないが、上記の方法によれば初期状態においてす
でに、前測定かに引きつがれた磁化ベクトルを持ってお
り、次の測定までの磁化成長のための待ち時間(第2図
のTr)が著しく短縮化される。
の状態から出発して、磁化の成長をTr時間待たなけれ
ばならないが、上記の方法によれば初期状態においてす
でに、前測定かに引きつがれた磁化ベクトルを持ってお
り、次の測定までの磁化成長のための待ち時間(第2図
のTr)が著しく短縮化される。
本実施例では、Gxの強度を変化させながら、(ただし
一般には強度一定で、印加時間を変化させても良い)く
り返すことにより、対象物のイメージングに必要なサン
プリングデータを得る。これをG工l GYに関して2
次元フーリエ変換すれば目的の2次元イメージを得るこ
とができる。
一般には強度一定で、印加時間を変化させても良い)く
り返すことにより、対象物のイメージングに必要なサン
プリングデータを得る。これをG工l GYに関して2
次元フーリエ変換すれば目的の2次元イメージを得るこ
とができる。
さらに、上記実施例は、高周波パルスの空間的不均一性
に基づく画質劣化が補正されるように工夫されている。
に基づく画質劣化が補正されるように工夫されている。
このことは、第3図において高周波パルスによる磁化ベ
クトルの回転角度が常に一定割合だけズした場合を想定
すれば自明であろう。
クトルの回転角度が常に一定割合だけズした場合を想定
すれば自明であろう。
以下第2図と第3図を併用して本実施例のパルス系列に
ついて説明を行う。本例においては対象物体の2次元画
像を得る場合をとりあげ2次元フーリエ変換法を像再構
成法として用いることを前提としたパルス系列を述べる
。(像再構成法として、投影再構成法を用いることを前
提としたパルス系列はもちろん可能であるが、自明のこ
とであるので本例では省略する。)以下、勾配磁場のス
イッチング時間は簡単のため考慮しないことにする。(
これを考慮したパルス系列については特許58−139
423号もしくは58−1116386号にて提案した
のでここでは割愛する)第2図中、Hlは高周波磁場の
印加シーケンスを示しており、G X P G y +
G2は各々XYZ方向の勾配磁場を示している。
ついて説明を行う。本例においては対象物体の2次元画
像を得る場合をとりあげ2次元フーリエ変換法を像再構
成法として用いることを前提としたパルス系列を述べる
。(像再構成法として、投影再構成法を用いることを前
提としたパルス系列はもちろん可能であるが、自明のこ
とであるので本例では省略する。)以下、勾配磁場のス
イッチング時間は簡単のため考慮しないことにする。(
これを考慮したパルス系列については特許58−139
423号もしくは58−1116386号にて提案した
のでここでは割愛する)第2図中、Hlは高周波磁場の
印加シーケンスを示しており、G X P G y +
G2は各々XYZ方向の勾配磁場を示している。
信号のサンプリングはA/Dで示される期間に行う。第
3図は第2図のパルスシーケンスをスピン系に印加した
時のスピン磁化ベクトルM=Σ2πγhIi の時間変
化を示したものである。こ量 こでγは核スピンに個有の磁気回転化、hはブランク定
数、Iiはi番目のスピンである。ま′た第3図のxy
z座標は実験室系におけるxyzF!i標が2軸(静磁
場の方向)のまわりに高周波磁場の周波数ω/(2π)
で回転している回転座標系を示している。
3図は第2図のパルスシーケンスをスピン系に印加した
時のスピン磁化ベクトルM=Σ2πγhIi の時間変
化を示したものである。こ量 こでγは核スピンに個有の磁気回転化、hはブランク定
数、Iiはi番目のスピンである。ま′た第3図のxy
z座標は実験室系におけるxyzF!i標が2軸(静磁
場の方向)のまわりに高周波磁場の周波数ω/(2π)
で回転している回転座標系を示している。
対象物体を静磁場H8の中に入れるとその物体個有のス
ピン格子緩和時間T、を時定数として、物体は静磁場方
向に磁化され、磁化ベクトルMができる(第3図(a)
)。対象物体のある2次元面(Z=Zo±ΔZ)内にお
けるこのMの大きさくスピン密度)を測定するために、
第2図の期間Aのはじめに示すように帯域制限された所
定位相の高周波パルス90° (第2図a)とG2との
組み合わせにより、上記2次元面内の核スピンを選択的
に励磁する(第3図(b))。この時、2次元面におけ
る各位置の磁化ベクトルはG2:及び2次元面内の静磁
場不均一性ΔHoによって、各容具なる歳差運動周波数
をもっているために、Mはxy平面内に倒れた時点(第
3図(b))で62とΔH,に基づく位相ズレが生じて
いる。したがって、選択励起後、G2を適当に反転する
ことにより、第3図(c)に示すように02についての
位相ズレはキャンセルすることができる。しかし、ΔH
oについての位相ズレは残っている(第3図(d))た
め、これをキャンセルする目的で1時間後に、上記90
″エ パルスと906位相シフトした広帯域高周波18
0°、パルス、もしくは180°7パルスを印加して(
第2図b)磁化ベタ1−ルをxy平面内でy軸を中心に
180゜回転させる(第3図(e))。歳差運動の方向
は不変であるので180°パルス後磁化ベクトルは収束
しはじめ1時間後には、全ての磁化ベクトルの位相がそ
ろった状態になり得る。しかしながら、イメージングの
実験を行う場合には、X方向の空間情報を識別するため
に、Gxを印加したX方向の空間情報を位相差として磁
化ベクトルに記憶させる(第2図期間B、第3図(f)
)。その後、更に第2図すの180°□パルス印加から
1時間経過した時点でGYを印加しながらエコー信号を
観測することにより、GYによる位相差を連続的に観測
してY方向の空間情報を得る。(第2図、期間C1第3
図(h))。この時、期間CのはじめではΔH0による
位相ズレは、ちょうどキャンセルしている(第3図(g
))。
ピン格子緩和時間T、を時定数として、物体は静磁場方
向に磁化され、磁化ベクトルMができる(第3図(a)
)。対象物体のある2次元面(Z=Zo±ΔZ)内にお
けるこのMの大きさくスピン密度)を測定するために、
第2図の期間Aのはじめに示すように帯域制限された所
定位相の高周波パルス90° (第2図a)とG2との
組み合わせにより、上記2次元面内の核スピンを選択的
に励磁する(第3図(b))。この時、2次元面におけ
る各位置の磁化ベクトルはG2:及び2次元面内の静磁
場不均一性ΔHoによって、各容具なる歳差運動周波数
をもっているために、Mはxy平面内に倒れた時点(第
3図(b))で62とΔH,に基づく位相ズレが生じて
いる。したがって、選択励起後、G2を適当に反転する
ことにより、第3図(c)に示すように02についての
位相ズレはキャンセルすることができる。しかし、ΔH
oについての位相ズレは残っている(第3図(d))た
め、これをキャンセルする目的で1時間後に、上記90
″エ パルスと906位相シフトした広帯域高周波18
0°、パルス、もしくは180°7パルスを印加して(
第2図b)磁化ベタ1−ルをxy平面内でy軸を中心に
180゜回転させる(第3図(e))。歳差運動の方向
は不変であるので180°パルス後磁化ベクトルは収束
しはじめ1時間後には、全ての磁化ベクトルの位相がそ
ろった状態になり得る。しかしながら、イメージングの
実験を行う場合には、X方向の空間情報を識別するため
に、Gxを印加したX方向の空間情報を位相差として磁
化ベクトルに記憶させる(第2図期間B、第3図(f)
)。その後、更に第2図すの180°□パルス印加から
1時間経過した時点でGYを印加しながらエコー信号を
観測することにより、GYによる位相差を連続的に観測
してY方向の空間情報を得る。(第2図、期間C1第3
図(h))。この時、期間CのはじめではΔH0による
位相ズレは、ちょうどキャンセルしている(第3図(g
))。
この時点までが通常用いられている測定法であり、その
場合は、次の測定を行うまではスピン系に全く何も印加
しないでスピン系が十分磁化される第3図aの状態まで
待つ。この待ち時間Trは上で述べた測定時間3τに比
べて1桁以上長い時間であり、スキャン時間の大半はこ
こで消費される。しかしながら本方法においては期間C
の終わりの時点までに実効的に生じているG工IGy+
ΔH0に基づく磁化ベクトルの位相ズレをキャンセルす
る目的で信号観測を開始した時点から1時間後に第2図
すと同位相の18o°パルス(第2図C)を印加しく第
3図(i))その後、期間B。
場合は、次の測定を行うまではスピン系に全く何も印加
しないでスピン系が十分磁化される第3図aの状態まで
待つ。この待ち時間Trは上で述べた測定時間3τに比
べて1桁以上長い時間であり、スキャン時間の大半はこ
こで消費される。しかしながら本方法においては期間C
の終わりの時点までに実効的に生じているG工IGy+
ΔH0に基づく磁化ベクトルの位相ズレをキャンセルす
る目的で信号観測を開始した時点から1時間後に第2図
すと同位相の18o°パルス(第2図C)を印加しく第
3図(i))その後、期間B。
Cにおいて印加した勾配磁管G工及びGyと(勾配強度
)×(印加時間)の積が等しくなるように、期間りにお
いてGK=GYを印加する。この結果、空間情報を得る
ために生じたGXIGyl ΔH8に基づく、磁化ベク
トルの位相ズレは期間りの終りの時点で全てキャンセル
される(第3図(j))。
)×(印加時間)の積が等しくなるように、期間りにお
いてGK=GYを印加する。この結果、空間情報を得る
ために生じたGXIGyl ΔH8に基づく、磁化ベク
トルの位相ズレは期間りの終りの時点で全てキャンセル
される(第3図(j))。
したがってこの時点において、第2図aの90”パルス
と逆位相の広帯域高周波90’−、パルス(第2図d)
を印加することにより、2次元面内の各位置における全
ての磁化ベクトルを同時に静磁場の方向にフリップバッ
クさせることができる(第3図(k))。
と逆位相の広帯域高周波90’−、パルス(第2図d)
を印加することにより、2次元面内の各位置における全
ての磁化ベクトルを同時に静磁場の方向にフリップバッ
クさせることができる(第3図(k))。
このように工夫されたパルス系列の別の実施例を第2図
のカッコ内に記した。この例では、パルスbとして帯域
制限90° パルスaと同位相又は逆位相の広帯域18
0°パルス、すなわち広帯域180°、:xパルスを用
い、パルスCとして上記180° パルスbと逆位相の
広帯域18ooパ±X ルス、すなわち18o−パルスを用いるものである。
のカッコ内に記した。この例では、パルスbとして帯域
制限90° パルスaと同位相又は逆位相の広帯域18
0°パルス、すなわち広帯域180°、:xパルスを用
い、パルスCとして上記180° パルスbと逆位相の
広帯域18ooパ±X ルス、すなわち18o−パルスを用いるものである。
更に上記した実施例では、更に18o°パルス及び最後
の90°パルスには広帯域のものを用いたが、高周波パ
ルス及びパルス系列に適切な工夫を行えば、帯域制限を
行った高周波パルスのみを用いることも可能である。
の90°パルスには広帯域のものを用いたが、高周波パ
ルス及びパルス系列に適切な工夫を行えば、帯域制限を
行った高周波パルスのみを用いることも可能である。
以−ヒのように、本発明においては、信号測定後の勾配
磁場と高周波磁場を磁化ベクI−ルの位相をそろえるよ
うに印加し、位相がそろった時点で磁化ベクトルを強制
的に静磁場方向に戻す(スピンアリツブバック)ごとく
構成するもので、以」二の主旨を逸脱しない限り種々の
形態で実現できる。
磁場と高周波磁場を磁化ベクI−ルの位相をそろえるよ
うに印加し、位相がそろった時点で磁化ベクトルを強制
的に静磁場方向に戻す(スピンアリツブバック)ごとく
構成するもので、以」二の主旨を逸脱しない限り種々の
形態で実現できる。
なお、このようにして得られる信号強度は単なるスピン
密度の測定を行っても、スピン系の縦緩和時間T、と横
緩和時間T2及び90°−180゜パルスの時間間隔て
、待ち時間Trに依存することになる。しかしながら、
τおよびTrを適当に選択することによって近似的にス
ピン密度にほぼ等しい信号を得ることができる。
密度の測定を行っても、スピン系の縦緩和時間T、と横
緩和時間T2及び90°−180゜パルスの時間間隔て
、待ち時間Trに依存することになる。しかしながら、
τおよびTrを適当に選択することによって近似的にス
ピン密度にほぼ等しい信号を得ることができる。
以上説明した如く本発明によれば、スピンフリップバッ
クの原理により一旦減衰した信号を再び生成させて測定
の待ち時間を著しく短縮化することが可能となる。この
方法によれば現在のNMR−0丁のスキャン時間を著し
く短縮化し、高分解能で画質の優れたN M Rイメー
ジを得ることが可能であり診断の効率化が図れる点に著
しい効果がある。
クの原理により一旦減衰した信号を再び生成させて測定
の待ち時間を著しく短縮化することが可能となる。この
方法によれば現在のNMR−0丁のスキャン時間を著し
く短縮化し、高分解能で画質の優れたN M Rイメー
ジを得ることが可能であり診断の効率化が図れる点に著
しい効果がある。
第1図は、本発明の一実施例を示すブロックダイアグラ
ム、第2図は、本発明の測定に用いるパルスシーケンス
の例を示すタイムチャート、第3図は第2図のパルスシ
ーケンスの動作説明図である。 Hl・・・高周波磁場、Gx・・・X方向勾配磁場、G
Y・・・Y方向勾配磁場、G7・・・Z方向勾配磁場。 I 1 口 /−1 Y z 図 Y 3 日 冨3図 第1頁の続き [相]発明者 河野 秀樹 国分寺重しり央研究所内
ム、第2図は、本発明の測定に用いるパルスシーケンス
の例を示すタイムチャート、第3図は第2図のパルスシ
ーケンスの動作説明図である。 Hl・・・高周波磁場、Gx・・・X方向勾配磁場、G
Y・・・Y方向勾配磁場、G7・・・Z方向勾配磁場。 I 1 口 /−1 Y z 図 Y 3 日 冨3図 第1頁の続き [相]発明者 河野 秀樹 国分寺重しり央研究所内
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 】、所定の静磁場、勾配磁場、及び高周波磁場を対象物
に印加して該対象物の核スピン信号を検出し、前記勾配
磁場を変化しながらこれをくり返して情報を得るNMR
イメージング装置において、前記高周波磁場の印加手段
として前記核スピン信号の検出後に前記対象物の核スピ
ン信号の位相をそろえるための高周波及び勾配磁場と、
位相がそろった核スピン信号を前記静磁場の向きに戻す
ための高周波パルス磁場を印加する手段とを備えたこと
を特徴とするNMRイメージング装置。 2、前記高周波磁場の印加手段は、90′8−τ−18
0°よy−2τ−180″1y−τ−90’、−1なる
パルス磁場系列(ただしては所定時間を示す)を印加す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のNM
Rイメージング装置。 3、前記高周波磁場の印加手段は、90′8−τ−18
06.:x−2で−180−−τ−90°−なるパルス
磁場系列(ただしては所定時間を示す)を印加すること
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のNMRイメ
ージング装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59032309A JPS60177251A (ja) | 1984-02-24 | 1984-02-24 | Νmrイメ−ジング装置 |
| EP85101900A EP0153703A3 (en) | 1984-02-24 | 1985-02-21 | Nmr imaging apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59032309A JPS60177251A (ja) | 1984-02-24 | 1984-02-24 | Νmrイメ−ジング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60177251A true JPS60177251A (ja) | 1985-09-11 |
Family
ID=12355337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59032309A Pending JPS60177251A (ja) | 1984-02-24 | 1984-02-24 | Νmrイメ−ジング装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0153703A3 (ja) |
| JP (1) | JPS60177251A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63501771A (ja) * | 1985-11-20 | 1988-07-21 | ベンダル,マツクス ロビン | 有効磁場の制御によるnmr測定 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63150061A (ja) * | 1986-12-15 | 1988-06-22 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメ−ジング装置における高周波磁場強度設定方法 |
| EP0278254B1 (de) * | 1987-01-30 | 1990-06-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Gerät zur Ermittlung von kernmagnetischen Spektren aus räumlich selektierbaren Bereichen eines Untersuchungsobjektes |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1584948A (en) * | 1978-05-25 | 1981-02-18 | Emi Ltd | Imaging systems |
| GB2052753B (en) * | 1979-05-23 | 1983-08-03 | Emi Ltd | Nmr system |
| US4438400A (en) * | 1982-01-18 | 1984-03-20 | Varian Associates, Inc. | Method for suppression of acoustic ringing in NMR measurements |
-
1984
- 1984-02-24 JP JP59032309A patent/JPS60177251A/ja active Pending
-
1985
- 1985-02-21 EP EP85101900A patent/EP0153703A3/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63501771A (ja) * | 1985-11-20 | 1988-07-21 | ベンダル,マツクス ロビン | 有効磁場の制御によるnmr測定 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0153703A3 (en) | 1987-04-15 |
| EP0153703A2 (en) | 1985-09-04 |
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