JPS60181648A - 渦電流探傷装置 - Google Patents
渦電流探傷装置Info
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は渦′ｔＫ面、探傷装（嵌に係り、特にエンジン
パルプ軸溶接境界部自動検査装置等に適用し得る渦電流
探掘装置に関する。
パルプ軸溶接境界部自動検査装置等に適用し得る渦電流
探掘装置に関する。
例えば直径５φ〜１５φの鉄とステンレスのようなｉＦ
Ａ餉の拐料を摩擦浴接し、その溶接部の表面を研削した
後、この浴接部の傷の検出をするための方法として、従
来は例えは染色浸透探傷法が適用されており、これによ
り傷による指示を検査員が観察する方法を・採っていた
。しかし、この手法は供試体の数おが多くなるとコスト
の増大、能率の低下をまねき、さらには抜き取り検査と
なシ、そのため不良品の見逃しく製品の信勅性の低下）
、あるいは製糸ライン中に、非能率的な人力作業が介在
することになり、製造ラインの白和１化をさまたげてき
た。
Ａ餉の拐料を摩擦浴接し、その溶接部の表面を研削した
後、この浴接部の傷の検出をするための方法として、従
来は例えは染色浸透探傷法が適用されており、これによ
り傷による指示を検査員が観察する方法を・採っていた
。しかし、この手法は供試体の数おが多くなるとコスト
の増大、能率の低下をまねき、さらには抜き取り検査と
なシ、そのため不良品の見逃しく製品の信勅性の低下）
、あるいは製糸ライン中に、非能率的な人力作業が介在
することになり、製造ラインの白和１化をさまたげてき
た。
本発明は上記の事情に鑑みて提案されたもので、その目
的とするところは、被検体拐質変化の影争゛および探傷
ノイズの彩管を低減することができるとともに、探傷の
自動化を図り得る渦電流探傷装置を提供するにある。
的とするところは、被検体拐質変化の影争゛および探傷
ノイズの彩管を低減することができるとともに、探傷の
自動化を図り得る渦電流探傷装置を提供するにある。
本発明による渦電流探傷装置は、彼検体をコイルスキャ
ナに保持された検出コイルで走査して探傷を行なう渦電
流探傷装置において、前記検出コイルに接続されそのイ
ンピーダンス変化を検出するインピーダンス測定器と、
このインピーダンス測定器に設けられ検出信号の位相を
検波する位相検波器と、この位相検波器を制御するり変
移相器と、前記コイルスキャナを制御するコントローラ
と、このコントローラにより制御され、前記０Ｔ亥移相
器を制御して前記位相検波器に供給する参照佃ちの位相
を連続的に変化させる位相走査器とを具備してなること
を特徴とし、１ｔｒｌ−検出コイルによって溶接部と参
“・を検出し、且つ位相走査出力を得るようにして、破
検体の桐質変化の影響およびある沖の探傷ノイズの影響
を低減して探傷作業の自動化を図り、前記従来の欠点を
解消し得るようにしたものである。
ナに保持された検出コイルで走査して探傷を行なう渦電
流探傷装置において、前記検出コイルに接続されそのイ
ンピーダンス変化を検出するインピーダンス測定器と、
このインピーダンス測定器に設けられ検出信号の位相を
検波する位相検波器と、この位相検波器を制御するり変
移相器と、前記コイルスキャナを制御するコントローラ
と、このコントローラにより制御され、前記０Ｔ亥移相
器を制御して前記位相検波器に供給する参照佃ちの位相
を連続的に変化させる位相走査器とを具備してなること
を特徴とし、１ｔｒｌ−検出コイルによって溶接部と参
“・を検出し、且つ位相走査出力を得るようにして、破
検体の桐質変化の影響およびある沖の探傷ノイズの影響
を低減して探傷作業の自動化を図り、前記従来の欠点を
解消し得るようにしたものである。
本発明の一実施例を添付図ｍＩを参照して詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例の構成を示す図、第２図は第
１図における検出信号の特性を示す図、第３図は第１図
のインピーダンス測定器の移相によって得られる出力を
示す図、第４図は第１図のインピーダンス測定器の位相
笈査後のＹ出力を示す図である。
１図における検出信号の特性を示す図、第３図は第１図
のインピーダンス測定器の移相によって得られる出力を
示す図、第４図は第１図のインピーダンス測定器の位相
笈査後のＹ出力を示す図である。
第１図において、ＪＦｉ被検体であるシャフトであり、
中央部において、例えばステンレス材７ａとｆＭｌｂ等
の材質のものが溶接されており、浴接部は研削され平滑
になっている。溶接線ｌｃは同一円周上にあり、この溶
接部における休・の検出を行なうようになっている。２
は回転チャックでシャツ）Ｊを把んで連続回転させる。
中央部において、例えばステンレス材７ａとｆＭｌｂ等
の材質のものが溶接されており、浴接部は研削され平滑
になっている。溶接線ｌｃは同一円周上にあり、この溶
接部における休・の検出を行なうようになっている。２
は回転チャックでシャツ）Ｊを把んで連続回転させる。
３は回転信号発生器で回転チャック２の１回転毎にパル
ス信号を発生する。４は渦電流式傷検出コイルでフィル
スキャナ５によって保持され、シャツ）Ｊの表面に近接
あるいは密着して置かれ、コイルスキャナ５によってシ
ャフト１の溶接＃ＩＣに対し直角に走査する。検出コイ
ル４はインピーダンス測定器６に接続される。インピー
ダンス測定器６は発振器６７、ブリッジ回路６２．増幅
器６３．可変移相器６４．．９０°固定移相器６５９位
相検波器６６’、６７より構成され、前記検出コイル４
のインピーダンス変化を抵抗成分、リアクタンス成分に
分離し、各々に比例した直流電圧信号として得るように
なされている０７は信相走査器であり、コントローラ１
１の信号によって可変移相器６４を制御し整相する０８
は溶接線検出器で溶接線ｌｃを検知すると同時にコイル
スキャナ５に停止信号を送りこれを停止させる。９は鰯
低値検出器。
ス信号を発生する。４は渦電流式傷検出コイルでフィル
スキャナ５によって保持され、シャツ）Ｊの表面に近接
あるいは密着して置かれ、コイルスキャナ５によってシ
ャフト１の溶接＃ＩＣに対し直角に走査する。検出コイ
ル４はインピーダンス測定器６に接続される。インピー
ダンス測定器６は発振器６７、ブリッジ回路６２．増幅
器６３．可変移相器６４．．９０°固定移相器６５９位
相検波器６６’、６７より構成され、前記検出コイル４
のインピーダンス変化を抵抗成分、リアクタンス成分に
分離し、各々に比例した直流電圧信号として得るように
なされている０７は信相走査器であり、コントローラ１
１の信号によって可変移相器６４を制御し整相する０８
は溶接線検出器で溶接線ｌｃを検知すると同時にコイル
スキャナ５に停止信号を送りこれを停止させる。９は鰯
低値検出器。
１０は信号比較器であり、最低値検出器９で検出された
信・りを信号比較器１０で設定する標準信号電圧と比軟
し、標準信号電圧より大きな場合に信号を発生させる。
信・りを信号比較器１０で設定する標準信号電圧と比軟
し、標準信号電圧より大きな場合に信号を発生させる。
コントローラ１ノはコイルスキャナ５、位相走橘器７．
溶接Ｍ！検出器８および最低値検出器９をそれぞれ外部
指令信刊に基いて制御するようになされている。
溶接Ｍ！検出器８および最低値検出器９をそれぞれ外部
指令信刊に基いて制御するようになされている。
上記本発明の一実施例の作用について説明するＯ
木実雄側においては、あらかじめ建全な溶接部に対して
検出コイル４を固定させ、ブリッジ回路６２、増幅器６
３および可変移相器６４を調整して各位相検波器６６．
６７の出力Ｘ、Ｙが零になるように調整しているものと
し、この状態を基準点とする。また、この状態で溶接部
に傷があるものとすると、出力Ｘ、ＹをＸ、Ｙオシロス
コープ上で観察すると第２図（イ）〜（ホ）のような軌
跡が得られる。すなわちシャフトＪに傷が無い場合の信
号はシャ７１−７の回転に伴ない直線状の軌跡となるが
、シャフトＪに何等かの異状がある場合は、（ハ）、に
）、（ホ）の如き軌跡となる。また検出コイル４が溶接
線Ｊｃを横切る場合には（へ）の如＜Ｘ＝Ｏを通る軌跡
となる。
検出コイル４を固定させ、ブリッジ回路６２、増幅器６
３および可変移相器６４を調整して各位相検波器６６．
６７の出力Ｘ、Ｙが零になるように調整しているものと
し、この状態を基準点とする。また、この状態で溶接部
に傷があるものとすると、出力Ｘ、ＹをＸ、Ｙオシロス
コープ上で観察すると第２図（イ）〜（ホ）のような軌
跡が得られる。すなわちシャフトＪに傷が無い場合の信
号はシャ７１−７の回転に伴ない直線状の軌跡となるが
、シャフトＪに何等かの異状がある場合は、（ハ）、に
）、（ホ）の如き軌跡となる。また検出コイル４が溶接
線Ｊｃを横切る場合には（へ）の如＜Ｘ＝Ｏを通る軌跡
となる。
Ｘ＝０の点は検出コイル４が溶接線Ｊｃに対向する位置
である。なお第２図の軌跡で（イ）。（ロ）はシャフト
１が健全な場合、（ハ）はシャフト１に小さな傷がある
場合、に）はやや大きな傷がある場合、（ホ）は大きな
傷がある場合の各軌跡番示す。
である。なお第２図の軌跡で（イ）。（ロ）はシャフト
１が健全な場合、（ハ）はシャフト１に小さな傷がある
場合、に）はやや大きな傷がある場合、（ホ）は大きな
傷がある場合の各軌跡番示す。
ここにおいて、先ず回転チャック２にシャフトｌを取り
つけ連続回転させる。次にコントローラ１１に外部指令
を与えコイルスキャナ５を移動させ、検出コイル４を第
１図におけるＡ→Ｃ（又はＣ→Ａ）方向に走査する。こ
の時インピーダンス測定器６の出力信号は第２図の（へ
）に示した例の如く、例えばＸが（＋）、Ｙが（＋）の
領域から、ｘ＝ｏ、ｙ＝ｏの点を辿り、Ｘ−←）。
つけ連続回転させる。次にコントローラ１１に外部指令
を与えコイルスキャナ５を移動させ、検出コイル４を第
１図におけるＡ→Ｃ（又はＣ→Ａ）方向に走査する。こ
の時インピーダンス測定器６の出力信号は第２図の（へ
）に示した例の如く、例えばＸが（＋）、Ｙが（＋）の
領域から、ｘ＝ｏ、ｙ＝ｏの点を辿り、Ｘ−←）。
Ｙ＝（→の領域へ同って、軌跡をえかく。この過程にお
いて、Ｘ＝０になった時酸接脚検出器８によってこれを
検出し、コントローラ１）にこの信号を入力し、コント
ローラ１ノはこれによってコイルスキャナ５を停止する
。これにより検出コイル４は溶接１１Ｊ）ｃ上を連続的
に走査する仁ととなり、第２図（イ）〜（ホ）に示す信
号がインピーダンス測定器６から出力されている秋態と
々る。次にコントローラ１１に外部指令信号を与え位相
走査器７を作動させる。位相走査器７は回転信号発生器
３の信号を受けシャフト１の１回転毎に例えば１°づつ
移相する如く可変移相器６４を制御し、３６０°移相し
た彷、その機能を停止する。この過程において、インピ
ーダンス測定器６の出力は第３図に示されるように回転
することとなり、この結果インピーダンス測定器６のＹ
出力は例えば第４図に示す如く変化する。すなわち傷が
ない健全な溶接部の場合出力Ｙけ零になる点を有し、何
等かの異常を有する場合には零になる点を持たない。移
相器がθ。
いて、Ｘ＝０になった時酸接脚検出器８によってこれを
検出し、コントローラ１）にこの信号を入力し、コント
ローラ１ノはこれによってコイルスキャナ５を停止する
。これにより検出コイル４は溶接１１Ｊ）ｃ上を連続的
に走査する仁ととなり、第２図（イ）〜（ホ）に示す信
号がインピーダンス測定器６から出力されている秋態と
々る。次にコントローラ１１に外部指令信号を与え位相
走査器７を作動させる。位相走査器７は回転信号発生器
３の信号を受けシャフト１の１回転毎に例えば１°づつ
移相する如く可変移相器６４を制御し、３６０°移相し
た彷、その機能を停止する。この過程において、インピ
ーダンス測定器６の出力は第３図に示されるように回転
することとなり、この結果インピーダンス測定器６のＹ
出力は例えば第４図に示す如く変化する。すなわち傷が
ない健全な溶接部の場合出力Ｙけ零になる点を有し、何
等かの異常を有する場合には零になる点を持たない。移
相器がθ。
〜３６０°に変化し、位相走査がされている間の出力Ｙ
は最低値検出器９により測定され、走査が終了した時、
最低値検出器９Ｆｉ出力Ｙに比例した電圧を出力し、信
号比較器ノ０に入力される。この信号比較器ノ０はその
内部に任意に設定できる基準電圧源を持っており、その
基準電圧は被検体に傷がない場合、あるいは許容し得る
程小さな傷の場合にはそれによって最低値検出器９に出
力される電圧と邑１程度に設定される。
は最低値検出器９により測定され、走査が終了した時、
最低値検出器９Ｆｉ出力Ｙに比例した電圧を出力し、信
号比較器ノ０に入力される。この信号比較器ノ０はその
内部に任意に設定できる基準電圧源を持っており、その
基準電圧は被検体に傷がない場合、あるいは許容し得る
程小さな傷の場合にはそれによって最低値検出器９に出
力される電圧と邑１程度に設定される。
従ってこの基準電圧より大きな信号がイバ号比較器）０
に入力された時、信号比較器ｌＯは一定出力を生ずるの
で、この信号比較器１０に一定出力があるかないかによ
って償、の有無を知ることが出来る。
に入力された時、信号比較器ｌＯは一定出力を生ずるの
で、この信号比較器１０に一定出力があるかないかによ
って償、の有無を知ることが出来る。
また第４図の例で示した位相走査を行なうことにより、
シャフト１の桐備の微少な変化による第２図の（イ）、
（ロ）に示した勃跡がわずかにふくらみを持つよう々場
合、あるいは第２図の（ロ）の点線で示した両立する如
き軌跡になったとしても、−足の検出性ｉ１１：を伯る
ことかけ（来る。１２図（ロ）の実線及び点脚で示した
軌廟け、例えはシャツトノの材質が鉄−ステンレス（５
ＬＩＳ３０４）鉄−ステンレス（ＳＵＳ３２１）等被検
体の拐勿が！ＩＣ−なることにより変化するものである
。しかし、φｌの不趣によって有体・出力のｈ４低値が
懐化する作用は同じであり傷の検出機能に差幻ない。
シャフト１の桐備の微少な変化による第２図の（イ）、
（ロ）に示した勃跡がわずかにふくらみを持つよう々場
合、あるいは第２図の（ロ）の点線で示した両立する如
き軌跡になったとしても、−足の検出性ｉ１１：を伯る
ことかけ（来る。１２図（ロ）の実線及び点脚で示した
軌廟け、例えはシャツトノの材質が鉄−ステンレス（５
ＬＩＳ３０４）鉄−ステンレス（ＳＵＳ３２１）等被検
体の拐勿が！ＩＣ−なることにより変化するものである
。しかし、φｌの不趣によって有体・出力のｈ４低値が
懐化する作用は同じであり傷の検出機能に差幻ない。
以上により本発明によれば身重の如き匍わた動体が奏せ
られるものである。
られるものである。
（１）従来、この種部品の傷検出法として適用されてい
た染色浸透探傷法による場合にくらべ、（１＝の治無を
、宵、気信号としてイ１．することか出来ろため、検査
の趣人化をはかることが出来る。
た染色浸透探傷法による場合にくらべ、（１＝の治無を
、宵、気信号としてイ１．することか出来ろため、検査
の趣人化をはかることが出来る。
（２） 同一の検出コイルによって被検体中の検査イ）
装置であ・るｎ桐の接続部の位置と、貫該部に於ける傷
の翁飯を検出することが出来る〇（３）位相走査及び探
傷出力の彫低値を検出すること罠より、被検体の相ηが
亥化した為に生ずる探傷出力の位相変化の影響を除去す
ることが可能であゆ、このため同一装置によって＠質の
気なる被検体にも適用することが出来る０ （４）位相走査及び探傷出力の最低値を検出することに
より、例えは、検出コイルと被検体表面との間隙変動等
による信号（例えば自−・２図（ハ）の信号等のノイズ
）の影馨・を受けずに傷を検出することが可能である。
装置であ・るｎ桐の接続部の位置と、貫該部に於ける傷
の翁飯を検出することが出来る〇（３）位相走査及び探
傷出力の彫低値を検出すること罠より、被検体の相ηが
亥化した為に生ずる探傷出力の位相変化の影響を除去す
ることが可能であゆ、このため同一装置によって＠質の
気なる被検体にも適用することが出来る０ （４）位相走査及び探傷出力の最低値を検出することに
より、例えは、検出コイルと被検体表面との間隙変動等
による信号（例えば自−・２図（ハ）の信号等のノイズ
）の影馨・を受けずに傷を検出することが可能である。
１．１シ１面の節部な説明
第１図は本発明の一実施例の構成を示す図、第２図は第
１図における検出調号の特性を示す図、鎮３図は艶１図
のインピータンス測定器の移相によって得られる出力を
示す図、第４図は第１図のインピーダンス測定器の位相
走査後のＹ出力を示す図である。
１図における検出調号の特性を示す図、鎮３図は艶１図
のインピータンス測定器の移相によって得られる出力を
示す図、第４図は第１図のインピーダンス測定器の位相
走査後のＹ出力を示す図である。
Ｊ・・・シャフト（被検体）、３・・・回転信号発生器
、４・・・検出コイル、５・・・コイルスキャナ、６・
・・インピーダンス測定器定器、７・・・もン相走査器
、ツノ・・・コントローラ、６４・・・司変移Ａ１１器
、６６、６７ ・・・位４月検波 暑汁。
、４・・・検出コイル、５・・・コイルスキャナ、６・
・・インピーダンス測定器定器、７・・・もン相走査器
、ツノ・・・コントローラ、６４・・・司変移Ａ１１器
、６６、６７ ・・・位４月検波 暑汁。
Claims (1)
- 被検体をコイルスキャナに保持された検出コイルで走査
して探傷を杓なう渦亀流蜂・傷装置において、＾１■記
検出コイルに接続さノ１そのインピーダンス変化を検出
するインピンタンス測定器と、このインピーダンス測定
器に設けられ検出イ百号の位相を検波する位相検波器と
、この位相検波器を制御する可変移相器と、前ｚ［ｉコ
イルスキャナを制御するコントローラと、このコントロ
ーラにより制御され、前記Ｅ、ｌ変移相器を制御してＡ
ｌｌｌ位記検波器に供約する参Ｉ！夕信旬の位相を連続
的に変化させる位相走査器とを具備してなることを％徴
とする渦電流探掘装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3760184A JPS60181648A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 渦電流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3760184A JPS60181648A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 渦電流探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60181648A true JPS60181648A (ja) | 1985-09-17 |
Family
ID=12502090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3760184A Pending JPS60181648A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 渦電流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60181648A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005208061A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | General Electric Co <Ge> | 溶射被覆した基体を作製しかつ検査する方法 |
| CN108051498A (zh) * | 2017-11-28 | 2018-05-18 | 广东美芝制冷设备有限公司 | 压缩机吸气管组的钎焊焊缝检测方法和系统 |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP3760184A patent/JPS60181648A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005208061A (ja) * | 2004-01-21 | 2005-08-04 | General Electric Co <Ge> | 溶射被覆した基体を作製しかつ検査する方法 |
| CN108051498A (zh) * | 2017-11-28 | 2018-05-18 | 广东美芝制冷设备有限公司 | 压缩机吸气管组的钎焊焊缝检测方法和系统 |
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