JPS60181879A - 検出装置 - Google Patents
検出装置Info
- Publication number
- JPS60181879A JPS60181879A JP59037544A JP3754484A JPS60181879A JP S60181879 A JPS60181879 A JP S60181879A JP 59037544 A JP59037544 A JP 59037544A JP 3754484 A JP3754484 A JP 3754484A JP S60181879 A JPS60181879 A JP S60181879A
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- Japan
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- flap
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、たとえば郵便物の表裏、上下方向を取揃え押
印する郵便物自動取崩押印機において、郵便物のフラッ
プ（封緘）検出に用いられる光電変換装置に関する。
印する郵便物自動取崩押印機において、郵便物のフラッ
プ（封緘）検出に用いられる光電変換装置に関する。
［発明の技術的背景］
たとえば郵便物自動取崩押印機は、周知のように供給さ
れる郵便物の表裏、上下方向を取揃えて押印するもので
ある。その場合、郵便物の表裏、上下方向を判定する必
要があるので、たとえば第１図に示すようなフラップ１
を有する郵便物Ｐの場合、そのフラップ１を検出し、そ
の検出情報を判定要素の１つとして用いる場合がある。
れる郵便物の表裏、上下方向を取揃えて押印するもので
ある。その場合、郵便物の表裏、上下方向を判定する必
要があるので、たとえば第１図に示すようなフラップ１
を有する郵便物Ｐの場合、そのフラップ１を検出し、そ
の検出情報を判定要素の１つとして用いる場合がある。
このようなフラップ検出に用いられる従来の光電変換装
置として第２図に示すようなものがある。
置として第２図に示すようなものがある。
すなわち、ハロゲンランプなどの光源２がらの光を郵便
物Ｐのフラップ１を有する面（つまり裏面）に対してフ
ラップ側の斜め方向から照則し、その反射光を＃ａ （
ｉレンズ３によってラインセンサ４の受光面に結像して
光電変議することにより、フラップ１の段差により生じ
た影Ｓを検出するものである。この場合、ラインセン４
）４による走査方向は第１図に示す矢印ａ方向であり、
またラインセンサ４の出力信号は第３図に示すようにな
り、図中Ｆはフラップ１の段差により生じた影Ｓによる
フラップ信号である。そして、ラインセンナ４の出力信
号を所定のスライス信号Ｌ１によって量子化することに
Ｊ：す、フラップ検出情報を得るものである。
物Ｐのフラップ１を有する面（つまり裏面）に対してフ
ラップ側の斜め方向から照則し、その反射光を＃ａ （
ｉレンズ３によってラインセンサ４の受光面に結像して
光電変議することにより、フラップ１の段差により生じ
た影Ｓを検出するものである。この場合、ラインセン４
）４による走査方向は第１図に示す矢印ａ方向であり、
またラインセンサ４の出力信号は第３図に示すようにな
り、図中Ｆはフラップ１の段差により生じた影Ｓによる
フラップ信号である。そして、ラインセンナ４の出力信
号を所定のスライス信号Ｌ１によって量子化することに
Ｊ：す、フラップ検出情報を得るものである。
［背景技ＷｊＯ問題点コ
ところが、上述した従来の光電変換装置には次のような
問題があった。すなわち、従来の照明方式であると、第
２図にθ１．θ２．θヨ、θ４゜θ５で示すように、郵
便物Ｐ上の位置によって光の照ｉ角度が異なる。つまり
、光源２に近くなるにしたがって照射角度が大きくなる
。ところが、郵便物Ｐのフラップ１の形状には種々なも
のがあり、比較的大きな形状のフラップの場合はそれほ
ど問題ないが、たとえば第１図に破線で示１゛ような比
較的小さな形状のフラップの場合（郵便物Ｐの比較的上
側にフラップ１がある場合）、照射角度の大きい側にフ
ラップ１が存在することになる。
問題があった。すなわち、従来の照明方式であると、第
２図にθ１．θ２．θヨ、θ４゜θ５で示すように、郵
便物Ｐ上の位置によって光の照ｉ角度が異なる。つまり
、光源２に近くなるにしたがって照射角度が大きくなる
。ところが、郵便物Ｐのフラップ１の形状には種々なも
のがあり、比較的大きな形状のフラップの場合はそれほ
ど問題ないが、たとえば第１図に破線で示１゛ような比
較的小さな形状のフラップの場合（郵便物Ｐの比較的上
側にフラップ１がある場合）、照射角度の大きい側にフ
ラップ１が存在することになる。
こうなると、フラップ１の段差による影Ｓがほとんど生
じなくなり（生じても非常に小さな影となる）、その結
果、検出不可能となってしまう。たとえ検出できたとし
ても、フラップ信号Ｆのレベルが非常に小さく、このた
めノイズなどと区別できないばかりか、量子化も不可能
となってしまう。
じなくなり（生じても非常に小さな影となる）、その結
果、検出不可能となってしまう。たとえ検出できたとし
ても、フラップ信号Ｆのレベルが非常に小さく、このた
めノイズなどと区別できないばかりか、量子化も不可能
となってしまう。
これは、フラップ１が郵便物Ｐの上側に位置ずればする
ほど顕著なものとなる。
ほど顕著なものとなる。
また、郵便物に限らず、鉄板あるいは合板などの平板の
表面の粗さを検出するものにおいて、従来は顕微鏡やＸ
線、電子線、超音波などが用いられているが、これらは
非常に高価であるという欠点があり、目に見えない加工
具合を検査する場合←は用いられるが、目視可−な惺度
の表面の検査には向かなかった。
表面の粗さを検出するものにおいて、従来は顕微鏡やＸ
線、電子線、超音波などが用いられているが、これらは
非常に高価であるという欠点があり、目に見えない加工
具合を検査する場合←は用いられるが、目視可−な惺度
の表面の検査には向かなかった。
［発明の目的］
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的と
づるところは、物体の表面状態の検出を安価に能率よく
行なえる光電変換装置を提供することにあり、たとえば
郵便物のフラップ検出に用いｌこ場合、郵便物の表面の
広範囲にわたって確実にフラップ検出が行なえる光電変
換装置を提供することにある。
づるところは、物体の表面状態の検出を安価に能率よく
行なえる光電変換装置を提供することにあり、たとえば
郵便物のフラップ検出に用いｌこ場合、郵便物の表面の
広範囲にわたって確実にフラップ検出が行なえる光電変
換装置を提供することにある。
［光量の概要］
本発明は、上記目的を達成するために、物体の表面に対
して斜め方向から所定の角度で′平行光を照射】°るこ
とにより、物体の表面において少なくとも被検出面にＪ
ｊける光の照射角度が等しくなるようにしたものである
。
して斜め方向から所定の角度で′平行光を照射】°るこ
とにより、物体の表面において少なくとも被検出面にＪ
ｊける光の照射角度が等しくなるようにしたものである
。
［発明の実施例］
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。なお、第２図と同一部分にＩま同一符号を付して説
明する。第４図において、光源２カ亀らの光を減光フィ
ルタ１１と平行光レンズ１２とからなる光学系１３によ
って平行光化し、その平行光を郵便物Ｐの裏面に対して
フラップ側の斜め方向から所定の角度で照ｑ１シ、その
反射光を結像レンズ３によってラインセンサ４の受光面
に結像して光電変換するようになっている。上記減光フ
ィルタ１１は、照射面（郵便物Ｐの裏面）での光量差を
補正するためのもので、第５図に示すような特性（郵便
物Ｐの上下の光むらに比例した減光特性）を有する光学
フィルタであり、たとえば第６図に断面図を示すように
、透明ガラス板などのフィルタ基板１４の表面に郵便物
Ｐの上側は光透過率が低く、下側にゆくにしたがって光
透過率が高くなるような蒸＠１！１５を付けることによ
って実現できる。また、照射面の前面にはシリンドリカ
ルレンズ１６が設けられ、減光フィルタ１１の光量低下
による損失を補正するようになっている。
る。なお、第２図と同一部分にＩま同一符号を付して説
明する。第４図において、光源２カ亀らの光を減光フィ
ルタ１１と平行光レンズ１２とからなる光学系１３によ
って平行光化し、その平行光を郵便物Ｐの裏面に対して
フラップ側の斜め方向から所定の角度で照ｑ１シ、その
反射光を結像レンズ３によってラインセンサ４の受光面
に結像して光電変換するようになっている。上記減光フ
ィルタ１１は、照射面（郵便物Ｐの裏面）での光量差を
補正するためのもので、第５図に示すような特性（郵便
物Ｐの上下の光むらに比例した減光特性）を有する光学
フィルタであり、たとえば第６図に断面図を示すように
、透明ガラス板などのフィルタ基板１４の表面に郵便物
Ｐの上側は光透過率が低く、下側にゆくにしたがって光
透過率が高くなるような蒸＠１！１５を付けることによ
って実現できる。また、照射面の前面にはシリンドリカ
ルレンズ１６が設けられ、減光フィルタ１１の光量低下
による損失を補正するようになっている。
しかして、ラインセンサ４の出力信号は量子化回路１７
に供給され、可変抵抗器１８によって設定された所定の
スライス信号Ｌ２によって量子化されるようになってい
る。
に供給され、可変抵抗器１８によって設定された所定の
スライス信号Ｌ２によって量子化されるようになってい
る。
このような構成であれは、郵便物Ｐの裏面に対しＣフラ
ップ側の斜め方向から所定の角度で平行光を照射するこ
とにより、郵便物Ｐ上においてどの位置でも光の照射角
度が等しく（θ）なる。これにより、どのような形状の
フラップ１でも、またフラップ１かどこに位置していて
も、フラップ１の段差にＪ：る影Ｓが確実に生じるよう
になる。
ップ側の斜め方向から所定の角度で平行光を照射するこ
とにより、郵便物Ｐ上においてどの位置でも光の照射角
度が等しく（θ）なる。これにより、どのような形状の
フラップ１でも、またフラップ１かどこに位置していて
も、フラップ１の段差にＪ：る影Ｓが確実に生じるよう
になる。
したがって、郵便物Ｐの上下方向の広範囲にわたって確
実にフラップ検出が行なえる。
実にフラップ検出が行なえる。
また、減光フ、イルタ１１の作用により郵便物Ｐの照射
面での光量差を補正し、照射面で均一な光量が１ｑられ
るとともに、シリンドリカルレンズ１６による光の集光
作用により減光フィルタ１１による光量低下を緩和する
ことができ、従来とほぼＪｔｌ ｆｉな光量が１９られ
る。これにより、ラインセンザ４からは第７図（ａ）に
示すような光むらによるシェーディング現象のない水平
な出力信号が得られ、量子化回路１７において直流スラ
イス信号Ｌ２により容易に量子化でき、第７図（ｂ）に
示すようなフラップ量子化信号が１ｑられる。このよう
に、減光フィルり１１とシリンドリカルレンズ１６を設
置することにより、ラインセン勺４から光むらによるシ
ェーディング現象のない光電変換信号が得られる。これ
により、容易なスライス方式（直流スライス信号）でラ
インレンザ４の出力信号を確実に量子化することができ
る。なお、減光フィルタ１１を設けなかった場合、平行
光を斜め方向から照射しているため、第４図において郵
便物Ｐの上部（光源２に近い部分）が明るく、逆に下１
（光源から遠い部分）が暗くなり、このためラインセン
ザ４の出力信号も第８図に示すように図面に対して右上
りになる傾斜した信号波形となってしまう。すなわち、
光むらによるシェーディング現象をもった信号となって
しまう。このような信号は、容易なスライス方式（たと
えば直流スライス信号）で量子化することは非常に困難
であるなど、量子化する上で種々の問題がある。そこで
、本発明では前述したような減光フィルタ１１を設ける
ことにより、そのような問題を除去するようにしている
。
面での光量差を補正し、照射面で均一な光量が１ｑられ
るとともに、シリンドリカルレンズ１６による光の集光
作用により減光フィルタ１１による光量低下を緩和する
ことができ、従来とほぼＪｔｌ ｆｉな光量が１９られ
る。これにより、ラインセンザ４からは第７図（ａ）に
示すような光むらによるシェーディング現象のない水平
な出力信号が得られ、量子化回路１７において直流スラ
イス信号Ｌ２により容易に量子化でき、第７図（ｂ）に
示すようなフラップ量子化信号が１ｑられる。このよう
に、減光フィルり１１とシリンドリカルレンズ１６を設
置することにより、ラインセン勺４から光むらによるシ
ェーディング現象のない光電変換信号が得られる。これ
により、容易なスライス方式（直流スライス信号）でラ
インレンザ４の出力信号を確実に量子化することができ
る。なお、減光フィルタ１１を設けなかった場合、平行
光を斜め方向から照射しているため、第４図において郵
便物Ｐの上部（光源２に近い部分）が明るく、逆に下１
（光源から遠い部分）が暗くなり、このためラインセン
ザ４の出力信号も第８図に示すように図面に対して右上
りになる傾斜した信号波形となってしまう。すなわち、
光むらによるシェーディング現象をもった信号となって
しまう。このような信号は、容易なスライス方式（たと
えば直流スライス信号）で量子化することは非常に困難
であるなど、量子化する上で種々の問題がある。そこで
、本発明では前述したような減光フィルタ１１を設ける
ことにより、そのような問題を除去するようにしている
。
なｄプ、前記実茄例では、郵便物のフラップを検出する
場合について説明したが、本発明はこれに限定されるも
のでなく、たとえば用紙、金属板。
場合について説明したが、本発明はこれに限定されるも
のでなく、たとえば用紙、金属板。
合板などの平板上に生じるしわなどの検出にも同様な考
えに基づき適用できる。
えに基づき適用できる。
Ｌ発明の効果］
以上詳述したように本発明によれば、物体の表面状態の
検出を安１曲に能率よく行なうことができる光電変換装
置を提供することができ、たとえば郵便物のフラップ検
出□に用いた場合、郵便物の表面の広範囲にわたって確
実にフラップ検出が行なえる光電変換装置を提供するこ
とができる。
検出を安１曲に能率よく行なうことができる光電変換装
置を提供することができ、たとえば郵便物のフラップ検
出□に用いた場合、郵便物の表面の広範囲にわたって確
実にフラップ検出が行なえる光電変換装置を提供するこ
とができる。
第１図はフラップを有する郵便物の一例を示す図、第２
図は従来の光電変換装置を示す構成図、第３図は第２図
におけるラインセン勺の出力信号を示づ波形図、第４図
ないし第８図は本発明の一実施例を説明づるためのもの
で、第４図は全体的な構成図、第５図は減光フィルタの
特性図、第６図は減光フィルタの構成図、第７図および
第８図は動作を説明するための信号波形図である。 Ｐ・・・郵便物、１・・・フラップ、２・・・光源、３
・・・結像レンズ′、４・・・ラインレンザ（光電変換
器）、１１・・・減光フィルタ、１２・・・平行光レン
ズ、１３・・・光学系、１６・・・シリンドリカルレン
ズ、１７・・・量子化回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 ａ 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図
図は従来の光電変換装置を示す構成図、第３図は第２図
におけるラインセン勺の出力信号を示づ波形図、第４図
ないし第８図は本発明の一実施例を説明づるためのもの
で、第４図は全体的な構成図、第５図は減光フィルタの
特性図、第６図は減光フィルタの構成図、第７図および
第８図は動作を説明するための信号波形図である。 Ｐ・・・郵便物、１・・・フラップ、２・・・光源、３
・・・結像レンズ′、４・・・ラインレンザ（光電変換
器）、１１・・・減光フィルタ、１２・・・平行光レン
ズ、１３・・・光学系、１６・・・シリンドリカルレン
ズ、１７・・・量子化回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第１図 ａ 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図
Claims (5)
- （１）物体の被検出面に対して斜め方向から所定の角度
で光を照’３’Ｊ ”ｌる光源と、この光源から被検出
面に照則される光を平１ｊ光にする光学系と、前記被検
出面からの反則光を受光して電気信号に変換する光電変
換器とを具備したことを特徴とする光電変換装置。 - （２）前記被検出面は郵便物のフラップを有する面で、
そのフラップの影を検出するものである特許請求の範囲
第１項記載の光電変換装置。 - （３）前記光学系は、光源からの光を平行光にするレン
ズと、被検出面での光量差を補正する減光フィルタとを
漸えることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光
電変換装置。 - （４）前記減光フィルタの光量低下による損失を補正す
るためのシリンドリカルレンズを被検出面の前面に設け
たことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の光電変
換装置。 - （５）前記光電変換器はラインセンリ°である特許請求
の範囲第１項記載の光電変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037544A JPS60181879A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037544A JPS60181879A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60181879A true JPS60181879A (ja) | 1985-09-17 |
| JPH057750B2 JPH057750B2 (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=12500466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59037544A Granted JPS60181879A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60181879A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021113749A (ja) * | 2020-01-20 | 2021-08-05 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面検査装置、表面検査方法、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、及び鋼材の製造設備 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5137665A (ja) * | 1974-09-26 | 1976-03-30 | Nippon Electric Co | |
| JPS57210458A (en) * | 1981-06-22 | 1982-12-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical reader |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP59037544A patent/JPS60181879A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5137665A (ja) * | 1974-09-26 | 1976-03-30 | Nippon Electric Co | |
| JPS57210458A (en) * | 1981-06-22 | 1982-12-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical reader |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021113749A (ja) * | 2020-01-20 | 2021-08-05 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面検査装置、表面検査方法、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、及び鋼材の製造設備 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH057750B2 (ja) | 1993-01-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |