JPS60187822A - 視感輝度計測装置 - Google Patents
視感輝度計測装置Info
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- JPS60187822A JPS60187822A JP59043427A JP4342784A JPS60187822A JP S60187822 A JPS60187822 A JP S60187822A JP 59043427 A JP59043427 A JP 59043427A JP 4342784 A JP4342784 A JP 4342784A JP S60187822 A JPS60187822 A JP S60187822A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は視対象物の祝意輝度を導く計測装置に関するも
のである。
のである。
従来例の構成とその問題点
一般の抜雑な輝度分布を有する視環境内に存在する視対
象物の”明るさ″（以後、祝意輝度Ｂと呼ぶ）は、その
視対象物輝度Ｌｏ （以後、ＬＯと呼ぶ）とそれを見る
観測者の目の順応輝度に対応する輝度差弁別い１乱ｍ１
ｎ（以後△Ｌｍｉｎと呼ぶ）の関数として定量的にめら
れる。たとえば、祝意輝度Ｂは、 ＬＯ Ｂ＝ｌｏｇ、ｏｌｏｇ２（−） −（１）△Ｌｍｉｎ と表わすことができる。
象物の”明るさ″（以後、祝意輝度Ｂと呼ぶ）は、その
視対象物輝度Ｌｏ （以後、ＬＯと呼ぶ）とそれを見る
観測者の目の順応輝度に対応する輝度差弁別い１乱ｍ１
ｎ（以後△Ｌｍｉｎと呼ぶ）の関数として定量的にめら
れる。たとえば、祝意輝度Ｂは、 ＬＯ Ｂ＝ｌｏｇ、ｏｌｏｇ２（−） −（１）△Ｌｍｉｎ と表わすことができる。
ここで、△Ｌｍｉｎは、特開昭５．５−４６１８５号公
報に示すように、観測者の中心窩順応輝度Ｌｆ（以後、
Ｌｆと呼ぶ）と等価元幕輝度Ｌａｖ （以後、Ｌｅｖと
呼ぶ）とからめられる。
報に示すように、観測者の中心窩順応輝度Ｌｆ（以後、
Ｌｆと呼ぶ）と等価元幕輝度Ｌａｖ （以後、Ｌｅｖと
呼ぶ）とからめられる。
しだがって、祝意輝度Ｂは、Ｌｆ 、 Ｌｅｖ 、 Ｌ
ｏ の３種類の輝度計測値から第１図のような手順でめ
ることができる。
ｏ の３種類の輝度計測値から第１図のような手順でめ
ることができる。
第１図において、ａでは中心窩順応輝度Ｌｆを測定する
。ｂでは等価光幕輝度Ｌｅｖを測定する。
。ｂでは等価光幕輝度Ｌｅｖを測定する。
Ｃでは視対象物輝度Ｌｏを測定する。ｄ′″ｃｉｌ−ｊ
：中心窩順応輝度に関係する輝度差弁別いき△Ｌｆをめ
る。ｅでは等価光幕輝度に関係する輝度差弁別いき△Ｌ
ｅｖをめる。ｆでは輝度差弁別いきΔＬｍｉｎをめる。
：中心窩順応輝度に関係する輝度差弁別いき△Ｌｆをめ
る。ｅでは等価光幕輝度に関係する輝度差弁別いき△Ｌ
ｅｖをめる。ｆでは輝度差弁別いきΔＬｍｉｎをめる。
ｇでは祝意輝度Ｂをめる。
第１図でＬｆは、通常の視作業における視線走査の範囲
をもとにして、一般に観、測者の視線を中心に、直径１
０°〜２００の視野内の平均輝度として平均輝度計で計
測できる。Ｌｅｖは、視対象物に視紗を向けたときの周
辺視野部分の輝度を加重積分してめられ、たとえば、人
間の眼球内散乱特性に適合させて作られたグレアレンズ
（Ｐｈｏｔ。
をもとにして、一般に観、測者の視線を中心に、直径１
０°〜２００の視野内の平均輝度として平均輝度計で計
測できる。Ｌｅｖは、視対象物に視紗を向けたときの周
辺視野部分の輝度を加重積分してめられ、たとえば、人
間の眼球内散乱特性に適合させて作られたグレアレンズ
（Ｐｈｏｔ。
Ｒｅ５ｅａｒｃｈ社製）と、その出力の平行光成分のみ
を受光する受光素子とを組み合わせた装置で計測できる
。Ｌｏは視対象物の中から、直径１°〜２゜の視野内の
平均輝度としてスポット形輝度計で計測できる。このよ
うに３種類の輝度計測を行なべそれらの計測値を演算処
理することにより、祝意輝度Ｂを計測することができる
。
を受光する受光素子とを組み合わせた装置で計測できる
。Ｌｏは視対象物の中から、直径１°〜２゜の視野内の
平均輝度としてスポット形輝度計で計測できる。このよ
うに３種類の輝度計測を行なべそれらの計測値を演算処
理することにより、祝意輝度Ｂを計測することができる
。
しかしながら上記のような構成では、Ｌｆ 、 Ｌｅｖ
。
。
Ｌｏの輝度情報を別々の計測器で計測しなければならず
、同一場所における祝意輝度計測を、同時に行なうこと
がむずかしく、信号処理系も複雑になるという問題を有
していた。
、同一場所における祝意輝度計測を、同時に行なうこと
がむずかしく、信号処理系も複雑になるという問題を有
していた。
前記問題点を解決するだめに、第２図に示すようなＬｆ
計測系、Ｌｅｖ計測系、 Ｌｏ 計測系およびファイン
ダ系を同一の光学系で構成した祝意輝度計測装置が考え
られている。
計測系、Ｌｅｖ計測系、 Ｌｏ 計測系およびファイン
ダ系を同一の光学系で構成した祝意輝度計測装置が考え
られている。
以下に、上記従来の祝意輝度計測装置について説明する
。
。
第２図は祝意輝度計測装置の構成を示すものであり、１
は視野内の視対象物である。２は前記視対象物１の輝度
情報を含んだ像を、後述の受光器やファインダに導くだ
めの対物レンズ、３，４゜５．６は対物レンズ２からの
像を、受光器やファインダに分離させるハーフプリズム
、７Ｕ Ｌｏの計測視野角を限定するマスク、８はマス
ク７を通過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、９ば
り。
は視野内の視対象物である。２は前記視対象物１の輝度
情報を含んだ像を、後述の受光器やファインダに導くだ
めの対物レンズ、３，４゜５．６は対物レンズ２からの
像を、受光器やファインダに分離させるハーフプリズム
、７Ｕ Ｌｏの計測視野角を限定するマスク、８はマス
ク７を通過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、９ば
り。
を受光するだめの受光器、１０はＬｆの計測視野角を限
定するマスク、１１はマスク１０を通過した光束（輝度
）を拡散させる拡散板、１２はＬｆを受光するだめの受
光器、１３ばＬｅｖの角度特性（１１０２特性）を補正
する補正フィルタ、１４は補正フィルタ１３を通過した
光束（輝度）を拡散させる拡散板、１５ばＬｅｖを受光
するだめの受光器、１６はＬＯとＬｆの計測範、囲を表
示しだレチクル、１７はＬＯとＬｆの計測範囲を確認す
るだめのファインダ、１８．１９９２０，２１．２２は
対物レンズ２からの像を、受光器９．受光器１２゜受光
器１５．ファインダ１７にそれぞれ導くリレーレンズで
ある。
定するマスク、１１はマスク１０を通過した光束（輝度
）を拡散させる拡散板、１２はＬｆを受光するだめの受
光器、１３ばＬｅｖの角度特性（１１０２特性）を補正
する補正フィルタ、１４は補正フィルタ１３を通過した
光束（輝度）を拡散させる拡散板、１５ばＬｅｖを受光
するだめの受光器、１６はＬＯとＬｆの計測範、囲を表
示しだレチクル、１７はＬＯとＬｆの計測範囲を確認す
るだめのファインダ、１８．１９９２０，２１．２２は
対物レンズ２からの像を、受光器９．受光器１２゜受光
器１５．ファインダ１７にそれぞれ導くリレーレンズで
ある。
以上のように構成された従来の視感輝度計測装置につい
て、以下その動作を説明する。
て、以下その動作を説明する。
第２図において、視野内の視対象物１は対物レンズ２に
より、Ｘの位置に空間像として結像される。この場合、
対物レンズ２の視野角（画角）は、Ｌｅｖの特性からｍ
ａＸ、 １８０°が要求されるため、超広角レンズが用
いらり、ている。
より、Ｘの位置に空間像として結像される。この場合、
対物レンズ２の視野角（画角）は、Ｌｅｖの特性からｍ
ａＸ、 １８０°が要求されるため、超広角レンズが用
いらり、ている。
Ｘに結像された像は、リレーレンズ１８を通ったのち、
ハーフプリズム４→ノ為−フグリズム３→リレーレンズ
１９→マスクフ→拡散板８→受光器９へ導かれる（ Ｌ
ｏの計測）とともに、／・−フグリズム４→リレーレン
ズ２０→マスク１０→拡散板１１→受光器１２ （Ｌｆ
の計測）へ、さらにノ・−フグリズム４→ハーフプリズ
ム６→リレーレンズ２１→レチクル１６→フアインダ１
７（ファインダによる計測範囲の確認）へと導かれ、最
終、ハーフプリズム４→ハーフプリズム５→ハーフプリ
ズム６→リレーレンズ２２−を補正フィルタ１３→拡散
板１４→受光器１５（Ｌｅｖの開側）へそれぞれ導かれ
る。
ハーフプリズム４→ノ為−フグリズム３→リレーレンズ
１９→マスクフ→拡散板８→受光器９へ導かれる（ Ｌ
ｏの計測）とともに、／・−フグリズム４→リレーレン
ズ２０→マスク１０→拡散板１１→受光器１２ （Ｌｆ
の計測）へ、さらにノ・−フグリズム４→ハーフプリズ
ム６→リレーレンズ２１→レチクル１６→フアインダ１
７（ファインダによる計測範囲の確認）へと導かれ、最
終、ハーフプリズム４→ハーフプリズム５→ハーフプリ
ズム６→リレーレンズ２２−を補正フィルタ１３→拡散
板１４→受光器１５（Ｌｅｖの開側）へそれぞれ導かれ
る。
以上のように、従来の祝意輝度開側装置の動作では、Ｌ
Ｏ計測系、Ｌｆ計測系、Ｌｅｖ割測開側よびファインダ
系が同一の光軸を有しており、同時計測ができることか
ら、ひとつの開側装置で同一場所における祝意輝度網側
を行なうことかできる。
Ｏ計測系、Ｌｆ計測系、Ｌｅｖ割測開側よびファインダ
系が同一の光軸を有しており、同時計測ができることか
ら、ひとつの開側装置で同一場所における祝意輝度網側
を行なうことかできる。
しかし、上記従来の計測装置では、Ｌｏ、Ｌｆ。
Ｌｅｖ 、ファインダを同一の対物レンズ２を介した構
成にしていることから、視野角が小さいＬＯ割側糸など
は、必要とする言４測範囲（１°〜２°）以外からの不
要な光（迷光など）の影響を受けやすく、計測誤差の要
因のひとつになっている。寸だ、対物レンズ２の視野角
はｌｌ１ａＸ、 １８００であることから、ファインダ
の機能として、視野角３０°ぐらいまでを特に歪のない
正しい像としなければならず、結像系としての１象補正
がむずかしいという問題を有していた。
成にしていることから、視野角が小さいＬＯ割側糸など
は、必要とする言４測範囲（１°〜２°）以外からの不
要な光（迷光など）の影響を受けやすく、計測誤差の要
因のひとつになっている。寸だ、対物レンズ２の視野角
はｌｌ１ａＸ、 １８００であることから、ファインダ
の機能として、視野角３０°ぐらいまでを特に歪のない
正しい像としなければならず、結像系としての１象補正
がむずかしいという問題を有していた。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するもので、等価光幕
輝度Ｌｅｖ計測領域からの迷光の影響を受けずに、視対
象物輝度ＬＯや中心窩順応輝度Ｌｆを計測する祝意輝度
計測装置を提供することを目的とする。
輝度Ｌｅｖ計測領域からの迷光の影響を受けずに、視対
象物輝度ＬＯや中心窩順応輝度Ｌｆを計測する祝意輝度
計測装置を提供することを目的とする。
発明の構成
前記目的を達成するため本発明は等価光幕輝度Ｌｅｖの
計測系を非結像系で構成し、Ｌｅｖの計測系の光軸中心
に視対象物輝度Ｌｏの計測系、中心窩順応輝度Ｌｆの計
測系およびファインダ系を構成するだめの結像系を設け
、Ｌｅｖ計測系とＬＯ計測系、Ｌｆ計測系、ファインダ
系とを分離することにより、Ｌｅｖ計測領域からの迷光
の影響を受けずに祝意輝度計測を行なうことができるも
のである。
計測系を非結像系で構成し、Ｌｅｖの計測系の光軸中心
に視対象物輝度Ｌｏの計測系、中心窩順応輝度Ｌｆの計
測系およびファインダ系を構成するだめの結像系を設け
、Ｌｅｖ計測系とＬＯ計測系、Ｌｆ計測系、ファインダ
系とを分離することにより、Ｌｅｖ計測領域からの迷光
の影響を受けずに祝意輝度計測を行なうことができるも
のである。
実施例の説明
第３図は本発明の第１の実施例における祝意輝度計測装
置の光学系の構成図を示したものである。
置の光学系の構成図を示したものである。
第３図において、２３は視野内の視対象物である。２４
は前記視対象物２３の輝度情報を含んだ像を、後述の受
光器やファインダに導くだめの対物レンズ、２５は対物
レンズ２４からの像を後述の中心窩順応輝度用受光器や
ファインダに導くだめの穴あきミラー、２６は穴あきミ
ラー２６を通過した視対象物輝度ＬＯの計測視野角（１
°〜２°）を限定するマスク、２７はマスク２６を通過
した光束（輝度）を拡散させる拡散板、２８はＬＯを受
光するだめの受光器（視感度補正済み）、２９は中心窩
順応輝度計測系とファインダ系とを分離させるハーフプ
リズム、３０は中心窩順応輝度Ｌｆの計測視野角（１０
°〜２００）を限定するマスク、３１はマスク３０を通
過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、３２はＬｆを
受光するだめの受光器（視感度補正済み）、３３および
３４はノ・−７プリズム２９からの像をファインダ系に
導くためのリレーレンズ、３６ばＬＯとＬｆの計測範囲
を表示したレチクル、３６はＬＯとＬｆの計測範囲を確
認するだめのファインダ（視野角３０°）、３７は等価
光幕輝度Ｌｅｖを計測するだめの凹レンズ〔視野角１６
０°ｌ−１ａｏ’ｒレンズ光軸中心に対物レンズ２４を
設けたもの〕、３８は凹レンズ３７に入射するＬｅｖ輝
度情報のうち、平行成分のみを集光−するコンデンサレ
ンズ、３９はＬｅｖの角度特性（力２特性）を補正する
補正フィルタ、４ｏは補止フィルタ３９を通過した光束
（輝度）を拡散させる拡散板、４１はＬｅｖを受光する
だめの受光器（視感度補正済み）である。
は前記視対象物２３の輝度情報を含んだ像を、後述の受
光器やファインダに導くだめの対物レンズ、２５は対物
レンズ２４からの像を後述の中心窩順応輝度用受光器や
ファインダに導くだめの穴あきミラー、２６は穴あきミ
ラー２６を通過した視対象物輝度ＬＯの計測視野角（１
°〜２°）を限定するマスク、２７はマスク２６を通過
した光束（輝度）を拡散させる拡散板、２８はＬＯを受
光するだめの受光器（視感度補正済み）、２９は中心窩
順応輝度計測系とファインダ系とを分離させるハーフプ
リズム、３０は中心窩順応輝度Ｌｆの計測視野角（１０
°〜２００）を限定するマスク、３１はマスク３０を通
過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、３２はＬｆを
受光するだめの受光器（視感度補正済み）、３３および
３４はノ・−７プリズム２９からの像をファインダ系に
導くためのリレーレンズ、３６ばＬＯとＬｆの計測範囲
を表示したレチクル、３６はＬＯとＬｆの計測範囲を確
認するだめのファインダ（視野角３０°）、３７は等価
光幕輝度Ｌｅｖを計測するだめの凹レンズ〔視野角１６
０°ｌ−１ａｏ’ｒレンズ光軸中心に対物レンズ２４を
設けたもの〕、３８は凹レンズ３７に入射するＬｅｖ輝
度情報のうち、平行成分のみを集光−するコンデンサレ
ンズ、３９はＬｅｖの角度特性（力２特性）を補正する
補正フィルタ、４ｏは補止フィルタ３９を通過した光束
（輝度）を拡散させる拡散板、４１はＬｅｖを受光する
だめの受光器（視感度補正済み）である。
以上のように構成された本発明の第１の実施例の祝意輝
度計測装置について、以下、その動作を説明する。
度計測装置について、以下、その動作を説明する。
第３図において、視対象物２３の像は対物レンズ２４を
介したのち、一部、穴あきミラー２５の穴の部分を通過
後、マスク２６の位置に結像される。マスク２６ばＬＯ
の計測視野角（１°〜２°）を限定する大きさの開口部
（円形）が設けられており、ＬＯ輝度情報はマスク２６
を通過後、拡散板２７を介して受光器２８へ到達する。
介したのち、一部、穴あきミラー２５の穴の部分を通過
後、マスク２６の位置に結像される。マスク２６ばＬＯ
の計測視野角（１°〜２°）を限定する大きさの開口部
（円形）が設けられており、ＬＯ輝度情報はマスク２６
を通過後、拡散板２７を介して受光器２８へ到達する。
（Ｌｏの計測）
一方一穴あきミラー２６のミラ一部分で反射された像は
、ハーフプリズム２９により、Ｌｆ計測系とファインダ
系とに分離されたのち、透過光（像）はマスク３０の位
置に結像される。マスク３０はＬｆの計測視野角（１０
°〜２０°）を限定する大きさの開口部（円形）が設け
られており、Ｌｆ輝度情報はマスク３０を通過後、拡散
板３１を介して受光器３２へ到達する。（Ｌｆの網側）
まだ、ハーフプリズム２９からの反射光（像）はリレー
レンズ３３および３４を介したのち、レチクル３６の位
置に結像される。レチクル３５はＬｏとＬｆの計測範囲
がわかるように１°〜２°および１ｏ０〜２ｏ０の円形
が表示されている。そして、ファインダ３６により計測
者はＬｏ、Ｌｆ の計測範囲を確認することができる。
、ハーフプリズム２９により、Ｌｆ計測系とファインダ
系とに分離されたのち、透過光（像）はマスク３０の位
置に結像される。マスク３０はＬｆの計測視野角（１０
°〜２０°）を限定する大きさの開口部（円形）が設け
られており、Ｌｆ輝度情報はマスク３０を通過後、拡散
板３１を介して受光器３２へ到達する。（Ｌｆの網側）
まだ、ハーフプリズム２９からの反射光（像）はリレー
レンズ３３および３４を介したのち、レチクル３６の位
置に結像される。レチクル３５はＬｏとＬｆの計測範囲
がわかるように１°〜２°および１ｏ０〜２ｏ０の円形
が表示されている。そして、ファインダ３６により計測
者はＬｏ、Ｌｆ の計測範囲を確認することができる。
以上はＬｏ計測系、Ｌｆ計測系、ファインダ系の動作に
ついて説明したもので、次にＬｅｖ計測系の動作を説明
する。
ついて説明したもので、次にＬｅｖ計測系の動作を説明
する。
第３図において、凹レンズ３７へはｍａＸ、 １８０゜
の計測視野角からのＬｅｖ輝度情報が入射する。そして
、Ｌｅｖの特性上、これらの入射光のうち、平行成分の
みをコンデンサレンズ３８で集光シて、補正フィルタ３
９．拡散板４０を介したのち、受光器４１へ導かれる。
の計測視野角からのＬｅｖ輝度情報が入射する。そして
、Ｌｅｖの特性上、これらの入射光のうち、平行成分の
みをコンデンサレンズ３８で集光シて、補正フィルタ３
９．拡散板４０を介したのち、受光器４１へ導かれる。
（Ｌｅｖの計測）なお、補正フィルタ３９の役目はＬｅ
ｖの角度特性（′Ｖ０２特ωに合致させるために用いる
もので、本発明では中心部から周辺部にかけて濃度勾配
（淡い→濃い）をもだせた透過形のフィルタを用い、そ
の取付位置を調整することにより、最適な角度特性を実
現させている。（Ｌｅｖ計測計測計結像系であることか
ら、上記のような角度特性の調整が容易に行なえる） 以上かられかるように、計測視野角が大きいＬｅｖ計測
計測計測視野角が比較的小さいＬＯ計測系、Ｌｆ計測系
、ファインダ系とを別々の光学系で分離しているため、
Ｌｅｖからの不要な光（迷光なと）が計測原理上、最も
計測精度が要求されるＬｏ計測系に与える影響を防止す
ることができる。
ｖの角度特性（′Ｖ０２特ωに合致させるために用いる
もので、本発明では中心部から周辺部にかけて濃度勾配
（淡い→濃い）をもだせた透過形のフィルタを用い、そ
の取付位置を調整することにより、最適な角度特性を実
現させている。（Ｌｅｖ計測計測計結像系であることか
ら、上記のような角度特性の調整が容易に行なえる） 以上かられかるように、計測視野角が大きいＬｅｖ計測
計測計測視野角が比較的小さいＬＯ計測系、Ｌｆ計測系
、ファインダ系とを別々の光学系で分離しているため、
Ｌｅｖからの不要な光（迷光なと）が計測原理上、最も
計測精度が要求されるＬｏ計測系に与える影響を防止す
ることができる。
また対物レンズ２４の視野角（画角）は（ＤａＸ、 ３
０゜であることから、歪の少ない像をつくることが容易
である。
０゜であることから、歪の少ない像をつくることが容易
である。
以下、本発明の第２の実施例について、図面とともに説
明する。
明する。
第４図は本発明の第２の実施例における祝意輝度計測装
置の光学系の構成図を示したものであり、第３図のもの
と同一物は同一番号を用いて説明する。
置の光学系の構成図を示したものであり、第３図のもの
と同一物は同一番号を用いて説明する。
第４図において、２３は視野内の視対象物である。２４
は前記視対象物２３の輝度情報を含んだ像を、後述の受
光器やファインダに導くだめの対物レンズ、２５は対物
レンズ２４からの像を後述の中心窩順応輝度用受光器や
ファインダに導くだめの穴あきミラー、２６は穴あきミ
ラー２５を通過したＬｏの計測視野角（１°〜２°）を
限定するマスク、２７はマスク２６を通過した光束（輝
釦を拡散させる拡散板、２８はＬＯを受光する受光器（
視感度補正済み）、２９はＬｆ計測系とファインダ系と
を分離させるハーフプリズム、３ＱはＬｆの計測視野角
（１００〜２００）を限定するマスク、３１はマスク３
０を通過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、３２は
Ｌｆを受光する受光器（視感度補正済み）、３３および
３４はノ・−フプリズム２９からの像をファインダ系に
導くためのリレーレンズ、３６はＬＯとＬｆの計測範囲
を表示したレチクル、３６はＬＯとＬｆの計測範囲を確
認するためのファインダ（視野角３００）、３８はコン
デンサレンズ、３９はＬｅｖの角度特性（′／θ２特性
）を補正する補正フィルタ、４０は補正フィルタ３９を
通過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、４１はＬｅ
ｖを受光する受光器（視感度補正済み）で、以上は第３
図の構成と同様なものである。第３図の構成と異なるの
は、Ｌｅｖ計測用対物レンズ３７（第３図参照）の代わ
りに、対物レンズ３７の位置に拡散窓４２を設けるとと
もに、拡散窓４２とコンデンサレンズ３８との間に遮光
板４３，４４，４５．４６を配置したことである。
は前記視対象物２３の輝度情報を含んだ像を、後述の受
光器やファインダに導くだめの対物レンズ、２５は対物
レンズ２４からの像を後述の中心窩順応輝度用受光器や
ファインダに導くだめの穴あきミラー、２６は穴あきミ
ラー２５を通過したＬｏの計測視野角（１°〜２°）を
限定するマスク、２７はマスク２６を通過した光束（輝
釦を拡散させる拡散板、２８はＬＯを受光する受光器（
視感度補正済み）、２９はＬｆ計測系とファインダ系と
を分離させるハーフプリズム、３ＱはＬｆの計測視野角
（１００〜２００）を限定するマスク、３１はマスク３
０を通過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、３２は
Ｌｆを受光する受光器（視感度補正済み）、３３および
３４はノ・−フプリズム２９からの像をファインダ系に
導くためのリレーレンズ、３６はＬＯとＬｆの計測範囲
を表示したレチクル、３６はＬＯとＬｆの計測範囲を確
認するためのファインダ（視野角３００）、３８はコン
デンサレンズ、３９はＬｅｖの角度特性（′／θ２特性
）を補正する補正フィルタ、４０は補正フィルタ３９を
通過した光束（輝度）を拡散させる拡散板、４１はＬｅ
ｖを受光する受光器（視感度補正済み）で、以上は第３
図の構成と同様なものである。第３図の構成と異なるの
は、Ｌｅｖ計測用対物レンズ３７（第３図参照）の代わ
りに、対物レンズ３７の位置に拡散窓４２を設けるとと
もに、拡散窓４２とコンデンサレンズ３８との間に遮光
板４３，４４，４５．４６を配置したことである。
以上のように構成された本発明の第２の実施例の祝意輝
度計測装置について、以下、その動作を説明する。
度計測装置について、以下、その動作を説明する。
すなわちＬｏ計測系、Ｌｆ計測系およびファインダ系の
動作は、本発明の第１の実施例で説明したＬＯ計測系、
Ｌｆ計測系、ファインダ系の動作と同様である。このた
め、Ｌｅｖ計測計測計作を説明する。
動作は、本発明の第１の実施例で説明したＬＯ計測系、
Ｌｆ計測系、ファインダ系の動作と同様である。このた
め、Ｌｅｖ計測計測計作を説明する。
第４図において、拡散窓４２へはｍａＸ、 １８０゜の
計測視野角からのＬｅｖ輝度情報が入射する。そして、
Ｌｅｖの特性上、これらの入射光のうち、平行成分を取
り出すよう遮光板４３ ｙ ４４ ｔ ４６ 。
計測視野角からのＬｅｖ輝度情報が入射する。そして、
Ｌｅｖの特性上、これらの入射光のうち、平行成分を取
り出すよう遮光板４３ ｙ ４４ ｔ ４６ 。
４６で光路を制限し、コンデンサレンズ３８で集光して
、補正フィルタ３９．拡散板４０を介したのち、受光器
４１へ導かれる。（Ｌｅｖの計測）なお、補正フィルり
３９の役目は本発明の第１の実施例と同様で、かつ同じ
機能を有している。
、補正フィルタ３９．拡散板４０を介したのち、受光器
４１へ導かれる。（Ｌｅｖの計測）なお、補正フィルり
３９の役目は本発明の第１の実施例と同様で、かつ同じ
機能を有している。
以上かられかるように、本発明の第２の実施例によれば
、Ｌｅｖ計測計測計散窓４２を設け、遮光板４３＋ ４
４ｙ ４５． ４６とコンデンサレンズ３８とにより、
拡散窓４２からの平行光成分を取り出してＬｅｖを開側
するとともに、Ｌｅｖ計測計測計分離させた対物レンズ
２４により、Ｌｏ 、 Ｌｆを計測し、かつファインダ
を構成することができるため、Ｌｅｖ計測系からの迷光
などの影響を防止することができる。
、Ｌｅｖ計測計測計散窓４２を設け、遮光板４３＋ ４
４ｙ ４５． ４６とコンデンサレンズ３８とにより、
拡散窓４２からの平行光成分を取り出してＬｅｖを開側
するとともに、Ｌｅｖ計測計測計分離させた対物レンズ
２４により、Ｌｏ 、 Ｌｆを計測し、かつファインダ
を構成することができるため、Ｌｅｖ計測系からの迷光
などの影響を防止することができる。
なお、本発明の第１および第２の実施例とも、Ｌｅｖ計
測系を凹レンズや拡散窓のような非結像光学素子により
構成しだが、これらの代わりにオプチカルファイバ（ラ
イトガイド）などを用いても第１および第２の実施例と
同様の効果が得られることはいうまでもない。
測系を凹レンズや拡散窓のような非結像光学素子により
構成しだが、これらの代わりにオプチカルファイバ（ラ
イトガイド）などを用いても第１および第２の実施例と
同様の効果が得られることはいうまでもない。
発明の効果
以上の実施例の説明より明らかなように、本発明の祝意
輝度計測装置は、等価光幕輝度Ｌｅｖの計測系を非結像
系で構成し、かつＬｅｖの計測系の光軸中心に視対象物
輝度ＬＯＯ割測開側中心窩順応輝度Ｌｆｉ−１測系およ
びファインダ系を構成するだめの結像系を設け、Ｌｅｖ
計測系とＬｏ計測系、Ｌｆ計測系、ファインダ系とを分
離することにより、Ｌｅｖ計測領域からの迷光の影響を
受けずに祝意輝度計測を行なうことができるものである
。
輝度計測装置は、等価光幕輝度Ｌｅｖの計測系を非結像
系で構成し、かつＬｅｖの計測系の光軸中心に視対象物
輝度ＬＯＯ割測開側中心窩順応輝度Ｌｆｉ−１測系およ
びファインダ系を構成するだめの結像系を設け、Ｌｅｖ
計測系とＬｏ計測系、Ｌｆ計測系、ファインダ系とを分
離することにより、Ｌｅｖ計測領域からの迷光の影響を
受けずに祝意輝度計測を行なうことができるものである
。
第１図は祝意輝度計測の原理図、第２図は従来例におけ
る祈、感輝度計測装置の構成図、第３図は本発明の第１
の実施例における祝意輝度計測装置の光学系の構成図、
第４図は本発明の第２の実施例における祝意輝度計測装
置の光学系の構成図である。 ２３・・・・・・視対象物、２４・川・・対物レンズ、
２６・・・・・・穴あきミラー、２６．３０・・・・・
マスク、２７゜３１．４０・・・・・・拡散板、２８，
３２．４１・川・−受光器、２９・・・・・・ハーフプ
リズム、３３．３４・川・・リレーレンズ、３５・・・
・・レチクＡｚ、 ３６・・・・ファインダ、３γ・・
・・・凹レンズ、３８・川・・コンデンサレンズ、３９
・・・・・補正フィルタ、４２・・・・・拡散窓、４３
．４４，４５．４６・・・・・遮光板。
る祈、感輝度計測装置の構成図、第３図は本発明の第１
の実施例における祝意輝度計測装置の光学系の構成図、
第４図は本発明の第２の実施例における祝意輝度計測装
置の光学系の構成図である。 ２３・・・・・・視対象物、２４・川・・対物レンズ、
２６・・・・・・穴あきミラー、２６．３０・・・・・
マスク、２７゜３１．４０・・・・・・拡散板、２８，
３２．４１・川・−受光器、２９・・・・・・ハーフプ
リズム、３３．３４・川・・リレーレンズ、３５・・・
・・レチクＡｚ、 ３６・・・・ファインダ、３γ・・
・・・凹レンズ、３８・川・・コンデンサレンズ、３９
・・・・・補正フィルタ、４２・・・・・拡散窓、４３
．４４，４５．４６・・・・・遮光板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 非結像系からなる等価光幕輝度計測系と、結像系からな
る視対象物輝度計測系、中心窩順応輝度計測系およびフ
ァインダ系とを備え、前記等価光幕輝度計測系の光軸中
心に視対象物輝度計測系。 中心窩順応輝度計測系およびファインダ系を設けた祝意
輝度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59043427A JPS60187822A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 視感輝度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59043427A JPS60187822A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 視感輝度計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60187822A true JPS60187822A (ja) | 1985-09-25 |
| JPH0452886B2 JPH0452886B2 (ja) | 1992-08-25 |
Family
ID=12663397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59043427A Granted JPS60187822A (ja) | 1984-03-07 | 1984-03-07 | 視感輝度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60187822A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0177975U (ja) * | 1987-11-13 | 1989-05-25 |
-
1984
- 1984-03-07 JP JP59043427A patent/JPS60187822A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0177975U (ja) * | 1987-11-13 | 1989-05-25 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0452886B2 (ja) | 1992-08-25 |
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