JPS60190977A - 局部加熱とモニタを行う装置 - Google Patents
局部加熱とモニタを行う装置Info
- Publication number
- JPS60190977A JPS60190977A JP59045771A JP4577184A JPS60190977A JP S60190977 A JPS60190977 A JP S60190977A JP 59045771 A JP59045771 A JP 59045771A JP 4577184 A JP4577184 A JP 4577184A JP S60190977 A JPS60190977 A JP S60190977A
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- JP
- Japan
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- heating
- high frequency
- coil
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- Radiation-Therapy Devices (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、核磁気共鳴装置を用いて局部加熱としニタを
１：ｊう方法及び装置に関する。
１：ｊう方法及び装置に関する。
近時、癌の治療法の一つとして局部高熱治療法が注目を
浴びている。この治療法は、癌組織が高湿に弱いことに
着目した治療法で、超合波やマイクロ波等を癌組織に照
射することにより局所的に＾温石に加熱して治療するち
のでｄするが、これ：Ｌで治療時のｔニタ方法がなく、
癌組織に照射する超合波ヤマイク１」波の強度側、Ｌ軽
験や勘に頼って決められＣいるのが現状Ｃある。このた
め、熱を加え過ぎて周囲の組織まで破壊してしまったり
、あるいは少な過ぎて十分な治療効果が得られないとい
っ１＝不都合がｄうった。
浴びている。この治療法は、癌組織が高湿に弱いことに
着目した治療法で、超合波やマイクロ波等を癌組織に照
射することにより局所的に＾温石に加熱して治療するち
のでｄするが、これ：Ｌで治療時のｔニタ方法がなく、
癌組織に照射する超合波ヤマイク１」波の強度側、Ｌ軽
験や勘に頼って決められＣいるのが現状Ｃある。このた
め、熱を加え過ぎて周囲の組織まで破壊してしまったり
、あるいは少な過ぎて十分な治療効果が得られないとい
っ１＝不都合がｄうった。
本発明（まこの点に鑑みＣなされたしのであり、核磁気
Ｊｔ鳴装置を用い゛（局部加熱とモニタを行う新規な方
法及び装置を提供することを目的としている。
Ｊｔ鳴装置を用い゛（局部加熱とモニタを行う新規な方
法及び装置を提供することを目的としている。
本発明は、静磁場内に配置されたλ１象に近接して置か
れた単一のコイルに、加熱用高周波と核磁気共鳴測定用
高周波パルスを供給し、該高周波パルス照射後対象から
発生し前記コイルによって検出された共鳴信号に基づい
て核磁気共鳴測定を行うようにしたことを特徴としてい
る。以下、図面を用いて本発明を詳述する。
れた単一のコイルに、加熱用高周波と核磁気共鳴測定用
高周波パルスを供給し、該高周波パルス照射後対象から
発生し前記コイルによって検出された共鳴信号に基づい
て核磁気共鳴測定を行うようにしたことを特徴としてい
る。以下、図面を用いて本発明を詳述する。
第１図は本発明を実施し１＝局部加熱とモニタを行う装
置の一例を示すブロック図である。図におい−（１はＩ
４１ Ｚ’ｉであり、該磁石１によって形成された静磁
場内には患者や動物等の治療対象２が配置され、該対象
２の患部の表面には送受信コイル３が暇かれ一〇いる。
置の一例を示すブロック図である。図におい−（１はＩ
４１ Ｚ’ｉであり、該磁石１によって形成された静磁
場内には患者や動物等の治療対象２が配置され、該対象
２の患部の表面には送受信コイル３が暇かれ一〇いる。
４は該コイル３と結合されて同調回路を（ｂ）成りる回
路ぐ、高周波発振器５から発生し／ｊ高周波がゲート回
路６及び増幅器７を介しＣ該回路４へ供給され、更に送
受信コイル３へ送られる。送受信コイル３の近傍で発生
し、該コイル３によって検出された共鳴信号は、端子８
を介して取出され、増幅器９を介して復調回路１０へ送
られる。復調により得られた自由誘導減衰信号（ＦＩＤ
信号）は、Ａ−Ｄ変換器１１を介してコンピュータ１２
へ送られ、メモリ１３に格納される。該」ンピュータ１
２はメモリ１３に格納されたＩ−１１）仏５４に適宜な
データ処理を加え、処理結果を表示具Ｖ１１４に表示す
る。１５は前記ゲート回路６の０ＮｔＯＦＦを制御する
ための制御回路である。
路ぐ、高周波発振器５から発生し／ｊ高周波がゲート回
路６及び増幅器７を介しＣ該回路４へ供給され、更に送
受信コイル３へ送られる。送受信コイル３の近傍で発生
し、該コイル３によって検出された共鳴信号は、端子８
を介して取出され、増幅器９を介して復調回路１０へ送
られる。復調により得られた自由誘導減衰信号（ＦＩＤ
信号）は、Ａ−Ｄ変換器１１を介してコンピュータ１２
へ送られ、メモリ１３に格納される。該」ンピュータ１
２はメモリ１３に格納されたＩ−１１）仏５４に適宜な
データ処理を加え、処理結果を表示具Ｖ１１４に表示す
る。１５は前記ゲート回路６の０ＮｔＯＦＦを制御する
ための制御回路である。
かかる＋ｉ４成におい（、発振器５の発振周波数は、例
えば測定核が水素核（ＩＨ）の場合その共鳴周波数１１
に設定される。そして、制御回路１５は第２図に示づよ
うに１１１初の加熱期間Ｔ１の間ゲート回路６をＯＮに
し、周波数ｆ１の高周波をコイル３へ送る。そのため、
」イル３から照射された高周波の１ネルギーを吸収した
患部は発熱し、湿度が上背する。この最初の加熱期間Ｔ
１の後の測定１１１間１２にＪ３いて、制御回路１５は
ゲート回路６を適宜な期間ＯＮにして測定用の９０゛パ
ルス（水素核の磁化を９０°倒す強度及びパルス幅を持
つ高周波パルス）Ｒ９０を作成し、コイルご３を介し゛
（患部へ照射りる。この９０°パルス照射後同じコイル
３によって検出された共鳴信号は、受ｆａ回路１０にＪ
３いてトＩ Ｄ信号どして取出され、メモリ１３へ格納
される。コンピュータ１２はこの１１１）信号に吊づい
°Ｃ縦緩和時間Ｔ１を即座にめ、その値を表示装置ｑ１
４に表示する。
えば測定核が水素核（ＩＨ）の場合その共鳴周波数１１
に設定される。そして、制御回路１５は第２図に示づよ
うに１１１初の加熱期間Ｔ１の間ゲート回路６をＯＮに
し、周波数ｆ１の高周波をコイル３へ送る。そのため、
」イル３から照射された高周波の１ネルギーを吸収した
患部は発熱し、湿度が上背する。この最初の加熱期間Ｔ
１の後の測定１１１間１２にＪ３いて、制御回路１５は
ゲート回路６を適宜な期間ＯＮにして測定用の９０゛パ
ルス（水素核の磁化を９０°倒す強度及びパルス幅を持
つ高周波パルス）Ｒ９０を作成し、コイルご３を介し゛
（患部へ照射りる。この９０°パルス照射後同じコイル
３によって検出された共鳴信号は、受ｆａ回路１０にＪ
３いてトＩ Ｄ信号どして取出され、メモリ１３へ格納
される。コンピュータ１２はこの１１１）信号に吊づい
°Ｃ縦緩和時間Ｔ１を即座にめ、その値を表示装置ｑ１
４に表示する。
ところで、癌組織ではｉＪ−常な組織に比べ１Ｈ核のＴ
１が長くなることが知られている。従って、加熱にＪ、
り癌組織が破壊されるにつれ、その組織が示ず１１の値
は知くなり、このＴ１の値をモニタ１れぽ癌組織の破壊
の様子を知ることが可能である。
１が長くなることが知られている。従って、加熱にＪ、
り癌組織が破壊されるにつれ、その組織が示ず１１の値
は知くなり、このＴ１の値をモニタ１れぽ癌組織の破壊
の様子を知ることが可能である。
そこで、第２図に示すように加熱を適宜なＪＩＩＪ間行
う毎に核磁気共鳴測定を行って’Ｈ核のＴ１をめ、その
Ｉ゛１の値が所定の値以下にな？た時に加熱をやめるよ
うにすれば、適切な加熱治療を行うことか可能どなる。
う毎に核磁気共鳴測定を行って’Ｈ核のＴ１をめ、その
Ｉ゛１の値が所定の値以下にな？た時に加熱をやめるよ
うにすれば、適切な加熱治療を行うことか可能どなる。
本発明においては、この加熱と核磁気」（鳴測定を同一
のコイル３を用いて行っているため、加熱した領域と全
く同一の領域についで測定を行うことができ、モニタの
信憑性は極めて轟１い。
のコイル３を用いて行っているため、加熱した領域と全
く同一の領域についで測定を行うことができ、モニタの
信憑性は極めて轟１い。
第３図は本発明の他の実施例を示すブロック図であり、
第１図と同一の構成要素には同一番号が付されている。
第１図と同一の構成要素には同一番号が付されている。
木実施例では、高周波発振器５を加熱専用どして用い、
測定用の高周波発振器１６を別個に設けている。それに
伴い、回路４′はコイル３と結合して複同調回路を構成
するようになつている。１７はゲート回路、１８は増幅
器である。
測定用の高周波発振器１６を別個に設けている。それに
伴い、回路４′はコイル３と結合して複同調回路を構成
するようになつている。１７はゲート回路、１８は増幅
器である。
第３図の構成にｄ３いて、測定核としては例えば３ｔｐ
核が選ばれ、従って高周波発振器１６の発振周波数ｆ２
は３１１〕核の共鳴周波数に設定される。
核が選ばれ、従って高周波発振器１６の発振周波数ｆ２
は３１１〕核の共鳴周波数に設定される。
そし−Ｃ１制御回路１５は第４図（ａ）に示づようにゲ
ート回路６をＯＮにし、周波数ｆ１の高周波をコイル３
へ）′１５す、患部の加熱を開始する。次に、加熱を行
いながら制御回路１５は第４図（ｂ）に示すようにゲー
ト回路１７を適宜な期間ＯＮにして３１［〕核測測定の
９０°パルス（３１１−）核の磁化を９０°倒り高周波
強庶及びパルス幅をＩＳ工つ１１′ｂ周波パルス）Ｒ９
０を作成し、］コイルを介して患部へ照射す゛る。この
９０’パルス照Ｑｉ後同じコイル３によって検出された
共鳴信号は、受信回路１０においてＦＩＩＩＭ号として
取出され、メモリ１３へ格納される。コンピュータ１２
は、このＦ Ｉ Ｉ）信号を７−リＪ窃（う！リ−るこ
とにより核磁気バ鳴スベク１ヘルをめ、表示装置ｉ１４
に表示する。
ート回路６をＯＮにし、周波数ｆ１の高周波をコイル３
へ）′１５す、患部の加熱を開始する。次に、加熱を行
いながら制御回路１５は第４図（ｂ）に示すようにゲー
ト回路１７を適宜な期間ＯＮにして３１［〕核測測定の
９０°パルス（３１１−）核の磁化を９０°倒り高周波
強庶及びパルス幅をＩＳ工つ１１′ｂ周波パルス）Ｒ９
０を作成し、］コイルを介して患部へ照射す゛る。この
９０’パルス照Ｑｉ後同じコイル３によって検出された
共鳴信号は、受信回路１０においてＦＩＩＩＭ号として
取出され、メモリ１３へ格納される。コンピュータ１２
は、このＦ Ｉ Ｉ）信号を７−リＪ窃（う！リ−るこ
とにより核磁気バ鳴スベク１ヘルをめ、表示装置ｉ１４
に表示する。
とごろで、癌組織ど正常組織又・はＡＴＰ（アデノシン
３リン酸）、クレアチンリン酸。無機リン酸等のリン酸
化合物の存在比が異なる。従って、核磁気共鳴スペクト
ルに基づいてリン酸化合物の存在比をめれば、癌組織が
破壊されずに残っているか否かを知ることができる。
３リン酸）、クレアチンリン酸。無機リン酸等のリン酸
化合物の存在比が異なる。従って、核磁気共鳴スペクト
ルに基づいてリン酸化合物の存在比をめれば、癌組織が
破壊されずに残っているか否かを知ることができる。
そこで、疼）４図に承りように加熱を適宜な期間行う毎
に核磁気共鳴測定を行ってスペクトルを得、そのスペク
トルに基づいてめたリン酸化合物の存在比が癌組織のも
のと異なって来た時に加熱をやめるようにりれば、適切
な加熱治療を行うことが可能どなる。本実施例において
も、この加熱と核磁気共鳴測定を同一のコイル３を用い
て行っているため、加熱した領域と全く同一の領域につ
い−（測定を行うことが（゛き、モニタの信賎性は極め
て高い。又、本実施例では、測定用の高周波と異なる周
波数の高周波を用いて加熱を行っているため、加熱を中
断せずに測定を行うことが可能である。
に核磁気共鳴測定を行ってスペクトルを得、そのスペク
トルに基づいてめたリン酸化合物の存在比が癌組織のも
のと異なって来た時に加熱をやめるようにりれば、適切
な加熱治療を行うことが可能どなる。本実施例において
も、この加熱と核磁気共鳴測定を同一のコイル３を用い
て行っているため、加熱した領域と全く同一の領域につ
い−（測定を行うことが（゛き、モニタの信賎性は極め
て高い。又、本実施例では、測定用の高周波と異なる周
波数の高周波を用いて加熱を行っているため、加熱を中
断せずに測定を行うことが可能である。
第５図は本発明の更に他の実施例の構成を示し、本実施
例は第３図の実施例と回路４“のみ異なっている。即ら
、回路４″は複同調回路で【よなく単同調回路（゛あり
、スイッチ１９を制御１す１路１Ｆ）がらの制御１１１
号にＪ、って切換えることにより＝１イル３と結合する
コンデンサを切換え、それにより接点Ａ側の時周波数［
１に同調し、接点Ｂ側の時周波数ｆ２に同調するように
なっている。従って、加熱ＪｐＪ間Ｔ１の間はスイッチ
１９を接点Δ側に倒して周波数ｆ１の−（、％周波によ
り加熱を行い、測定期間Ｔ２の間はスイッチ１９を接点
Ｂ側に倒し−Ｃ周波数「２の９０６パルスを」イル３へ
送っ−Ｃ測定を行うことになる。このように、本実施１
９目−・は加熱が中内ｉされｔ；Ｌ ｉＪるものの、加
熱用ど番３良う’Ｌ ’：ｊ −）ｌζ周波数のども周
波を用いて測定を行うことができる。
例は第３図の実施例と回路４“のみ異なっている。即ら
、回路４″は複同調回路で【よなく単同調回路（゛あり
、スイッチ１９を制御１す１路１Ｆ）がらの制御１１１
号にＪ、って切換えることにより＝１イル３と結合する
コンデンサを切換え、それにより接点Ａ側の時周波数［
１に同調し、接点Ｂ側の時周波数ｆ２に同調するように
なっている。従って、加熱ＪｐＪ間Ｔ１の間はスイッチ
１９を接点Δ側に倒して周波数ｆ１の−（、％周波によ
り加熱を行い、測定期間Ｔ２の間はスイッチ１９を接点
Ｂ側に倒し−Ｃ周波数「２の９０６パルスを」イル３へ
送っ−Ｃ測定を行うことになる。このように、本実施１
９目−・は加熱が中内ｉされｔ；Ｌ ｉＪるものの、加
熱用ど番３良う’Ｌ ’：ｊ −）ｌζ周波数のども周
波を用いて測定を行うことができる。
尚、上記実施例では測定を単一のパルスで行ったが、複
数の高周波パルスから成るパルス列を用いることもでき
ることは、−１つまでしない。
数の高周波パルスから成るパルス列を用いることもでき
ることは、−１つまでしない。
第１図は本発明を実ｆ＾した局部加熱とモニタを行う装
置の一例を示すブロック図、第２図はその動作を説明り
るためのタイミング図、第３図は本発明の仙の実施例の
１１４成を示づブロック図、第４図はくの動作を説明す
るだめのタイミング図、第５図は本発明の更に他の実施
例の４Ｍ成を示づブロック図ぐある。 １：磁石、２：対象、３：送受信コイル、４；送受ｉハ
コイルと結合されて同調回路を構成する回路、 ５、１ （５： ｌ！’１１周波発振器、６．１７：ゲ
ート回路、１０：ｆいム″４回路、１１’：Ａ−Ｄ変換
器、１２：二１ンビ、Ｌ−タ、１３：メモリ、１／１：
人小装首、１５：制御回路、 １９：スイッチ。 ４Ｍ許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊藤 −夫
置の一例を示すブロック図、第２図はその動作を説明り
るためのタイミング図、第３図は本発明の仙の実施例の
１１４成を示づブロック図、第４図はくの動作を説明す
るだめのタイミング図、第５図は本発明の更に他の実施
例の４Ｍ成を示づブロック図ぐある。 １：磁石、２：対象、３：送受信コイル、４；送受ｉハ
コイルと結合されて同調回路を構成する回路、 ５、１ （５： ｌ！’１１周波発振器、６．１７：ゲ
ート回路、１０：ｆいム″４回路、１１’：Ａ−Ｄ変換
器、１２：二１ンビ、Ｌ−タ、１３：メモリ、１／１：
人小装首、１５：制御回路、 １９：スイッチ。 ４Ｍ許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊藤 −夫
Claims (6)
- （１）静磁場内に配置された対象に近接し−Ｕ１７ｉか
れた単一の」イルに、加熱用高周波と核磁気ノ１、鳴測
定田畠周波パルスを供給し、該高周波パルス照射後対象
から発生し前記コイルによって検出された共鳴信号に基
づいて核磁気共鳴測定を行うようにしたことを特徴とす
る局部加熱とモニタを行う方法。 - （２）静磁Ｊｇをブ■Ｉる手段ど、該静磁場内に配置さ
れた対象に近接しで配置される送受信コイルと、加熱用
の第１の高周波を発生する第１の光振器と、所定の測定
核の共鳴周波数を持つ第２の高周波を発生づる第２０ざ
ｔ振器ど、該第２の高周波をパルス的に取出りための手
段と、前記第１の高周波どパルス的に取出された第２の
高周波を共に前記送受信コイルへ供給づるための結合回
路と、前記第２の高周波パルス照射後対象からＪ？ｉ牛
し、前記コイルによつ−Ｃ検出された核磁気共鳴信号が
供給される受イ菖回路と、該受信回路の出力信号を処理
リ−る処理回路を備え１ζことを特徴とする局部加熱及
び七二夕を行う装置。 - （３）前記結合回路は、第１の高周波と第２の高周波に
其に同調する複同調回路である特許請求の範囲第２ＪＩ
Ｉ記載の装置。 - （４）前記結合回路は、第１の高周波と第２の高周波を
切換えＣ前記送受信コイルへ供給するスイッチを含む請
求の範囲第２項記載の装置。 - （５）前記処理回路は、記憶手段と緩和時間をめる手段
を含む特許請求の範囲第２項乃至第４項のいずれかに記
載の装置。 - （６） ｎす５ｄ処理回路は、記憶手段とフーリエ変換
手段をａむ特許′［請求の範囲第２項乃至第４項のいず
れかに記載の装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59045771A JPS60190977A (ja) | 1984-03-10 | 1984-03-10 | 局部加熱とモニタを行う装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59045771A JPS60190977A (ja) | 1984-03-10 | 1984-03-10 | 局部加熱とモニタを行う装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60190977A true JPS60190977A (ja) | 1985-09-28 |
| JPS6145472B2 JPS6145472B2 (ja) | 1986-10-08 |
Family
ID=12728549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59045771A Granted JPS60190977A (ja) | 1984-03-10 | 1984-03-10 | 局部加熱とモニタを行う装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60190977A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01230821A (ja) * | 1988-03-10 | 1989-09-14 | Toyota Autom Loom Works Ltd | スキッドステアローダのピッチング防止装置 |
| JPH0261228A (ja) * | 1988-08-29 | 1990-03-01 | Toyo Umpanki Co Ltd | スキツドステアローダ |
| JPH0347329A (ja) * | 1989-07-14 | 1991-02-28 | Toyo Umpanki Co Ltd | スキッドステアローダ |
-
1984
- 1984-03-10 JP JP59045771A patent/JPS60190977A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6145472B2 (ja) | 1986-10-08 |
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