JPS60196609A - Configuration detecting apparatus - Google Patents
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- JPS60196609A JPS60196609A JP5313184A JP5313184A JPS60196609A JP S60196609 A JPS60196609 A JP S60196609A JP 5313184 A JP5313184 A JP 5313184A JP 5313184 A JP5313184 A JP 5313184A JP S60196609 A JPS60196609 A JP S60196609A
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の概要〕
この発明は、例えば鉄鋼の熱間圧延工程における圧延時
に生じる鋼材の先端、後端の変形を検出する形状検出装
置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary of the Invention] The present invention relates to a shape detection device that detects deformation of the leading and trailing ends of a steel material that occurs during rolling, for example, in a hot rolling process of steel.
鉄鋼の熱間圧延時に生じる鋼材先端の変形は、次段以降
の圧延ロールに不均等な荷重をかけ、ロールの損傷の原
因となったり、不良材の生産の原因となっていた。The deformation of the tip of the steel material that occurs during hot rolling of steel applies an uneven load to the rolling rolls in subsequent stages, causing damage to the rolls and the production of defective material.
これを防止するために、従来は作業者が目で観測し適当
な処で切断機を操作して切断していた。In order to prevent this, conventionally, an operator visually observes the material and operates a cutting machine to cut the material at an appropriate location.
そのため、鋼材の先端の変形を自動的に検出して、変形
部分の必要最小限の切断を行って当該材料を次段のロー
ルへ送や込み、不均等荷重の影響を取り除き、ロールの
損傷を防ぐことを期待して、以下のような形状検出装置
が持分111847−85469号として提案されてい
る。Therefore, the deformation of the tip of the steel material is automatically detected, the deformed part is cut to the minimum extent necessary, and the material is fed to the next roll, eliminating the effects of uneven load and preventing damage to the roll. In the hope of preventing this, the following shape detection device has been proposed as part number 111847-85469.
第1図に従来の装置のブロック図を示す。FIG. 1 shows a block diagram of a conventional device.
熱間圧延工程を流れる赤熱鋼板1の板巾をレンズ2を使
った光学系とライン状に並べた複数個の光電素子6を使
って測定ライン3a上の鋼板の有無を測定する。光7d
素子6は鋼板の温度に比例した出力を発生し、この出力
は、増巾器4で増巾され、アナログデジタル変換回路(
め)5で各光電素子6の出力毎号をディジタル賛に変換
する。The width of a red-hot steel plate 1 flowing through a hot rolling process is measured by an optical system using a lens 2 and a plurality of photoelectric elements 6 arranged in a line to measure the presence or absence of a steel plate on a measurement line 3a. light 7d
The element 6 generates an output proportional to the temperature of the steel plate, and this output is amplified by the amplifier 4 and sent to the analog-to-digital conversion circuit (
(Me) 5 converts each output of each photoelectric element 6 into a digital signal.
即ち、鋼板1の像が結像された光竜素子乙の部分の信号
は論理値111に、鋼板1の像が存在しない光電素子乙
の部分の信号は論理値101となる。A/D5の出力を
カウンター回路で構成する巾測定回路6に論理値111
出力の数を計数すると鋼板1の巾に相当する測定値が得
られる。That is, the signal of the portion of the photoelectric element O where the image of the steel plate 1 is formed has a logical value of 111, and the signal of the portion of the photoelectric element O where no image of the steel plate 1 is present has a logical value of 101. A logic value of 111 is applied to the width measurement circuit 6, which consists of a counter circuit, for the output of the A/D 5.
By counting the number of outputs, a measurement value corresponding to the width of the steel plate 1 is obtained.
鋼板1の巾測定値を入力端子7から与えられる巾基準値
Wと比較回路8で比較し、鋼板1の板巾が、Wよシ小ざ
い一定の許容値内に入った時に比較回路8から切断機制
御装置9に切断信号が与えられ、鋼板1の先端が切断さ
れる。The width measurement value of the steel plate 1 is compared with the width reference value W given from the input terminal 7 by the comparison circuit 8, and when the width of the steel plate 1 is within a certain tolerance value smaller than W, the comparison circuit 8 A cutting signal is given to the cutting machine control device 9, and the tip of the steel plate 1 is cut.
即ち、第2図に示す如く、鋼板1の中央中の振巾をWと
すると鋼板1先端部の鎖線で示したkW(k<1)の板
巾の位置を検出して切断することができる。That is, as shown in Fig. 2, if the swing width in the center of the steel plate 1 is W, the position of the plate width of kW (k<1) shown by the chain line at the tip of the steel plate 1 can be detected and cut. .
従来の装置は以上のように構成きれているので、鋼板上
に発生するスケールや水のりにより鋼板像が不均一な明
るさとなったり、背景や空気中の微粒子による散乱光の
ため鋼板像以外でも明るくなるような場合、鋼板像のデ
ィジタル化に誤差を生じる欠点があった。Conventional equipment is configured as described above, so the steel plate image may have uneven brightness due to scale or water stains generated on the steel plate, or light may not be visible even outside the steel plate image due to light scattering from the background or fine particles in the air. In cases where the image becomes bright, there is a drawback that errors occur when digitizing the steel plate image.
このような従来のものの欠点を除去するために、アナロ
グ鋼板像信号を多値で量子化し、メモリへ記憶せしめ、
この量子化信号を空間微分して微分レベルの鋼板信号を
得、以後2値化、ピークホールド等の処理をすることに
よりスケール、水の9信号や散乱信号により誤差の生じ
ない形状検出装置として、第8図に示すものが考えられ
る。同図において、赤熱鋼板1から切断機制御装置9ま
では第1図の形状検出装置のところで述べたものに相当
する。10はアナログで得られた鋼板像信号を多値で量
子化する量子化回路、11は量子化された鋼板像信号を
記憶するメモリ、12はメモリ11に記憶された鋼板像
信号を読み出し、2次元的に微分する微分回路、14は
微分された鋼板像信号を事前にめられた固定の閾値で2
値化する2値化回路、16は2値化鋼板僧侶号を特定の
方向に向かってピークホールドするピークホールド回路
、15は鋼板1が検出領域で一定距離進行する毎に発生
する駆動信号Pを受けて光電素子群6aを走査し出力を
送出させる走査回路である。In order to eliminate these drawbacks of the conventional ones, we quantized the analog steel plate image signal with multiple values and stored it in memory.
By spatially differentiating this quantized signal to obtain a steel plate signal at a differential level, and then performing processing such as binarization and peak hold, it can be used as a shape detection device that does not cause errors due to scale and water 9 signals and scattering signals. The one shown in FIG. 8 can be considered. In the figure, the components from the red-hot steel plate 1 to the cutting machine control device 9 correspond to those described in connection with the shape detection device in FIG. 10 is a quantization circuit that quantizes a steel plate image signal obtained in an analog manner with multiple values; 11 is a memory for storing the quantized steel plate image signal; 12 is a circuit for reading out the steel plate image signal stored in the memory 11; A differentiation circuit 14 differentiates the differentiated steel plate image signal with a fixed threshold set in advance.
16 is a peak hold circuit that peak-holds the binarized steel plate Monk in a specific direction; 15 is a drive signal P that is generated every time the steel plate 1 moves a certain distance in the detection area; This is a scanning circuit that receives the signal, scans the photoelectric element group 6a, and sends out an output.
仁のように構成された装置は、N個の光電素子から成る
光電素子群6の出力(以後ビデオ信号と称する)は走査
回路15により、鋼板の積(板幅)方向に対する視野を
鋼板が一定距離矢印方向に進む毎Vc1回づつ走査され
て読み出される。In the apparatus configured as shown in FIG. Each time Vc moves in the direction of the distance arrow, it is scanned and read out once.
このビデオ信号は増幅器4を介し、量子化回路10によ
り多値の量子化レベルを持つディジタル信号に変換され
、上記、走査順に応じてメモリ11内に記憶はれる。こ
の動作は、事前に設定される検出視野と走査間隔から割
り出される走査回数M回だけおこなわれ、この結果、例
えばメモリ11には第4図(alに示すようなビデオ画
像が得られる。This video signal is converted into a digital signal having multiple quantization levels by the quantization circuit 10 via the amplifier 4, and is stored in the memory 11 according to the above-mentioned scanning order. This operation is performed for the number of scans M determined from the detection field of view and scan interval set in advance, and as a result, a video image as shown in FIG. 4 (al) is obtained in the memory 11, for example.
しかしながら、従来装置の欠点の所で述べたような外乱
成分でおるスケールまたは水の9(イ)や、散乱(ロ)
のため生じる信号が混在していて例えば走査線部(ハ)
におけるビデオ信号は第4図(blのようになり、固定
の閾値に)、(ホ)等では2値化したのでは誤差が大き
くなる。However, as mentioned in the drawbacks of the conventional device, scale or water that is a disturbance component (9 (a)) and scattering (b)
For example, the scanning line part (c)
If the video signal in FIG. 4 (bl, fixed threshold value), (e), etc. is binarized, the error will be large.
この装置は、このような温朋レベルのビデオ画像を微分
回路12により2次元的に微分して信号変化の急峻レベ
ルに変換Tることにより第4図(clに示す急峻度信号
が得られる。すなわち第4図fblに示すビデオ信号か
らも明らかなように鋼板1のエツジ部での信号の変化は
大きく散乱部では小さいので区別は容易におこなえるわ
けである。ここで、第4図(clに示すようにスケール
または水のり部の信号は上述した両者の区別を不可能に
する種に広範囲の急峻度レベルを持つがこれらは鋼板1
内でしか発生しない。つぎにこの急峻度信号を2値化回
路14により一定の閾値レベル(へ)で2値化し、つい
でピークホールド回路16でこの2値化信号をピークホ
ールドすることにより第4図telに示すようにスケー
ル、水のりに影響されない鋼板の幅信号を抽出すること
ができる。In this apparatus, a differentiation circuit 12 two-dimensionally differentiates such a warm level video image and converts it into a steep level of signal change, thereby obtaining a steepness signal shown in FIG. 4 (cl). In other words, as is clear from the video signal shown in Fig. 4 fbl, the change in the signal at the edge part of the steel plate 1 is large and the change in the scattering part is small, so it is easy to distinguish between them. As shown, the scale or water level signal has a wide range of steepness levels that make it impossible to distinguish between the two mentioned above, but these are different from steel plate 1.
It only occurs within. Next, this steepness signal is binarized by the binarization circuit 14 at a certain threshold level (to), and then the peak hold circuit 16 peak-holds this binarized signal, so that the signal as shown in FIG. It is possible to extract the width signal of a steel plate that is not affected by scale or water stains.
この幅信号に基づいて切断信号を発生する動作は従米装
置と同様である。The operation of generating a cutting signal based on this width signal is similar to that of the conventional device.
なお、上記装置では、2値化回路14は固定の閾値によ
り急峻度信号を2値化するとしたが、鋼板1の温度変化
が大きい場合、閾値の設定が困難になることがある。In the above device, the binarization circuit 14 binarizes the steepness signal using a fixed threshold value, but if the temperature change of the steel plate 1 is large, it may be difficult to set the threshold value.
第5図はこのような難点を解消するために考えられる装
置のブロック図で、微分回路12により処理した急峻化
信号をまずピークホールド回路16によりピークホール
ド処理する。この結果第4図(clで説明したと同様に
第6図fatで示すビデオ信号が同図(blのようにピ
ークホールドされた信号として一部メモリ11へ格納さ
れる。但しこの場合、ピークホールドの方向は鋼板中央
部に向って、同図(b)の矢印(至))、(す)のよう
に設定される。次に、メモリ11に格納されているピー
クホールド信号から2値化回路14により、濃度ヒスト
グラムをめる。第6図(clはこのようにしてめた濃度
ヒストグラム信号の一例であって、鋼板部四と散乱部し
)がヒストグラム信号の山としてめられるのでこの2つ
の山の間、すなわち谷の部分v1の1直を閾値として2
値化して得られる同図(d)z値化(i号から鋼板の幅
信号のみが抽出できる。この実施例によれば鋼板1の温
度に応じて閾値V1をめる浮動z値化法であるので安定
して鋼板像の抽出がおこなえる。なお幅信号から切断信
号を得るのは第1図の従米装置と同様である。FIG. 5 is a block diagram of a device that can be considered to solve this problem. First, a peak hold circuit 16 performs peak hold processing on the steepened signal processed by the differentiating circuit 12. As a result, the video signal shown as fat in FIG. 6 is partially stored in the memory 11 as a peak-held signal as shown in FIG. The direction of is set toward the center of the steel plate as shown by the arrows (to) and (su) in FIG. 14, calculate the concentration histogram. Figure 6 (cl is an example of the concentration histogram signal obtained in this way, with the steel plate part 4 and the scattering part) can be seen as the peak of the histogram signal, so these two 2 with the 1st shift of the valley part v1 between the peaks as the threshold
(d) z-value conversion (only the width signal of the steel plate can be extracted from the number i. According to this embodiment, a floating z-value conversion method is used in which a threshold value V1 is set according to the temperature of the steel plate 1. Therefore, the steel plate image can be extracted stably.The cutting signal is obtained from the width signal in the same way as the conventional apparatus shown in FIG.
以上説明した装置において、2次元的微分処理は、対象
鋼板の形状や、温度分布によって、微分異常値が生じる
ことがある。In the apparatus described above, in the two-dimensional differential processing, differential abnormal values may occur depending on the shape and temperature distribution of the target steel plate.
今、2次元微分の方法をメモリの8×8画素を1単位と
′1−る壁間微分処理を実行する場合を例にとって説明
する。第7図に各メモリに符号を記した8×8画素のメ
モリ構成を示す。一般的に、このメモリの中央値Eの微
分値E’は下記式で表わされる。Now, the method of two-dimensional differentiation will be explained by taking as an example a case where wall-to-wall differentiation processing is performed in which 8.times.8 pixels of the memory are considered as one unit. FIG. 7 shows an 8×8 pixel memory configuration in which each memory is labeled. Generally, the differential value E' of the median value E of this memory is expressed by the following formula.
E’=f (A+nB十C)〜(G+nH+I ))+
((A+nl)十G) 〜(C+nF+I )1ここで
nは、画素に対する重みづけの係数である。E'=f (A+nB+C)~(G+nH+I))+
((A+nl)10G) to (C+nF+I)1 where n is a weighting coefficient for the pixel.
微分値E’は、Y軸方向で考えるなら、画素BとHの差
が大きい程、大きくなることが分かる。It can be seen that the differential value E' increases as the difference between pixels B and H increases when considered in the Y-axis direction.
次に鋼板の先端部がメモリ11に格納された状態につい
て考えるため、そのメそりの一部を第8図で表現する。Next, in order to consider the state in which the tip of the steel plate is stored in the memory 11, a part of the mesori is expressed in FIG. 8.
第8図に斜線で示す赤熱鋼板の端部には、散乱光が存在
しており、鋼板端部と、空間部の識別が困難な状態で、
温度データがメモリに収納されている。このような状態
で、このメモリを空間的に微分すると、第7図で説明し
たように、8X3画累が必胃であることから、微分計算
が可能なのは、ラインの2行目からとなり、1行目は微
分処理が実行されず、もとのままのデータが残ったまま
となる。通常第8図の2行目から、鋼板温度データが収
納されると丁れば、1行目のデータは0(零)であるの
が普通である。Scattered light exists at the edge of the red-hot steel plate indicated by diagonal lines in FIG. 8, making it difficult to distinguish between the edge of the steel plate and the space.
Temperature data is stored in memory. In this state, if we spatially differentiate this memory, as explained in Fig. 7, 8x3 strokes are required, so differential calculations are possible from the second line, and 1 Differential processing is not performed on the row, and the original data remains. Normally, when steel plate temperature data is stored from the second line in FIG. 8, the data in the first line is normally 0 (zero).
第8図の微分結果を第9図に示す。Δ印で示しているの
は第8図・1行目の0データと第8図・8行目の鋼板デ
ータとの微分値であり、鋼板エツジが強調されて表現さ
れており、同様に○印は第9図・2行目の散乱光と第8
図・4行目の鋼板データとの微分値であり、これも銅板
エツジが強調されて表現されている。ところが、X印で
表現されているところは、第8図・8行目の散乱光と、
第8図・1行目の0データとの微分像であり、散乱光が
あるレベルより高ければ、両者の微分結果は大きな値と
なり、あたかも鋼板エツジとして強調されているかのよ
うに表現される。The differential results of FIG. 8 are shown in FIG. The Δ mark is the differential value between the 0 data in the first line of Figure 8 and the steel plate data in the eighth line of Figure 8, and the steel plate edge is emphasized and expressed similarly. The marks are the scattered light in the second row of Figure 9 and the eighth row.
This is the differential value with respect to the steel sheet data in the fourth row of the figure, and this also emphasizes the copper sheet edge. However, the area represented by the X mark is the scattered light on the 8th line of Figure 8.
This is a differential image with respect to the 0 data in the first row of FIG. 8. If the scattered light is higher than a certain level, the differential result between the two becomes a large value, and it is expressed as if it were emphasized as a steel plate edge.
本来鋼板端部である第8図のイ11ロ、ノ、二。A11B, NO, and 2 in Fig. 8, which are originally the ends of the steel plate.
ホ、への輪郭が第9図の微分結果としての411口1゜
ハ1.二′、ホ1.へ1で表現されねばならないにもか
かわらず(微分処理によって行が1つ上へあがる)、第
9図のX印の微分値が高いため、イ11ロ1.ホ1゜へ
1が鋼板輪郭と判断されてしまう。その結果、2値化精
度が悪くなるという欠点があった。The contours to E and C are 411 mouths 1°C and 1. 2', E1. Although it should be expressed as 1 (the line moves up one line by the differential process), the differential value of the X mark in FIG. 9 is high, so a. E 1° 1 is determined to be the steel plate outline. As a result, there was a drawback that the binarization accuracy deteriorated.
この発明は上記のような欠点を除去するためになされた
もので、微分異常値を補正し、精度の高い鋼板2値化像
を得るために、微分処理前後の補正手段をそなえた形状
検出装置を提供することを目白りとしている。This invention was made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks, and provides a shape detection device equipped with correction means before and after differential processing in order to correct differential abnormal values and obtain a highly accurate binary image of a steel plate. We are aiming to provide the following.
以下、この発明の一実施例を図面について説明する。第
10図において、微分前補正処理回路21及び微分後補
正処理回路22を、それぞれ微分回路12の前後に付加
するようにしたもので、その他の構成は第8図と同一で
ある。又、第5図のものに対しても同様に、微分前補正
処理回路21及び微分後補正処理回路22を付加しても
よい。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 10, a pre-differentiation correction processing circuit 21 and a post-differentiation correction processing circuit 22 are added before and after the differentiation circuit 12, respectively, and the other configurations are the same as in FIG. 8. Furthermore, a pre-differentiation correction processing circuit 21 and a post-differentiation correction processing circuit 22 may be added to the structure shown in FIG. 5 as well.
以下この部分の詳細を説明する。微分前補正処理回路2
1は、量子化回路10によって量子化された信号がメモ
リ11に格納された後、メモリ11に対し、鋼板を斜線
で示した第11図に示すように、2行目の散乱光と同じ
値を1行目のメモリに強制的に曹き込みをする。この状
態において微分処理を行えば、1行目の0データと散乱
光との微分処理は、なくなる。The details of this part will be explained below. Pre-differentiation correction processing circuit 2
1 indicates that after the signal quantized by the quantization circuit 10 is stored in the memory 11, it is stored in the memory 11 with the same value as the scattered light in the second row, as shown in FIG. 11 where the steel plate is shaded. Forcibly fills the memory in the first line. If the differential processing is performed in this state, the differential processing between the 0 data in the first row and the scattered light will be eliminated.
その結果を第12図に示す。◎印は第11図・1行目に
かき込まれた散乱光とil1図08行目の鋼板データと
の微分値であり、両者の温度差が高いため、微分値は高
くなり、鋼板エツジを表現している。■印は強制的に書
き込まれた第11図・1行目の散乱光と第11図・3行
目の散乱光の微分値であるが、両者の差異は散乱光どう
しであるので、はとんどなく、微分値は低い。したがっ
て微分値の高い値で囲こ1れる第12図の411口1゜
ハ1.二1.ボ、へ1が、鋼板輪郭に相当する線として
抽出きれる。The results are shown in FIG. The ◎ mark is the differential value between the scattered light caught in the 1st line of Figure 11 and the steel plate data on the 08th line of Figure 1. Since the temperature difference between the two is high, the differential value becomes high, and the steel plate edge is expressing. The mark ■ is the differential value of the scattered light in the first line of Figure 11 and the scattered light in the third line of Figure 11, which were forcibly written, but the difference between the two is the scattered light. The differential value is low. Therefore, 411 1° C1 in FIG. 12 is surrounded by high differential values. 21. B, H1 can be extracted as lines corresponding to the steel plate contour.
この微分処理結果からヒストグラム処理として、最終的
なz値化をめる場合に、メモリの1行目に強制的に書き
込まれた散乱光は、微分処理されずに、そのまま残って
いるため、ヒストグラム処理において雑音として影響し
ない様にする必要がるる。そのために微分処理後に、微
分後補正処理回路22によって1行目のデータを全て○
印に書きかえる。こうすることにより、微分処理後のヒ
ストグラム処理においても、正しい2値化処理が可能と
なる。When converting the final z-value into histogram processing based on the differential processing results, the scattered light that was forcibly written to the first line of the memory remains as it is without being differentiated, so the histogram It is necessary to make sure that it does not affect the processing as noise. For this purpose, after the differentiation process, the post-differentiation correction processing circuit 22 changes all the data in the first row to ○.
Change it to a mark. By doing so, correct binarization processing can be performed even in the histogram processing after the differentiation processing.
なお、上記実施例では、微分回路、補正処理回路、ピー
クホールド回路、2値化回路等ハードウェアとして説明
したが、同機能を処理できる計算機によりソフトウェア
的に実行させてもよい。さらに、鋼板信号の撮像手段と
して各種フィルター、自動数υ機等による受光光量調節
機能を付加するなどしてもよい。In the above embodiment, the explanation has been made using hardware such as a differentiating circuit, a correction processing circuit, a peak hold circuit, a binarization circuit, etc., but it may also be executed in software by a computer capable of processing the same functions. Furthermore, as an imaging means for the steel plate signal, a function of adjusting the amount of light received by various filters, an automatic multimeter υ machine, etc. may be added.
以上のように、この発明によれば、微分異常値が発生し
ないように、微分処理前後に補正処理回路を付加したの
で、精度の高い鋼板z値化像を抽出することができ、精
度の高い幅信号を確保し、規定幅値との比較結果の正確
な出力を得ることのできる形状検出装置が得られる効果
がある。As described above, according to the present invention, a correction processing circuit is added before and after the differential processing in order to prevent differential abnormal values from occurring, so a highly accurate steel plate z-valued image can be extracted, and a highly accurate z-valued image can be extracted. This has the effect of providing a shape detection device that can secure a width signal and accurately output a comparison result with a prescribed width value.
第1図は従来装置の構成を示すブロック図、第2図はそ
の動作を説明するための鋼板の先端形状を示す説明図、
第8図はこの発明の基になる装置の構成を示すブロック
図、第4図は第3図の各部の信号波形図、第5図はこの
発明の別の基になるl置の構成を示すブロック図、第6
図は第5図の信号波形図、第7図は2次元微分処理の原
理図、第8図は微分前のメモリ格納状態図、第9図は微
分処理後のメモリ格納状態図、第1O図はこの発明の一
実施例の構成を示すブロック図、第11図。
第12図はこの発明による補正を施した場合の微分前と
後のメモリ状態図である。
1・・・鋼板、2・・・レンズ、6・・・光電素子群、
4・・・増幅器、6・・・幅測定回路、8・・・比較回
路、9・・・切断機制御装置、10・・・量子化回路、
11・・・メモリ、12・・・微分回路、16・・・ピ
ークホールド回路、14・・・z値化回路、15・・・
走査回路、21・・・微分前補正処理回路、22・・・
微分後補正処理回路。
なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
特許出願人 三菱軍機株式会社
(外2名)
第1図
a
第2図
第4図
第6図
第7図
第8図
第9図Figure 1 is a block diagram showing the configuration of the conventional device, Figure 2 is an explanatory diagram showing the shape of the tip of the steel plate to explain its operation,
FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of the device that is the basis of this invention, FIG. 4 is a signal waveform diagram of each part of FIG. 3, and FIG. Block diagram, 6th
The figure is a signal waveform diagram of Figure 5, Figure 7 is a diagram of the principle of two-dimensional differential processing, Figure 8 is a diagram of the memory storage state before differentiation, Figure 9 is a diagram of the memory storage state after differentiation processing, and Figure 1O. FIG. 11 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. FIG. 12 is a memory state diagram before and after differentiation when the correction according to the present invention is applied. 1... Steel plate, 2... Lens, 6... Photoelectric element group,
4... Amplifier, 6... Width measurement circuit, 8... Comparison circuit, 9... Cutting machine control device, 10... Quantization circuit,
11...Memory, 12...Differentiating circuit, 16...Peak hold circuit, 14...z value conversion circuit, 15...
Scanning circuit, 21... Pre-differentiation correction processing circuit, 22...
Post-differentiation correction processing circuit. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts. Patent applicant Mitsubishi Gunki Co., Ltd. (2 others) Figure 1 a Figure 2 Figure 4 Figure 6 Figure 7 Figure 8 Figure 9
Claims (1)
板の温度に対応した走査電気信号を発生する検出手段と
、上記検出手段の走査間隔を上記鋼板の進行距離に応じ
て制御する走査手段と、上記検出手段で得られた検出信
号を多値化する量子化手段と、この多値化信号を記憶す
るメモリ手段に記憶された量子化信号を2次元的に微分
する微分手段と、上記微分手段の出力信号を2値化手段
ピークホールド手段から上記鋼板の各走査部の板幅なめ
る幅測定手段と、上記幅信号と事前に設定される規定幅
値とを比較し、この結果を出力する比較手段とを備えた
形状検出装置において、上記微分手段の微分処理後の微
分異常値を補正する微分後補正手段を設けたことを特徴
とする形状検出装置。 (2)上記微分手段の微分処理前の微゛分異常値な補正
する微分前補正手段を設けたことを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の形状検出装置。 (3)上記微分信号をピークホールドするピークホール
ド手段と、上記ピークホールド信号のa度ヒストグラム
閾値レベルを決め、上記ピークホールド信号を2値化す
る2値化手段と、上記2値化信号から上記鋼板の各走査
部の板幅なめる幅測定手段とを備えたことを特徴とする
特許請求の範囲第1項又は第2項記載の形状検出装置。[Claims] (11) A detection means for forming a steel plate image on a plurality of photoelectric element groups and generating a scanning electric signal corresponding to the temperature of the steel plate; A scanning means for controlling according to the traveling distance, a quantization means for multileveling the detection signal obtained by the detection means, and a two-dimensional quantization signal for converting the quantized signal stored in the memory means for storing the multilevel signal. a differentiating means for differentiating the output signal of the differentiating means; a width measuring means for licking the plate width of each scanning portion of the steel plate from a binarizing means and a peak hold means; and a comparison means for comparing and outputting the result, the shape detection device comprising a post-differentiation correction means for correcting a differential abnormal value after differentiation processing of the differentiation means. (2) The shape detection device according to claim 1, further comprising a pre-differentiation correction means for correcting the differential abnormal value before the differentiation processing of the differentiation means. a peak hold means for peak holding a signal; a binarization means for determining an a-degree histogram threshold level of the peak hold signal and binarizing the peak hold signal; and each scanning section of the steel plate from the binarized signal. 3. The shape detecting device according to claim 1, further comprising a width measuring means for measuring the plate width.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313184A JPS60196609A (en) | 1984-03-19 | 1984-03-19 | Configuration detecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313184A JPS60196609A (en) | 1984-03-19 | 1984-03-19 | Configuration detecting apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60196609A true JPS60196609A (en) | 1985-10-05 |
Family
ID=12934253
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5313184A Pending JPS60196609A (en) | 1984-03-19 | 1984-03-19 | Configuration detecting apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60196609A (en) |
-
1984
- 1984-03-19 JP JP5313184A patent/JPS60196609A/en active Pending
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