JPS60198403A - 放射線厚さ計の校正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、放射線の透過吸収の原理を応用した放射線厚
さ計の校正方法に関する。

〔発明の背景〕

放射線を利用した厚さ計は、被測定物の厚さを非接触で
測定できること、さらには、発生源が低エネルギーのも
のから高エネルギーのものまで選べるためうすいプラス
チックのフィルムから厚い鋼板までをカバー出来る利点
があシ、各種帯状体などの製造工程に使用されている。

この厚さ計の測定原理は、被測定物を透過した放射線量
と、被測定物厚さとの間に指数関数の一定関係にあるこ
とを利用したものである。このため、被測定物、と同一
種類又は等価な基準板をあらかじめ実測し、透過放射線
量と板厚の関係を決める校正が測定前に必要であシ、使
用中においても種々の要因で発生する特性変化を補正す
るため定期校正を行う必要がある。

従来、使用中の定期校正は、基準板（数枚からの組合せ
から成る数点から士数点程度の厚さ）を所定の位置にセ
ットし、厚さ針で実測しその結果をもとに校正が行われ
ている。

しかしながら、かかる基準板による校正は、基準板に腐
蝕などが発生し経時的に変化がない様に管理が必要であ
ること。また、鋼板を測定する厚さ計においては、基準
板がかなシの重量物（数に２〜士数Ｋｇ）であり、これ
を水平にかついつもビームに対し同じ位置にセットする
必要があり人手を要する厄介な作業であること。さらに
、基準板を測定位置にセットするため、厚さ針の検出部
を測定位置から校正位置に移動しなければならずこのた
め、校正用のスペースとかなりの校正時間を必要として
いること。また、厚さ計の精度は、校正精度に左右され
るものでありこの校正精度を決定する大半の要素が基準
板に関連しており、前述しｆｃ種々の原因でｒ線透過量
を変化させ測定誤差を発生させる。さらに、校正環境（
例えば周囲温度の変化、スケールの付着など）の変化で
見掛上基準板厚さが変化し誤差の原因となる。基準板の
板厚は、厚さ計に要求される精度の１／１ｏ以上を必要
とすることから鋼板厚さ計においては数ミクロンの精度
を必要とするため、室温が一定に保たれた環境条件の良
い専用の精密測定室で幾何学的厚さを数１０点測定し平
均板厚で決定される。したがって、使用現場における校
正状態も、この環境条件に近いことが望ましいわけであ
るが、前記の理由からこの条件にはぼど遠い場合が多く
、さらに、これによる誤差の定量把握が困難なため、誤
差を含んで厚さ計を校正することとなってしまい精度を
低下させることとなる 〔発明の目的〕 本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくシ、基
準板を用いることなく使用現場で校正が行える校正方法
を提供することにある。

〔発明の概要〕

放射線を利用した厚さ計は、被測定物を透過した放射線
量と板厚との間に一定の関係のあることを利用し検出情
報である放射線量から板厚をめるものである。したがっ
て、あらかじめ基準板を用いて板厚と検出放射線量の関
係をめておき、さらに板厚と等価な検出量を与える別の
手段の値との関係をめておけば、以後の校正は、基準板
を使用することなく前記別の手段を用いて検出量を変え
校正が可能となるものである。さらに詳述すれば、従来
用いていた基準板の各厚さを別の手段の値に置きかえる
ことで本発明の主旨は達成できるもので、最初にめられ
た別の手段の値を正として検出量を変え、この値をもと
に校正すれば基準板を用いたと等価な校正が可能となる
。

〔発明の実施例〕

以下に本発明の実施例について説明する。

第１図において、線源１０の発するγ線（点線で示す）
は線源容器１２で細い線束にコリメートされ被測定鋼板
１４を透過し、シンチレータ１６に入射する。シンチレ
ータ１６で発光した光はライトガイド１８で梨光され光
電子増倍管２ｏで増倍されたの−ら、プリアンプ２２で
増巾されカウンタ２４で計数さ扛る。さらにこの信号を
演算装置に入力し、放射線の透過理論式を用いて板厚の
演算を行い、表示あるいは板厚制御装置（図示せず）へ
出力する。また、光電子増倍管２ｏを動作させるため高
圧電源２８が設けられている。ライトガイド１８の側面
には制御電源３２に接続された光バルザー３０が取付け
られ、光パルサー３０から発するパルス数の指令が演算
装置２６から与えるように構成されている。このように
構成すると、基準板を測定と、・したと同じ光パルス数
が任意に光電子増倍管２０に与えられるので、あらかじ
め、基準板の各厚さ及び基準板がないときの放射線のパ
ルス数をめておき、このパルス数が得うれる光パルサー
３０の制御条件をめておき演算装置２６にプログラムし
ておくと、以後の校正は基準板を使用せずに校正が可能
であシ、さらに演算装［２６を操作するだけ校正ができ
る。

第２図は、波高弁別器の弁別ノベルおよび光電子増倍管
の印加電圧を変えて構成を行う実施例である。すなわち
、プリアンプ２２の信号を波高弁別器３４に入れ弁別レ
ベルを演算装置２６からの指令を任意に変える。また、
光電子増倍管２０に印加する電圧を任意に変えるため、
高圧電源２８の電圧を制御するための制御回路３６を設
は演算装置２６から指令する。前者の構成とした場合の
動作を第３図をもとに説明する。この図は線源１０に＋
ａ７Ｃ，，シンチレータ４に有機蛍光体を使用した時得
られるパルス波高と計数の関係を表わしたもので、波高
弁別器３４の弁別レベルＤｔ、よシも高い波高のパルス
すなわち第３図の斜線部のパルスが計数される。したが
ってこの弁別レベルＤＬの設定点を変えるシンチレータ
エ６に入射する放射線量が一定であっても波高弁別器３
４がらの出力パルス数は任意に変えることができ基準板
を用いることなく校正が可能となる。

また、後者の動作を第４図をもとに説明する。

図ハシンチレータ１６に一定の放射線を入射させ制御回
路３６で光電子増倍管２０の印加電圧を変えたときの計
数変化を表わしたもので、印加電圧に対し比較的ゆるや
かな傾斜となっているＬｐの範囲でも計数は対数で目盛
っであるから大きく計数を変化させることができ、前記
した実施例と同様の効果を上げることができる。

第５図及び第６図は、放射線束の広がシを変化させる線
束制限体を用いた場合の実施例である。

図において、線源１０は通常線源棒３８とキャップ４０
で線源容器１２の外枠に固定されており、回転式のシャ
ッター４２に直結された開閉レバー４４をエアシリンダ
ー等（図示せず）で動かし、シャッター開の状態でシャ
ッタ４４の穴４６が線源１０の上に来て矢印方向に放射
線を照射する。

ここでシャッター４４に４６Ａ、４６Ｂ、４６０゜・・
・・・・の如く径の異なる穴を開け、この穴で矢印方向
に照射される放射線束の広がシを各々制限する働きをも
たせる。シンチレータ１６に入射する放射線強度はこの
放射線束の広がシに異存するので、４６Ａ、４６Ｂ、４
６Ｃ，・・・・・・の穴を基準板の板厚に相当する放射
線強度が得られる様にしておけば前記実施例同様の効果
を上げることができる。

〔発明の効果〕

以上本発明は、基準板を用いずに校正が行え、基準板に
附随するいくつかの重要な問題点が全て解決できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例になる厚さ計の基本構成を示
す図、第２図は他の実施例の基本構成を示す図　第３図
は＋８７０ｓの場合のパルス波高と計数の関係を示す図
、第４図は光電増倍管印加電圧と計数の関係を示す図、
第５図は線源容器の断面を示す図、第６図は線束の拡が
シを規制する放射口を示す図である。 １０・・・線源、１２・・・線源容器、１４・・・被測
定物板、１６・・・シンチレータ、１８・・・ライトガ
イド、２゜・・・光電子増倍管、２２・・・プリアンプ
、２４００．カウンター、２６・・・演算装置、２８・
・・高圧電源、３０・・・光パルサー、３２・・・制御
電源、３４・・・波高弁別器、３６・・・制御回路、３
８・・・線源棒、４０・・・キャップ、４２・・・シャ
ッター、４４・・・レバー、４６・・・穴。 （９〉

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、放射線を発する線源と検知器とを備え、被測定物を
   透過した放射線を検出して被測定物の厚さを測定する放
   射線厚さ計において、前記線源あるいは検知器の少なく
   とも一方を制御して前記検知器の校正を行うようにした
   ことを特徴とする放射線厚さ計の校正方法。