JPS601992B2 - ジヤンクタチエツクシステム - Google Patents
ジヤンクタチエツクシステムInfo
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- JPS601992B2 JPS601992B2 JP53101377A JP10137778A JPS601992B2 JP S601992 B2 JPS601992 B2 JP S601992B2 JP 53101377 A JP53101377 A JP 53101377A JP 10137778 A JP10137778 A JP 10137778A JP S601992 B2 JPS601992 B2 JP S601992B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 48
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 claims 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 21
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 17
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 12
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 241000270708 Testudinidae Species 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
- H04M3/32—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for lines between exchanges
- H04M3/323—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for lines between exchanges for the arrangements providing the connection (test connection, test call, call simulation)
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、PABX(自動式構内交換設備)等の電話交
換設備におけるジャンクタ(i肌cto岱)のチェック
システムに関するものである。
換設備におけるジャンクタ(i肌cto岱)のチェック
システムに関するものである。
一般に、PABX等の電話交換設備は、入、出力ライン
回路とトランク回路(tm水circuit)とジヤン
クタを介して中継する。
回路とトランク回路(tm水circuit)とジヤン
クタを介して中継する。
ジャンクタは、過去においては、メカニカルなスプリン
グ又はリード(reed)タイプの交差点マトリクスを
介して上記ライン回路とトランク回路とを中継する。し
かしながら、ある種の電子式の交換装置、とくにマイク
ロプロセッサ制御のものにおいては、CMOS交差点ス
イッチを用いている。このCMOS交差点スイッチでは
、通話回線を正又は負の電位電源に接続するといった誤
動作が時々惹起される。誤動作は、また、交差点に接続
かれたライン又はトランク回路に対するインターフェイ
ス回路内においても惹起される。
グ又はリード(reed)タイプの交差点マトリクスを
介して上記ライン回路とトランク回路とを中継する。し
かしながら、ある種の電子式の交換装置、とくにマイク
ロプロセッサ制御のものにおいては、CMOS交差点ス
イッチを用いている。このCMOS交差点スイッチでは
、通話回線を正又は負の電位電源に接続するといった誤
動作が時々惹起される。誤動作は、また、交差点に接続
かれたライン又はトランク回路に対するインターフェイ
ス回路内においても惹起される。
このインターフェイス回路は、アースに対し低いインピ
ーダンス(典型的には600オーム)を有するので、通
話回線への接続は、通話回線を直流のアース電位に接続
させてしまう。インターフェイス回路内におけるある種
の誤動作では、低いインピーダンスのパスは存在せず、
また結果的な通話回線電圧は要求された直流電圧レベル
から実質的に変位している可能性がある。上述の直流電
圧レベルは、適当な時点で、ジャンクタにおいて全て検
出されうる。
ーダンス(典型的には600オーム)を有するので、通
話回線への接続は、通話回線を直流のアース電位に接続
させてしまう。インターフェイス回路内におけるある種
の誤動作では、低いインピーダンスのパスは存在せず、
また結果的な通話回線電圧は要求された直流電圧レベル
から実質的に変位している可能性がある。上述の直流電
圧レベルは、適当な時点で、ジャンクタにおいて全て検
出されうる。
本発明は、ジャンクタの上記の如き、或いは他の欠陥、
誤動作が存在するか否かを決定するため、選択されたジ
ャンクタの電圧レベルをチェックするためのシステムに
関してなされたものである。本発明は、共通電位に対し
て低いインピーダンスを有するライン回路に接続するた
めの第1のジャンクタと、電圧レベル検出回路と、該電
圧レベル検出回路を第1のジャンク外こ接続するための
手段と、電圧レベル検出回路の入力を電圧源に接続する
抵抗器と、第1のジャンクタに接続したのちに電圧レベ
ル検出回路によって検出された電圧レベルが、電圧源の
電圧レベルよりは共通電位に近いときに、電圧レベル検
出回路を他の遊休ジャンクタに接続するための手段とを
含むジャンクタチェックシステムを提供せんとするもの
である。本発明はさらに、共通電位に対して低いインピ
ーダンスを有するライン回路に接続するための第1のジ
ャンクタと、電圧レベル検出回路と「該電圧レベル検出
回路を第1のジャンクタに接続するための手段と、電圧
レベル検出回路の入力を電圧源に接続する抵抗器と、第
1のジャンクタに後続したのちに電圧レベル検出回路に
よって検出された電圧レベルが、電圧源の電圧レベルよ
りは共通電位に近いときに、電圧レベル検出回路を他の
遊休ジャンクタに接続するための手段と、第1のジZャ
ンクタををライン回路に接続したのちに、上記検出回路
によって検出された電圧レベルが共通電位を含む予じめ
定められた範囲より高いか低いときに電圧レベル検出回
路を他の遊休ジャンク夕に接続する手段とを含むジャン
クタチェックシステZムを提供せんとするものである。
すなわち、電圧レベル検出回路が第1のジャンク外こ接
続されたのちに電圧レベル検出回路によって検出された
電圧レベルが、電圧源の電圧レベルよりは共通電位に近
いときには、電圧レベル検2出回路は他の遊休ジャンク
タに接続される。
誤動作が存在するか否かを決定するため、選択されたジ
ャンクタの電圧レベルをチェックするためのシステムに
関してなされたものである。本発明は、共通電位に対し
て低いインピーダンスを有するライン回路に接続するた
めの第1のジャンクタと、電圧レベル検出回路と、該電
圧レベル検出回路を第1のジャンク外こ接続するための
手段と、電圧レベル検出回路の入力を電圧源に接続する
抵抗器と、第1のジャンクタに接続したのちに電圧レベ
ル検出回路によって検出された電圧レベルが、電圧源の
電圧レベルよりは共通電位に近いときに、電圧レベル検
出回路を他の遊休ジャンクタに接続するための手段とを
含むジャンクタチェックシステムを提供せんとするもの
である。本発明はさらに、共通電位に対して低いインピ
ーダンスを有するライン回路に接続するための第1のジ
ャンクタと、電圧レベル検出回路と「該電圧レベル検出
回路を第1のジャンクタに接続するための手段と、電圧
レベル検出回路の入力を電圧源に接続する抵抗器と、第
1のジャンクタに後続したのちに電圧レベル検出回路に
よって検出された電圧レベルが、電圧源の電圧レベルよ
りは共通電位に近いときに、電圧レベル検出回路を他の
遊休ジャンクタに接続するための手段と、第1のジZャ
ンクタををライン回路に接続したのちに、上記検出回路
によって検出された電圧レベルが共通電位を含む予じめ
定められた範囲より高いか低いときに電圧レベル検出回
路を他の遊休ジャンク夕に接続する手段とを含むジャン
クタチェックシステZムを提供せんとするものである。
すなわち、電圧レベル検出回路が第1のジャンク外こ接
続されたのちに電圧レベル検出回路によって検出された
電圧レベルが、電圧源の電圧レベルよりは共通電位に近
いときには、電圧レベル検2出回路は他の遊休ジャンク
タに接続される。
一方、第1のジャンクタがライン回路に接続されたのち
に、電圧レベル検出回路によって検出された電圧レベル
が共通電位を含む予め定められた範囲よりも高いか低い
ときに電圧レベル検出回路2は他の遊休ジャンク外こ接
続される。電圧レベル検出回路の他のジャンクタへの接
続は、本システムによって第1のジャンクタの除外を企
図していることに注意すべきである。
に、電圧レベル検出回路によって検出された電圧レベル
が共通電位を含む予め定められた範囲よりも高いか低い
ときに電圧レベル検出回路2は他の遊休ジャンク外こ接
続される。電圧レベル検出回路の他のジャンクタへの接
続は、本システムによって第1のジャンクタの除外を企
図していることに注意すべきである。
したがって、電圧レベル検出回路を接続するための手段
3は予め設定された範囲から外れた電圧を検出する電圧
レベル検出回路の出力により動作する手段を含んでいる
。電圧レベル検出回路をいま一つの他の遊休ジヤンクタ
に接続することは、通話回線において使用されているジ
ヤンクタを除外し、同様に電圧レベルが測定されている
他のジヤンクタの選択をもたらす。本発明は、添付図面
を参考にした以下の記述によってより明瞭にされるであ
ろう。
3は予め設定された範囲から外れた電圧を検出する電圧
レベル検出回路の出力により動作する手段を含んでいる
。電圧レベル検出回路をいま一つの他の遊休ジヤンクタ
に接続することは、通話回線において使用されているジ
ヤンクタを除外し、同様に電圧レベルが測定されている
他のジヤンクタの選択をもたらす。本発明は、添付図面
を参考にした以下の記述によってより明瞭にされるであ
ろう。
図面は、本発明を提供した交換装置の全体を示している
。
。
この実施例では、本システムの入力が交差点マトリクス
2a,2b,2c,3a,3b,3c等の列に接続され
た非平衡ライン1であるようなマイクロプロセッサ制御
のPABXに、本発明を適用している。代表して示した
一つの2方向平衡一非平衡ライン回路4には、平衡なチ
ップ及びリングリードT及びRが接続されている。個々
のラインは、カナダ国特許出願第296137号(19
78王2月1日出願;発明の名称“電話ライン回路”;
発明者、マィクル・シィ・ジェイ・カウプランドェトア
ル)又はカナダ国特許出願第297磯好号(1978王
2月28日出願;発明の名称“トランスフオーマレス・
トランク回路”:発明者パトリツク・パイルネ ェトア
ル)等に開示された如きライン回路に接続されている。
PABXは、上記交差点マトIJクス3a,3b,3c
.2a,2b,2c等の同様の8行4列の交差点マトリ
クスにより通常形成されている。
2a,2b,2c,3a,3b,3c等の列に接続され
た非平衡ライン1であるようなマイクロプロセッサ制御
のPABXに、本発明を適用している。代表して示した
一つの2方向平衡一非平衡ライン回路4には、平衡なチ
ップ及びリングリードT及びRが接続されている。個々
のラインは、カナダ国特許出願第296137号(19
78王2月1日出願;発明の名称“電話ライン回路”;
発明者、マィクル・シィ・ジェイ・カウプランドェトア
ル)又はカナダ国特許出願第297磯好号(1978王
2月28日出願;発明の名称“トランスフオーマレス・
トランク回路”:発明者パトリツク・パイルネ ェトア
ル)等に開示された如きライン回路に接続されている。
PABXは、上記交差点マトIJクス3a,3b,3c
.2a,2b,2c等の同様の8行4列の交差点マトリ
クスにより通常形成されている。
CMOSスイッチ(図示せず)は、該マトリクスの全交
差点の夫々において、行及び列コンダクタの夫々を中継
する。図においては、必要な数のライン又はトランクを
提供するのに必要な数のマトリクス3a,3b,3c,
2a,2b,2cによつて形成される4個の交差点マト
リクスから構成される配列が形成されている。図示の如
く、各行コンダク外ま、列の4マトリクスの夫々の対応
するコンダクタを横切って接続されている。その結果、
ライン又はトランク回路を接続するための列コンダクタ
と、ライン又はトランク回路に導く列コンダクタ間を中
継するために使用されるマトリクスの行コンダクタとが
存在することになる。マトリクス2a,2b,2c,3
a,3b,3c等の各マトリクスは、交差点制御回路5
a,5b,5c,6a,6b,6c等によって制御され
る。各交差点制御回路は、アドレス入力A及びデータバ
ス入力Dとを有し、これらアドレス入力A及びデータバ
ス入力Dは、マイクロプロセッサ(図示せず)の対応す
るアドレス及びデータバスに接続されている。アドレス
及びデータバス上の信号を有する特別の交差点の設計に
際しては、駆動信号が特別にアドレスが指定された交差
点においてCMOSスイッチに印加され、列及び行コン
ダクタ間の音声又はデータのいずれか一方に対して通話
回線(パス)を閉じる。かかる2つの交差点の開勝は、
一対のライン回路、ライン及びトランク回路等の間にお
いて、通話又はデータパスを与える。行コンダクタパス
は、欠陥の有無を決定する亀圧を検出しうるようにした
本発明に係るジャンクタ7を形成するように構成されて
いる。
差点の夫々において、行及び列コンダクタの夫々を中継
する。図においては、必要な数のライン又はトランクを
提供するのに必要な数のマトリクス3a,3b,3c,
2a,2b,2cによつて形成される4個の交差点マト
リクスから構成される配列が形成されている。図示の如
く、各行コンダク外ま、列の4マトリクスの夫々の対応
するコンダクタを横切って接続されている。その結果、
ライン又はトランク回路を接続するための列コンダクタ
と、ライン又はトランク回路に導く列コンダクタ間を中
継するために使用されるマトリクスの行コンダクタとが
存在することになる。マトリクス2a,2b,2c,3
a,3b,3c等の各マトリクスは、交差点制御回路5
a,5b,5c,6a,6b,6c等によって制御され
る。各交差点制御回路は、アドレス入力A及びデータバ
ス入力Dとを有し、これらアドレス入力A及びデータバ
ス入力Dは、マイクロプロセッサ(図示せず)の対応す
るアドレス及びデータバスに接続されている。アドレス
及びデータバス上の信号を有する特別の交差点の設計に
際しては、駆動信号が特別にアドレスが指定された交差
点においてCMOSスイッチに印加され、列及び行コン
ダクタ間の音声又はデータのいずれか一方に対して通話
回線(パス)を閉じる。かかる2つの交差点の開勝は、
一対のライン回路、ライン及びトランク回路等の間にお
いて、通話又はデータパスを与える。行コンダクタパス
は、欠陥の有無を決定する亀圧を検出しうるようにした
本発明に係るジャンクタ7を形成するように構成されて
いる。
ジャンクタ7は、上記の交差点マトリクス2a,2b,
2c,3a,3b,3c等と同様の他の交差点マトリク
ス8a,8b,8cに延長されている。
2c,3a,3b,3c等と同様の他の交差点マトリク
ス8a,8b,8cに延長されている。
交差点マトリクス8a,8b,8cは、マトリクス2a
,2b,2c,3a,3b,3cと同様の方法で、制御
回路5a,5b,5c,6a,6b,6c等と同様の制
御回路9a,9b,9cによって制御される。交差点マ
トリクス8a,8b及び8cの列コンダクタは、PBX
(構内変換設備)の種々のサービス回路に接続されてい
る。
,2b,2c,3a,3b,3cと同様の方法で、制御
回路5a,5b,5c,6a,6b,6c等と同様の制
御回路9a,9b,9cによって制御される。交差点マ
トリクス8a,8b及び8cの列コンダクタは、PBX
(構内変換設備)の種々のサービス回路に接続されてい
る。
例えば、図の2つの中央の列コンダクタは、公衆アドレ
ス出力PA・OUT(publicaddressou
tputs)に接続された変圧器101こ接続されてい
る。したがって、PABXは、マイクロプロセッサに接
続された制御回路による制御下において、加入者をして
公衆アナウンスをせしめるように、ライン回路を電話器
から、例えば交差点マトリクス2a,2b,2c及び8
a,8b,8c等を経由して公衆アドレス出力に接続す
る一対の交差点を閉じることができる。本発明に係る回
路は、交差点マトリクス8a,8b,8cの一つの列コ
ンダクタ11に接続されている。
ス出力PA・OUT(publicaddressou
tputs)に接続された変圧器101こ接続されてい
る。したがって、PABXは、マイクロプロセッサに接
続された制御回路による制御下において、加入者をして
公衆アナウンスをせしめるように、ライン回路を電話器
から、例えば交差点マトリクス2a,2b,2c及び8
a,8b,8c等を経由して公衆アドレス出力に接続す
る一対の交差点を閉じることができる。本発明に係る回
路は、交差点マトリクス8a,8b,8cの一つの列コ
ンダクタ11に接続されている。
この列コンダクタは、図示の如く、これら交差点マトリ
クス列の対応する列コンダクタを通じて接続されている
。電圧レベル検出回路はこの列コンダクタ1 1に接続
されている。
クス列の対応する列コンダクタを通じて接続されている
。電圧レベル検出回路はこの列コンダクタ1 1に接続
されている。
この回路は、一対の差動増幅器312,13より形成さ
れている。増幅器12の非反転入力は増幅器13の反転
入力及び列コンダクター1に接続されている。列コンダ
クタ11はまた抵抗器14を介して正電圧(十V)の電
源に接続されている。 3同様
に、差鰯増幅器13の非反転入力は、抵抗器17及び1
8よりなる電圧デバイダのタップに接続されており、該
デバイダは、正電圧(十V)の電源と負電圧(一V)の
電源との間に接続されている。
4抵抗器15及び16の値は、差動増幅器1
2の反転入力における直流電圧が、電圧(十V)より低
い所定量となるように設定する。同様に、抵抗器17及
び18の値は、差動増幅器13の非反転入力における電
圧が、負の電圧(一V)より僅かに高くなるように設定
する。
れている。増幅器12の非反転入力は増幅器13の反転
入力及び列コンダクター1に接続されている。列コンダ
クタ11はまた抵抗器14を介して正電圧(十V)の電
源に接続されている。 3同様
に、差鰯増幅器13の非反転入力は、抵抗器17及び1
8よりなる電圧デバイダのタップに接続されており、該
デバイダは、正電圧(十V)の電源と負電圧(一V)の
電源との間に接続されている。
4抵抗器15及び16の値は、差動増幅器1
2の反転入力における直流電圧が、電圧(十V)より低
い所定量となるように設定する。同様に、抵抗器17及
び18の値は、差動増幅器13の非反転入力における電
圧が、負の電圧(一V)より僅かに高くなるように設定
する。
差敷増幅器12及び13の各々の出力端子は、個々に動
作入力21及び22を有するトライステートゲート19
及び20の入力に接続されている。ゲート19及び20
の出力は、PBXのための制御用マイクロプロセッサに
接続されたデータバスの部分をなすコンダクタに接続さ
れている。また、データバスには、ANDゲート23の
入力に接続された“リード(Read)”,“チップ・
セレクト(ChipSelect)”及びクロツク02
のリードが接続されている。ANDゲート23の出力は
、ゲート19及び20の各動作入力21及び22に接続
されている。対応する制御機能を備えた各交差点スイッ
チ配列8a,8b,8cの組合せとしては、好ましくは
、カナダ国 オンタリオ・オツタワ・カナダ・ピイ・オ
ウ・ボックス13089に住所を有するミテル・コーポ
レイシヨン(MiにiCorporation)から販
売されている集積回路タイプMT総0砥を用いることが
できる。
作入力21及び22を有するトライステートゲート19
及び20の入力に接続されている。ゲート19及び20
の出力は、PBXのための制御用マイクロプロセッサに
接続されたデータバスの部分をなすコンダクタに接続さ
れている。また、データバスには、ANDゲート23の
入力に接続された“リード(Read)”,“チップ・
セレクト(ChipSelect)”及びクロツク02
のリードが接続されている。ANDゲート23の出力は
、ゲート19及び20の各動作入力21及び22に接続
されている。対応する制御機能を備えた各交差点スイッ
チ配列8a,8b,8cの組合せとしては、好ましくは
、カナダ国 オンタリオ・オツタワ・カナダ・ピイ・オ
ウ・ボックス13089に住所を有するミテル・コーポ
レイシヨン(MiにiCorporation)から販
売されている集積回路タイプMT総0砥を用いることが
できる。
この集積回路は4×8のコンダクタマトリクスに必要な
全てのCMOS交差点を備え、各交差点に沿って、PA
BXのマイクロプロセッサからのアドレス及びデータバ
スから交差点を直接に制御するためのメモリ及びアドレ
スデコーダを備えている。次に作用について説明する。
全てのCMOS交差点を備え、各交差点に沿って、PA
BXのマイクロプロセッサからのアドレス及びデータバ
スから交差点を直接に制御するためのメモリ及びアドレ
スデコーダを備えている。次に作用について説明する。
いま、一対のライン回路間において一つの通話パスがセ
ットされたとする。
ットされたとする。
このセットは加入者の一人が受話器を取上げたときに開
始される。マイクロプロセッサは、本発明の部分を構成
しない手段を介して、これを告知される。マイクロプロ
セッサは、ジャンクタが遊休しているか動作しているか
の情報を貯蔵しているので、一つの遊休ジャンクタが選
択される。中央プロセッサユニットからのアドレス及び
データバス上のアドレス及び指示は、制御回路9a,9
b及び9cに印加され、これら制御回路は、一対のライ
ン回路を中継するために使用すべく意図され選択された
遊休アイドルジャンクタに電圧レベルチェック回路を接
続する交差点マトリクス8a,8b,8c内のCMOS
交差点スイッチを閉成する。
始される。マイクロプロセッサは、本発明の部分を構成
しない手段を介して、これを告知される。マイクロプロ
セッサは、ジャンクタが遊休しているか動作しているか
の情報を貯蔵しているので、一つの遊休ジャンクタが選
択される。中央プロセッサユニットからのアドレス及び
データバス上のアドレス及び指示は、制御回路9a,9
b及び9cに印加され、これら制御回路は、一対のライ
ン回路を中継するために使用すべく意図され選択された
遊休アイドルジャンクタに電圧レベルチェック回路を接
続する交差点マトリクス8a,8b,8c内のCMOS
交差点スイッチを閉成する。
電圧レベルチェック回路は、この時点では交差点マトリ
クス2a,2b,2c,3a,3b,3c等内の如何な
る列コンダクタにも接続されていないジヤンクタに接続
されるため、正の鰭圧(十V)の電源が抵抗器14を介
してジヤンクタに印加される。
クス2a,2b,2c,3a,3b,3c等内の如何な
る列コンダクタにも接続されていないジヤンクタに接続
されるため、正の鰭圧(十V)の電源が抵抗器14を介
してジヤンクタに印加される。
ジヤンクタがマトリクス8a,8b,8cを介して電圧
レベル検出回路に接続されると、議取りパルスが、マイ
クロプロセッサによって、ANDゲート23の適当な入
力及び02リード上のパルスを伴なったクロックリーN
こ印加し、チップセレクトパルスはANDゲート23の
CSEL入力に印加される。
レベル検出回路に接続されると、議取りパルスが、マイ
クロプロセッサによって、ANDゲート23の適当な入
力及び02リード上のパルスを伴なったクロックリーN
こ印加し、チップセレクトパルスはANDゲート23の
CSEL入力に印加される。
ゲート23の出力は、ゲート19及び20の動作入力2
1及び22の両方に印加され、増幅器12及び13の出
力レベルを、マイクロプロセッサのデータバスに謙取ら
れるべきレベルとする。(ジャンクタ等に欠陥がない場
合) もしもジャンクタが無欠陥であれば、増幅器12の非反
転入力に生じる電圧は、その反転入力において電圧タッ
プによって設定されるしきい値しベル及び差動増中器1
3のしきい値しベルを越える。
1及び22の両方に印加され、増幅器12及び13の出
力レベルを、マイクロプロセッサのデータバスに謙取ら
れるべきレベルとする。(ジャンクタ等に欠陥がない場
合) もしもジャンクタが無欠陥であれば、増幅器12の非反
転入力に生じる電圧は、その反転入力において電圧タッ
プによって設定されるしきい値しベル及び差動増中器1
3のしきい値しベルを越える。
しかしながら、差動増幅器13の出力には何んらの出力
を生じない。差動増幅器12からの出力信号はトライス
テートゲート19を介してマイクロプロセッサのデータ
バスに印加される。このことは、マイクロプロセッサに
当該ジヤンクタが遊休状態でしかも無欠陥であることを
示唆する。マイクロプロセッサには、したがつて、ライ
ンコンダクタが交差点マトリクスのいずれか一つの内部
のジャンクタに接続可能であることが告知される。(ジ
ヤンクタ等に欠陥がある場合) 一方、例えば、既にライン回路に接続されたジャンクタ
等欠陥を有する或いは不正のジヤンクタが選択されたと
きには、アースに対するライン回路の低いインピーダン
スはジャンクタの直流電圧レベルをアース電圧付近に接
近させる。
を生じない。差動増幅器12からの出力信号はトライス
テートゲート19を介してマイクロプロセッサのデータ
バスに印加される。このことは、マイクロプロセッサに
当該ジヤンクタが遊休状態でしかも無欠陥であることを
示唆する。マイクロプロセッサには、したがつて、ライ
ンコンダクタが交差点マトリクスのいずれか一つの内部
のジャンクタに接続可能であることが告知される。(ジ
ヤンクタ等に欠陥がある場合) 一方、例えば、既にライン回路に接続されたジャンクタ
等欠陥を有する或いは不正のジヤンクタが選択されたと
きには、アースに対するライン回路の低いインピーダン
スはジャンクタの直流電圧レベルをアース電圧付近に接
近させる。
この場合、レベル検出回路によって検出された電圧は、
差動増幅器12のしきし、値しベルより低く、差動増幅
器13のしきい値しベルより高くなっている。ゲート1
9及び20の出力信号はしたがつて、ローレベルとなっ
ている。この時、マイクロプロセッサは、当該ジャンク
タが、現在のコールには使用できない旨のジヤンクタチ
ェックが行なわれたことを講捉りする。したがって、他
の遊休ジャンクタが代りに選択され、電圧レベル検出回
路は、さらなるチェックのために、当該他の遊休ジャン
クタに接続される。〔ジャンクタのライン回路への接続
時の動作〕(ジヤンクタ等に欠陥がない場合)いま、ゲ
ート19の高レベルの出力信号の存在の検出でもつて第
1のジャンクタが良好にチェックされたとすると、マイ
クロプロセッサは、適当な交差点マトリクス2a,2b
,2c又は3a,3b,3c内の交差点の制御によって
、サービスを要求するライン回路を当該ジャンクタに接
続するように制御を進行する。
差動増幅器12のしきし、値しベルより低く、差動増幅
器13のしきい値しベルより高くなっている。ゲート1
9及び20の出力信号はしたがつて、ローレベルとなっ
ている。この時、マイクロプロセッサは、当該ジャンク
タが、現在のコールには使用できない旨のジヤンクタチ
ェックが行なわれたことを講捉りする。したがって、他
の遊休ジャンクタが代りに選択され、電圧レベル検出回
路は、さらなるチェックのために、当該他の遊休ジャン
クタに接続される。〔ジャンクタのライン回路への接続
時の動作〕(ジヤンクタ等に欠陥がない場合)いま、ゲ
ート19の高レベルの出力信号の存在の検出でもつて第
1のジャンクタが良好にチェックされたとすると、マイ
クロプロセッサは、適当な交差点マトリクス2a,2b
,2c又は3a,3b,3c内の交差点の制御によって
、サービスを要求するライン回路を当該ジャンクタに接
続するように制御を進行する。
このことが生起すると、交差点マトリクスをインターフ
ェースするライン回路内の低インピーダンスバスは、即
時に、アース又は共通の鰭位(すなわち、正電圧(十V
)および負蟹圧(一V)を確定するための基準となる電
位)に接近したレベルにジヤンクタの電圧レベルを降下
させる。この電位は、差鰯増幅器12のしきしく値しベ
ルより低く、差敷増幅器13のそれよりも高いから、両
ゲート19及び20の出力信号は、ローレベルとなる。
このレベルは、ライン回路の接続に際してマイクロプロ
セッサによって期待されたレベルであるから、ジャンク
タ及びライン回路出力に欠陥がないことを確認すること
ができる。(ジャンクタ等に欠陥がある場合) 電子式の交差点は典型的にはCMOSスイッチ又は他の
固体素子であることは前述の通りである。
ェースするライン回路内の低インピーダンスバスは、即
時に、アース又は共通の鰭位(すなわち、正電圧(十V
)および負蟹圧(一V)を確定するための基準となる電
位)に接近したレベルにジヤンクタの電圧レベルを降下
させる。この電位は、差鰯増幅器12のしきしく値しベ
ルより低く、差敷増幅器13のそれよりも高いから、両
ゲート19及び20の出力信号は、ローレベルとなる。
このレベルは、ライン回路の接続に際してマイクロプロ
セッサによって期待されたレベルであるから、ジャンク
タ及びライン回路出力に欠陥がないことを確認すること
ができる。(ジャンクタ等に欠陥がある場合) 電子式の交差点は典型的にはCMOSスイッチ又は他の
固体素子であることは前述の通りである。
か)る交差点は通常正、負の給電電源によって動作され
る。交差点スイッチそれ自身の内部における欠陥は、典
型的には、負の給電電圧付近への亀田降下、又は正の給
電電圧付近への電圧上昇として発見される。負の給電電
圧付近への蚤朝日苗降下の場合には、差動増幅器13の
出力は、低レベルから高レベルに切換えられ、ゲート2
0からは高レベルの出力信号が出力される。一方、正の
給電電圧付近へのジャンクタ電圧の上昇に際しては、増
幅器13ではなく差動増幅器12の出力において高レベ
ルの出力信号が生成され、ゲート20からではなく、ゲ
ート19から高レベルの出力が出力される。この時点に
おいて、マイクロプロセッサは、ゲート19及び20の
出力であるデータバスリード‘こおいてローレベル信号
のみを予期しているから、マイクロプロセッサは、交差
点スイッチの欠陥、或いは、ジャンクタに対して通話パ
スを閉じていない(後者の場合には、ジヤンクタ上の高
レベルの正電圧に維持されている。)ことを識別する。
そしてこの場合には、他の遊休ジャンクタが選択される
とともに電圧レベル検出回路は、欠陥を表示する代りに
、新規に選択されたジャンク外こ接続される。上記のよ
うにしてジャンクタが正しい電圧を有すると判定された
場合、マイクロプロセッサは交差点マトリクス8a,8
b,8c内の交差点を、適当な情報を制御回路9a,9
b,9cに通過させることによって、関成し、同時に、
判定に係るジャンクタから電圧レベル検出回路を除外す
る。
る。交差点スイッチそれ自身の内部における欠陥は、典
型的には、負の給電電圧付近への亀田降下、又は正の給
電電圧付近への電圧上昇として発見される。負の給電電
圧付近への蚤朝日苗降下の場合には、差動増幅器13の
出力は、低レベルから高レベルに切換えられ、ゲート2
0からは高レベルの出力信号が出力される。一方、正の
給電電圧付近へのジャンクタ電圧の上昇に際しては、増
幅器13ではなく差動増幅器12の出力において高レベ
ルの出力信号が生成され、ゲート20からではなく、ゲ
ート19から高レベルの出力が出力される。この時点に
おいて、マイクロプロセッサは、ゲート19及び20の
出力であるデータバスリード‘こおいてローレベル信号
のみを予期しているから、マイクロプロセッサは、交差
点スイッチの欠陥、或いは、ジャンクタに対して通話パ
スを閉じていない(後者の場合には、ジヤンクタ上の高
レベルの正電圧に維持されている。)ことを識別する。
そしてこの場合には、他の遊休ジャンクタが選択される
とともに電圧レベル検出回路は、欠陥を表示する代りに
、新規に選択されたジャンク外こ接続される。上記のよ
うにしてジャンクタが正しい電圧を有すると判定された
場合、マイクロプロセッサは交差点マトリクス8a,8
b,8c内の交差点を、適当な情報を制御回路9a,9
b,9cに通過させることによって、関成し、同時に、
判定に係るジャンクタから電圧レベル検出回路を除外す
る。
そして、マイクロプロセッサは、交差点マトリクス内に
おいて判定されたばかりのジャンクタに接続されたライ
ンに接続された電話器の所有者によってダイヤル操作さ
れるべき他のストアデイジツト又はジャンクタに、ディ
ジツトレシーバを接続する。〔呼出されたライン回路が
ジャンクタに接続されたときの動作〕(ジャンクタ等に
欠陥がない場合) 呼出されたライン回路がジャンクタに接続されると、ジ
ャンク外ま、前述した如く、交差点マトリクス8a,8
b,8c内において上記の電圧レベル検出回路に接続さ
れる。
おいて判定されたばかりのジャンクタに接続されたライ
ンに接続された電話器の所有者によってダイヤル操作さ
れるべき他のストアデイジツト又はジャンクタに、ディ
ジツトレシーバを接続する。〔呼出されたライン回路が
ジャンクタに接続されたときの動作〕(ジャンクタ等に
欠陥がない場合) 呼出されたライン回路がジャンクタに接続されると、ジ
ャンク外ま、前述した如く、交差点マトリクス8a,8
b,8c内において上記の電圧レベル検出回路に接続さ
れる。
そして、該検出回路はジャンクタの電圧レベルをチェッ
クする。その電圧レベルが、差動増幅器12のしきし、
値しベル以下で差動増幅器13のしきい値しベル以上の
中央電圧レベル範囲内にあることを検出した場合、チェ
ック回路は、交差点マトリクス8a,8b,8c内の交
差点を関路することにより、非作動とされる。(ジャン
クタ等に欠陥がある場合) しかしながら、電圧レベルが差動増幅器13のしきし、
値しベルより低い負のレベルであることが検出されたと
きには、マイクロプロセッサは欠陥であることを識別す
る。
クする。その電圧レベルが、差動増幅器12のしきし、
値しベル以下で差動増幅器13のしきい値しベル以上の
中央電圧レベル範囲内にあることを検出した場合、チェ
ック回路は、交差点マトリクス8a,8b,8c内の交
差点を関路することにより、非作動とされる。(ジャン
クタ等に欠陥がある場合) しかしながら、電圧レベルが差動増幅器13のしきし、
値しベルより低い負のレベルであることが検出されたと
きには、マイクロプロセッサは欠陥であることを識別す
る。
しかしながら、この場合、ジャンクタは非動作とされず
、通話パスが保持されるようにすることが好ましい。前
述したように、ジヤンクタの電圧チェックの結果、被呼
出側の加入者呼によってダイヤルされる以前に欠陥が識
別された場合には、新しい遊休ジヤンクタを選択してさ
らにチェックするようにすることが好ましい。
、通話パスが保持されるようにすることが好ましい。前
述したように、ジヤンクタの電圧チェックの結果、被呼
出側の加入者呼によってダイヤルされる以前に欠陥が識
別された場合には、新しい遊休ジヤンクタを選択してさ
らにチェックするようにすることが好ましい。
ジャンクタが、被呼出側のライン回路又はトランクに接
続される以前に、欠陥があることが発見されたときには
、マイクロプロセッサの制御下において、オペレータに
は、欠陥の指示がなされるだけである。回路の有用なパ
ラメータの例としては、(十V)を7ボルト、(一V)
を−5ボルトとする。
続される以前に、欠陥があることが発見されたときには
、マイクロプロセッサの制御下において、オペレータに
は、欠陥の指示がなされるだけである。回路の有用なパ
ラメータの例としては、(十V)を7ボルト、(一V)
を−5ボルトとする。
また、レジスタ15,26は夫々IK、11Kオームと
し、また、レジスタ17,18は典型的には夫々11K
、IKオームとする。したがって、この場合、差動増幅
器12は、ジャンクタの検出電圧レベルが、十6ボルト
のしきし、値を越えたときに出力信号を生じ、差動増幅
器13はジャンクタの検出電圧レベルが−4ボルトのし
さし、値より低い負のレベルであるとき、出力信号を生
じる。したがって、ライン回路に接続されたジャンクタ
の無欠陥条件は、共通の又はアース電位に対して−4〜
十6ボルトの間の10ボルトのジヤンクタレベルの範囲
として得られる。しかしながら、設計者の意思により、
他のレベルの範囲を使用することができそれは、正常な
直流動作電圧レベルがジャンクタにとって如何なる値を
とるかに応じて決められるべきものである。本発明に係
る回路は、以上のことから明らかなように、欠陥がそれ
を通じて接続される通話パスの信頼性に影響を与える以
前に、ジャンク夕の状態にしたがって、マイクロプロセ
ッサに必要な指示を与えることができる。この回路は、
上記のPABX以外の交換設備にも適用し得ること及び
上記のジャンクタ以外の回路のチェックのために使用し
うろことは、当業者にとって明らかであろう。
し、また、レジスタ17,18は典型的には夫々11K
、IKオームとする。したがって、この場合、差動増幅
器12は、ジャンクタの検出電圧レベルが、十6ボルト
のしきし、値を越えたときに出力信号を生じ、差動増幅
器13はジャンクタの検出電圧レベルが−4ボルトのし
さし、値より低い負のレベルであるとき、出力信号を生
じる。したがって、ライン回路に接続されたジャンクタ
の無欠陥条件は、共通の又はアース電位に対して−4〜
十6ボルトの間の10ボルトのジヤンクタレベルの範囲
として得られる。しかしながら、設計者の意思により、
他のレベルの範囲を使用することができそれは、正常な
直流動作電圧レベルがジャンクタにとって如何なる値を
とるかに応じて決められるべきものである。本発明に係
る回路は、以上のことから明らかなように、欠陥がそれ
を通じて接続される通話パスの信頼性に影響を与える以
前に、ジャンク夕の状態にしたがって、マイクロプロセ
ッサに必要な指示を与えることができる。この回路は、
上記のPABX以外の交換設備にも適用し得ること及び
上記のジャンクタ以外の回路のチェックのために使用し
うろことは、当業者にとって明らかであろう。
また、種々の変更及び修正は、本発明の属する技術分野
の技術者によって企図されうるであろう。本発明の技術
的範囲もしくは権利範囲は、特許請求の範囲にあますと
ころなく示されている。
の技術者によって企図されうるであろう。本発明の技術
的範囲もしくは権利範囲は、特許請求の範囲にあますと
ころなく示されている。
図面は本発明に係るチェックシステムの実施例を示す回
路図である。 1……非平衡ライン、2a,2b,2c,3a,3b,
3c・・・・・・交差点マトリクス、4・・・・.・2
方向平衡−非平衡ライン回路、T,R・・・・・・チッ
プ及びリングリード、5a,5b,5c,6a,6b,
6c・・・・・・交差点制御回路、7,・・・,7…・
・・ジャンクタ、8a,8b,8c・・・・・・交差点
マトリクス、9a,9b,9c・・・・・・交差点制御
回路、11・・・・・・列コンダクタ、12,13・・
・・・・差動増幅器、14・…・・レジスタ、15,1
6・・・・・・電圧デバイダ、17,18・・・・・・
電圧デバイダ、19,20・・・・・・ゲート、23・
・・・・・ANDゲート。
路図である。 1……非平衡ライン、2a,2b,2c,3a,3b,
3c・・・・・・交差点マトリクス、4・・・・.・2
方向平衡−非平衡ライン回路、T,R・・・・・・チッ
プ及びリングリード、5a,5b,5c,6a,6b,
6c・・・・・・交差点制御回路、7,・・・,7…・
・・ジャンクタ、8a,8b,8c・・・・・・交差点
マトリクス、9a,9b,9c・・・・・・交差点制御
回路、11・・・・・・列コンダクタ、12,13・・
・・・・差動増幅器、14・…・・レジスタ、15,1
6・・・・・・電圧デバイダ、17,18・・・・・・
電圧デバイダ、19,20・・・・・・ゲート、23・
・・・・・ANDゲート。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 (a)共通電位に対して低いインピーダンスを有す
るライン回路に接続するための第1のジヤンクタと、(
b)電圧レベル検出回路と、 (c)該電圧レベル検出回路を第1のジヤンクタに接続
するための手段と、(d)電圧レベル検出回路の入力を
電圧源に接続する抵抗器と、(e)第1のジヤンクタに
接続されたのちに電圧レベル検出回路によって検出され
た電圧レベルが、電圧源の電圧レベルよりは共通電位に
近いときに、電圧レベル検出回路を他の遊休ジヤンクタ
に接続するための手段と、を含むジヤンクタチエツクシ
ステム。 2 (a)共通電位に対して低いインピーダンスを有す
るライン回路に接続するための第1のジヤンクタと、(
b)電圧レベル検出回路と、 (c)該電圧レベル検出回路を第1のジヤンクタに接続
するための手段と、(d)電圧レベル検出回路の入力を
電圧源に接続する抵抗器と、(e)第1のジヤンクタに
接続したのちに電圧レベル検出回路によって検出された
電圧レベルが、電圧源の電圧レベルよりは共通電位に近
いときに、電圧レベル検出回路を他の遊休ジヤンクタに
接続するための手段と、(f)第1のジヤンクタをライ
ン回路に接続したのちに、上記検出回路によって検出さ
れた電圧レベルが共通電位を含む予じめ定められた範囲
より高いか低いときに電圧レベル検出回路を他の遊休ジ
ヤンクタに接続する手段と、を含むジヤンクタチエツク
システム。 3 電圧レベル検出回路が、予じめ定められた範囲を規
定するために上限及び下限のしきい値レベルを与えるよ
うにバイアスされた一対の差動増幅器よりなる特許請求
の範囲第2項記載のジヤンクタチエツクシステム。 4 第1のジヤンクタのライン回路への接続以前におい
て検出された電圧レベルが上記予じめ定めた範囲内にあ
るとき及び第1のジヤンクタのライン回路への接続後に
おいて上記検出回路によって検出された電圧レベルが共
通電位を含む予じめ定めた範囲より高いか或いは低いと
きに、電圧レベル検出回路を第1のジヤンクタに対して
非接続とし、他の遊休ジヤンクタを選択し、上記検出回
路を該遊休ジヤンクタに接続するため検出回路の出力に
接続された中央プロセスユニツトを含む特許請求の範囲
第3項記載のジヤンクタチエツクシステム。 5 電圧源が正電圧電源である特許請求の範囲第3項又
は第4項記載のジヤンクタチエツクシステム。 6 一対の差動増幅器が、抵抗器を介して正電圧源に接
続された非反転入力と、正電圧源より第1の所定の割合
だけ低い反転入力における電圧レベルを与えるように、
正、負の電圧源の端子間に接続された電圧デバイダのタ
ツプに接続された反転入力とを有する第1の差動増幅器
と、第1の差動増幅器の非反転入力に接続された反転入
力と、負電圧源より第2の所定の割合だけ高い非反転入
力における電圧レベルを与えるように、正、負の電圧源
の端子間に接続された第2の電圧デバイダのタツプに接
続された非反転入力とを有する第2の差動増幅器とから
なり、第1の差動増幅器の出力信号は、その非反転入力
におけるジヤンクタの電圧レベルが反転入力における電
圧レベルより高いときに生成され、また第2差動増幅器
の出力信号は、その反転入力におけるジヤンクタの電圧
レベルが非反転入力における電圧レベルより低いときに
生成される特許請求の範囲第3項又は第4項記載のジヤ
ンクタチエツクシステム。 7 電圧レベル検出回路が、第1及び第2の差動増幅器
よりなり、両差動増幅器の非反転入力および反転入力は
夫々抵抗器を介して正電圧源に接続され、第1の差動増
幅器の反転入力は正電圧源より低い電圧の第2の電圧源
に接続され、第2の差動増幅器の非反転入力は共通電位
より低い電圧の第3の電圧源に接続されており、第1の
差動増幅器の出力は第1の差動増幅器の非反転入力に印
加されたジヤンクタの電圧やが第2の電圧源の電圧より
高いときに生成され、第2の差動増幅器の出力は、第2
の差動増幅器の反転入力に印加されたジヤンクタ電圧が
第3の電圧源の電圧より低いときに生成される特許請求
の範囲第2項記載のジヤンクタチエツクシステム。 8 各差動増幅器の出力が、中央のプロセスユニツトの
ジヤンクタ制御部に接続するため回路パス内においてデ
ータバスに接続された特許請求の範囲第7項記載のジヤ
ンクタチエツクシステム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CA297884 | 1978-02-28 | ||
| CA297,884A CA1093663A (en) | 1978-02-28 | 1978-02-28 | Junctor checking system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54133016A JPS54133016A (en) | 1979-10-16 |
| JPS601992B2 true JPS601992B2 (ja) | 1985-01-18 |
Family
ID=4110879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53101377A Expired JPS601992B2 (ja) | 1978-02-28 | 1978-08-18 | ジヤンクタチエツクシステム |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4167656A (ja) |
| JP (1) | JPS601992B2 (ja) |
| CA (1) | CA1093663A (ja) |
| DE (1) | DE2845101C2 (ja) |
| FR (1) | FR2418587B1 (ja) |
| GB (1) | GB2015303B (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4692939A (en) * | 1986-03-19 | 1987-09-08 | Communications Test Design, Inc. | Switch testing |
| DE3816948A1 (de) * | 1988-05-18 | 1989-11-30 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung fuer fernmeldeschaltanlagen und/oder fernmeldevermittlungsanlagen, insbesondere cross-connect-schaltstationen, mit closschem koppelfeld |
| US5005197A (en) * | 1989-11-30 | 1991-04-02 | Communications Test Design, Inc. | Method and apparatus as for testing a telephone line interface card |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2118220C3 (de) * | 1971-04-10 | 1975-05-07 | Deutsche Telephonwerke Und Kabelindustrie Ag, 1000 Berlin | Schaltungsanordnung zur Überwachung von MeBbereichsgrenzen für fernsteuerbare Prüf- und Meßeinrichtungen in zentralgesteuerten Fernmelde-, Insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen |
| US3941949A (en) * | 1974-02-27 | 1976-03-02 | Gte Automatic Electric Laboratories Incorporated | Method and apparatus for isolating malfunctions occurring in sender-receiver communication switching system equipment |
| DE2652243C3 (de) * | 1976-11-16 | 1979-09-27 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zur Prüfung der Funktion von Koppelpunkten in Koppelfeldern mit koordinatenförmig angeordneten bistabilen Koppelrelais |
-
1978
- 1978-02-28 CA CA297,884A patent/CA1093663A/en not_active Expired
- 1978-08-14 US US05/933,540 patent/US4167656A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-08-18 JP JP53101377A patent/JPS601992B2/ja not_active Expired
- 1978-10-17 DE DE2845101A patent/DE2845101C2/de not_active Expired
- 1978-11-15 GB GB7844686A patent/GB2015303B/en not_active Expired
- 1978-12-21 FR FR7836600A patent/FR2418587B1/fr not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2015303B (en) | 1982-04-28 |
| CA1093663A (en) | 1981-01-13 |
| JPS54133016A (en) | 1979-10-16 |
| US4167656A (en) | 1979-09-11 |
| GB2015303A (en) | 1979-09-05 |
| FR2418587B1 (fr) | 1986-06-27 |
| FR2418587A1 (fr) | 1979-09-21 |
| DE2845101C2 (de) | 1986-02-20 |
| DE2845101A1 (de) | 1979-09-06 |
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