JPS60199432A - コンピユ−タ断層撮像装置 - Google Patents
コンピユ−タ断層撮像装置Info
- Publication number
- JPS60199432A JPS60199432A JP59055843A JP5584384A JPS60199432A JP S60199432 A JPS60199432 A JP S60199432A JP 59055843 A JP59055843 A JP 59055843A JP 5584384 A JP5584384 A JP 5584384A JP S60199432 A JPS60199432 A JP S60199432A
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野)
本発明は、コンピュータ断層県彰装置(0丁:Comp
uter Tomography)における垂直方向の
患者位置決め機構を持つコンビコータ断層撮像装@(以
下CTと呼ぶ)に閏づる。
uter Tomography)における垂直方向の
患者位置決め機構を持つコンビコータ断層撮像装@(以
下CTと呼ぶ)に閏づる。
(従来技術)
被検体をガン1−り一内のスキャン回転中心に4i1置
付けさせること即ちセンタリングは、検出データ収集系
のオーバレンジを防ぎ、良質な断層像を得る点で重要で
ある。第1図はセンタリングに関する説明図である。こ
の図において、1は被検体、2は有効視野領域を示す。
付けさせること即ちセンタリングは、検出データ収集系
のオーバレンジを防ぎ、良質な断層像を得る点で重要で
ある。第1図はセンタリングに関する説明図である。こ
の図において、1は被検体、2は有効視野領域を示す。
センタリングには、被検体のスライス部分が有効視野領
域2内におさまりスキャン回転中心となるように、被検
体1をX方向(水平方向)、Y方向(垂直方向)に適当
に移動させ、正確に両方向の位置)ノくめを行うことが
必要である。
域2内におさまりスキャン回転中心となるように、被検
体1をX方向(水平方向)、Y方向(垂直方向)に適当
に移動させ、正確に両方向の位置)ノくめを行うことが
必要である。
この場合、X方向においては被検体を載置づるテーブル
がガンl−り一中心に配置されて43す、テーブルの真
中に被検体を置1−Jばほぼ正確にX方向センタリング
ができる。しかし、Y方向においては、被検体の形状に
合わせた正確なヒンタリングを行うことは難しい。この
Y方向センタリングは、従来、以下のような方法で行わ
れている。
がガンl−り一中心に配置されて43す、テーブルの真
中に被検体を置1−Jばほぼ正確にX方向センタリング
ができる。しかし、Y方向においては、被検体の形状に
合わせた正確なヒンタリングを行うことは難しい。この
Y方向センタリングは、従来、以下のような方法で行わ
れている。
■第2図に示すように、ボジショニングライ1〜3を被
検体1のスキャン位置に当て、スキャン中心の^さho
が被検体のスキャン回転中心になるようにテーブルの高
さを調整する。
検体1のスキャン位置に当て、スキャン中心の^さho
が被検体のスキャン回転中心になるようにテーブルの高
さを調整する。
■概略のテーブル高さを調整しに後、1度スキャンを行
って再構成像を観察する。もし再構成像が適切でなt−
Jれば、再構成像におけるスキャン中心からのずれを計
測し、そのずれ分だけテーブル高さを再調整する。
って再構成像を観察する。もし再構成像が適切でなt−
Jれば、再構成像におけるスキャン中心からのずれを計
測し、そのずれ分だけテーブル高さを再調整する。
■テーブル高さ表示装置を装備したC1−装置の場合は
、被検体の形状やスキャン部位から概略のデープル高さ
を割り出し、必要な高さだ(ブチ−プルを移動させた後
、スキャンを行って再構成像を観察し、前記■と同様に
再調整を繰り返す。
、被検体の形状やスキャン部位から概略のデープル高さ
を割り出し、必要な高さだ(ブチ−プルを移動させた後
、スキャンを行って再構成像を観察し、前記■と同様に
再調整を繰り返す。
しかしながら、■においては、被検体の形状が一様でな
いこと、調整づるオペレータの視線が調整位置より高い
ことなどのために正確なセンタリングは期待できない。
いこと、調整づるオペレータの視線が調整位置より高い
ことなどのために正確なセンタリングは期待できない。
又、■、■においては、正確なセンタリングを行うため
に、必要以上にスキl?ンを繰り返さねばならずX線被
@出が増加りることとなり問題がある。
に、必要以上にスキl?ンを繰り返さねばならずX線被
@出が増加りることとなり問題がある。
(発明の目的)
本発明は、このような点に鳳みてIJされたもので、イ
の目的は被検体の垂直方向の位置決めを、放射線を1躬
することなく、容易、正確かつ安全に行い得るようにし
た患者位置決めimを有づるCTを提供することにある
。
の目的は被検体の垂直方向の位置決めを、放射線を1躬
することなく、容易、正確かつ安全に行い得るようにし
た患者位置決めimを有づるCTを提供することにある
。
(発明の構成)
このような目的を達成づるための本発明は、センタリン
グされた被検体の1−縁付近をス4−キ・ン面内で水平
に光が走る位置に配置された発光素子ど受光素子の相と
、被検体を載置づるテーブルの高さを検知する手段と、
前記テーブル高さの信号と前記受光素子からの信号をも
とに被検体の垂直方向寸法を算出し、センタリングのテ
ーブル高さをめる演算処理手段と、前記演算処理手段か
らのテーブル上下動作を行うための制御l信号を受it
でテーブルの上下krを行う駆動手段と、テーブル[−
不動を行うための操作・指示釦群とを具備し、被3一 検体をスキャン回転中心に位置させ得るように構成した
ことを特徴とするものである。
グされた被検体の1−縁付近をス4−キ・ン面内で水平
に光が走る位置に配置された発光素子ど受光素子の相と
、被検体を載置づるテーブルの高さを検知する手段と、
前記テーブル高さの信号と前記受光素子からの信号をも
とに被検体の垂直方向寸法を算出し、センタリングのテ
ーブル高さをめる演算処理手段と、前記演算処理手段か
らのテーブル上下動作を行うための制御l信号を受it
でテーブルの上下krを行う駆動手段と、テーブル[−
不動を行うための操作・指示釦群とを具備し、被3一 検体をスキャン回転中心に位置させ得るように構成した
ことを特徴とするものである。
(実施例)
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明づ−る
。
。
第3図は本光明の患者位置決め機構の一実施例を示づ要
部構成図で、(イ)は側面図、(ロ)は正面図である。
部構成図で、(イ)は側面図、(ロ)は正面図である。
図において、1は被検体(患者)を示づ。20は放射線
(以下X線の場合を例にとり、単にX線という)を発生
づるX線源と、透過X線強度を検出するX線検出器とを
有したガントリーで、30は被検体1を載置(るテーブ
ルを示す。13は発光素子、14は受光素子である。こ
の発光・受光素子の組はスキャン面4内に水平に配置さ
れ、スキャン回転中心6からの距離は被検体1の垂直方
向寸法の約1/2(例えば100m)におく。又、この
発光・受光素子の組は広範囲な被検体形状(患者体格)
をカバーできるように複数配列にしてもよい。40はテ
ーブル30の高さを検知するテーブル高さ検知回路で、
50はチー4− プル30を上下に移動可mなテーブル、l−下動M、
Wh装置である。60は操作釦とインジケータとを有し
た操作器で、正確なセンタリングのためにオペレータに
より操作される。第4図は操作器60の押釦とインジケ
ータ群の例を示し、センタリング。
(以下X線の場合を例にとり、単にX線という)を発生
づるX線源と、透過X線強度を検出するX線検出器とを
有したガントリーで、30は被検体1を載置(るテーブ
ルを示す。13は発光素子、14は受光素子である。こ
の発光・受光素子の組はスキャン面4内に水平に配置さ
れ、スキャン回転中心6からの距離は被検体1の垂直方
向寸法の約1/2(例えば100m)におく。又、この
発光・受光素子の組は広範囲な被検体形状(患者体格)
をカバーできるように複数配列にしてもよい。40はテ
ーブル30の高さを検知するテーブル高さ検知回路で、
50はチー4− プル30を上下に移動可mなテーブル、l−下動M、
Wh装置である。60は操作釦とインジケータとを有し
た操作器で、正確なセンタリングのためにオペレータに
より操作される。第4図は操作器60の押釦とインジケ
ータ群の例を示し、センタリング。
Ul)、□ownの押釦61.62.63があり” U
l) ” 、” D o w n ”のインジケータ
64,65をそれぞれ有している。70は演枠処理部で
、発光素子13.テーブル高さ検知回路40.操作器6
0の信号を受けて演算処理を行い、操作器60、テーブ
ル上下動駆動8置50に制御・指示信号を送る。
l) ” 、” D o w n ”のインジケータ
64,65をそれぞれ有している。70は演枠処理部で
、発光素子13.テーブル高さ検知回路40.操作器6
0の信号を受けて演算処理を行い、操作器60、テーブ
ル上下動駆動8置50に制御・指示信号を送る。
このような構成における動作を第3図、第4図を用いて
次に説明づる。
次に説明づる。
ここで、発光・受光素子の位置とスキャン回転中心の距
離を[、テーブル下端からスキャン回転中心までの高さ
を1−1とする。
離を[、テーブル下端からスキャン回転中心までの高さ
を1−1とする。
まず、テーブル30の高さを適当な位置に合わせて被検
体1をガントリー20に送り込lυだ後、操作器60の
センタリング釦を押す。もしこの時、受光素子14が°
’1”<光が遮られていない状態)であれば操作器60
の’ U p ”インジケータが点灯Jる。それを見て
操作器のtJ l)釦62を押づと、テーブル上下wJ
駆動装置50が作動し、7−ブル30は−F方に動く。
体1をガントリー20に送り込lυだ後、操作器60の
センタリング釦を押す。もしこの時、受光素子14が°
’1”<光が遮られていない状態)であれば操作器60
の’ U p ”インジケータが点灯Jる。それを見て
操作器のtJ l)釦62を押づと、テーブル上下wJ
駆動装置50が作動し、7−ブル30は−F方に動く。
このまま’ U p ”インジケータ64が消灯づるま
で、Up釦62を押し続けると、受光素子14は゛1″
から’O”(光が遮られる状*>に変化ゴる所で’ U
I’) ”インジケータ64が消え、テーブル30の
上方作動は停止する。
で、Up釦62を押し続けると、受光素子14は゛1″
から’O”(光が遮られる状*>に変化ゴる所で’ U
I’) ”インジケータ64が消え、テーブル30の
上方作動は停止する。
この時のテーブル高さをhとすると、テーブル高さ検知
回路40によってこのhの値が検知され、イの信号IJ
演算処理部70に供給される。被検体1のスヤヤン面に
お()る垂直方向寸法はf−(+l−hで表わUるので
、適正なピンクリング高さ△は次の式により表わせる。
回路40によってこのhの値が検知され、イの信号IJ
演算処理部70に供給される。被検体1のスヤヤン面に
お()る垂直方向寸法はf−(+l−hで表わUるので
、適正なピンクリング高さ△は次の式により表わせる。
A = l−1−(I」+ L −h ) / 2−(
I−(−L+h)/2 ここで1−1及び[は既に定数として演算処理部70に
入力されているのでただちに上式からAがめられる。続
いて、このAとテーブル高さhとが比較されて、もし等
しくなIづれば操作器60の“” u p ”又は’[
)own’″のインジケータを貞−させる。オペレータ
は点滅中のインジケータに対応覆る釦を押し、そのイン
ジケータが消えるまで押し続ける。テーブル高さがセン
タリング(Qff&に)全Jるとテーブル上下動作は停
止し、点滅中のインジケータが消灯する。こうした操作
で適正なピンクリング位置が決定され、操作が終了づる
。
I−(−L+h)/2 ここで1−1及び[は既に定数として演算処理部70に
入力されているのでただちに上式からAがめられる。続
いて、このAとテーブル高さhとが比較されて、もし等
しくなIづれば操作器60の“” u p ”又は’[
)own’″のインジケータを貞−させる。オペレータ
は点滅中のインジケータに対応覆る釦を押し、そのイン
ジケータが消えるまで押し続ける。テーブル高さがセン
タリング(Qff&に)全Jるとテーブル上下動作は停
止し、点滅中のインジケータが消灯する。こうした操作
で適正なピンクリング位置が決定され、操作が終了づる
。
もし、最初のセンタリング釦を押した時に受光素子が0
″であれば、操作器600゛’ □ o w n ”イ
ンジケータが点灯し、それを見てDown釦を押すとテ
ーブル30は下方へ移動し、受光素子14が゛Oパから
′1″に変化覆る時点でインジケータは消え、テーブル
の移動動作を停止4る。この時のテーブル高さhを知り
、前記の式に基づきセンタリングのテーブル高さ△をめ
、適正なピンクリングを行うことができる。
″であれば、操作器600゛’ □ o w n ”イ
ンジケータが点灯し、それを見てDown釦を押すとテ
ーブル30は下方へ移動し、受光素子14が゛Oパから
′1″に変化覆る時点でインジケータは消え、テーブル
の移動動作を停止4る。この時のテーブル高さhを知り
、前記の式に基づきセンタリングのテーブル高さ△をめ
、適正なピンクリングを行うことができる。
このように簡単な操作によって正確なセンタリングを行
うことができる。又、複数の受光素子の垂直方向間隔が
粗くても、前記のように受光素子 7− の状態が変化するまでテーブルの上下動を行うことによ
り、被検体の垂直り内寸法を正確に測定できる。更に受
光素子の垂直方向間隔を細かにし、その数を増加づれば
被検体寸法i1測のためのテーブル上下動を小さくでき
、且つ広範囲な思考体格までカバーでることができる。
うことができる。又、複数の受光素子の垂直方向間隔が
粗くても、前記のように受光素子 7− の状態が変化するまでテーブルの上下動を行うことによ
り、被検体の垂直り内寸法を正確に測定できる。更に受
光素子の垂直方向間隔を細かにし、その数を増加づれば
被検体寸法i1測のためのテーブル上下動を小さくでき
、且つ広範囲な思考体格までカバーでることができる。
ここで、前記発光・受光素子をス4−トン面に設ける構
成(これを内部ボジショニングと称する)に限らず、ス
キt!ン面から一定距離(例えば30cm)だけ外部へ
出た位置に設ける構成としてもよい(これを外部ボジシ
ョニングという)。その場合には、発光・受光素子の組
はスキャン面ではなく外部ボジショニングライトの位置
に設けてもよい。この場合、発光・受光素子はガントリ
ーのデル1ル機構系と一体となっている場合には、前記
l−の代りにl cosθ−[)sinθ(ただし、D
はスキャン面と外部ボジショニング位置との距離、θは
デル1ル角度である)を用いる。
成(これを内部ボジショニングと称する)に限らず、ス
キt!ン面から一定距離(例えば30cm)だけ外部へ
出た位置に設ける構成としてもよい(これを外部ボジシ
ョニングという)。その場合には、発光・受光素子の組
はスキャン面ではなく外部ボジショニングライトの位置
に設けてもよい。この場合、発光・受光素子はガントリ
ーのデル1ル機構系と一体となっている場合には、前記
l−の代りにl cosθ−[)sinθ(ただし、D
はスキャン面と外部ボジショニング位置との距離、θは
デル1ル角度である)を用いる。
〈発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、演算処8−
理部からのインジケータ表示等の操作ガイドに従った簡
単な操作で、被検体のスキャンイ☆藺を正確に決定でき
、且つ被検体の垂直方向用法計測のためのテーブル上下
動を行うことにより、少ない被検体寸法計測検出器であ
っても、正確に位置決めが可能であり、このため不必要
なX線スキトンの繰り返しを不要とし、患者の被曝を最
小限に抑えることができる。
単な操作で、被検体のスキャンイ☆藺を正確に決定でき
、且つ被検体の垂直方向用法計測のためのテーブル上下
動を行うことにより、少ない被検体寸法計測検出器であ
っても、正確に位置決めが可能であり、このため不必要
なX線スキトンの繰り返しを不要とし、患者の被曝を最
小限に抑えることができる。
第1図は被検体をスキャン位置に合わせるセンタリング
に関する説明図、第2図は従来のセンタリングの一例を
示す説明図、第3図は本発明に係る患者位置決め機構の
一実施例を示す要部構成図、第4図は本発明に係る操作
器の操作釦、インジケータ群を示す説明図である。 1・・・被検体 13・・・発光素子 14・・・受光素子 20・・・ガン1へり−30・・
・テーブル 4o・・・テーブル高さ検知回路 50・・・テーブル上下動駆動装置 60・・・操作器 70・・・演粋処理部−11− 厄1図 尾2図
に関する説明図、第2図は従来のセンタリングの一例を
示す説明図、第3図は本発明に係る患者位置決め機構の
一実施例を示す要部構成図、第4図は本発明に係る操作
器の操作釦、インジケータ群を示す説明図である。 1・・・被検体 13・・・発光素子 14・・・受光素子 20・・・ガン1へり−30・・
・テーブル 4o・・・テーブル高さ検知回路 50・・・テーブル上下動駆動装置 60・・・操作器 70・・・演粋処理部−11− 厄1図 尾2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 センタリングされた被検体の上縁飼近をスキャン面内で
水平に光が走る位置に配置された発光素子と受光素子の
組と、被検体を載置するテーブルの高さを検知する手段
と、前記テーブル高さの信号と前記受光素子からの信号
をもとに被検体の垂直方向寸法を算出し、センタリング
のテーブル高さをめる演算処理手段と、前記演算処理手
段からのデープルF下動作を行うための制御信号を受け
てテーブルの上下動を行う駆動手段と、テーブル上下動
を行うための操作・指示釦群とを具備し。 被検体をスキャン回転中心に位置させ得るように構成し
た=lンビュータ断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59055843A JPS60199432A (ja) | 1984-03-23 | 1984-03-23 | コンピユ−タ断層撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59055843A JPS60199432A (ja) | 1984-03-23 | 1984-03-23 | コンピユ−タ断層撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60199432A true JPS60199432A (ja) | 1985-10-08 |
Family
ID=13010289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59055843A Pending JPS60199432A (ja) | 1984-03-23 | 1984-03-23 | コンピユ−タ断層撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60199432A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57103629A (en) * | 1980-12-17 | 1982-06-28 | Tokyo Shibaura Electric Co | Positioning apparatus of radioactive ray tomograph apparatus |
-
1984
- 1984-03-23 JP JP59055843A patent/JPS60199432A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57103629A (en) * | 1980-12-17 | 1982-06-28 | Tokyo Shibaura Electric Co | Positioning apparatus of radioactive ray tomograph apparatus |
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