JPS60201224A - 多層薄膜熱伝達ゲ−ジ - Google Patents

多層薄膜熱伝達ゲ−ジ

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JPS60201224A
JPS60201224A JP59057426A JP5742684A JPS60201224A JP S60201224 A JPS60201224 A JP S60201224A JP 59057426 A JP59057426 A JP 59057426A JP 5742684 A JP5742684 A JP 5742684A JP S60201224 A JPS60201224 A JP S60201224A
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thin film
heat flux
film
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正徳 林
Akira Sakurai
晃 桜井
Shigeru Aso
麻生 茂
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/18Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal conductivity

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、金緬薄膜抵抗温度計を用いて物体に流入する
熱流を測定する薄膜熱伝達ゲージ、特に、多層に形成し
た薄膜を用いた多層薄膜熱伝達ゲージに関し、持続時間
の長い熱流束を高い空間分解能および高速応答性をもっ
て測定し得るようにしたものである。
(従来技術) 従来のこの種薄膜熱伝達ゲージとしては、衝撃波管用と
してよく用いられるものがあり、パイレックス等の熱絶
縁性母材の表面に金施薄膜抵抗温度計を被着形成し、入
力熱流束に対する物体の過渡的な非定常表面温度上昇か
ら表面熱流束を算出する。この薄膜熱伝達ゲージは、高
い空間分解能と高速応答性とを備えた熱伝達ゲージとし
ては、はとんど従来唯一のものであった。
しかしながら、この従来の薄膜熱伝達ゲージは、その熱
流束測定の原理として、熱不良導体の表面温度の過渡的
上昇を利用しているがために、気流持続時間の短い風洞
における熱流束の測定にしか使用し得す、超音速風洞や
低速風洞のような気流持続時間の長い風洞における熱流
束の測定に使用すると、物体の表面温度が急激に上昇し
て定温壁の条件を満足し得ないので、かかる風洞におけ
る熱流束測定に必須の定常的な熱流束測定が不可能であ
った。すなわち、従来のこの種薄膜熱伝達ゲージは、高
い空間分解能と高速応答性とを備えたはとんど唯一の熱
流速センサとみなされていたが、上述したように、衝撃
波管のように気流持続時間の短い風洞の熱流束測定にし
か使用し得す、適用範囲が局限されるという欠点があっ
た。したがって、気流持続時間の長い風洞の熱流束測定
に適用可能であって、しかも、高い空間分解能と萬速応
答性とを備えた熱流束センサは従来は存在しない状態に
あった。
一方、航空工学、字書工学等の技術分野においては、超
音速飛行、大気圏再突入、原動機内ガス流などのように
物体表面への熱伝達の解明が極めて重要な問題になって
いる。しかしながら、これらの問題においては、極めて
微細なスケールの空間的位置の変化によってそれぞれの
位置における熱流束が大きく変化するために、上述した
従来の薄膜熱伝達ゲージによってはかかる態様の熱流束
変化はその測定が極めて困難であって不可能に近く、し
たがって、上述した問題に必然的に伴う局所的な伝熱現
象は従来解明されないままで過されて来た。また、従来
の熱流束測定手段の一つとしてのこの種薄膜熱伝達ゲー
ジには、前述したように、その適用範囲が極めて狭く局
限されている、という重大な欠点があった。
(発明の目的) 本発明の目的は、上述した従来の欠点を除去し、気流持
続時間の長い風洞の熱流束測定などのように定常的な熱
流束測定が可能であり、しかも、高い空間分解能および
高速応答性をもって、極めて微細なスケールの空間的位
置の変化に伴って熱流速の大幅な変化を生ずる局所的な
伝熱現象の解明に適用し得る薄膜熱伝達ゲージ、特に、
多層薄膜熱伝達ゲージを提供することにある。
本発明の他の目的は、高い空間分解能および高速応答性
を必要とする種々の技術分野における熱流束測定を可能
にする薄膜熱伝達ゲージ、特に、多層薄膜熱伝達ゲージ
を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、航空宇宙産業のみならず、
機械産業、原子力産業その他の一般産業においても、熱
負荷がかかる場合であって、その熱負荷の正確な測定の
成果が、超音速乃至極超音速の飛行物体、あるいは原動
機のタービン等の超高連可動機構の設計に活かされる技
術分野に適用可能の薄膜熱伝達ゲージ、特に、多層薄膜
熱伝達ゲージを提供することKある。
(発明の要点) すなわち、本発明多層薄膜熱伝達ゲージは、熱抵抗薄膜
の両面に抵抗温度計素子金属薄膜をそれぞれ被着して構
成し、流入する熱流束により前記熱抵抗薄膜に生ずる温
度勾配を前記素子金塊薄膜を介し測定して前記熱流束を
算出するようにしたことを特徴表するものである。
(実施例) 以下に図面を参照して実施例につき本発明の詳細な説明
する。
まず、本発明多層薄膜熱伝達ゲージの基本構成を第1図
に示す。図示の基本構成においては、熱良導体からなる
基板1上に所要の電気的絶縁性を得るに適した厚さの電
気絶縁層2を被着し、上下両面に金属薄膜抵抗温度計を
構成する金蔵薄膜抵抗素子4および5をそれぞれ被着し
た薄い熱抵抗膜8を被着して熱流束センサ6を構成して
いる。
図示の基本構成による本発明多層薄膜熱伝達ゲージの動
作原理としては、熱抵抗薄膜8および抵抗温度計素子金
満薄膜4.5からなる熱流束センサ6を極めて簿くて熱
流を阻督しない電気絶縁層2および熱良導体基板1を介
して被測定物体の表面に設置し、被測定物体から熱良導
体基板lおよび電気絶縁薄層2を順次に介して熱抵抗薄
膜8を通過する熱流束によって発生する熱抵抗膜B内の
温度勾配を上下両面の素子金PA4膜4.5がなす抵抗
温度計を用いて測定することにより、直接的に熱流束を
めるものである。
本発明によるこの熱流束センサ6は、上述のような簡単
な動作原理により熱抵抗膜8の上下両面間に生じる温度
差に基づいて熱抵抗膜8を通過する熱流束を測定するも
のであり、また、多層構造ではあってもそれぞれが極め
て薄い膜体を積層したものであるから、測定すべき場の
流れを乱すことなく熱流束を測定することができる。
また、上述した構成の本発明による熱流束センサ6は、
後述する製作例に見られるような微小構造体であって、
高い空間分解能と高速応答性とを有しており、また、後
述するように測定データの較正も容易である。すなわち
、本発明の熱流束センサは、簿い熱抵抗膜8とその上下
両面に被着した抵抗温度計素子金属薄膜4,5とのみか
らなっており、いずれも薄膜製作技術によって容易に製
作し得るものである。したがって、種々の使用目的に応
じ、種々の材料、形状および寸法のものを適切に選択し
て製作することができる。
本発明によるかかる構成の熱流束センサにおける熱流束
測定の動作原理を、第1図および第2図を参照して以下
に詳述する。
熱抵抗膜8の熱伝導車および厚さをそれぞれKおよびL
とし、上下両面の温度をT、 、 T、とし、抵抗温度
計の抵抗温度係数をal r &2とすると、定常表面
熱流束qWはつぎの(1)式によって与えられる。
しかして、上下両面の温度差ΔTは、上下2枚の素子金
属薄膜4および5における両端リードL、 、 L、間
の金属薄膜抵抗rx t rgを測定することKよって
間接的にまる。
素子金属薄膜4および5における金属薄膜抵抗r0およ
びr、の変化を第2図に示す構成のブリッジ回路により
測定し、そのブリッジ回路の平衡をとった時点からの素
子金属薄膜4.5の温度の変化をそれぞれT、 、 T
、とすると、であり、ブリッジ回路の出力はつぎの(8
)式によって表わされ、したがって、そのつぎの(4)
式によつ′て表わされる。
ここに、m=R8/r6であり、(8)式における高次
の項を省略し、温度差ΔTについて(8)式を解けば、
つぎの(+、)式となる。
一般に、金属壁の温度、しだがって、熱抵抗膜上下両面
の温度T、 、 T、の平均値は、それらの温度の差の
変化よりは緩慢ではあるが、かなり大幅に変化し、また
、抵抗温度係数al s eLBは一般に互いに一致し
ないので、(5)式の第2項に示した補正が必要となる
。ここで、前述した(8)式および(4) 一式におけ
る高次の項を省略したうえで上式(61に代入して整理
すると、最終的に熱流束qvrはつぎの(6)式となる
ここに、 したがって、熱流束をめるに当っては、予め熱流束セン
サの較正係数γとδとをめておき、ブリッジ回路の出力
e1−QB + 92 8gから(6)式に従って熱流
束qWを算出することになる。
しかして、第1図示の基本構成によリーヒ述のように動
作する本発明多層薄膜熱伝達ゲージの具体的構成例とし
ては、 lal 熱抵抗膜に一酸化珪素を用い、抵抗温度計素子
金属薄膜にニッケルを用いて真空蒸着法により形成した
センサ、 (b) 熱抵抗膜に一酸化珪素を用い、抵抗温度計素子
金属薄膜にニッケルを用いてスパッタリングにより形成
したセンサ、 (cl 熱抵抗膜圧ポリエステル・フィルムを用い、ニ
ッケルを用いて真空蒸着法により抵抗温度計素子金属薄
膜を形成したセンサ、 がある。これらの具体的構成例の構成および製作方法に
ついて以下に述べる。
fal 熱抵抗膜8に一酸化珪素を用い、抵抗温度計素
子金属薄膜4,5にニッケルを用いて真空蒸着法により
形成した熱流束センサの分解斜視図を第8図に示す。図
示の構成において、熱良導体基板lの直径は12龍であ
り、素子金属薄膜は、幅0.2關、長さ8闘である。電
気絶縁層2も一酸化珪素よりなっている。なお、上面側
の素子金属薄族5の上面には、塵埃による破損を防止す
るために、−酸化珪素よりなる保護膜を薄く被着しであ
る。また、熱抵抗膜8の厚さは10μm前後である。こ
の熱流束センサは、第4図に示すように、6001(z
まで平坦な周波数応答特性を呈し、また、第14図およ
び第15図につき後述するような測定性能を有している
(bl 熱抵抗膜8に一酸化珪素を用い、抵抗温度計素
子金属薄膜4,5にニッケルを用いてスパッタリングに
より形成した熱流束センサは、素子金属薄族の幅を0.
8龍とし、熱抵抗膜8の厚さを4μm前後とする他は、
第8図につき上述した構成例と同一形状、同一寸法であ
る。スパッタリングにより形成した熱抵抗膜8は薄くし
得るので、第5図に示すように、第4図につき上述した
構成例に比してその周波数応答特性が数倍程度向上して
いる。
(C) 熱抵抗膜8にポリエステル・フィルムを用い、
ニッケルを用いて真空蒸着法により抵抗温度計素子金属
薄膜4.5を形成した熱流束センサの分解であり、その
他は上述した各構成例とほぼ同一である。この構成例に
おいては、熱抵抗膜8として合成樹脂材フィルムを用い
ているので、任麓所望の曲面に容易に装着し得るという
利点を有している。
ここに、第8図並びに第6図にそれぞれ分解斜視図を示
した構成例の上面図および側面図を第7図(a)および
fbl並びに第8図(alおよびfb)にそれぞれ示す
なお、上述した各構成例においては、熱抵抗膜の材質と
して一酸化珪素もしくは二酸化珪素あるいはポリエステ
ルを用いたが、セラミックその他の材料のフィルムを用
いることもでき、また、使用目的に応じて任意の形状寸
法となし得ること勿論である。一方、抵抗温度計素子金
属薄膜4,5の材質としては、主に経済的な理由からニ
ッケルを用いたが、例えば白金等を用いて測定温度範囲
を拡大することも可能であり、同じく使用目的に応じて
任意の形状寸法になし得る。
以上に詳述したような構成による本発明多層薄膜熱伝達
ゲージの作用について説明すると、本発明による熱流束
センサは、薄い熱抵抗膜8とその上下両面に被着した抵
抗温度計素子金属薄膜4゜5とからなっているので、上
述したように極めて小型に構成することができ、高い空
間分解能をもって熱流束を測定することができ、また、
熱流束の速い変化に対しても十分に追随し得る高速応答
性も備えている。また、熱流束測定の動作原理が、熱抵
抗膜内の定常温度勾配を利用したものであるために、従
来の薄膜熱伝達ゲージとは異なり、定常応答性も備えて
いる。
かかる本発明多層薄膜熱伝達ゲージの使用方法としては
、まず、第9図falに示すように、被測定物体10と
同一材質からなって一体に構成され、基板1の作用をな
すプローブ9の上面に前述したセンサ部6を構成するこ
とにより被測定物体10に装着し、あるいは、同図(b
lに示すように、上述と同様に構成したプローブ9の上
面に、広い熱抵抗膜8の両面全面に亘り均一に分布させ
た複数対の素子金属薄族4.5からなる高感度のセンサ
部6を構成することにより被測定物体10に装着する方
法がある。また、第9図(clに示すように、薄い熱抵
抗膜Bの両面全面に亘り均一に分布させて被着した複数
対の素子金属薄膜4,5からなる可撓性のセンサ部6を
被測定物体10の表面がなす曲面に密接させて装着する
方法もある。
上述のようにして被測定物体10に装着した本発明熱伝
達ゲージによる熱流束の測定にあたっては、第10図に
示すように、素子金属薄膜4,5の温度による抵抗値の
変化をブリッジ回路のアームに取入れてそのブリッジ回
路の(8)式および(4)式による出力から、(6)式
に従って熱流束を算出する。
なお、(8)式および(4)式によるブリッジ回路の出
力61 G2 、es −’8oを図示のように、利得
G1 + G2をそれぞれ有する直流増幅器A□、A2
によりそれぞれ増幅してGl ’ (e□−6g) z
 G2 ’ (fllg so)としたうえでディジタ
ル収録し、(6)式に従って各定数を設定した加減算回
路に導いて熱流束値を4出するようにすることもできる
。なお、かかる態様の測定および算出忙先立ってめてお
くべき較正係数については、種々のめ方−があるが、そ
の−例をつぎに述べる。
本発明熱伝達ゲージの較正に当っては、(7)式による
係数rとδとを互いに分離して別個にめるととができる
。す々わち、まず、係数δについては、一定の熱流束を
本発明ゲージに与え、(6)式における差電圧比ε□、
およびε2oの非定常の食孔からそれぞれの最終値6□
、十δ・ε2oが一定になるという条件に基づいてめる
ことができる。また、係数γについては、上述の差電圧
比ε□、およびε2oがそれぞれ一定値に落着いた後に
、上述のようにして先にめた係数δを用いて得られるC
 +δ・ε、。の値から(6)弐に従ってめることが8 できる。
上述のよう圧して係数δをめる較正装置の構成例を第1
1図に示す。図示の較正装置においては、上下摺動可能
に懸吊したハロゲンランプ7を十分に加熱した後にシャ
ッタ8を開けて被測定物体lOに装着した熱流束センサ
6を照射して熱流束を与え、非定常の出力ε、2とε、
0から上述のようにして係数δの値をめる。なお、被測
定物体lO内には冷却水を流して、ハロゲンランプ7の
照射により熱流束センサ6に非定常の出力が生ずるよう
に一定温度に保持する。
上述のようにして得た非定常の出力ε03.カ。
および上述のようにしてめた係数6により較正した補正
後の出力の例を第12図(a) 、 (b)および(c
)にそれぞれ示す。図示の較正例によれば、較正による
補正後のセンサ出力ε□、十δ・ε2゜が一定値を示す
ことが判る。
一方、前述のようにして係数rをめる較正肺Wとしては
、一定の熱風を熱流束センサ6に与え、非定常の出力ε
□、およびε、。がそれぞれ一定値に落着いたときの値
と、上述のようにして得た係数゛δの値とから、係数γ
の値をめるようにする。なお、そのときに得られる熱流
束の値は、熱流束セ/すの近傍の被測定物体金属壁に埋
込んだ熱電対の出力からめて較正を行なう。かかる係数
γ較正時における熱ωL束センサの出力ε0.十δ・ε
、。および較正後の熱流束を示す熱電対の出力の変化の
態様の例を第18図falおよび(blにそれぞれ示す
ここで、上述のようにして使用する本発明による熱流束
センサの周波数応答特性および感度について検討すると
、無次元角周波数ωの正弦波的熱入力を仮定したときに
おける熱流束センナの周波数応答特性は#1!は第4図
に示したとおりとなる。
ここで、無次元角周波数ωは、熱入力正弦波周波Wtf
、熱抵抗膜の厚さLおよび温度伝導度αに対して ω=2πf −”/ α となる。したがって、周波数応答特性曲線の平坦部上限
周波数に対して応答が1々となる遮断周波数f0と熱抵
抗膜厚りとの間には密接な関係かあり、りぎの(8)式
のようになる。
L=i人石丁 (8) ここに、ω。は無次元遮断角周波数であり、ω。=2.
6となる。
また、熱流束センサの最大感度は、 (1)センサの周波数応答特性 (2)センサの表面温度上昇限度 (8)抵抗温度計素子金属薄膜のジュール発熱による温
度上昇限度 からめることができ、つぎの(9)式によって表わされ
る。
ここに、ΔTma xはセンサの表面温度上昇限度であ
り、Lエエは熱抵抗膜厚の上限であり、Aは素子金属薄
膜の面積である。
一方、本発明による熱流束センサの測定精度について検
討すると、センナ出力は、(6)式に示したように、熱
抵抗膜上下両面の素子金属薄膜4.5の抵抗差による差
動成分ε0.とセンサ自体の温度上昇による同相成分δ
・ε、0との和となる。しかるに、一般に熱流束測定時
にはセンサ自体の温度が上昇するために、最終的に必要
とする測定量qW/ に対する同相成分δ・ε、。の次
式(10)によっγ て表わされる比■ が十分に大きいと、差動、同相両成分ε、2.ε2゜忙
おける測定誤差が測定量qW/r K対して桁落ち誤差
となる。
しかして、上述の比Eは、(1o)式を変形して、とな
る。したがって、本発明による熱流束センサの測定精度
をよくするには、熱抵抗膜上下両面の抵抗温度計素子金
属薄膜の抵抗温度係数al e apBを互いに近似さ
せるとともに、熱抵抗膜間温度差T□−T2をできる限
り大きく設定するのが好適である。
つぎに、かかる本発明多層薄膜熱伝達ゲージを乱流境界
層熱伝達の測定に適用した場合の使用例について説明す
ると、超音速風洞内に、測定断面150 u X l 
50 mviの平板模型を、第11図に示したような冷
却装置を施して設置して測定を行なった。その測定条件
としては、マツハ数8.84、全圧1.25 X 10
’ Pa 、全温度114℃、全温度に対する壁温比”
W/T = 0.77、測定点における模型平板の前縁
からの距離を基準としたレイノルズ数2.06 X 1
07とした。その測定の結果を第14図に示す。図には
本発明による熱流束センサの出力からめた熱流束と、チ
ェックのためにセンサの横lθ順の位置にて模型平板の
上下面に装着した熱電対からめた値とを示しである。両
者の比較により、本発明による熱流束センサは、錠常−
状態においては熱電対と同じ出力を示しながら、風洞の
起動、停止時の過渡状態においては熱電対に比して格段
に速い応答性を鋭敏に示すものであることが明らかであ
る。
また、本発明による熱流束センサを用いて、超音速風洞
内に設置した平板模型上の乱流境界層に楔角10.0°
の斜め衝撃波を入射させて得たいわゆる衝撃波−乱流境
界層干渉の全域に亘る熱伝達係数の測定を行なった結果
を第15図に示す。この測定の条件としては、マツハ数
4.05、全圧1.22MPa 、全温度498°に、
全温度に対する壁温比とした。図示の特性曲線により、
本発明による熱流束センサを用いれば、干渉域におりて
熱伝達係数が空間的に微細なスケールにて大幅に変化し
ている状態を良好に観察し得ることが判る。
以上の測定に用いた本発明による熱流束センサは、今の
ところ、空間分解能が0.2mmであり、周波数応答性
は600 Hzであるが、前述した気流持続時間の長い
風洞に用すられる従来の熱流束センナによっては実現不
可能な値であり、これらの性能は今後さらに向上させ得
ることが十分に見込まれる。
(効 果) 以上の説明から明らかなように、本発明多ノー薄膜熱伝
達ゲージは、薄い熱抵抗膜とその上下両面に被着した抵
抗温度計素子金属薄膜とよりなる多層薄膜構成となって
込るので、高い空間分解能をもって熱流束を測定するこ
とができ、また、熱流束の速い変化に対しても十分に追
随し得る高速応答性を有している。さらに、測定原理と
して熱抵抗膜内の定常温度勾配を利用しているので、従
来の薄膜熱伝達ゲージとは格段に相違し、優れた定常応
答性をも備えている。
したがって、本発明の第1の効果としては、気流持続時
間の長い風洞においても、高い空間分解能をもって熱流
束の測定が可能となり、しかも、熱流束の過渡的な速い
変化にも十分に追随して測定を行なうことができる。
また、本発明の第2の効果としては、熱伝達ゲージの較
正が極めて容易であり”、従来の薄膜熱伝達ゲージがそ
の較正に複雑な構成の回路装置を必要としたのに対し、
本発明による熱伝達ゲージは、測定に最小限必要とする
回路装置のみを用いて容易に較正を行なうことができる
さらに、本発明の第8の効果としては、熱伝達の取扱い
が極めて容易で簡便であり、本発明による熱流束センサ
は構造が極めて簡素であって、被測定体の必要な局所に
容易に装着することができる。また、熱流束入力に対す
る測定出力は素子金属薄膜からの出力電圧を供給したブ
リッジ回路から直接にめることができ、従来の薄膜熱伝
達ゲージがその測定値から熱流束をめるに当って複数な
等価回路装置や煩雑な数値計算を必要としたのとは格段
に相違し、極めて簡便に熱流束をめることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明多層薄膜熱伝達ゲージの基本構成を模式
的に示す側断面図、 第2図は同じくその測定値導出に用いるブリッジ回路の
構成例を示す回路図、 第8図は同じくその真空蒸着法により形成する構成例を
示す分解斜視図、 第4図は同じくその周波数応答特性の例を示す特性曲線
図、 第5図は同じくその周波数応答特性を従来特性と対比し
て示す特性曲線図、 第6図は同じくその熱抵抗膜に合成樹脂フィルムを用い
た構成例を示す分解斜視図、 第7図(a)および(b)は同じくその真空蒸着法もし
くはスパッタリング法により形成する構成例をそれぞれ
示す上面図および側面図、 第8図(a)および(blは同じくその熱抵抗膜に合成
樹脂フィルムを用いた構成例をそれぞれ示す上面図およ
び側面図、 第9図(a) 、 (b)および(c)は同じくその被
測定物体に対する装着の態様の例をそれぞれ示す断面図
、第10図は同じくその測定値導出に用いる測定回路の
構成例を示す回路図、 第11図は同じくその較正装置の構成例を示す側断面図
、 第12図(a)# (b)および(c)は同じくその測
定結果の較正の態様の例を順次に示す信号波形図、第1
8図(alおよび(b)は同じくその測定値較正結果お
よび従来の測定結果を対比してそれぞれ示す信号波形図
、 第14図は同じくその測定結果の例を従来の測定結果と
対比して示す特性曲線図、 第15図は同じくその測定結果の他の例を示す特性曲線
図である。 1・・・熱良導体基板 2・・・電気絶縁層8・・・熱
抵抗薄膜 4.5・・・抵抗温度計素子金属薄膜 6・・・熱流束センサ 7・・・ハロゲンランプ8・・
・シャッタ 9・・・プローブ 10・・・被測定物体 r□srl・・・素子金属薄膜抵抗 La、Lb・・・リード部 A□、A、・・・直流増幅
器。 特許出願人 九 州 大 学 長 第3図 第4図 第5図 ヂ(Hz) 第6図 7/1 第7図 第8図 第9図 第1O図 第11図 第12図 2sec 第13図 −10鍋 第14図 僧を菅唱財点In勾1ψ早版1遥龜カ゛9の距自−0彎
匍)手続補正書 1、事件の表示 昭和59年 特 許 願第57426号2、発明の名称 多層薄膜熱伝達ゲージ 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 光用大学長 7、補正の内容 (別紙の通り) ・1.明細書第6頁第7行、第16行および第17行の
「基板1」を「母材1」にそれぞれ訂正する。 2、同第8頁第9行乃至lB10行の(1)式をつぎの
とおりに訂正する。 8、同第11頁第2行の「−酸化珪素」を「二酸化珪素
」に訂正し、 同頁第18行乃至第14行の「基板1」を「母材1」に
訂正する。 4、同第12頁第4行の「−酸化珪素」を「二酸化珪素
」に訂正する。 5、同第15頁第14行乃至第16行の「したうえでデ
ィジタル収録−一一一一することもできる。」をつぎの
とおりに訂正する。 「したうえで、ディジタル収録し、(6)式により計算
を行なって熱流束をめる必、(6)式に従って定数を設
定したアナログ加減算回路に導いて熱流束を得るように
する。」 6、同第16頁第20行乃至第17頁第1行の[熱流束
センサ6に−−−−−−ffl温度に保持する。」を「
熱流束センサ6の温度が上がり過ぎないようにする。」
に訂正する。 7、同第17夏、J1’4行の「熱電対」の前に「2本
の」を加入する。 8、同第24頁第14行乃至第15行をっぎのとおりに
訂正する。 「第5図は同じく真空蒸着法(ゲージ1)およびスパッ
タリング法(ゲージ2)にて製作したセンサの周波数応
答特性を示す特性曲線図、」9、同第25頁第18行お
よび第15行の「測定結果」の前に「熱電対による」を
それぞれ加入し、同頁第19行の「熱良導体基板」を「
熱良導体母材」に訂正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 熱抵抗薄膜の両面に抵抗温度計素子金属薄膜をそれ
    ぞれ被着して構成し、流入する熱流束により前記熱抵抗
    薄膜に生ずる温度勾配を前記素子金属薄膜を介しi11
    定して前記熱流束を算出するようにしたことを特徴とす
    る多層薄膜熱伝達ゲージ。 λ 特許請求の範囲第1項記載のゲージにおいて、両面
    に前記素子金属薄膜をそれぞれ被着した前記熱抵抗薄膜
    を、電気絶縁層を介し、熱良導体基板に被着して構成し
    、前記基板を介して前記熱抵抗薄膜に流入する熱流束を
    算出するようにしたことを特徴とする多層薄膜熱伝達ゲ
    ージ。
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