JPS60201792A - 立体視方法 - Google Patents

立体視方法

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JPS60201792A
JPS60201792A JP59058687A JP5868784A JPS60201792A JP S60201792 A JPS60201792 A JP S60201792A JP 59058687 A JP59058687 A JP 59058687A JP 5868784 A JP5868784 A JP 5868784A JP S60201792 A JPS60201792 A JP S60201792A
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JP
Japan
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point images
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JP59058687A
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Kazuhiko Saka
坂 和彦
Toshimichi Masaki
俊道 政木
Atsushi Kuno
敦司 久野
Maki Yamashita
山下 牧
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Omron Corp
Original Assignee
Tateisi Electronics Co
Omron Tateisi Electronics Co
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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  • Image Processing (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の技術分野〉 本発明は、複数台の撮像手段を用いて三次元物体を立体
認識する立体視方法に関する。
〈発明の背景〉 近年、3台のテレビカメラをもって物体を3方向から観
測することにより、物体の角部分の如き物体を特徴づけ
る点(以下、この物点を「特徴点」という)を抽出して
、その三次元座標をめ、物体を立体認識する方式が提案
された(日経メカニカル1984年1月2日号)。この
方式は、テレビカメラの画面上にエピポーラライン(e
pipolar 1ine )をめ、このライン上に位
置する特徴点の像(以下、「物点像」という)を検出し
て、各画面上の物点像の対応付けを行ない、然る後特徴
点の三次元座標を算出するものである。ところがこの種
方式の場合、前記物点像の対応付は処理過程において、
画像上のノイズ等の影響により、物点像の誤った対応付
けを行なう虚れがあり、これにより特徴点の三次元座標
が大幅に狂う等の問題があった。
〈発明の目的〉 本発明は、物点像の誤った対応付けを検知することによ
り、特徴点の三次元座標が大幅に狂うのを防止する新規
立体視方法を提供することを目的とする。
〈発明の構成および効果〉 上記目的を達成するため、本発明では、少なくとも3台
の撮像手段により物体の画像をめて、各画像上の物点像
をエピポーララインを利用した方法等により対応付けを
行った後、対応する2個の物点像より同じ特徴点の三次
元座標を少なくとも3種以上求め、これ゛ら三次元座標
の統計処理により対応付けた各物点像の真偽判定並びに
物点の三次元座標の算出を実行することとした。
本発明によれば、画像上のノイズ等の影響により物点像
の誤った対応付けが行なわれても、これを容易に検知し
て排除でき、適市な対応付けにかかる物点像にのみ基づ
き、而も統計処理を経て、物点の三次元座標を算出でき
、立体認識の信頼性を向上する等、発明目的を達成した
顕著な効果を奏する。
〈実施例の説明〉 第1図は固定機台4上に3個のテレビカメラ1.2.3
(以下、第1カメラ1、第2カメラ2、第3カメラ3と
いう)を配設して成る立体視装置5を示し、各テレビカ
メラで得た物体の画像を画像認識装置6に取り込んで、
物点像の抽出、対応付け、更には特徴点の三次元座標算
出等、一連の立体認識処理を実行する。
第2図は各画像間における物点像の対応付は方法を示す
原理図であり、各テレビカメラ1〜3の画像10.20
.30(以下、第1画像10、第2画像20、第3画像
30という)上に特徴点Pについての物点像P、 、 
P2. P3が表われている。また第2画像20上には
、第1カメラ1の焦点F1と物点像P□とを結ぶ直線F
、 P、の像(この直線像をエピポーララインという)
12が設定され、同様に第3画像30上には、直線F1
P□および直線F2P2の各エピポーラライン139m
8が設定しである。
第3図(1) (2)(3)は上記各画像10.20.
30を示す。同図によれば、第2画像20における物点
像P2はエピポーラライン12上に位置し、第3画像3
0における物点像P3はエピポーラライン18. I3
の交点上に位置する。このことから物点像P、 、 P
2. P、は特徴点Pの画像として相互に対応する点で
あることが理解され、従って特徴点Pの三次元座標は直
線F、P、 、 F2P2. F3P3の交点としてめ
ることができる。尚第3図(2) (3)には、第2図
の直線F、Pの延長線上に位置する他の特徴点Rの物点
像R2,R3を併せて示しており、この場合物点像R3
はエピポーラライン13m3の交点−Lに位置しない。
第4図は本発明にかかる立体視方法の全昧遇承漁力全体
的流れを示している。まず第1〜第3のテレビカメラ1
.2.3により、物体の画像がめられ、つぎに各物体画
像毎に特徴点の物点像が抽出される。しかる後、各物点
像につき、エピポーララインを利用した方法(以下詳述
)にて各画像間の対応付けが行なわれる。
金弟1画像10上の物点像P1に着目したとすると、ま
ずこの物点像P1が第2画像20および第3画像30上
に生成するエピポーラライン12゜l、をめ、つぎに各
画像20.30において、夫々エピポーラライン1!2
.I!3上に位置する物点像の集合を抽出する。ついで
エピポーラライン12上の各物点像につき、第3画像3
0上に生成するエピポーラライン(物点(RP2にかか
るエピポーララインm3もそのひとつである)をめ、つ
ぎに第3画像30において各エピポーラライン上に位置
する物点像の集合をめる。そして前記エピポーラライン
12上の物点像の集合と各エピポーラライン上の物点像
の集合とを照合し、両方のエピポーラライン(この場合
s 13とI3)上に位置する物点像P3をめ、この第
3画像30の物点像P3と、第2画像20の物点像P2
と、第1画像10の物点像P1とを対応点として抽出す
る。
今冬画像10.20.30にIJ直交座標糸を設定し、
各画像における各物点像P、 、 P2. P3の座標
を夫々(I□、’ Jl) (I2. J2) (13
1J3)とすると、特徴点Pの三次元座標はこのうち2
個の座標を用いてめることができ、従って特徴点Pの三
次元座標として3個の座標データlr121’23 ’
 1r13を得る。第4図中、両眼立体視系A□2は物
点WJ R、P2の各座標から座標データ1r12を、
また両眼立体視系A23は物点線P2. P3の各座標
から座標データ櫨゛23を、更に両眼立体視系A工。は
物点像P、 、 P3の各座標から座標データ’11を
夫々算出するものである。
つきにこれら3種の座標データIr1□、 1r23.
 +r□8を用いて統計処理を実行し、前記物点像の対
応付けが適市か否かの真偽判定並びに、特徴点Pの三次
元座標の算出を行なう。
まず真偽判定は、つぎの0式または0式が成立するか否
かを判定するもので、これら条件式の成立をもって、物
点像R+ P2’+ r’3は適正な対応点であると判
断する。
ltr、2− Ir231+l Ir23− 、r13
1+ lE、3− +r1□l (TH2−−−−−−
−−■但しTH,、TH2はしきい値である。
かくて真偽判定で「真」の判断を得たとき、つぎの0式
の演算を実行して、特徴点Pの三次元座標Rをめる。
1R−(+rt□+ Ir23 + +ru ) / 
3 −−−−−一一−−−−−−−−■尚前記■式中の
11r12 ’23 l、l’23−Ir131’ 1
Ir13−TH21をめ、例えば1r23+r工、lが
最小の値をとるとき、つぎの0式をもって三次元座標R
をめる等の方法を用いても可い。
IR= (+r、+ +r、3)/2−−−−−−−−
−−−−−−−− ■
【図面の簡単な説明】
第1図は立体視装置の構成例を示す正面図、第2図は物
点像の対応付は方法の原理を示す説明図、第3図は各テ
レビカメラの画像を示す説明図、第4図は本発明の立体
視方法の全体的流れを示す説明図である。 特許出願人 立石電機株式会社 梼/ 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも3台の撮像手段により物体の画像をめ
    て、各画像上の物点像を対応付けした後、対応する2個
    の物点像より同じ物点の三次元座標を少なくとも3種以
    上求め、これら三次元座標の統計処理により対応付けた
    各物点像の真偽判定並びに物点の三次元座標の算出を実
    行rることを特徴とする立体視方法。
  2. (2)前記物点像の対応付けは、各画像上にめたエピポ
    ーララインを利−用して実施する特許請求の範囲第1項
    記載の立体視方法。
JP59058687A 1984-03-26 1984-03-26 立体視方法 Expired - Lifetime JPH0625649B2 (ja)

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JPH0625649B2 JPH0625649B2 (ja) 1994-04-06

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5347363A (en) * 1991-07-25 1994-09-13 Kabushiki Kaisha Toshiba External lead shape measurement apparatus for measuring lead shape of semiconductor package by using stereoscopic vision
JP2008096162A (ja) * 2006-10-06 2008-04-24 Iwate Univ 3次元距離計測センサおよび3次元距離計測方法
WO2020075213A1 (ja) * 2018-10-09 2020-04-16 オリンパス株式会社 計測装置、計測方法および顕微鏡システム

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PROCEEDINGS OF THE IEEE=1983 *

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JPWO2020075213A1 (ja) * 2018-10-09 2021-09-02 オリンパス株式会社 計測装置、計測方法および顕微鏡システム

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