JPS60202501A - 磁気カ−ドのデ−タ記録状態測定方法 - Google Patents
磁気カ−ドのデ−タ記録状態測定方法Info
- Publication number
- JPS60202501A JPS60202501A JP5924684A JP5924684A JPS60202501A JP S60202501 A JPS60202501 A JP S60202501A JP 5924684 A JP5924684 A JP 5924684A JP 5924684 A JP5924684 A JP 5924684A JP S60202501 A JPS60202501 A JP S60202501A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- circuit
- signal
- magnetic
- magnetic card
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/02—Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B5/09—Digital recording
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気カードにおける磁気ストライプ上に記録さ
れているデータの記録状態を測定する測定方法に関し、
特に磁気ストライプ上に記録されて℃−121論理10
”、11”ルt1ずり、六蔦−古の論帰信I変換してか
ら各論理値のビット長を測定する磁気カードのデータ記
録状態測定方法に関するものである。
れているデータの記録状態を測定する測定方法に関し、
特に磁気ストライプ上に記録されて℃−121論理10
”、11”ルt1ずり、六蔦−古の論帰信I変換してか
ら各論理値のビット長を測定する磁気カードのデータ記
録状態測定方法に関するものである。
昨今、磁気カードを使用したシステムが急速に一般化し
ている。この磁気カードには、必要な情報が磁気ストラ
イプ上にデジタル信号で記録されている。その記録方式
は多くはJIS−B9561規格に基づいており、その
規格によればデジタル信号の記録間隔について、8.2
68 [b t t/wl±4C%1規定されている。
ている。この磁気カードには、必要な情報が磁気ストラ
イプ上にデジタル信号で記録されている。その記録方式
は多くはJIS−B9561規格に基づいており、その
規格によればデジタル信号の記録間隔について、8.2
68 [b t t/wl±4C%1規定されている。
しかして、かかる規格に基づいて磁気カニドには、必要
な情報が記録されているが、従来よりその記録が正常に
なされているか否かを測定する方法がなかった。
な情報が記録されているが、従来よりその記録が正常に
なされているか否かを測定する方法がなかった。
本発明は上述した点に鑑みてなされたもので、磁気カー
ドの磁気ストライプ上に論理@1”、@o”で記録され
たデジタルデータな読み出し、そのデータの論理値をい
ずれか一方の論理値に変換し、その変換された論理値の
ビット長を測定してその一定結果を出力するものであり
、デジタルデータの記録状態が正確に測定できる磁気カ
ードのデータ記録状態の測定方法を提供するものである
。
ドの磁気ストライプ上に論理@1”、@o”で記録され
たデジタルデータな読み出し、そのデータの論理値をい
ずれか一方の論理値に変換し、その変換された論理値の
ビット長を測定してその一定結果を出力するものであり
、デジタルデータの記録状態が正確に測定できる磁気カ
ードのデータ記録状態の測定方法を提供するものである
。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図CI)及び(II)は本発明に係る磁気カードの
データ記録状態測定方法で測定する対象である磁気カー
ドの平面図及び磁気ストライプの説明図である。
データ記録状態測定方法で測定する対象である磁気カー
ドの平面図及び磁気ストライプの説明図である。
第1図(I)において、符号1は磁気カードであり、磁
気カード1には磁気ストライプ2が設けられており、そ
のほかに、例えばクレジット会社名3、個人に割り当て
られた記号4、個人名5、有効期限6などが記録されて
いる。
気カード1には磁気ストライプ2が設けられており、そ
のほかに、例えばクレジット会社名3、個人に割り当て
られた記号4、個人名5、有効期限6などが記録されて
いる。
該磁気ストライプ2には、!1図(I[)に示すように
、必要な情報が論理″0”、111のデジタルデータで
記録されている。ここで、矢符方向は磁気の極性を示し
ている。また、その記録方式は、前述したように、多く
がJIS−B9561規格に基づいて記録されている。
、必要な情報が論理″0”、111のデジタルデータで
記録されている。ここで、矢符方向は磁気の極性を示し
ている。また、その記録方式は、前述したように、多く
がJIS−B9561規格に基づいて記録されている。
しかして、上記規格によれば、それぞれのデータ間隔は
約0.12[雪〕であり、この値に対して±5〔μm3
以内の誤差が認められている。
約0.12[雪〕であり、この値に対して±5〔μm3
以内の誤差が認められている。
このような磁気ストライプ2のデータ間隔を測定する測
定方法について以下に説明することとする。
定方法について以下に説明することとする。
第2図は本発明に係る磁気カードのデータ記録状態測定
方法の実施例が実現できる測定装置を示す全体構成図で
ある。
方法の実施例が実現できる測定装置を示す全体構成図で
ある。
第2図において、符号7は磁気カード読取計数装置であ
り、磁気力〜ド読取計数装置7は、磁気カード1の磁気
ストライプ2に記録された磁気データを読取り、これら
読取ったデジタルデータの論理11”、“0”のうちの
論理′″1”を論理“0”に変換し、全データを論理“
0”として、そのデータ間隔を計数できるように構成さ
れている。
り、磁気力〜ド読取計数装置7は、磁気カード1の磁気
ストライプ2に記録された磁気データを読取り、これら
読取ったデジタルデータの論理11”、“0”のうちの
論理′″1”を論理“0”に変換し、全データを論理“
0”として、そのデータ間隔を計数できるように構成さ
れている。
この磁気カード読取計数装置7は、コネクタ8゜ケーブ
ル9及びコネクタ10を介して処理装置11に接続され
ている。
ル9及びコネクタ10を介して処理装置11に接続され
ている。
処理装置11は、磁気カード読取計数装fIt7からの
計数データをメモリ12に取り込み、全計数データをメ
モリ12に取り込み完了後、メモリ12から読出したデ
ータをマイクロコンピュータ13で処理して出力できる
ようになっている。処理装置11は、コネクタ14.ケ
ーブル15を介して陰極線管(cRT)ディスプレイ1
6、及びキーボード17に接続されている。CRTディ
スプレイ16は処理装[11の演算結果を表示し、キー
ボード17は必要なデータを処理装置11に与えるもの
である。
計数データをメモリ12に取り込み、全計数データをメ
モリ12に取り込み完了後、メモリ12から読出したデ
ータをマイクロコンピュータ13で処理して出力できる
ようになっている。処理装置11は、コネクタ14.ケ
ーブル15を介して陰極線管(cRT)ディスプレイ1
6、及びキーボード17に接続されている。CRTディ
スプレイ16は処理装[11の演算結果を表示し、キー
ボード17は必要なデータを処理装置11に与えるもの
である。
第3図は上記測定装置の構成を示すプa゛ツク図である
。
。
磁気カード読取計数装置7は、次のように構成されてい
る。すなわち、磁気カード1の磁気ストライプ2上のデ
ジタルデータな磁気ヘッド18で読取って電気信号に変
換し増幅回路19に供給できるようになっている。増幅
回路19は微分回路20を介して波形整形回路21に接
続されている。
る。すなわち、磁気カード1の磁気ストライプ2上のデ
ジタルデータな磁気ヘッド18で読取って電気信号に変
換し増幅回路19に供給できるようになっている。増幅
回路19は微分回路20を介して波形整形回路21に接
続されている。
波形整形回路21は計数回路22に接続されている。計
数回路22は、波形整形回路21に接続されたゲート回
路23と、このゲート回路23に接続されたカウンタ2
4と、ゲート回路23及びカカウンタ24及び制御回路
25をコネクタ8に接続して構成されている。
数回路22は、波形整形回路21に接続されたゲート回
路23と、このゲート回路23に接続されたカウンタ2
4と、ゲート回路23及びカカウンタ24及び制御回路
25をコネクタ8に接続して構成されている。
処理装置11は、入出力ボート26と、マイクロコンピ
ュータ13と、メモリ12と、外部入出力装置用入出力
ボート27とから構成されている。
ュータ13と、メモリ12と、外部入出力装置用入出力
ボート27とから構成されている。
第4図は計数回路22の詳細構成を示す回路図である。
ゲート回路23の一方の入力端子は波形整形回路21に
接続され、その他方の入力端子はオア回置30に接続さ
れている。ゲート回路23の出力端子は、カウンタ24
に接続された単安定マルチバイブレータ31に接続され
ている。前記マルチバイブレータ31の出力端子は、微
分回路32を介してプログラムカウンタ33のスタート
端子8Tとプログラムカウンタ34のプリセット端子P
Rとに接続されている。プログラムカウンタ33の出力
端子OTは、オア回路35を介してプログラムカウンタ
34のスタート端子STと7リツプフロツプ36の一方
の入力端子とに接続されている。
接続され、その他方の入力端子はオア回置30に接続さ
れている。ゲート回路23の出力端子は、カウンタ24
に接続された単安定マルチバイブレータ31に接続され
ている。前記マルチバイブレータ31の出力端子は、微
分回路32を介してプログラムカウンタ33のスタート
端子8Tとプログラムカウンタ34のプリセット端子P
Rとに接続されている。プログラムカウンタ33の出力
端子OTは、オア回路35を介してプログラムカウンタ
34のスタート端子STと7リツプフロツプ36の一方
の入力端子とに接続されている。
ゴ1−1が97−+hソJQAの出力備竿0甲け−71
1ツブフロップ36の他方の入力端子と、オア回路50
を介してカウンタ24のリセット端子とに接続されてい
る。フリップ70ツブ36の一方の出力端子Qはオア回
路30の一方の入力端子に接続されている。プログラム
カウンタ33のデータ入力端子りは、カウンタ24の出
力端子に接続されている。カウンタ24の出力端子は、
設定器37及び38を介してプログラムカウンタ34及
び39のデータ入力端子りにそれぞれ接続されている。
1ツブフロップ36の他方の入力端子と、オア回路50
を介してカウンタ24のリセット端子とに接続されてい
る。フリップ70ツブ36の一方の出力端子Qはオア回
路30の一方の入力端子に接続されている。プログラム
カウンタ33のデータ入力端子りは、カウンタ24の出
力端子に接続されている。カウンタ24の出力端子は、
設定器37及び38を介してプログラムカウンタ34及
び39のデータ入力端子りにそれぞれ接続されている。
ゲート回路23の出力端子はアンド回路40の一方の入
力端子と遅延回路41の入力端子とにそれぞれ接続され
ており、アンド回路40の出力端子はプログラムカウン
タ33及び39のプリセット入力端子PRにそれぞれ接
続されている。遅延回路41の出力端子は反転回路42
を介してフリップフロップ43のクロック入力端子に接
続されている。フリップフロップ43の一方の出力端子
Qは、フリップフロップ44の一方の入力端子Rに接続
されており、その他方出力端子1はオア回路51の入力
端子に接続されている。フリップフロップ44の一方の
出力端子Qはアンド回路45の他方の入力端子に接続さ
れ、またオア回路51を介してアンド回路40の入力端
子に接続されている。アンド回路45の一方の入力端子
はフリップフロップ36の出力端子互に接続され、アン
ド回路45の出力端子はプログラムカウンタ39のスタ
ート端子ST及びアンド回路46の一方の入力端子にそ
れぞれ接続されている。フリップフロップ44の出力端
子Qはオア回路30の他方の入力端子に接続されている
。プログラムカウンタ39の出力端子はアンド回路46
を介してオア回路35の入力端子と7リツプフロツプ4
9の一方の入力端子に接続されている。フリップ70ツ
ブ49の出力端子頁はアンド回路40の入力端子に接続
されている。
力端子と遅延回路41の入力端子とにそれぞれ接続され
ており、アンド回路40の出力端子はプログラムカウン
タ33及び39のプリセット入力端子PRにそれぞれ接
続されている。遅延回路41の出力端子は反転回路42
を介してフリップフロップ43のクロック入力端子に接
続されている。フリップフロップ43の一方の出力端子
Qは、フリップフロップ44の一方の入力端子Rに接続
されており、その他方出力端子1はオア回路51の入力
端子に接続されている。フリップフロップ44の一方の
出力端子Qはアンド回路45の他方の入力端子に接続さ
れ、またオア回路51を介してアンド回路40の入力端
子に接続されている。アンド回路45の一方の入力端子
はフリップフロップ36の出力端子互に接続され、アン
ド回路45の出力端子はプログラムカウンタ39のスタ
ート端子ST及びアンド回路46の一方の入力端子にそ
れぞれ接続されている。フリップフロップ44の出力端
子Qはオア回路30の他方の入力端子に接続されている
。プログラムカウンタ39の出力端子はアンド回路46
を介してオア回路35の入力端子と7リツプフロツプ4
9の一方の入力端子に接続されている。フリップ70ツ
ブ49の出力端子頁はアンド回路40の入力端子に接続
されている。
イニシャルリセット信号IRはフリップ7四ツブ43.
49のリセット端子、オア回路50の入力端子と、反転
回路47を介してツリツブ7四ツブ44の入力端子Sと
に供給されると共に、反転回路48を介してフリップフ
ロップ36のリセット端子に供給されるようになってい
る。
49のリセット端子、オア回路50の入力端子と、反転
回路47を介してツリツブ7四ツブ44の入力端子Sと
に供給されると共に、反転回路48を介してフリップフ
ロップ36のリセット端子に供給されるようになってい
る。
尚、50は信号転送信号、51はカウント信号、52は
リセット信号、53は異常信号である。54はクロック
信号、55はゲート開放時間設定信号、56は遅延回路
31の遅延時間補償設定信号である。しかして、設定信
号55はデジタルデータの誤差C±5μm)に相当する
時間だけゲート回路23を開放するための信号として用
いられることになる。
リセット信号、53は異常信号である。54はクロック
信号、55はゲート開放時間設定信号、56は遅延回路
31の遅延時間補償設定信号である。しかして、設定信
号55はデジタルデータの誤差C±5μm)に相当する
時間だけゲート回路23を開放するための信号として用
いられることになる。
上述の如く構成された測定装置の動作を第5図のタイム
チャートを参照しながら説明する。
チャートを参照しながら説明する。
まず、装置の電源を投入し、あるいはリセットボタンを
押したときに発生するイニシャルリセット信号IRによ
りフリップフロップ36,43,44゜49、カウンタ
24及びその他の回路を初期化する。
押したときに発生するイニシャルリセット信号IRによ
りフリップフロップ36,43,44゜49、カウンタ
24及びその他の回路を初期化する。
すると、フリップフロップ44は、出力端子Qが“1”
となりゲート回路23を開く。ここで、磁気カード1を
読み込むと、磁気ストライプ2(St)から磁気ヘッド
18を介して電気信号が得られ、これを増幅回路19で
増幅すると信号Saが得られる。この信号Saは微分回
路20に入力されて微分され微分信号sbとして出力さ
れる。微分信号sbは波形整形回路21に入力され、こ
こで波形整形され【信号8c として出力される。
となりゲート回路23を開く。ここで、磁気カード1を
読み込むと、磁気ストライプ2(St)から磁気ヘッド
18を介して電気信号が得られ、これを増幅回路19で
増幅すると信号Saが得られる。この信号Saは微分回
路20に入力されて微分され微分信号sbとして出力さ
れる。微分信号sbは波形整形回路21に入力され、こ
こで波形整形され【信号8c として出力される。
第1回目の信号Scがゲート回路23を通過すると、こ
の信号8eは単安定マルチバイブレータ31を駆動する
と共に、遅延回路419反転回路43を介してフリップ
フロップ43を反転する。
の信号8eは単安定マルチバイブレータ31を駆動する
と共に、遅延回路419反転回路43を介してフリップ
フロップ43を反転する。
しかし、フリップフロップ44は、立下がりパルスで動
作するので、そのままゲート回路23を開き続ける。そ
の間に単安定マルチバイブレータ31は、一定時間Tを
過ぎてカウンタ24を動作させる。カウンタ24は2回
目の信号5c(Se)が入力されるまでカウントを続け
、停止するとカウント値1clが段られる(Sh)。信
号Scは処理装置11に対する読込み指令信号50゜と
もなっているので、この時点で処理装置11は、入出力
ボート26゜マイクロコンピュータ13を介し【メモリ
12に当該カウント値tclを取り込む。尚、カウンタ
24は、処理値ff1illからのり七ット指令により
1回目のカウント値tc1を時間T経過直前にリセット
する。
作するので、そのままゲート回路23を開き続ける。そ
の間に単安定マルチバイブレータ31は、一定時間Tを
過ぎてカウンタ24を動作させる。カウンタ24は2回
目の信号5c(Se)が入力されるまでカウントを続け
、停止するとカウント値1clが段られる(Sh)。信
号Scは処理装置11に対する読込み指令信号50゜と
もなっているので、この時点で処理装置11は、入出力
ボート26゜マイクロコンピュータ13を介し【メモリ
12に当該カウント値tclを取り込む。尚、カウンタ
24は、処理値ff1illからのり七ット指令により
1回目のカウント値tc1を時間T経過直前にリセット
する。
2回目の信号Scがゲート回路23を通過すると、その
信号Seは、単安定マルチバイブレータ31を駆動する
と共に、オア回路51.フリップフロップ49からの信
号で開いているアンド回路40を通過してプログラムカ
ウンタ33.39のデータ入力端子りに供給されている
データ(”(ll*に2tC1)をプリセットさせ、加
えてフリップフロップ43.44を反転させる。ここで
、プログラムカウンタ33に設定されたtclはtcl
として使用され、同カウンタ39に設定されたに2tα
t(=trt)はtclより所定時間短く設定される。
信号Seは、単安定マルチバイブレータ31を駆動する
と共に、オア回路51.フリップフロップ49からの信
号で開いているアンド回路40を通過してプログラムカ
ウンタ33.39のデータ入力端子りに供給されている
データ(”(ll*に2tC1)をプリセットさせ、加
えてフリップフロップ43.44を反転させる。ここで
、プログラムカウンタ33に設定されたtclはtcl
として使用され、同カウンタ39に設定されたに2tα
t(=trt)はtclより所定時間短く設定される。
また、これ以降、フリップフロップ44によってゲート
回路23は開かれることはない。しかして、単安定マル
チバイブレータ31が時間T経過後反転すると、プログ
ラムカウンタ34には設定器37の設定値(tβ1)が
設定され、かつカウンタ24がカウントを始めると共に
、プログラムカウンタ33が微分回路32からの信号で
カウントを始める(Sg)。
回路23は開かれることはない。しかして、単安定マル
チバイブレータ31が時間T経過後反転すると、プログ
ラムカウンタ34には設定器37の設定値(tβ1)が
設定され、かつカウンタ24がカウントを始めると共に
、プログラムカウンタ33が微分回路32からの信号で
カウントを始める(Sg)。
プログラムカウンタ33が時間tα1カウントするとそ
の出力端子OTから信号を出力してカウントを停止する
。この出力信号はオア回路35を介してプログラムカウ
ンタ34を起動してカウントを開始させると共に、フリ
ップフロップ36を反転させる。このフリップフロップ
36の出力によりゲート23が開かれる。そして、プロ
グラムカウンタ34が時間tn1(=Kx tex ’
)だけカウントするとその出力端子OTより信号を出力
してカウントを停止する。すると、フリップフロップ3
6は反転してゲート回路23を閉じる。ゲート回路23
が開放されているときに、3回目の信号Scがあると信
号Seが得られるので、カウンタ24はカウント値fc
2を得ることができる。これを、指令50により処理値
M11が読み込むことになる。
の出力端子OTから信号を出力してカウントを停止する
。この出力信号はオア回路35を介してプログラムカウ
ンタ34を起動してカウントを開始させると共に、フリ
ップフロップ36を反転させる。このフリップフロップ
36の出力によりゲート23が開かれる。そして、プロ
グラムカウンタ34が時間tn1(=Kx tex ’
)だけカウントするとその出力端子OTより信号を出力
してカウントを停止する。すると、フリップフロップ3
6は反転してゲート回路23を閉じる。ゲート回路23
が開放されているときに、3回目の信号Scがあると信
号Seが得られるので、カウンタ24はカウント値fc
2を得ることができる。これを、指令50により処理値
M11が読み込むことになる。
3回目の信号Seにより、プログラムカウンタ33.3
9にはカウント値tc2(=tα2 ) r Kxtc
2(=trz)がプリセットされ、単安定マルチバイブ
レータ31が駆動される。単安定マルチバイブレータ3
1が一定時間Tを経過すると、反転するので、カウンタ
24.プログラムカウンタ33がカウントを開始すると
共に、プログラムカウンタ34にデータに1*cz (
= ”β2)が設定される。プログラムカウンタ33が
時間t(z4に達すると、その出力端子OTから信号が
出力されて、プログラムカウンタ34を起動すると共に
7リツプフロツプ36を反転させる。フリップフロップ
36の出力端子Qが112となってゲート回路23を開
放する。しかし【、プログラムカウンタ34が時間t/
3に達すると、その出力端子OTかう信号が出力されて
、フリップフロップ36を再び反転させ、7リツグフロ
ツプ36の出力端子QをlIO”とする。これによりゲ
ート回路23は閉じることになる(Td)。
9にはカウント値tc2(=tα2 ) r Kxtc
2(=trz)がプリセットされ、単安定マルチバイブ
レータ31が駆動される。単安定マルチバイブレータ3
1が一定時間Tを経過すると、反転するので、カウンタ
24.プログラムカウンタ33がカウントを開始すると
共に、プログラムカウンタ34にデータに1*cz (
= ”β2)が設定される。プログラムカウンタ33が
時間t(z4に達すると、その出力端子OTから信号が
出力されて、プログラムカウンタ34を起動すると共に
7リツプフロツプ36を反転させる。フリップフロップ
36の出力端子Qが112となってゲート回路23を開
放する。しかし【、プログラムカウンタ34が時間t/
3に達すると、その出力端子OTかう信号が出力されて
、フリップフロップ36を再び反転させ、7リツグフロ
ツプ36の出力端子QをlIO”とする。これによりゲ
ート回路23は閉じることになる(Td)。
このように本装置は、ゲート回路23を開放する時期と
期間を、カウンタ24でカウントした一つ前のカウント
値を基に設定し、その設定した所定時間経過後、その設
定した一定期間だけ開放するようにしたものである。尚
、カウンタ33は必ず信号Seによって起動される。
期間を、カウンタ24でカウントした一つ前のカウント
値を基に設定し、その設定した所定時間経過後、その設
定した一定期間だけ開放するようにしたものである。尚
、カウンタ33は必ず信号Seによって起動される。
一方、期間tβ6に信号Scがないと信号Seも得られ
ないことになる。このような状態は異常状態である。以
下、この異常状態について説明する。
ないことになる。このような状態は異常状態である。以
下、この異常状態について説明する。
プログラムカウンタ33は期間tβ5で得た信号Se
Kよって起動されると共に、プログラムカウンタ34は
これにより一つ前のカウント値を基にデータtβ6が設
定される。しかして、カウンタ33はカウント値がtα
6に達してカウンタ34を起動すると共にフリップフロ
ップ36を反転する。カウンタ34は、そのカウント値
がtβ6に達するとフリップフロップ36を再び反転す
る。この期間tβ6の間、7リツプフロツプ36の出方
端子Qは ′″1″となっているので、ゲート回路23
が開放している。この期間tβ6中に信号Scがないと
信号Seは得られない。すると、カウンタ33からの出
力信号が得られずフリップフロップ36が反転しないの
で、カウンタ39はそのままカウントを続け、そのカウ
ント値がtr6になると、その出力端子OTから信号が
出力される。この信号は、アンド回路46を通過してカ
ウンタ34を起動すると共に7リツプフロツプ49を反
転してアンド回路40を閉じる。
Kよって起動されると共に、プログラムカウンタ34は
これにより一つ前のカウント値を基にデータtβ6が設
定される。しかして、カウンタ33はカウント値がtα
6に達してカウンタ34を起動すると共にフリップフロ
ップ36を反転する。カウンタ34は、そのカウント値
がtβ6に達するとフリップフロップ36を再び反転す
る。この期間tβ6の間、7リツプフロツプ36の出方
端子Qは ′″1″となっているので、ゲート回路23
が開放している。この期間tβ6中に信号Scがないと
信号Seは得られない。すると、カウンタ33からの出
力信号が得られずフリップフロップ36が反転しないの
で、カウンタ39はそのままカウントを続け、そのカウ
ント値がtr6になると、その出力端子OTから信号が
出力される。この信号は、アンド回路46を通過してカ
ウンタ34を起動すると共に7リツプフロツプ49を反
転してアンド回路40を閉じる。
カウンタ34は、そのカウント値がtβ6に達すると出
力端子OTより信号を出力して、フリップフロップ36
を反転してゲート回路23を閉じる。
力端子OTより信号を出力して、フリップフロップ36
を反転してゲート回路23を閉じる。
こあ期間tl/96に信号Seが得られれば、カウンタ
33が動作し、そのカウント値がt’ct6に達すると
、1αa = the(teaに設定されているので、
フリップフロップ36を反転してゲート回路23を開放
する。次いで、カウンタ34のカウント値がt′/6(
=1β6)に達して7リツプフロツプ36を再び反転し
、ゲート回路23を閉じる。
33が動作し、そのカウント値がt’ct6に達すると
、1αa = the(teaに設定されているので、
フリップフロップ36を反転してゲート回路23を開放
する。次いで、カウンタ34のカウント値がt′/6(
=1β6)に達して7リツプフロツプ36を再び反転し
、ゲート回路23を閉じる。
このように異常時には、異常になる直前のデータを基に
ゲート回路23の開閉を、正常になるまでそのままの時
期と期間で行うことになる。尚、正常に戻ったときは、
カウンタ24で一回カウントが完了してから、このカウ
ント値を基にカウンタ33,34.39に設定するとと
になる。また、tαは1回前のデジタルデータの間隔を
基に決定した位置(例えば、0.12 (:sm:]
)&c相幽する時間と考えてよ<、”βはその位置に対
しての誤差c±5cμm〕)に相当する時間と考えてよ
い。
ゲート回路23の開閉を、正常になるまでそのままの時
期と期間で行うことになる。尚、正常に戻ったときは、
カウンタ24で一回カウントが完了してから、このカウ
ント値を基にカウンタ33,34.39に設定するとと
になる。また、tαは1回前のデジタルデータの間隔を
基に決定した位置(例えば、0.12 (:sm:]
)&c相幽する時間と考えてよ<、”βはその位置に対
しての誤差c±5cμm〕)に相当する時間と考えてよ
い。
このように本装置によれば、一つ前のカウントデータな
基に決定された時期と期間でゲート回路23を開閉する
こと虻より信号′″l”を@0″に変換し、それぞれデ
ータ間隔を測定できるものである。
基に決定された時期と期間でゲート回路23を開閉する
こと虻より信号′″l”を@0″に変換し、それぞれデ
ータ間隔を測定できるものである。
尚、決定された時期と期間は、カウンタ24でカウント
した一つ前のデータを基忙形成している。
した一つ前のデータを基忙形成している。
要するに1本実施例は、磁気カードの磁気ストライプ上
に記録された論理″0”、“1”のデジタルデータを一
方の論理信号に変換してすなわち、′″1”を“0”に
変換してそれぞれのデータ間隔を測定するものである。
に記録された論理″0”、“1”のデジタルデータを一
方の論理信号に変換してすなわち、′″1”を“0”に
変換してそれぞれのデータ間隔を測定するものである。
以上述べたように本発明によれば、磁気カードの磁気ス
トライプ上に記録されているディジタルデータの間隔を
正確に測定でき、磁気ストライプ上に記録されているデ
ジタルデータの配録品位を容易に検出できる効果がある
。
トライプ上に記録されているディジタルデータの間隔を
正確に測定でき、磁気ストライプ上に記録されているデ
ジタルデータの配録品位を容易に検出できる効果がある
。
第1図(I)及び(If)は本発明に係る磁気カードの
データ記録状態測定方法で測定する対象の磁気カードを
示す平面色及び磁気ストライプの説明図、第2図は本発
明に係る磁気カードのデータ記録状態測定方法を実現す
る測定装置を示す概略構成図、第3図は同測定装置を示
すブロック図、第4図は計数回路の詳細構成例を示す回
路図、第5図は同装置の動作を説明するために示すフロ
ーチャートである。 1・・・磁気カード、2・・・磁気ストライプ、7・・
・磁気カード読取計数装置、11−・・処理装置、12
・・・メモリ、13・・・マイクロコンピュータ、16
・・・CRTディスプレイ、 17・・・キーボード、
18・・・磁気ヘッド、19・・・増幅回路、 2o・
・・ (微分回路、 21・・・波形整形回路、22・
・・計数回路、 23・・・ゲート回路、 24・・・
カウンタ、25・・・制御回路。 特許出願人 コンピューターサービス株式会社代理人弁
理士 日 比 恒 明 第1図
データ記録状態測定方法で測定する対象の磁気カードを
示す平面色及び磁気ストライプの説明図、第2図は本発
明に係る磁気カードのデータ記録状態測定方法を実現す
る測定装置を示す概略構成図、第3図は同測定装置を示
すブロック図、第4図は計数回路の詳細構成例を示す回
路図、第5図は同装置の動作を説明するために示すフロ
ーチャートである。 1・・・磁気カード、2・・・磁気ストライプ、7・・
・磁気カード読取計数装置、11−・・処理装置、12
・・・メモリ、13・・・マイクロコンピュータ、16
・・・CRTディスプレイ、 17・・・キーボード、
18・・・磁気ヘッド、19・・・増幅回路、 2o・
・・ (微分回路、 21・・・波形整形回路、22・
・・計数回路、 23・・・ゲート回路、 24・・・
カウンタ、25・・・制御回路。 特許出願人 コンピューターサービス株式会社代理人弁
理士 日 比 恒 明 第1図
Claims (1)
- (1)磁気カードの磁気ストライプ上に記録されたデジ
タルデータな読出し、その読出データの論理値をいずれ
か一方の論理値に変換し、その論理値のデータ間隔を測
定することを特徴とする磁気カードのデータ記録状態測
定方法。 (2、特許請求の範囲第1項において、一つ前のデータ
間隔を基に次のデータ位置を決定しその位置に対して前
後誤差間隔内にあるデジタルデータな得ることにより、
読出データの論理値を一方の論理値に変換することを特
徴とする磁気カードのデータ記録状態測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5924684A JPS60202501A (ja) | 1984-03-27 | 1984-03-27 | 磁気カ−ドのデ−タ記録状態測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5924684A JPS60202501A (ja) | 1984-03-27 | 1984-03-27 | 磁気カ−ドのデ−タ記録状態測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60202501A true JPS60202501A (ja) | 1985-10-14 |
Family
ID=13107831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5924684A Pending JPS60202501A (ja) | 1984-03-27 | 1984-03-27 | 磁気カ−ドのデ−タ記録状態測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60202501A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55146623A (en) * | 1980-04-14 | 1980-11-15 | Sanyo Electric Co Ltd | Demodulating circuit for self-clocking information signal |
| JPS5715421B2 (ja) * | 1978-01-03 | 1982-03-30 | ||
| JPS5930217A (ja) * | 1982-08-06 | 1984-02-17 | インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン | 誤り検出機能を有する復調器 |
-
1984
- 1984-03-27 JP JP5924684A patent/JPS60202501A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5715421B2 (ja) * | 1978-01-03 | 1982-03-30 | ||
| JPS55146623A (en) * | 1980-04-14 | 1980-11-15 | Sanyo Electric Co Ltd | Demodulating circuit for self-clocking information signal |
| JPS5930217A (ja) * | 1982-08-06 | 1984-02-17 | インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン | 誤り検出機能を有する復調器 |
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