JPS60205178A - イメ−ジ炉 - Google Patents
イメ−ジ炉Info
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- JPS60205178A JPS60205178A JP5981784A JP5981784A JPS60205178A JP S60205178 A JPS60205178 A JP S60205178A JP 5981784 A JP5981784 A JP 5981784A JP 5981784 A JP5981784 A JP 5981784A JP S60205178 A JPS60205178 A JP S60205178A
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 16
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 16
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 13
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 13
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 11
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000005457 Black-body radiation Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 241000931705 Cicada Species 0.000 description 1
- 241001137251 Corvidae Species 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000012943 hotmelt Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Furnace Details (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はフローティングゾーン法Gこよる単結晶の製造
等に用いられるイメージ炉の被加熱物の温度の計測を可
能にする構造に関するものである。
等に用いられるイメージ炉の被加熱物の温度の計測を可
能にする構造に関するものである。
(従来技術とその問題点)
イメージ炉は回転楕円面鎗から成る反射鏡の一方の焦点
に熱光源をおき、もう一方の焦点に試料をおいて熱光源
から出た光(輻射線)を試料側の焦点−こ集光し、試料
を加熱するものである。この装置には反射鏡を1個の回
転楕円面のみで構成する単種円型、反射鏡が2個の回転
楕円面の組み合わせで構成される双楕円型、更に反射鏡
を3個以上の回転楕円面の組合わせで構成する多槽内型
とがある。
に熱光源をおき、もう一方の焦点に試料をおいて熱光源
から出た光(輻射線)を試料側の焦点−こ集光し、試料
を加熱するものである。この装置には反射鏡を1個の回
転楕円面のみで構成する単種円型、反射鏡が2個の回転
楕円面の組み合わせで構成される双楕円型、更に反射鏡
を3個以上の回転楕円面の組合わせで構成する多槽内型
とがある。
次lこ従来のイメージ炉の構造及び欠点を単種円型の装
置を一例として図憂こ従って説明する。
置を一例として図憂こ従って説明する。
第1図は従来構造を有する単種円型のイメージ炉の加熱
灯の部分を示す断面図である。
灯の部分を示す断面図である。
図において、101は反射炉であり、102は反射鏡の
取外し可能な部位であり、これらの反射鏡面103.1
04はFI II 2を焦点とする楕円をX軸上ζこ回
転させた回転楕円面で構成される。105は焦点F1
Ftこおかれた熱光源ランプとしてのハロゲンランプで
あり、フィラメント106とこれを覆う石英ガラス製の
ランプ管107とから構成される。
取外し可能な部位であり、これらの反射鏡面103.1
04はFI II 2を焦点とする楕円をX軸上ζこ回
転させた回転楕円面で構成される。105は焦点F1
Ftこおかれた熱光源ランプとしてのハロゲンランプで
あり、フィラメント106とこれを覆う石英ガラス製の
ランプ管107とから構成される。
108は上側試料であり、上側シャフト1091こ固定
された上側試料ホルダ110から釣下げられている。
された上側試料ホルダ110から釣下げられている。
111は下側試料であり、下側シャツl−112iこ下
側試料ホルダ113を介して固定されている。才た11
4は加熱溶融された溶1漣域(モルテンゾーン)であり
、115は透明石英ガラスでできた炉心管である。炉心
管115は加熱された試料からの蒸発ガスで反射鏡が汚
染されるのを避けるために挿入される。116は反射−
102+こ開けられた小窓であり、レンズ1171こよ
って赤熱発光している溶ト、′4域114の像がスクリ
ーン118に投影される。
側試料ホルダ113を介して固定されている。才た11
4は加熱溶融された溶1漣域(モルテンゾーン)であり
、115は透明石英ガラスでできた炉心管である。炉心
管115は加熱された試料からの蒸発ガスで反射鏡が汚
染されるのを避けるために挿入される。116は反射−
102+こ開けられた小窓であり、レンズ1171こよ
って赤熱発光している溶ト、′4域114の像がスクリ
ーン118に投影される。
次−こフローティングゾーン法醗こよる単結晶の成長を
行なう場合−こついてこの炉の動作を説明する。
行なう場合−こついてこの炉の動作を説明する。
イメージ炉はハロゲンランプ105を点灯することによ
り、これから発する熱幅射線が共有焦点F。
り、これから発する熱幅射線が共有焦点F。
上に集光され、F7点を加熱することかでさる。
従ってフローティングゾーン法の単結晶成長を行なう場
合には下側試料111として種結晶を上側試料108と
して結晶素材でできた焼結棒を使用し両者の間をハロゲ
ンランプ105の点灯により、加熱溶槽して溶融域(モ
ルテンゾーン)]14を形成させる。溶融域114はハ
ロゲンランプからの輻射熱量により、その大きさが決定
され、この輻射熱量を多くすると溶融域は大きくなり、
遂憂こは確液が流れ落ちてしまいまた少くすると溶rj
A城は小さくなり遂には無くハっでしまう。こυりため
、イメージ炉におけるII熱制御は、スクリーン118
)こ写し出される溶融域114のノに状を硅測しながら
、1溶姻域の大きさが適正にISるようtこハロゲンラ
ンプへの入力電力を手!jlI調竪する方法が用いられ
る。
合には下側試料111として種結晶を上側試料108と
して結晶素材でできた焼結棒を使用し両者の間をハロゲ
ンランプ105の点灯により、加熱溶槽して溶融域(モ
ルテンゾーン)]14を形成させる。溶融域114はハ
ロゲンランプからの輻射熱量により、その大きさが決定
され、この輻射熱量を多くすると溶融域は大きくなり、
遂憂こは確液が流れ落ちてしまいまた少くすると溶rj
A城は小さくなり遂には無くハっでしまう。こυりため
、イメージ炉におけるII熱制御は、スクリーン118
)こ写し出される溶融域114のノに状を硅測しながら
、1溶姻域の大きさが適正にISるようtこハロゲンラ
ンプへの入力電力を手!jlI調竪する方法が用いられ
る。
ところでこのような従来構造のイメージ炉では、元が充
満し1こ反射鏡の中φこ試料があるため、例えば溶融域
の温度を非接触で測定することは困難であり、わずかに
スクリーンに写し出されたW4fJli域の形状から適
正な加熱条件を判V「するCとしかできなかった。すな
わち、LII昌射工不ルキーの強度から温度測定を行な
う輻射温度計ては、溶融域からの輻射エネルギ1こハロ
ゲンランフ′の元のエネルギが加わった状態で測定する
ことになるため、実際の温度をめることは不可能であっ
た。
満し1こ反射鏡の中φこ試料があるため、例えば溶融域
の温度を非接触で測定することは困難であり、わずかに
スクリーンに写し出されたW4fJli域の形状から適
正な加熱条件を判V「するCとしかできなかった。すな
わち、LII昌射工不ルキーの強度から温度測定を行な
う輻射温度計ては、溶融域からの輻射エネルギ1こハロ
ゲンランフ′の元のエネルギが加わった状態で測定する
ことになるため、実際の温度をめることは不可能であっ
た。
このことは例えばフローティングゾーン法による結晶成
長以外の加熱用途、例えば小片試料を規定の温度で加熱
する用途などにイメージ炉が適用し難いことになり、イ
メージ炉の太きt欠点であった。
長以外の加熱用途、例えば小片試料を規定の温度で加熱
する用途などにイメージ炉が適用し難いことになり、イ
メージ炉の太きt欠点であった。
(発明の目的)
本発明の目的はこのような欠点を除去するため、溶融域
の温度あるいは被加熱試料のlfi度に関する情報が検
出可能な構造を肩するイメージ炉を提供することにある
。以下図向に従って詳細に説明する。
の温度あるいは被加熱試料のlfi度に関する情報が検
出可能な構造を肩するイメージ炉を提供することにある
。以下図向に従って詳細に説明する。
(発明のff<+a)
本発明によれば1個または複数個の回転楕円面から戸る
反射蝉の一方の焦点lこ熱光源ランプを配し、他の一方
の焦点に配した試料に光を集中して加熱するイメージ炉
であって、前記熱光源ランプのランプ管が特定波長λの
光に対し吸収帯を有するカラスから成るとともζこ試料
の周囲を覆う炉心管が前記特定波長λの近傍憂こ吸収帯
を持たないガラスから成り、反射鏡憂こ開けられた窓に
前記特定波長λの狭帯域バンドパス光学フィルタを有す
ることを特徴とするイメージ炉が得られる。
反射蝉の一方の焦点lこ熱光源ランプを配し、他の一方
の焦点に配した試料に光を集中して加熱するイメージ炉
であって、前記熱光源ランプのランプ管が特定波長λの
光に対し吸収帯を有するカラスから成るとともζこ試料
の周囲を覆う炉心管が前記特定波長λの近傍憂こ吸収帯
を持たないガラスから成り、反射鏡憂こ開けられた窓に
前記特定波長λの狭帯域バンドパス光学フィルタを有す
ることを特徴とするイメージ炉が得られる。
(実施例)
以下図面−こ従って詳細に説明する。
第2図は本発明の一実施例である単極円型のイメージ炉
の加熱炉の部分を示す断面図である。
の加熱炉の部分を示す断面図である。
図において201は反射鏡であり、202は反射鋳の取
外し可能な部位であり、これらの反射鏡面203.20
4はp、 / 、p、 / を焦点とする楕円をX′軸
上fこ回転させた回転楕円面で構成される。205は焦
点F、/上昏こおかれた熱光源ランプとしてのハロゲン
ランプであり、フィラメント206が特定波長λに吸収
帯を有する透明ガラス性のランプ管207で覆われた構
造を有する。208は上側試料であり、上側シャツ)2
094こ固定された上II試料ホルダ210から釣下げ
られている。211は下側試料であり、下側シャツl−
212に下側試料ホルダ213を介して固定されている
。また214は加熱溶融された溶融域(モルテンゾーン
)であり、215は前記特定波長λに吸収帯をもたない
透明ガラスでできた炉心管である。216は反射鏡20
2に開けられた小窓であり、レンズ2171こよりて赤
熱発光している溶融域214の像がスクリーン218に
投影される。
外し可能な部位であり、これらの反射鏡面203.20
4はp、 / 、p、 / を焦点とする楕円をX′軸
上fこ回転させた回転楕円面で構成される。205は焦
点F、/上昏こおかれた熱光源ランプとしてのハロゲン
ランプであり、フィラメント206が特定波長λに吸収
帯を有する透明ガラス性のランプ管207で覆われた構
造を有する。208は上側試料であり、上側シャツ)2
094こ固定された上II試料ホルダ210から釣下げ
られている。211は下側試料であり、下側シャツl−
212に下側試料ホルダ213を介して固定されている
。また214は加熱溶融された溶融域(モルテンゾーン
)であり、215は前記特定波長λに吸収帯をもたない
透明ガラスでできた炉心管である。216は反射鏡20
2に開けられた小窓であり、レンズ2171こよりて赤
熱発光している溶融域214の像がスクリーン218に
投影される。
219は反射鏡202ζこ開けられた別の小窓であり、
前記特定波長λの輻射光のみを通す狭帯域バンドパス光
学フィルター220が設けられている。
前記特定波長λの輻射光のみを通す狭帯域バンドパス光
学フィルター220が設けられている。
第3図は第2図の実施例において、小片試料の加熱を行
なう時の試料の設置状態を示す加熱炉部分の断面図であ
り、第2図の状態から上側試料208を除去するととも
に下側試料211の替わりに、試料台221ヲこ載せた
小片試料222を取りつけである。他の構成は、第2図
七同−である。
なう時の試料の設置状態を示す加熱炉部分の断面図であ
り、第2図の状態から上側試料208を除去するととも
に下側試料211の替わりに、試料台221ヲこ載せた
小片試料222を取りつけである。他の構成は、第2図
七同−である。
次に本発明の原理について第2図及び第3図の51!施
例1こより説明する。第2図及び第3図1こおいてハロ
ゲンランプ205を点灯し、溶融域214を形成あるい
は小片試料222を加熱しているとする。
例1こより説明する。第2図及び第3図1こおいてハロ
ゲンランプ205を点灯し、溶融域214を形成あるい
は小片試料222を加熱しているとする。
この場合ハロゲンランプのフィラメント206からの輻
射光は第4図に示す黒体輻射のスペクトルに近い発光ス
ペクトルを有しているが、ランプ管207を通ってくる
元はランプ管207によって特定波長λの輻射光が除去
されたスペクトルとなる。
射光は第4図に示す黒体輻射のスペクトルに近い発光ス
ペクトルを有しているが、ランプ管207を通ってくる
元はランプ管207によって特定波長λの輻射光が除去
されたスペクトルとなる。
一方角熱溶融された溶融域214あるいは加熱された試
料222からはその材料lこ特有の連続スペクトルの輻
射があり、前記特定波長λの輻射光も含すれている。従
って前記特定波長λの光のみを通すバンドパス光学フィ
ルタ220を通り反射@、202の外側に出る光からは
、λの波長を通す炉心管を通り抜けた溶融域214ある
いは試料222からの輻射光が検出できるが、λの波長
の欠落した/Xロゲンランプの光は含まれない。すなわ
ち、光学フィルタ220の外側では溶融域214あるい
は試料222からの輻射光の情報をハロゲンランプの光
の影響を取り除いた形で検出できる。従って光学フィル
タ220の外側から前記特定波長λ−こ感度を有する測
定器で溶祷域214または試料222の表面の輻射量の
測定を行なえば特定波長λの輻射量を知ることができ、
特定波長λにおける試料の輻射率を考慮することで溶融
域214あるいは試料222の1M度を知るこさができ
る。
料222からはその材料lこ特有の連続スペクトルの輻
射があり、前記特定波長λの輻射光も含すれている。従
って前記特定波長λの光のみを通すバンドパス光学フィ
ルタ220を通り反射@、202の外側に出る光からは
、λの波長を通す炉心管を通り抜けた溶融域214ある
いは試料222からの輻射光が検出できるが、λの波長
の欠落した/Xロゲンランプの光は含まれない。すなわ
ち、光学フィルタ220の外側では溶融域214あるい
は試料222からの輻射光の情報をハロゲンランプの光
の影響を取り除いた形で検出できる。従って光学フィル
タ220の外側から前記特定波長λ−こ感度を有する測
定器で溶祷域214または試料222の表面の輻射量の
測定を行なえば特定波長λの輻射量を知ることができ、
特定波長λにおける試料の輻射率を考慮することで溶融
域214あるいは試料222の1M度を知るこさができ
る。
ここで光学フィルタ220を取付けである窓2191ま
第2図及び第3図の実施例では反射@202に開けであ
るが、溶融域214あるいは試料222を覗ける位置で
あれは、反射@ 201または202のどの位置でも良
いことは明らかである。
第2図及び第3図の実施例では反射@202に開けであ
るが、溶融域214あるいは試料222を覗ける位置で
あれは、反射@ 201または202のどの位置でも良
いことは明らかである。
次にランプ管及び炉心管の材質lこ関する例を説明する
。
。
第5図をこ東芝セラミツ/ハ鉢式会社の2棟の石英カラ
スT−1000と’l’−2030の透過率のスペクト
ルを例として示す。’1’−1oooでは2.5〜3.
0μmの聞−こOH基の存在ζこ起因する吸収帯がある
が、T−2(130ではOH基を無くすことでこの吸収
帯を無くしている。従ってハロゲンランプのランプ管2
07にT−1000を、炉心管◆こT −2030を使
用すれは本発明の効果が得られる。T−1000とI’
−2030の石英カラスの組合わせを用いた場合をこは
、光学フィルタ220として2.8μmのバンド定でき
、試料の輻射率及び輻射スペクトルを考慮することで溶
融域214あるい(ま試料222の温度をめることがで
きる。
スT−1000と’l’−2030の透過率のスペクト
ルを例として示す。’1’−1oooでは2.5〜3.
0μmの聞−こOH基の存在ζこ起因する吸収帯がある
が、T−2(130ではOH基を無くすことでこの吸収
帯を無くしている。従ってハロゲンランプのランプ管2
07にT−1000を、炉心管◆こT −2030を使
用すれは本発明の効果が得られる。T−1000とI’
−2030の石英カラスの組合わせを用いた場合をこは
、光学フィルタ220として2.8μmのバンド定でき
、試料の輻射率及び輻射スペクトルを考慮することで溶
融域214あるい(ま試料222の温度をめることがで
きる。
ここでランプ管及び炉心管の材′ばとしては、第5図の
例以外lこも他の種類のガラスを使用しても、ランプ管
を特定波長λに11シ吸収帯を有するガラスで構敗し、
炉心管の材質を特定波長λの部分に吸収帯のないカラス
を用いる限り、本発明の効果を得ることができる。
例以外lこも他の種類のガラスを使用しても、ランプ管
を特定波長λに11シ吸収帯を有するガラスで構敗し、
炉心管の材質を特定波長λの部分に吸収帯のないカラス
を用いる限り、本発明の効果を得ることができる。
(発明の効果)
このようをこ本発明によれば熱元碗ランプの光の影響を
受けないで溶融域あるいは試料からの特定波長λの輻射
光の強さを非接触で測定することが可能となり、溶融域
あるいは試料の温度を非接触にて反射鏡の外1111か
ら検出することが可能となる。
受けないで溶融域あるいは試料からの特定波長λの輻射
光の強さを非接触で測定することが可能となり、溶融域
あるいは試料の温度を非接触にて反射鏡の外1111か
ら検出することが可能となる。
このため従来イメージ炉の使用が困蝿であつ1こ小片試
料の規定温度での加熱等の用途−こ対し十分適用できる
イメージ炉を提供することかでさ名。
料の規定温度での加熱等の用途−こ対し十分適用できる
イメージ炉を提供することかでさ名。
また本発明によればフローティングゾーン法による結晶
成長を行Yi’>ta合lこも溶融域の温度のモニタが
可能となり、加熱電力の自動制御に適用可能なイメージ
炉を提供することができる。。
成長を行Yi’>ta合lこも溶融域の温度のモニタが
可能となり、加熱電力の自動制御に適用可能なイメージ
炉を提供することができる。。
なお、ここでは熱光源ランプとしてハロゲンランプを使
用した場合について説明したが、熱光源ランプとして例
えはキセノンランプ、水銀ランプのような放電ランプを
使用する場合基こも本発明が適用でき、第2図の実施例
上同様の効果が19られることは明白である。
用した場合について説明したが、熱光源ランプとして例
えはキセノンランプ、水銀ランプのような放電ランプを
使用する場合基こも本発明が適用でき、第2図の実施例
上同様の効果が19られることは明白である。
またここでは単楕用型のイメージ炉について説明したが
双楕円型あるいは多相円型のイメージ炉についても本発
明が適用でき、同様の効果を生じること(ま明らかであ
る。
双楕円型あるいは多相円型のイメージ炉についても本発
明が適用でき、同様の効果を生じること(ま明らかであ
る。
第1図は従来構造を有する単槽円型のイメージ炉の加熱
炉の部分を示す断面図で、第2図1ま本発明の一実施例
である単槽円型のイメージ炉の加熱炉の部分を示す断面
図、第3図は第2図の実施例において小片試料の加熱を
行なう時の試料の設置状態を示す加熱炉部分の断面図で
、第4図は黒体輻射のスペクトルの特性曲線図′、第5
肉は本発明に適用するガラス材料の例としての2種の石
英ガラスの透過率スペクトルの特性曲線図である。 図において、201.202は反射鋼、205はハロゲ
ンランプ、207はランプ管、208は上試料、211
は下試料、214は溶融域、215は炉心管、219は
窓、220は光学フィルタ、222は小片試料である。 一
炉の部分を示す断面図で、第2図1ま本発明の一実施例
である単槽円型のイメージ炉の加熱炉の部分を示す断面
図、第3図は第2図の実施例において小片試料の加熱を
行なう時の試料の設置状態を示す加熱炉部分の断面図で
、第4図は黒体輻射のスペクトルの特性曲線図′、第5
肉は本発明に適用するガラス材料の例としての2種の石
英ガラスの透過率スペクトルの特性曲線図である。 図において、201.202は反射鋼、205はハロゲ
ンランプ、207はランプ管、208は上試料、211
は下試料、214は溶融域、215は炉心管、219は
窓、220は光学フィルタ、222は小片試料である。 一
Claims (1)
- 1個または複数個の回転楕円面からなる反射鏡の一方の
焦点に熱光源ランプを配し、他の一方の焦点に配した試
料に光を集中して加熱するイメージ炉であって、前記熱
光源ランプのランプ管が特定波長λの光φこ対し吸収帯
を有するガラスから成るととも擾こ試料の周囲を覆う炉
心管が前記特定波長λの近傍に級収帯を持たないガラス
から成り、反射鏡に開けられた窓に前記特定波長λの狭
帯域バンドパス光学フィルタを有することを特徴とする
イメージ炉。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5981784A JPS60205178A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | イメ−ジ炉 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5981784A JPS60205178A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | イメ−ジ炉 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60205178A true JPS60205178A (ja) | 1985-10-16 |
| JPH0527029B2 JPH0527029B2 (ja) | 1993-04-19 |
Family
ID=13124153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5981784A Granted JPS60205178A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | イメ−ジ炉 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60205178A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011037640A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Canon Machinery Inc | 単結晶育成装置及び単結晶育成方法 |
-
1984
- 1984-03-28 JP JP5981784A patent/JPS60205178A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011037640A (ja) * | 2009-08-06 | 2011-02-24 | Canon Machinery Inc | 単結晶育成装置及び単結晶育成方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0527029B2 (ja) | 1993-04-19 |
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