JPS60207044A - 産業用ｃｔスキヤナ - Google Patents
産業用ｃｔスキヤナInfo
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- JPS60207044A JPS60207044A JP59063750A JP6375084A JPS60207044A JP S60207044 A JPS60207044 A JP S60207044A JP 59063750 A JP59063750 A JP 59063750A JP 6375084 A JP6375084 A JP 6375084A JP S60207044 A JPS60207044 A JP S60207044A
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- JP
- Japan
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- energy
- ray
- radiation
- subject
- average transmittance
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、工業製品や材料等の検査に使用して好適な産
業用ＣＴスキャナに係シ、特にその被検体に最適な放射
線エネルギーを用いて被検体の断面像を作成する産業用
ＣＴスキャナに関する。
業用ＣＴスキャナに係シ、特にその被検体に最適な放射
線エネルギーを用いて被検体の断面像を作成する産業用
ＣＴスキャナに関する。
ＣＴスキャナにおけるＸ線放射エネルギーの設定は、予
めＸ線発生器に複数のエネルギー選択用スイッチを設け
、このスイッチを人為的に切換えることによって行なっ
ている。これは、従来のＣＴスキャナの多くは、人体の
断層像を作成するためＯＣＴスキャナであシ、被検体の
大きさや材質が比較的一定しておシ、被検体によって頻
繁にＸ線放射エネルギーを変える必要がなかりたためで
ある。
めＸ線発生器に複数のエネルギー選択用スイッチを設け
、このスイッチを人為的に切換えることによって行なっ
ている。これは、従来のＣＴスキャナの多くは、人体の
断層像を作成するためＯＣＴスキャナであシ、被検体の
大きさや材質が比較的一定しておシ、被検体によって頻
繁にＸ線放射エネルギーを変える必要がなかりたためで
ある。
しかし、この種のＣＴスキャナを工業用途に用いた場合
には全く別である。つまシ、工業製品およびその製品材
料は数限シなく存在し、しかも、その製品の大きさ、材
質にはさまざまなものがある。従って、従来ＯＣＴスキ
ャナをそのまま工業用途に使用した場合、被検体の大き
さ、材質等によってノイズ成分が大きくなシ、分解能の
非常に悪い断面像が作成されてしまう。
には全く別である。つまシ、工業製品およびその製品材
料は数限シなく存在し、しかも、その製品の大きさ、材
質にはさまざまなものがある。従って、従来ＯＣＴスキ
ャナをそのまま工業用途に使用した場合、被検体の大き
さ、材質等によってノイズ成分が大きくなシ、分解能の
非常に悪い断面像が作成されてしまう。
そこで、仁の種の用途に使用するＣＴスキャナは、被検
体が変るごとに最適な放射線エネルギーを引算によって
め、この計算結果に基づいて手動でＸ線制御部にエネル
ギーセ、）を伴なっていた。このため、被検体が変るご
とに放射線エネルギーを計算によってめる必要があるの
で、非常に煩雑であシ、またＣＴスキャナの操作手順そ
の他計算手法等に関して十分精通していなければならな
い不具合があった。
体が変るごとに最適な放射線エネルギーを引算によって
め、この計算結果に基づいて手動でＸ線制御部にエネル
ギーセ、）を伴なっていた。このため、被検体が変るご
とに放射線エネルギーを計算によってめる必要があるの
で、非常に煩雑であシ、またＣＴスキャナの操作手順そ
の他計算手法等に関して十分精通していなければならな
い不具合があった。
−本発明は以上のような点に着目してなされたもので、
その目的とするところは、被検体の大きさ、材質等に応
じた最適な放射エネルギーを自動的に設定し得、ノイズ
の少ない良質の断面像を作成できる産業用ＣＴスキャナ
でちる。
その目的とするところは、被検体の大きさ、材質等に応
じた最適な放射エネルギーを自動的に設定し得、ノイズ
の少ない良質の断面像を作成できる産業用ＣＴスキャナ
でちる。
本発明は、被検体無しの状態で下限から上限までエネル
ギーを可変しながら放射線を放射し、これによって得ら
れた検出放射線エネルギーと被検体設定後に放射線を放
射して得られる検出放射線エネルギーとから平均透過率
をめた後、この平均透過率がある設定範囲に入るように
制御し、設定範囲内に入ったときの放射線エネルギーを
被検体に最適な放射線エネルギーと判断し、このエネル
ギーの放射線を用いて当該被検体の断面像を作成する産
業用ＣＴスキャナである。
ギーを可変しながら放射線を放射し、これによって得ら
れた検出放射線エネルギーと被検体設定後に放射線を放
射して得られる検出放射線エネルギーとから平均透過率
をめた後、この平均透過率がある設定範囲に入るように
制御し、設定範囲内に入ったときの放射線エネルギーを
被検体に最適な放射線エネルギーと判断し、このエネル
ギーの放射線を用いて当該被検体の断面像を作成する産
業用ＣＴスキャナである。
以下、本発明の実施例について第１図ないし第３図を参
照して説明する。第１図は産業用ＣＴスキャナの概略ブ
ロック図でありて１１１は各部を統括し必要な指令を出
力するコンソールであって、これにはＸ線制御部１２お
よび回転制御部１３が接続されている。このＸ線制御部
１２は、コンソール１１からの癲令を受けて間欠的また
は連続的にＸ線管１４を制御してＸ線ビーム１５を放射
させ、またコンソール１１からの指令によってＸ線管１
４から放射するＸ線ビーム１５のＸ線エネルギーを下限
から上限まで可変できる機能をもっている。１６および
１２はＸ線検出器およびデータ収集部であって、これら
は一体化され、Ｘ線管１４と所要の距離を有して対向配
置されている。このＸ線検出器１６はＸ線管１４のＸ線
発生点を中心に多数の検出素子が円弧状に配列されたも
のである。そして、Ｘ線管１４とＸ線検出器１６との間
には回転テーブル１８が設けられ、これに被検体１９が
載置されるものである。この回転テーブル１８は回転制
御部１３からの回転制御信号を受けて駆動する回転駆動
部２０によって所定の速度で連続的または所定角度間欠
回転し・全体として１８０度または３６０度回転できる
構成となっている。２ノは中央演算処理ユニット（以下
、ＣＰＵと指称する）であって・これはデータ収集部１
７から得られたデータを補正したり、ディスク装ｆ１２
２へのデータ書込み・読出し制御、さらには被検体１９
に応じた最適Ｘ線エネルギーの設定制御等を行なう。２
３は画像再構成回路、２４はＣＲＴ ７”イスグレイで
ある。
照して説明する。第１図は産業用ＣＴスキャナの概略ブ
ロック図でありて１１１は各部を統括し必要な指令を出
力するコンソールであって、これにはＸ線制御部１２お
よび回転制御部１３が接続されている。このＸ線制御部
１２は、コンソール１１からの癲令を受けて間欠的また
は連続的にＸ線管１４を制御してＸ線ビーム１５を放射
させ、またコンソール１１からの指令によってＸ線管１
４から放射するＸ線ビーム１５のＸ線エネルギーを下限
から上限まで可変できる機能をもっている。１６および
１２はＸ線検出器およびデータ収集部であって、これら
は一体化され、Ｘ線管１４と所要の距離を有して対向配
置されている。このＸ線検出器１６はＸ線管１４のＸ線
発生点を中心に多数の検出素子が円弧状に配列されたも
のである。そして、Ｘ線管１４とＸ線検出器１６との間
には回転テーブル１８が設けられ、これに被検体１９が
載置されるものである。この回転テーブル１８は回転制
御部１３からの回転制御信号を受けて駆動する回転駆動
部２０によって所定の速度で連続的または所定角度間欠
回転し・全体として１８０度または３６０度回転できる
構成となっている。２ノは中央演算処理ユニット（以下
、ＣＰＵと指称する）であって・これはデータ収集部１
７から得られたデータを補正したり、ディスク装ｆ１２
２へのデータ書込み・読出し制御、さらには被検体１９
に応じた最適Ｘ線エネルギーの設定制御等を行なう。２
３は画像再構成回路、２４はＣＲＴ ７”イスグレイで
ある。
次に、以上のような構成の産業用ＣＴスキャナの一連の
制御動作を説明するに際し、先ず、Ｘ線透過率とノイズ
との関係について考察す＆今・フォトン数強度Ｉ、のＸ
線がオグテイカルデプスτの物体を透過し、その透過後
のフォトン数強度が■になったとすると、− Ｉ ＝ ＩＯｅＸｐ （一つ ・（１）で表わせる。と
こで、フォトンフラクチュエイションによるノイズσ１
は σ５＝ｓｌ”Ｕ ・・・（２） となる。従って、ノイズσ１のグロジエクシ。
制御動作を説明するに際し、先ず、Ｘ線透過率とノイズ
との関係について考察す＆今・フォトン数強度Ｉ、のＸ
線がオグテイカルデプスτの物体を透過し、その透過後
のフォトン数強度が■になったとすると、− Ｉ ＝ ＩＯｅＸｐ （一つ ・（１）で表わせる。と
こで、フォトンフラクチュエイションによるノイズσ１
は σ５＝ｓｌ”Ｕ ・・・（２） となる。従って、ノイズσ１のグロジエクシ。
ンデータ（＝τ）への波及σ７は、
σ７＝１汐１ ・・・（３）
となる。即ち、工にノイズがあると、τにもノイズが波
及することが分る。故に、プロジエク７ｗンデータ（＝
τ）のＳ／Ｎ即ちτ／σ、はτ／σ７＝メＩ−Ｌｏｇ
Ｉｏ／Ｉ −（４）または τ／σ７＝τ−ｅ−７１Ｔ； ・（５）となる。従って
、上述する（４）１式はτ−＝２（１４チ透過）のとき
にＳ／Ｎが極大値となシ、Ｉｏ を一定とすれば１４チ
透過のとき最もノイズの少ないプロジェクションデータ
を得ることができる。
及することが分る。故に、プロジエク７ｗンデータ（＝
τ）のＳ／Ｎ即ちτ／σ、はτ／σ７＝メＩ−Ｌｏｇ
Ｉｏ／Ｉ −（４）または τ／σ７＝τ−ｅ−７１Ｔ； ・（５）となる。従って
、上述する（４）１式はτ−＝２（１４チ透過）のとき
にＳ／Ｎが極大値となシ、Ｉｏ を一定とすれば１４チ
透過のとき最もノイズの少ないプロジェクションデータ
を得ることができる。
ちなみに、Ｉｏ ＝ １００５ｅｃ−１、積分時間１秒
のときのプロジェクションデータのＳ／Ｎは、透過率を
関数とすると、下表のよう々値になる。
のときのプロジェクションデータのＳ／Ｎは、透過率を
関数とすると、下表のよう々値になる。
従って、以上の表から検討するに種々の被検体に対する
透過率が５−〜３０チとなるようにＸ線エネルギーを発
生させれば、Ｓハが比較的少なく、良好なプロジェクシ
ョンデータが得られることになる。理想的には、Ｘ線エ
ネルギーを可変して１４チ透過率となる様に選択すれば
、効率のよい測定ができ、ノイズの少ない断面像が得ら
れる。
透過率が５−〜３０チとなるようにＸ線エネルギーを発
生させれば、Ｓハが比較的少なく、良好なプロジェクシ
ョンデータが得られることになる。理想的には、Ｘ線エ
ネルギーを可変して１４チ透過率となる様に選択すれば
、効率のよい測定ができ、ノイズの少ない断面像が得ら
れる。
従って・本発明に係る産業用ＣＴスキャナとしては、上
述するノイズと透過率の関係を前提としつつ、被検体１
９ごとに自動的に最適なＸ線エネルギーを設定してその
エネルギーの放射線を発生せしめるものである。
述するノイズと透過率の関係を前提としつつ、被検体１
９ごとに自動的に最適なＸ線エネルギーを設定してその
エネルギーの放射線を発生せしめるものである。
以下、ＣＴスキャナにおける制御動作について説明する
。この動作は大きく分けて２つの部分よシなっている。
。この動作は大きく分けて２つの部分よシなっている。
その１つは、回転走査に先立って最適なＸ線エネルギー
を設定する制御動作であシ、他の１つは回転走査を行な
いながら被検体１９の断面像を作成する制御動作である
・先ス、コンソール１ノからのスター１指令を受けて、
ＣＰＵ ２１は予め定められている第２図に示すフロー
のプログラムに基づいて、先ずステップａにて次のよう
な制御動作を行表う・即ち、被検体１９を回転テーブル
１８に載置することなく、かつ回転テーブル１８を回転
することなく、ＣＰＵ ２ ＪからＸ線制御部１２へ最
適Ｘ線エネルギーの設定用指令信号が与えられると゛、
Ｘ線制御部１２はＸ線管１４に対しＸ線エネルギーが下
限から上限まで例えばステップ的変化するような制御を
行ない、これに伴なってＸ線管１４からはＸ線制御部１
２の可変制御に応じて下限から上限に変化するエネルギ
ーのＸ線ビーム１５が放射される。このＸ線ビーム１５
はＸ線検出器１６を介してデータ収集部１７においてＸ
線検出エネルギーデータとしで収集し、ＣＰＵ ２１に
送られる。ここで、ＣＰＵ ２１は被検体なしの状態に
おける下限から上限までの検出エネルギーデータを取得
し、ディスク装置２２に記憶しておく・ このようにして検出エネルギーデータを記憶した後、ス
テップｂに移行する。このステップｂけ、回転テーブル
１８上に被検体１９を載置する一方、Ｘ線制御部１２へ
先ず最初に経験などに基づく中間的なエネルギー制御の
だめの値をセットする。
を設定する制御動作であシ、他の１つは回転走査を行な
いながら被検体１９の断面像を作成する制御動作である
・先ス、コンソール１ノからのスター１指令を受けて、
ＣＰＵ ２１は予め定められている第２図に示すフロー
のプログラムに基づいて、先ずステップａにて次のよう
な制御動作を行表う・即ち、被検体１９を回転テーブル
１８に載置することなく、かつ回転テーブル１８を回転
することなく、ＣＰＵ ２ ＪからＸ線制御部１２へ最
適Ｘ線エネルギーの設定用指令信号が与えられると゛、
Ｘ線制御部１２はＸ線管１４に対しＸ線エネルギーが下
限から上限まで例えばステップ的変化するような制御を
行ない、これに伴なってＸ線管１４からはＸ線制御部１
２の可変制御に応じて下限から上限に変化するエネルギ
ーのＸ線ビーム１５が放射される。このＸ線ビーム１５
はＸ線検出器１６を介してデータ収集部１７においてＸ
線検出エネルギーデータとしで収集し、ＣＰＵ ２１に
送られる。ここで、ＣＰＵ ２１は被検体なしの状態に
おける下限から上限までの検出エネルギーデータを取得
し、ディスク装置２２に記憶しておく・ このようにして検出エネルギーデータを記憶した後、ス
テップｂに移行する。このステップｂけ、回転テーブル
１８上に被検体１９を載置する一方、Ｘ線制御部１２へ
先ず最初に経験などに基づく中間的なエネルギー制御の
だめの値をセットする。
次に、ステップＣにおいてＸ線制御部１２よシＸ線管１
４を駆動し一方向のＸ線ビーム１５を放射し、或いは回
転制御部１３から回転制御信号を出力して回転テーブル
１Ｂを回転させながらＸ線管１４から間欠的または連続
的に多方向へＸ線ビーム１５を放射する。
４を駆動し一方向のＸ線ビーム１５を放射し、或いは回
転制御部１３から回転制御信号を出力して回転テーブル
１Ｂを回転させながらＸ線管１４から間欠的または連続
的に多方向へＸ線ビーム１５を放射する。
次に、ステ、グｄにおいては、前記ステップＣでＸ線ビ
ーム１５を放射しながらＸ線検出器１６によって検出さ
れたＸ線検出エネルギーデータをＣＰＵ ２ Ｊで取得
し、このデータと既にディスク装置２２に記憶されてい
る被検体なしの場合の同一エネルギーのＸ線検出エネル
ギーデータと比較し、平均透過率を計算する０さらに、
ステ、プｅでは、ステップｄで計算して得られた平均透
過率がノイズを考慮して予め設定された例えば１（１〜
２０％の平均透過率の中に入っているか否か、入ってい
ない場合には設定範囲の下限または上限の何れよりはみ
出しているか否かを判断し、例えば計算による平均透過
率が２０−以上の場合にはステップｆ）に進んでＣＰＵ
２７よシＸ線制御部１２ヘエネルギーを下げるための
指令を与える・そして、ステップｅ 、ｄ 、ｅにて同
様な制御動作を行なう・仮に〜平均透過率が１０−以下
であれば、ステ、プｆ２に進み、ＣＰＵ ２１よシＸ線
制御部１２ヘエネルギーを上げるための指令を与えん以
上のような制御によって計算による平均透過率を、例え
ば１０≦Ｘ≦２０の間に入れ、この範囲に入ったところ
でＣＰＵ ｊ！ １は被検体１９に最適なＸ線エネルギ
ーでおると判断し、Ｘ線制御部１２へのＸ線エネルギー
の可変制御を停止する◎ 次に、ステップｇに進み、ここでは従来周知のＣＴスキ
ャンニング動作を行なう・即ち為回転制御部１３から回
転制御信号を出力して回転テーブル１８を連続又は間欠
回転させ一一方）Ｘ線制御部１２も間欠的または連続的
にＸ線ビーム１５を放射し、被検体１９のＸ線透過ブー
タラ順次取得し、このデータに基づいてステップｈにて
画像再構成回路２３で画像再構成を行なうものである。
ーム１５を放射しながらＸ線検出器１６によって検出さ
れたＸ線検出エネルギーデータをＣＰＵ ２ Ｊで取得
し、このデータと既にディスク装置２２に記憶されてい
る被検体なしの場合の同一エネルギーのＸ線検出エネル
ギーデータと比較し、平均透過率を計算する０さらに、
ステ、プｅでは、ステップｄで計算して得られた平均透
過率がノイズを考慮して予め設定された例えば１（１〜
２０％の平均透過率の中に入っているか否か、入ってい
ない場合には設定範囲の下限または上限の何れよりはみ
出しているか否かを判断し、例えば計算による平均透過
率が２０−以上の場合にはステップｆ）に進んでＣＰＵ
２７よシＸ線制御部１２ヘエネルギーを下げるための
指令を与える・そして、ステップｅ 、ｄ 、ｅにて同
様な制御動作を行なう・仮に〜平均透過率が１０−以下
であれば、ステ、プｆ２に進み、ＣＰＵ ２１よシＸ線
制御部１２ヘエネルギーを上げるための指令を与えん以
上のような制御によって計算による平均透過率を、例え
ば１０≦Ｘ≦２０の間に入れ、この範囲に入ったところ
でＣＰＵ ｊ！ １は被検体１９に最適なＸ線エネルギ
ーでおると判断し、Ｘ線制御部１２へのＸ線エネルギー
の可変制御を停止する◎ 次に、ステップｇに進み、ここでは従来周知のＣＴスキ
ャンニング動作を行なう・即ち為回転制御部１３から回
転制御信号を出力して回転テーブル１８を連続又は間欠
回転させ一一方）Ｘ線制御部１２も間欠的または連続的
にＸ線ビーム１５を放射し、被検体１９のＸ線透過ブー
タラ順次取得し、このデータに基づいてステップｈにて
画像再構成回路２３で画像再構成を行なうものである。
そして、再構成された画像データは、ディスク装置２２
と例えばコンソール１１に備える画像メモリに記憶し、
必要なときに読出してＣＲＴディスプレイ２４に表示す
る。
と例えばコンソール１１に備える画像メモリに記憶し、
必要なときに読出してＣＲＴディスプレイ２４に表示す
る。
なお、上記実施例ではＸ線について述べたｄ！、他の放
射線であっても同様に適用できるものであり、またスキ
ャン方式は第３世代に限らないことは言うまでもない。
射線であっても同様に適用できるものであり、またスキ
ャン方式は第３世代に限らないことは言うまでもない。
また、被検体１９９１４を回転させたが、この被検体１
９側を固定し、Ｘ線管１４とＸ線検出器１６側を一体的
に回転させる構成のものでもよいＯ 〔発明の効果〕 以上詳記したように本発明によれば、被検体の大きさ、
材質等に応じて最適な放射線エネルギーを自動的に探し
て設定し、そのエネルギーの放射線を用いて被検体に照
射し、画像データを作成するので、従来のものと異なシ
人為的な操作を必要とすることなく、また計算などに精
通しなくとも最適な放射線エネルギーを設定できる。従
って、被検体が変わっても安定した良質の断面像を得る
ことができ、特に工業製品やその材料の検査に非常に有
効である産業用ＣＴスキャナを提供できる。
９側を固定し、Ｘ線管１４とＸ線検出器１６側を一体的
に回転させる構成のものでもよいＯ 〔発明の効果〕 以上詳記したように本発明によれば、被検体の大きさ、
材質等に応じて最適な放射線エネルギーを自動的に探し
て設定し、そのエネルギーの放射線を用いて被検体に照
射し、画像データを作成するので、従来のものと異なシ
人為的な操作を必要とすることなく、また計算などに精
通しなくとも最適な放射線エネルギーを設定できる。従
って、被検体が変わっても安定した良質の断面像を得る
ことができ、特に工業製品やその材料の検査に非常に有
効である産業用ＣＴスキャナを提供できる。
第１図は本発明に係る産業用ＣＴスキャナの一実施例を
示す概略構成図、第２図は本発明に係る産業用ＣＴスキ
ャナの制御手段を示す流れ図である。 １ノ・・・コンソール、１２・・・Ｘ線制御部、１３・
・・回転制御部、１４・・・Ｘ線管、１６・・・Ｘ線検
出器、１８・・・回転テーブル、１９・・・被検体、２
０・・・回転駆動部、２１・・ＣＰＵ、２２・・・ディ
スク装置、２３・・・画像再構成回路、２４・・ＣＲＴ
ディスプレイ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図
示す概略構成図、第２図は本発明に係る産業用ＣＴスキ
ャナの制御手段を示す流れ図である。 １ノ・・・コンソール、１２・・・Ｘ線制御部、１３・
・・回転制御部、１４・・・Ｘ線管、１６・・・Ｘ線検
出器、１８・・・回転テーブル、１９・・・被検体、２
０・・・回転駆動部、２１・・ＣＰＵ、２２・・・ディ
スク装置、２３・・・画像再構成回路、２４・・ＣＲＴ
ディスプレイ。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図
Claims (1)
- エネルギー可変手段を持った放射線発生手段と、被検Ｉ
体無しの状態において前記放射線発生手段から発生する
放射線エネルギーを可変しつつ放射線を曝射し、その検
出放射線エネルギーを順次記憶するエネルギー走査手段
と、被検体を設定した状態において前記放射線発生手段
から放射線を曝射し、この被検体育シのときの放射線検
出エネルギーと前記被検体熱しのときの放射線検出エネ
ルギーとを用いて平均透過率をめるとともにこの平均透
過率がある設定範囲の透過率に入るように前記放射線発
生手段を制御し、前記被検体に最適な放射線エネルギー
を選択するエネルギー選択手段とを備え、このエネルギ
ー選択手段で得られた放射線エネルギーを用いて被検体
の断面像を作成することを特徴とする産業用ＣＴスキャ
ナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59063750A JPS60207044A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 産業用ｃｔスキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59063750A JPS60207044A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 産業用ｃｔスキヤナ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60207044A true JPS60207044A (ja) | 1985-10-18 |
Family
ID=13238388
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59063750A Pending JPS60207044A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 産業用ｃｔスキヤナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60207044A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005149762A (ja) * | 2003-11-11 | 2005-06-09 | Toshiba It & Control Systems Corp | Ｘ線検査装置及びその管電圧・管電流調整方法 |
-
1984
- 1984-03-31 JP JP59063750A patent/JPS60207044A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005149762A (ja) * | 2003-11-11 | 2005-06-09 | Toshiba It & Control Systems Corp | Ｘ線検査装置及びその管電圧・管電流調整方法 |
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