JPS60218173A - 直線性判定方式 - Google Patents

直線性判定方式

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JPS60218173A
JPS60218173A JP59074520A JP7452084A JPS60218173A JP S60218173 A JPS60218173 A JP S60218173A JP 59074520 A JP59074520 A JP 59074520A JP 7452084 A JP7452084 A JP 7452084A JP S60218173 A JPS60218173 A JP S60218173A
Authority
JP
Japan
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linearity
feature points
circuit
unit
inner product
Prior art date
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Pending
Application number
JP59074520A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomomitsu Murano
朋光 村野
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS60218173A publication Critical patent/JPS60218173A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
    • G06F17/10Complex mathematical operations
    • G06F17/16Matrix or vector computation, e.g. matrix-matrix or matrix-vector multiplication, matrix factorization

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、線図形、立体モデル等の複数の特徴点の直線
性をデータ処理により判定する直線性判定方式に関し、
特に順次未定な三特徴点(折点、交点、接続点等)の直
線性を判定する直線性判定方式に関する゛。
〔技術の背景〕
近年、線図形や立体モデル等の認識処理技術の研究が盛
んに行なわれている。このような認識処理技術は、テレ
ビカメラ等の撮像手段でとらえた画像から対象物を認識
する画像認識装置やCAD(Compwtgr Atz
iztetl f)epiyn ) 等の二次元の設計
データから三次元の物体の輪郭を認識して三次元像を完
成するシステム等において用いられる。
係る認識処理では、線図形、立体モデル等の特徴点を把
え、この特徴点から線図形、立体モデル等構造線、面等
の位置関係を認識する必要がある。
□ このため、複数の特徴点(の座標)からこれらによって
点の関係である線分が存在するか(直線性)を判定する
必要があり、この線分の存在を判定するのに3つの特徴
点(例えば頂点)より直線性を判定する直線性判定方式
が用いられている。
〔従来技術と問題点〕
従来の直線性判定方式には、第1図に示す様に3つの特
徴点の内2つの端点α、Cより直線式をめて、その中間
点すのその直線に対するギャップ(距離)を計算して閾
値5と比較して中間点すがその直線上の点か否かを判定
する第1の方式と、第2に示す様に3つの特徴点α、b
、cによって作られる角度θの大きさによって点すが点
α、Cを結ぶ直線上の点か否かを判定する第2の方式と
が知られていた。しかしながら、従来の第1、第2の方
式では特徴点αthe’が連続でないと、即ち、予じめ
順序がαthe’という様に定まっている場合に、点α
、b、cが直線上にあるか否かを判定できるものである
から、不連続、即ち順序が定まっていない特徴点の直線
性は判定できないという問題があった。
また、第1の方式では、第1図(B)の如く端点α。
0間の距離が短いと、その閾値をl′ の如く変更しな
ければならず、特徴点の位置に応じて閾値を変更すると
いう手間のかかる演算を行なう必要があるという問題が
あり、第2の方式では、第2図(B)の如く線分α、C
と線分す、c が垂直である場合でも角度θが小さいと
同一直線上にあると判定され、精度が悪いという問題も
あった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、特徴点が不連続でも直線性を判定でき
しかも高速に且つ確実な判定が可能な直線性判定方式を
提供するにある。
〔発明の構成〕
上述の目的の達成のため、本発明は、3つの特徴点の直
線性を該特徴点の座標から判定する直線性判定方式にお
いて、該1つの特徴点から他の2つの特徴点に向かう2
つの単位ベクトルを作成し、該作成された2つの単位ベ
クトルの内積を演算する演算回路を設け、3つの特徴点
の内任意の2つの特徴点について該演算回路が各々の内
積を演算し1、各内積の絶対値の相加平均の値によって
直線 6− 性を判定することを特徴としている。また、本発明の一
実施態様によれば、前記直線性の判定のため前記相加平
均の値と閾値とを比較することを特徴としている。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
第3図及び第4図は本発明の原理説明図である。
第3図に示す様に3つの特徴点をPl w Pl e 
PBとすると、任意の2つの特徴点(例えば、Pl 。
P、)の各々について他の特徴点に向う単位はクトル ゛を作成する。そして各特徴点PIsP!の単位はクト
ルの内積 1 を計算する。この単位はクトルの内積は周知の如く2つ
の単位ベクトルの角度の余弦に等しい。
 4− 一方、第4図の如く余弦関数の絶対値は角度がO及び1
80 近傍ではIIこ近いことから、角 □度が0又は
180 近傍であれば直線とみなせるので、余弦の絶対
値が1に近いかどうかによって矛゛ 直線性の判帛Fきる。
そこで、本発明では、2つの特徴点P1sPR′につい
ての余弦の絶対値の相加平均の値によって直線性を判定
している。即ち閾値τを1より若干率さい値に設けて、
相加平均値と閾値τとの比較によって直線性を判定する
ようにしている。
′換言すれば各特徴点の単位はクトルのなす角θが0・
 又は180 に近い程直線に近くなることから、3特
徴点P、〜P3で作られる三角形の2頂角の余弦の絶対
値の相加平均をめれば、直線性の判定が可能□となる。
しかも、実際に角度を演算するのでなく、余弦値を演算
するので高速な判定が可能となる。
第5図は本発明の一実施例ブロック図であり、第6図は
その処理フロー図である。
第5図中、1はメモリであり、各特徴点の座標を格納す
るものであり、デジタイザ等の座標入力手段によって入
力される特徴点の座標を格納するもの、2は演算回路で
あり、3つの特徴点PisP、、P、の直線性を判定す
るものであり、特徴点PGを中心に2つの単位ばクトル
を演算する単位はクトル化回路20と、単位はクトルの
内積を演算するスカラー積演算回路21と、スカラー積
の相加平均値をとり直線性を判定する判定回路22とで
構成される。
次に、第5図実施例構成の動作化ついて第6図。
フロー図により説明する。
先づ直線性を判定すべき3つの特徴点PlyP!+P3
の座標(”+ * 3’1s zl ) I(”! *
 yt lzt )s(”8 *3’s *zR)がメ
モリ1より単位ベクトル化回路20に入力される。
単位ばクトル化回路20では、先づ2重を中心に単位は
クトルをめる。即ち、PoをPlとし、ベクトルを演算
する。次にスカラー積演算回路21でスカラー積歯θ1
を次式よりめる。
スカラー積歯θ、は判定回路22に送られ一時格納され
る。
次に、判定回路22はPoかP2かを判定し、P、でな
ければ、ptを中心に同様の動作を行なうべく、単位ベ
クトル化回路20にPoをP、とし、単位はクトルを演
算する様化指令する。単位ばクトル化回路20は”PS
epopsを演算し、1に規格化し、単位ベクトルを得
る。次にスカラー積演算回路21でスカラー積(2)θ
、を(1)式と同様次式によりめる。
IP!pH1PtPsl  7− スカラー積(2)θ、は判定回路22に送られる。判定
回路22は次式によりスカラー積の絶対値の相加平均の
値tを計算して、直線性の判定指標とする。
判定回路22は、この相加平均値tと閾値τ(第4図)
とを比較し、t4τなら直線ではない、t〉τなら直線
であると判定する。この閾値τは0、9以上が好ましい
第5図の実施例構成においては演算回路2の内部を3つ
の回路20〜22によって構成しているが、例えばマイ
クロプロセッサによって1つの回路で構成してもよく、
この場合第6図の処理をプログラムζこよって実行させ
ることによって実現できる。
以上本発明を一実施例により説明したが、本発明は本発
明の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明からこ
れらを排除するものではない。
〔発明の効果〕
 8− 以上説明した様に、本発明によれば、3つの特徴点の直
線性を該特徴点の座標から判定する直線性判定方式にお
いて、該1つの特徴点から他の2つの特徴点に向かう2
つの単位ベクトルを作成し、該作成された2つの単位は
クトルの内積を演算する演算回路を設け、3つの特徴点
の内任意の2つ性を判定することを特徴としているので
、任意の2つの特徴点について処理を行えばよいから、
3つの特徴点の順序が未定(即ち不連続)であっても直
線性の判定が可能となるという効果を奏し、これらの順
序を指定する必要がなく、直線性判定の適用範囲を大巾
に拡大することができる。また、単位はルトを演算し、
その内積を演算し、相加平均をめているので、特徴点の
位置関係にかかわらず判定閾値を変更する必要がないと
いう効果も奏し、閾値の演算という余分な手間を要しな
いから、それだけ高速な判定が可能となり、更に2つの
余弦値(内積)によっているから、それだけ正確な判定
も可能となるという効果も奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来の直線性判定方式説明図、第3
図及び第4図は本発明の原理説明図、第5図は本発明の
一実施例ブロック図、第6図は本発明による一実施例処
理フロー図である。 図中、2・・・・・・演算回路、20・・・・・・単位
はクトル化回路、21・・・・・・スカラー積演算回路
、22・・・・・・判定回路。 特許出願人 富士通株式会社 代理人 弁理士 山 谷 晧 榮 −11− 第 / 図 (A) (B) / 第・ 2 図 (A) (s)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)3つの特徴点の直線性を咳特徴点の座標から判定
    する直線性判定方式において、該1つの特徴点から他の
    2つの特徴点に向かう2つの単位ベクトルを作成し、該
    作成された2つの単位ベクトルの内積を演算する演算回
    路を設け、3つの特徴点の内任意の2つの特徴点につい
    て該演算回路が各々の内積を演算し、各内積の絶対値の
    相加平均の値によって直線性を判定することを特徴とす
    る直線性判定方式0
  2. (2)前記直線性の判定のため前記相加平均の値と閾値
    とを比較することを特徴とする特許請求の範囲第(1)
    項記載の直線性判定方式。
JP59074520A 1984-04-13 1984-04-13 直線性判定方式 Pending JPS60218173A (ja)

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JP59074520A JPS60218173A (ja) 1984-04-13 1984-04-13 直線性判定方式

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JPS60218173A true JPS60218173A (ja) 1985-10-31

Family

ID=13549677

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JP59074520A Pending JPS60218173A (ja) 1984-04-13 1984-04-13 直線性判定方式

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