JPS6022616A - 設備模型の図面作成方法 - Google Patents
設備模型の図面作成方法Info
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- JPS6022616A JPS6022616A JP58130566A JP13056683A JPS6022616A JP S6022616 A JPS6022616 A JP S6022616A JP 58130566 A JP58130566 A JP 58130566A JP 13056683 A JP13056683 A JP 13056683A JP S6022616 A JPS6022616 A JP S6022616A
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- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000001959 radiotherapy Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/04—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は原子力発電設備、火力発電設備、各（虫の化学
プラント等の設備模型の図面を作成する方法に関する。
プラント等の設備模型の図面を作成する方法に関する。
一般に上記の如き複雑な設備を設計する際には各機器、
配管等の配置を検討、決定するため、たとえば合成樹脂
製の精密な縮尺模型すなわち設備模型を製作する。そし
て、各機器や配管の配置が決定されるとこの設備模型を
もとにして各機器や配管等の配置の図面が作成される。
配管等の配置を検討、決定するため、たとえば合成樹脂
製の精密な縮尺模型すなわち設備模型を製作する。そし
て、各機器や配管の配置が決定されるとこの設備模型を
もとにして各機器や配管等の配置の図面が作成される。
ところで、上記図面を作成するには、従来（ｒ主設備模
型の各部の寸法を千作卆で測定し、これらの寸法から図
面を作成していた。このため、設備模型の寸法測定、図
面の作成に多大の工数を要する不具合があった。
型の各部の寸法を千作卆で測定し、これらの寸法から図
面を作成していた。このため、設備模型の寸法測定、図
面の作成に多大の工数を要する不具合があった。
このような不具合を解消するため、１ｌｉｌｌ定用ロピ
ツトを設備模型に機械的に接触させて各部の寸法を測定
する方法、光学的に設備模型の各機器や配管の位置を読
み取って寸法を測定する方法、あるいは設備模型に超音
波を照射してその反射波から各機器や配管等の位置を測
定する方法等の開発が試みられている。しかし、設（１
ｉｉｉ模型は狭小かつ複雑であり、機器や配管が重７９
シているため測定が困雛であり、上記各方法の実用化は
困り；１６である。
ツトを設備模型に機械的に接触させて各部の寸法を測定
する方法、光学的に設備模型の各機器や配管の位置を読
み取って寸法を測定する方法、あるいは設備模型に超音
波を照射してその反射波から各機器や配管等の位置を測
定する方法等の開発が試みられている。しかし、設（１
ｉｉｉ模型は狭小かつ複雑であり、機器や配管が重７９
シているため測定が困雛であり、上記各方法の実用化は
困り；１６である。
本発明は以上の事情にもとづいてなされたもので、その
目的とするところは復４′４１な設置ボラ４ケ型の図面
を容易かつ能率的に作成する方法を提供することにある
。
目的とするところは復４′４１な設置ボラ４ケ型の図面
を容易かつ能率的に作成する方法を提供することにある
。
すなわち本発明は設備模型の複数箇所にＸｍ株たけ放射
線を照射し、この設備模型を透過したＸ＠また（ｒｉ放
射線を検出してこの設備模型の複数筒所の断面像を検出
し、これらの断面像から設備模７１２の３次元像をめて
図面を作成するものである。よって、複雑かつ重復した
部分のある設ｈｅｎ模型であっても各機器や配管等の間
荷を正確に検出することができ、設備模型の図面を容易
かつ能率的に作成することができるものである。
線を照射し、この設備模型を透過したＸ＠また（ｒｉ放
射線を検出してこの設備模型の複数筒所の断面像を検出
し、これらの断面像から設備模７１２の３次元像をめて
図面を作成するものである。よって、複雑かつ重復した
部分のある設ｈｅｎ模型であっても各機器や配管等の間
荷を正確に検出することができ、設備模型の図面を容易
かつ能率的に作成することができるものである。
以下本発明の一実施例を図面を参照して説明する。まず
、第１図を参照して本発明の方法に曲用される装置を説
明する。図中１はｘＨｃ Ｔ装置である。このＸ線ＣＴ
装置１のトンネル２には移動台３が挿通されており、こ
の移動台３は支持台４に支持され、このトンネル２内を
移動するように構成されている。そして、この移動台３
上には設備模型５が載置されている。この設備模型５は
合成樹脂材料から形成され、配Ｔ？ 、５ ａ ｒ ５
ｂ ＋ ５ ｃ ＋ ５ ｄや各機器（図示せす）等
から構成されている。寸だ、」−記トンネル２の回りに
はＸ線管６およびこのＸ ５管６に対向する位置に設置
されたＸ線検出器群７が設け１：）れており、このＸ瓶
（管６およびｘ １４検出器Ｒ′ｉ″７はトンネル２の
中心を回転中心として回転するように構成されている。
、第１図を参照して本発明の方法に曲用される装置を説
明する。図中１はｘＨｃ Ｔ装置である。このＸ線ＣＴ
装置１のトンネル２には移動台３が挿通されており、こ
の移動台３は支持台４に支持され、このトンネル２内を
移動するように構成されている。そして、この移動台３
上には設備模型５が載置されている。この設備模型５は
合成樹脂材料から形成され、配Ｔ？ 、５ ａ ｒ ５
ｂ ＋ ５ ｃ ＋ ５ ｄや各機器（図示せす）等
から構成されている。寸だ、」−記トンネル２の回りに
はＸ線管６およびこのＸ ５管６に対向する位置に設置
されたＸ線検出器群７が設け１：）れており、このＸ瓶
（管６およびｘ １４検出器Ｒ′ｉ″７はトンネル２の
中心を回転中心として回転するように構成されている。
そして、このｘ 線ＣＴ装置１はＸ線管６およびＸ線検
出器群７がトンネル２の周囲を回転し、Ｘ ＆ｊ管６か
ら設備ｌｒｇ型之に向けてＸ線を照射し、この設備模型
亙を透過したＸ線はＸ線検出器群７によって検出される
ように構成されている。まだ、８は模型移動制御装置で
あって、移動台３の移動制御をなすように構成されてい
る。丑だ、９はＣＴ信号処理回路であって、Ｘ線検出器
Ｉ：６７からの信号を受け、設備模型５の断面画像を作
成するとともにこれを記憶する。そして、とＯＣＴ信号
処理回路９に記憶された信号は３次元画１才処ｊｌ１表
示装置１０に送られる。仁の３次元画像処理装置１１１
０は各断面画像から設備模型５の３次元画像を作成し、
Ｘ−Ｙｆロック１１等に（ｇ号を送って設備模型５の平
面図、側面図等を自動的に作成するように構成されてい
る。
出器群７がトンネル２の周囲を回転し、Ｘ ＆ｊ管６か
ら設備ｌｒｇ型之に向けてＸ線を照射し、この設備模型
亙を透過したＸ線はＸ線検出器群７によって検出される
ように構成されている。まだ、８は模型移動制御装置で
あって、移動台３の移動制御をなすように構成されてい
る。丑だ、９はＣＴ信号処理回路であって、Ｘ線検出器
Ｉ：６７からの信号を受け、設備模型５の断面画像を作
成するとともにこれを記憶する。そして、とＯＣＴ信号
処理回路９に記憶された信号は３次元画１才処ｊｌ１表
示装置１０に送られる。仁の３次元画像処理装置１１１
０は各断面画像から設備模型５の３次元画像を作成し、
Ｘ−Ｙｆロック１１等に（ｇ号を送って設備模型５の平
面図、側面図等を自動的に作成するように構成されてい
る。
なお、第２図にはこの設備模型王の断面画像の例を示し
、配管５ａ ｇ ５ ｂ ＋ ５ｃ ｒ ５ ｄの直線
部分は横断面で、立上り部分は縦断面で示される。
、配管５ａ ｇ ５ ｂ ＋ ５ｃ ｒ ５ ｄの直線
部分は横断面で、立上り部分は縦断面で示される。
次に、このような装置を用いた本発明方法の一実施例を
説明する。まず第３図に示す如く設備模型５を所定ピッ
チで移動させ、ａ ＋ ｂ ＩＣＨｄの各位置の断面画
像をめる。そして、第４図（ａ）に示すａ位置の断面画
像および第４図（ｂ）に示すｂ位置の断面画像の如く各
配管５ａ＋５．ｂ＋５ Ｃ＋ ５ ｄの位置に変化がな
い場合にはこの間では配管５ａ ＊ ５ｂ ＊ ５ ｅ
＋ ５ｂは直線状であると判断する。丑だ、ｂ位置と
第４図（ｅ）に示すＣ位置との間、あるいはＣ位置と第
４図（ｄ）に示す４位１７１（との間の如く配管５ａｒ
５ｂ＋５ｃｒ５ｄの位置に変化がある場合にはこの間に
配管の屈曲があると判断する。そして、この配管の屈曲
があると判断された部分についてはさらに細いピッチで
断面画像を作成し、配管５ａ ｒ ５ｂ ｒ５ｃ 、５
ｄの形状、配列を判別する。なお、配管が直、角に屈曲
している部分では第２図に示す如く配管の縦断面がイ１
すられ、また配管が傾斜している部分では配管の断面が
（４円形となるので、これによシ配管の屈曲形状を判別
できる。そして、このような各断面画像をもとにして設
備模型５の３次画像を作成し、必要に応じてｉ１１ｊｉ
４Ｍの回転等の処理をおこない、設備模型５の平面図、
側面図等を作成する。なお、この一実施例では前記の如
き装置により上記の操作は自−１１υ的におこなわれる
。なお、断面画像のピッチその他は設備模型互の形状、
大きさ等に対応して設定する。また、Ｘ線の代りに放射
線噌を使用してもよい。
説明する。まず第３図に示す如く設備模型５を所定ピッ
チで移動させ、ａ ＋ ｂ ＩＣＨｄの各位置の断面画
像をめる。そして、第４図（ａ）に示すａ位置の断面画
像および第４図（ｂ）に示すｂ位置の断面画像の如く各
配管５ａ＋５．ｂ＋５ Ｃ＋ ５ ｄの位置に変化がな
い場合にはこの間では配管５ａ ＊ ５ｂ ＊ ５ ｅ
＋ ５ｂは直線状であると判断する。丑だ、ｂ位置と
第４図（ｅ）に示すＣ位置との間、あるいはＣ位置と第
４図（ｄ）に示す４位１７１（との間の如く配管５ａｒ
５ｂ＋５ｃｒ５ｄの位置に変化がある場合にはこの間に
配管の屈曲があると判断する。そして、この配管の屈曲
があると判断された部分についてはさらに細いピッチで
断面画像を作成し、配管５ａ ｒ ５ｂ ｒ５ｃ 、５
ｄの形状、配列を判別する。なお、配管が直、角に屈曲
している部分では第２図に示す如く配管の縦断面がイ１
すられ、また配管が傾斜している部分では配管の断面が
（４円形となるので、これによシ配管の屈曲形状を判別
できる。そして、このような各断面画像をもとにして設
備模型５の３次画像を作成し、必要に応じてｉ１１ｊｉ
４Ｍの回転等の処理をおこない、設備模型５の平面図、
側面図等を作成する。なお、この一実施例では前記の如
き装置により上記の操作は自−１１υ的におこなわれる
。なお、断面画像のピッチその他は設備模型互の形状、
大きさ等に対応して設定する。また、Ｘ線の代りに放射
線噌を使用してもよい。
上述の如く本発明は設備模型の複数内所にＸ線または放
射線を照射し、との股（ＩＩｉｉ模型を透過したＸ線ま
たは放射線を検出してこの設置＋ｉｉｉ横型の複数箇所
の断面像を検出し、これらの１す［面数から設備模型の
３次元１オをめて図面を作成するものである。したがっ
て、設備模型の図面を容易かつ能率的に作成することが
できるものである。
射線を照射し、との股（ＩＩｉｉ模型を透過したＸ線ま
たは放射線を検出してこの設置＋ｉｉｉ横型の複数箇所
の断面像を検出し、これらの１す［面数から設備模型の
３次元１オをめて図面を作成するものである。したがっ
て、設備模型の図面を容易かつ能率的に作成することが
できるものである。
第１図は本発明の方法を実施する装置の概略構成図、第
２図は断面像を例示する図、第３図は設備模型の断面画
像の位置を示す図、第４図（ａ）〜（ｄ）は各位置の断
面画像である。 ノ・・・Ｘ線ＣＴ装置、５・・・設備模型、６・・・Ｘ
線管、７・・・Ｘ線検出器群、９・・・信号処理回路、
１０・・・３次元画像処理表示装置。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 緋手続補正書 昭和 ５旧、 ＯＪｉ、２３ ｉ１ ′１′１許庁長官 若 杉 和 夫 殿１、 −′１３
件の表示 ！（テ願昭５８−１３０５Ｃｉ６号 ２、発明の名称 設備模型の図面作成方法 ｌ ＦｄＬ＋にをする渚 事件との関係 特許用Ｋ（１人 （６２０）三菱重工業株式会社 １１、復代理人 （ｉ、ｉ’＋ｌｉ市の対象 明祁１岩 ７ｔｉｌｉ正の内容 Ｅ！Ａ＋ｔｌｊｌ 舎（’） Ｉ”−５貫電１４行［］
に［−白Ｌ ’ｊ：ｉ’ ” ” ！５ ｂ 、 ５
ｃ 、 ５１） Ｊ とあるのを［）！’Ｉ”、’ｊ’
ｉ’ ５ａ ＋５ｂ、５ｃ、５ｄ」と訂正する。
２図は断面像を例示する図、第３図は設備模型の断面画
像の位置を示す図、第４図（ａ）〜（ｄ）は各位置の断
面画像である。 ノ・・・Ｘ線ＣＴ装置、５・・・設備模型、６・・・Ｘ
線管、７・・・Ｘ線検出器群、９・・・信号処理回路、
１０・・・３次元画像処理表示装置。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 緋手続補正書 昭和 ５旧、 ＯＪｉ、２３ ｉ１ ′１′１許庁長官 若 杉 和 夫 殿１、 −′１３
件の表示 ！（テ願昭５８−１３０５Ｃｉ６号 ２、発明の名称 設備模型の図面作成方法 ｌ ＦｄＬ＋にをする渚 事件との関係 特許用Ｋ（１人 （６２０）三菱重工業株式会社 １１、復代理人 （ｉ、ｉ’＋ｌｉ市の対象 明祁１岩 ７ｔｉｌｉ正の内容 Ｅ！Ａ＋ｔｌｊｌ 舎（’） Ｉ”−５貫電１４行［］
に［−白Ｌ ’ｊ：ｉ’ ” ” ！５ ｂ 、 ５
ｃ 、 ５１） Ｊ とあるのを［）！’Ｉ”、’ｊ’
ｉ’ ５ａ ＋５ｂ、５ｃ、５ｄ」と訂正する。
Claims (1)
- 設備模型の複数箇所にＸ線または放射線を照射する工程
と、上記設備模型を透過したＸ線または放射線を検出し
て上記設備模型の複数箇所の断面像を検出する工程と、
これら複数の断面像から上記設備模型の３次元像をめて
上記設備模型の図面を作成する工程とを具備したことを
特徴とする設備模型の図面作成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58130566A JPS6022616A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 設備模型の図面作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58130566A JPS6022616A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 設備模型の図面作成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6022616A true JPS6022616A (ja) | 1985-02-05 |
| JPH0311645B2 JPH0311645B2 (ja) | 1991-02-18 |
Family
ID=15037312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58130566A Granted JPS6022616A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 設備模型の図面作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6022616A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147349A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | 熱交換器の内部状態検知方法 |
| US6235458B1 (en) | 1997-08-01 | 2001-05-22 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Photographic film and heat-treatment method thereof |
| JP2009109416A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Hitachi Ltd | 組立品の検査方法及び検査システム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5317754A (en) * | 1976-08-02 | 1978-02-18 | Nippon Musen Irigaku Kenkiyuus | Method of detecting depth of specific point in specimen |
| JPS564847U (ja) * | 1979-06-25 | 1981-01-17 |
-
1983
- 1983-07-18 JP JP58130566A patent/JPS6022616A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5317754A (en) * | 1976-08-02 | 1978-02-18 | Nippon Musen Irigaku Kenkiyuus | Method of detecting depth of specific point in specimen |
| JPS564847U (ja) * | 1979-06-25 | 1981-01-17 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62147349A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-01 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | 熱交換器の内部状態検知方法 |
| US6235458B1 (en) | 1997-08-01 | 2001-05-22 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Photographic film and heat-treatment method thereof |
| JP2009109416A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Hitachi Ltd | 組立品の検査方法及び検査システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0311645B2 (ja) | 1991-02-18 |
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