JPS60242309A - 小さい光路差の測定に適したひずみ測定器 - Google Patents
小さい光路差の測定に適したひずみ測定器Info
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- JPS60242309A JPS60242309A JP9842584A JP9842584A JPS60242309A JP S60242309 A JPS60242309 A JP S60242309A JP 9842584 A JP9842584 A JP 9842584A JP 9842584 A JP9842584 A JP 9842584A JP S60242309 A JPS60242309 A JP S60242309A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
- G01B11/18—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge using photoelastic elements
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はガラス、プラスチックスに外力により発生した
複屈折または製造工程で作り込まれた凍結複屈折の特に
小さい値を測定するひずみ測定器に関する。
複屈折または製造工程で作り込まれた凍結複屈折の特に
小さい値を測定するひずみ測定器に関する。
従来、ガラスやプラスチックスの内部に発生した複屈折
を測定する方法は、偏光振動面が互いに直交した偏光子
と検光子（以下直交ニコルと称す）の関係に配置された
２板の偏光板の間に被測定試料と、２枚の鋭敏色板をそ
の対応する光学軸が互いに直交するように接合してなる
直交鋭敏色板と、光路に対して垂直な面上を回転する光
路差補償板とを重ねて挿入した装置をこおいて、被測定
試料の起こす光路差によって生じる直交鋭敏色板の両区
域の色調差に対し、光路差補償板を回転すると、この回
転角度に応じて光路差補償板の起こす光路差が相殺現象
を起こし、回転角度を調整して被測定試料の光路差を完
全に打ち消したとき、直交鋭敏色板の両区域の色調が等
しくなる。この場合、光路差補償板が与えた光路差は被
測定試料の光路差とは反対同量であるから光路差補償板
の回転角度から計算により前記光量差を定量的にめ試料
の複屈折を測定していた。しかし光路差補償板の回転角
度と被測定試料、直交鋭敏色板および光路差補償板の光
路差との関係についての解析法が複雑なため、工場等に
おいて実際に使用するにはぎわめて不便であった。
を測定する方法は、偏光振動面が互いに直交した偏光子
と検光子（以下直交ニコルと称す）の関係に配置された
２板の偏光板の間に被測定試料と、２枚の鋭敏色板をそ
の対応する光学軸が互いに直交するように接合してなる
直交鋭敏色板と、光路に対して垂直な面上を回転する光
路差補償板とを重ねて挿入した装置をこおいて、被測定
試料の起こす光路差によって生じる直交鋭敏色板の両区
域の色調差に対し、光路差補償板を回転すると、この回
転角度に応じて光路差補償板の起こす光路差が相殺現象
を起こし、回転角度を調整して被測定試料の光路差を完
全に打ち消したとき、直交鋭敏色板の両区域の色調が等
しくなる。この場合、光路差補償板が与えた光路差は被
測定試料の光路差とは反対同量であるから光路差補償板
の回転角度から計算により前記光量差を定量的にめ試料
の複屈折を測定していた。しかし光路差補償板の回転角
度と被測定試料、直交鋭敏色板および光路差補償板の光
路差との関係についての解析法が複雑なため、工場等に
おいて実際に使用するにはぎわめて不便であった。
本発明は上記の欠点を除去するためになされたもので、
前記解析法を新しく解釈しなおして、直交ニコルを使用
した前記測定製置における光路差補償板の回転角度目盛
を光弾性理論に基づき設定することにより、特に小さい
光路差の測定に適したひずみ測定器を提供することを目
的とする。
前記解析法を新しく解釈しなおして、直交ニコルを使用
した前記測定製置における光路差補償板の回転角度目盛
を光弾性理論に基づき設定することにより、特に小さい
光路差の測定に適したひずみ測定器を提供することを目
的とする。
本発明は、白色光源を用い、互いに直交ニコルの関係に
配置された２枚の偏光板すなわち偏光子と検光子との間
に、被測定試料を載置する載物台と、直交鋭敏色板と、
光路差補償板とを重ねて挿入してなるひずみ測定器であ
って、直交鋭敏色板は２枚の鋭敏色板をその対応する光
学軸が互いに直交するように並べて接合されたものであ
り、光路差補償板は複屈折性の透明体でその光路差が既
知であり、かつ角度読みとり用の指針を有し角度目盛板
内に光路に対して垂直な面上を同軸自在に光源からの光
が偏光子、載物台上の試料、直交鋭敏色板、光路差補償
板、および検光子を透過して観察者の眼に達し光弾性的
観察と測定とができるように構成された特に小さい光路
差の測定に適したひずみ測定器である。
配置された２枚の偏光板すなわち偏光子と検光子との間
に、被測定試料を載置する載物台と、直交鋭敏色板と、
光路差補償板とを重ねて挿入してなるひずみ測定器であ
って、直交鋭敏色板は２枚の鋭敏色板をその対応する光
学軸が互いに直交するように並べて接合されたものであ
り、光路差補償板は複屈折性の透明体でその光路差が既
知であり、かつ角度読みとり用の指針を有し角度目盛板
内に光路に対して垂直な面上を同軸自在に光源からの光
が偏光子、載物台上の試料、直交鋭敏色板、光路差補償
板、および検光子を透過して観察者の眼に達し光弾性的
観察と測定とができるように構成された特に小さい光路
差の測定に適したひずみ測定器である。
本発明の詳細を図示の実施例により説明する。
第１図において、基台１に配置された白色光源たとえば
白熱電球２は光源箱３に収容され、光源箱３の上部開放
端には集光レンズ４が取り付けられている。この光源箱
３の上方には、偏光子（偏光板）５、直交鋭敏色板６、
被測定試料を載置するための透明ガラスよりなる載物台
７、角度目盛板８、光路差補償板９、検光子（偏光板）
１０が基台１に植Ａした支持棒１１に順次かつ相互に適
切な間隔をおいて取り付けられている。偏光子５、直交
鋭敏色板６、角度目盛板８、検光子１０は光路に対して
垂直面上を回転可能であり、また光路差補償板９は角度
目盛板８に回転自在に取り付けられている。
白熱電球２は光源箱３に収容され、光源箱３の上部開放
端には集光レンズ４が取り付けられている。この光源箱
３の上方には、偏光子（偏光板）５、直交鋭敏色板６、
被測定試料を載置するための透明ガラスよりなる載物台
７、角度目盛板８、光路差補償板９、検光子（偏光板）
１０が基台１に植Ａした支持棒１１に順次かつ相互に適
切な間隔をおいて取り付けられている。偏光子５、直交
鋭敏色板６、角度目盛板８、検光子１０は光路に対して
垂直面上を回転可能であり、また光路差補償板９は角度
目盛板８に回転自在に取り付けられている。
直交鋭敏色板６は第２図に示すように、同一の光路差を
有し、白色光源を用いて直交する偏光子と検光子との間
に挿入して観察すると鮮やかな赤紫色を現出する鋭敏色
板１２．１３をその光学的軸ＸＹが互いにそれぞれ直交
するように接合したものである。鋭敏色を現わす複屈折
板の光路差は５６５圃前後である。
有し、白色光源を用いて直交する偏光子と検光子との間
に挿入して観察すると鮮やかな赤紫色を現出する鋭敏色
板１２．１３をその光学的軸ＸＹが互いにそれぞれ直交
するように接合したものである。鋭敏色を現わす複屈折
板の光路差は５６５圃前後である。
光路差補償板９は比較的小さな光路差を示す複屈折板で
あり、たとえば１０ｎｍまでの光路差を測る目的ならば
それよりは多少大ぎい１２ｎｍもしくは１５ｎｍなどの
光路差のものが採用される。また２０ｎｍまでの光路差
を測る目的ならば、たとえば２５ｎｍの光路差を示すも
のを選ぶのが適当である。
あり、たとえば１０ｎｍまでの光路差を測る目的ならば
それよりは多少大ぎい１２ｎｍもしくは１５ｎｍなどの
光路差のものが採用される。また２０ｎｍまでの光路差
を測る目的ならば、たとえば２５ｎｍの光路差を示すも
のを選ぶのが適当である。
この光路差補償板９は光路に対して垂直な面上を回転す
るように角度目盛板８に取り付けられており、その周縁
の一個所に回転角度を測るための指針１４が角度目盛板
８の目盛に対応して刻設されている。また光路差補償板
９は光路差の鴇に等しい係数を割り当てられている。た
とえば光路差が１２ｎｍの補償板はＸ １．２ｎｍ、光
路差２０ｎｍの補償板はＸ ２． Ｏｎｍである。
るように角度目盛板８に取り付けられており、その周縁
の一個所に回転角度を測るための指針１４が角度目盛板
８の目盛に対応して刻設されている。また光路差補償板
９は光路差の鴇に等しい係数を割り当てられている。た
とえば光路差が１２ｎｍの補償板はＸ １．２ｎｍ、光
路差２０ｎｍの補償板はＸ ２． Ｏｎｍである。
角度目盛板８は第３図に示すように、周面に１０〜０〜
１０なる値の目盛１５が刻設され、その中心に回転自在
に取り付けられた光路差補償板９の指針θが５ｉｎ２θ
であるような目盛には（１０ｘ ５ｉｎ２θ）なる値が
付けられている。
１０なる値の目盛１５が刻設され、その中心に回転自在
に取り付けられた光路差補償板９の指針θが５ｉｎ２θ
であるような目盛には（１０ｘ ５ｉｎ２θ）なる値が
付けられている。
このように構成された装置の調整および使用の方法につ
いて説明する。
いて説明する。
まず前記装置の光学系から直交鋭敏色板６と光路差補償
板９とを取り除く。白熱電球２を点灯し、偏光子５と検
光子１０との相対角度を調整し、両者が直交の関係にあ
り、光を通過させないようにする。このとき第４図に示
すように偏光子５の偏光軸１６と検光子ｌＯの偏光軸１
７とは９０’の角度をなしてσする。
板９とを取り除く。白熱電球２を点灯し、偏光子５と検
光子１０との相対角度を調整し、両者が直交の関係にあ
り、光を通過させないようにする。このとき第４図に示
すように偏光子５の偏光軸１６と検光子ｌＯの偏光軸１
７とは９０’の角度をなしてσする。
次に直交鋭敏色板６を前記光学系に挿入する。
この直交鋭敏色板６の光学軸Ｘ、Ｙを前記偏光軸１６．
１７に対し４５℃角度にあるようにすると、直交鋭敏色
板６を構成する２枚の鋭敏色板１２．１３は全く同一の
赤紫色を呈して眺められる。
１７に対し４５℃角度にあるようにすると、直交鋭敏色
板６を構成する２枚の鋭敏色板１２．１３は全く同一の
赤紫色を呈して眺められる。
次に光路差補償板９を前記光学系に挿入する。
光路差補償板９の光学軸ｃｌｃ２を偏光子５および検光
子６の偏光軸１６，１７と正しく平行および直角にした
ときには、直交鋭敏色板６の色は光路差補償板９を挿入
する前と全く同じである。このときに光路差補償板９の
指針１４が角度目盛１５の目盛〇を指示するように角度
目盛板９の角度を決めて固定する。
子６の偏光軸１６，１７と正しく平行および直角にした
ときには、直交鋭敏色板６の色は光路差補償板９を挿入
する前と全く同じである。このときに光路差補償板９の
指針１４が角度目盛１５の目盛〇を指示するように角度
目盛板９の角度を決めて固定する。
光路差を測定しようとする試料１８を載物台７の上に載
置する。試料１８が複屈折性で光路差を有していると、
上方から試料１８と直交鋭敏色板６とを啼 重ねて眺め
たとき、直交鋭敏色板６が示す赤紫色は変色して見える
。この変色は第４図に示すように試料１８の光学軸２％
Ｖが偏光子５および検光子ｌ。
置する。試料１８が複屈折性で光路差を有していると、
上方から試料１８と直交鋭敏色板６とを啼 重ねて眺め
たとき、直交鋭敏色板６が示す赤紫色は変色して見える
。この変色は第４図に示すように試料１８の光学軸２％
Ｖが偏光子５および検光子ｌ。
の偏光軸１６．１７に対し４５°の角度にあるとき最も
顕著である。その上直交鋭敏色板６を構成する２枚の鋭
敏色板１２．１３のいずれが一方は赤色に他方は藍色に
近づくように変色するがら、試料１８の光路差がｌｎｍ
程度の小さな値であっても、容易に光路差すなわち複屈
折を検出できる。
顕著である。その上直交鋭敏色板６を構成する２枚の鋭
敏色板１２．１３のいずれが一方は赤色に他方は藍色に
近づくように変色するがら、試料１８の光路差がｌｎｍ
程度の小さな値であっても、容易に光路差すなわち複屈
折を検出できる。
さらに直交鋭敏色板６は、変色する２枚の鋭敏色板１２
．１３が隣接して並べられているため、変色の検出を特
に容易にしている。この状況の例を第５図に示す。直交
鋭敏色板６を構成する鋭敏色板１２．１３は試料１８を
置かれてこれと重なっている部分２１と２２とを比較す
ると互いに色が異なっている。
．１３が隣接して並べられているため、変色の検出を特
に容易にしている。この状況の例を第５図に示す。直交
鋭敏色板６を構成する鋭敏色板１２．１３は試料１８を
置かれてこれと重なっている部分２１と２２とを比較す
ると互いに色が異なっている。
試料１８と重なっていない部分２３と２４とを比較する
と色は全く同じである。
と色は全く同じである。
次に光路差補償板９を回転すると、互いに色が異なって
いる部分２１と２２とが、試料１８を挿入する以前と同
様に互いに同じ色彩を呈するよう舎こなる。
いる部分２１と２２とが、試料１８を挿入する以前と同
様に互いに同じ色彩を呈するよう舎こなる。
このように光路差補償板９を回転したとき、その指針１
４が指示する角度目盛板８の目盛１５の値を読む。この
目盛１５の値と光路差補償板９の係数とを掛は合わせる
と、試料１８の光路差が得られる。
４が指示する角度目盛板８の目盛１５の値を読む。この
目盛１５の値と光路差補償板９の係数とを掛は合わせる
と、試料１８の光路差が得られる。
次に上記の計算例を示す。
例１ 光路差補償板９の光路差を２ｉｎｍとすると、そ
の係数はｘ ２．１ ｎｍである。試料による直交鋭敏
色板６の変色を試料挿入前の状態に戻すために、光路差
補償板９を４．５の目盛まで回転するを要したならば、
試料の光路差は４．５ ｘ ２．１−９．４５ ｎｍで
ある。
の係数はｘ ２．１ ｎｍである。試料による直交鋭敏
色板６の変色を試料挿入前の状態に戻すために、光路差
補償板９を４．５の目盛まで回転するを要したならば、
試料の光路差は４．５ ｘ ２．１−９．４５ ｎｍで
ある。
例２ 光路差補償板９の光路差を９ｎｍとすると、その
係数は×α９ｎｍである。試料による直交鋭敏色板６の
変色を試料挿入前の状態に戻すために、光路差補償板９
を３の目盛まで回転するを要したならば、試料の光路差
は３ｘＯ，９＝２．７ｎｍである。
係数は×α９ｎｍである。試料による直交鋭敏色板６の
変色を試料挿入前の状態に戻すために、光路差補償板９
を３の目盛まで回転するを要したならば、試料の光路差
は３ｘＯ，９＝２．７ｎｍである。
この測定の原理を次に説明する。第６図において、偏光
子５と検光子１０がそれぞれの偏光軸１６と１７とを直
交させて配置されている。偏光子５と検光子ｌＯの間に
光路差Ｒを有する複屈折板３１を挿入する。複屈折板３
１の光学軸ＲＩＲｓが前記偏光軸１６．１７と角度θを
なしているときに、複屈折板３１が示す光学的効果は、
光学軸ＴｌＴｉが偏光軸１６．１７とそれぞれ４５℃角
度をなし、光路差がＲ−８ｉｎ２θである仮想的な複屈
折板３２と近似的に等しい。このことは本発明者が既に
提案し一般に知られているとおりである。
子５と検光子１０がそれぞれの偏光軸１６と１７とを直
交させて配置されている。偏光子５と検光子ｌＯの間に
光路差Ｒを有する複屈折板３１を挿入する。複屈折板３
１の光学軸ＲＩＲｓが前記偏光軸１６．１７と角度θを
なしているときに、複屈折板３１が示す光学的効果は、
光学軸ＴｌＴｉが偏光軸１６．１７とそれぞれ４５℃角
度をなし、光路差がＲ−８ｉｎ２θである仮想的な複屈
折板３２と近似的に等しい。このことは本発明者が既に
提案し一般に知られているとおりである。
上記の理論を基に前述の測定操作を説明すると第６図に
おいて、まず試料１８はその光学軸ｆ、ｙが偏光軸１６
．１７とそれぞれ４５°の角度をなすように置かれる。
おいて、まず試料１８はその光学軸ｆ、ｙが偏光軸１６
．１７とそれぞれ４５°の角度をなすように置かれる。
これに重合して複屈折板３１が置かれ、複屈折板３１の
示す複屈折と試料１８′の複屈折とが絶対値が等しく符
号が反対であると、複屈折板３１が試料１８の示す複屈
折すなわち光路差を打消して、あたかも光路差は０で、
直交鋭敏色板６によっても光路差が検出できないように
なる。このとき、複屈折板３１の示す見掛けの光路差と
、試料１８の光路差は絶対値が等しいから、 （試料１８の光路差） ｘ ５ｉｎ（２ｘ４５°）−（
複屈折板３１の光路差Ｒ） ｘ ５ｉｎ２θという関係
が成立する。この関係を変形すると、試料１８の光路差
−Ｒ＊５ｉｎ２θ Ｒ −Ｂ・（１０曇５ｉｎ２θ） 一光路差補償板の係数×光路差 補償板の指針の指示する目盛 となり、前述の測定方法で得られた値が試料１８の光路
差に等しいことが証明された。
示す複屈折と試料１８′の複屈折とが絶対値が等しく符
号が反対であると、複屈折板３１が試料１８の示す複屈
折すなわち光路差を打消して、あたかも光路差は０で、
直交鋭敏色板６によっても光路差が検出できないように
なる。このとき、複屈折板３１の示す見掛けの光路差と
、試料１８の光路差は絶対値が等しいから、 （試料１８の光路差） ｘ ５ｉｎ（２ｘ４５°）−（
複屈折板３１の光路差Ｒ） ｘ ５ｉｎ２θという関係
が成立する。この関係を変形すると、試料１８の光路差
−Ｒ＊５ｉｎ２θ Ｒ −Ｂ・（１０曇５ｉｎ２θ） 一光路差補償板の係数×光路差 補償板の指針の指示する目盛 となり、前述の測定方法で得られた値が試料１８の光路
差に等しいことが証明された。
なお、本発明の実施例は光学素子を縦方向に配列して構
成した装置を示したが、光学素子を横方向に配列するこ
とも、また縦形の装置を横向きに保持して使用すること
もできることは明らかである。さらに、偏光子と検出子
との間に挿入される光学素子と試料は、その配列順序を
任意に変更しても同様の効果が得られる。
成した装置を示したが、光学素子を横方向に配列するこ
とも、また縦形の装置を横向きに保持して使用すること
もできることは明らかである。さらに、偏光子と検出子
との間に挿入される光学素子と試料は、その配列順序を
任意に変更しても同様の効果が得られる。
以上のとおり本発明はガラスやプラスチックスに発生し
た複屈折、特に小さい複屈折を正確、精密かつ容易に測
定できる装置であり、従来のように複雑な計算の必要が
なく、実用上きわめてすぐれた効果を有するものである
。
た複屈折、特に小さい複屈折を正確、精密かつ容易に測
定できる装置であり、従来のように複雑な計算の必要が
なく、実用上きわめてすぐれた効果を有するものである
。
第１図は本発明の実施例を示す全体構成図、第２図は直
交鋭敏色板の構成を示す平面図、第３図は光路差補償板
と角度目盛板の構成を示す平面図、第４図は光学素子の
光学軸間の角度関係を示す説明図、第５図は直交鋭敏色
板と試料とが重合した状態を示す平面図、第６図は光学
素子の光軸間の角度関係を示す説明図である。 ５・・・・・・偏光子 ６・・・・・・直交鋭敏色板
７・・・・・・載物台、８・・・・・・角度目盛板 ９
・・・・・・光路差補償板 １０・・・・・・検光子特
許出願人 東芝硝子株式会社 第１図 第４図 第５図 第６図
交鋭敏色板の構成を示す平面図、第３図は光路差補償板
と角度目盛板の構成を示す平面図、第４図は光学素子の
光学軸間の角度関係を示す説明図、第５図は直交鋭敏色
板と試料とが重合した状態を示す平面図、第６図は光学
素子の光軸間の角度関係を示す説明図である。 ５・・・・・・偏光子 ６・・・・・・直交鋭敏色板
７・・・・・・載物台、８・・・・・・角度目盛板 ９
・・・・・・光路差補償板 １０・・・・・・検光子特
許出願人 東芝硝子株式会社 第１図 第４図 第５図 第６図
Claims (1)
- 白色光源を用い、互いに直交二フルの関係に配置された
２枚の偏光板の間に、被測定試料を載置する載物台と、
２枚の鋭敏色板をその対応する光学軸が互いに直交する
ように接合してなる直交鋭敏色板と、光路に対して垂直
な面上を回転する光路差補償板とを重ねて挿入してなり
、白色光源からの光が前記偏光板、載物台上の試料、直
交鋭敏色板および光路差補償板とを透過するように構成
板に回転自在に取付けられた光路差補償板を具備した小
さい光路差の測定に適したひずみ測定器
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9842584A JPS60242309A (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 小さい光路差の測定に適したひずみ測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9842584A JPS60242309A (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 小さい光路差の測定に適したひずみ測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60242309A true JPS60242309A (ja) | 1985-12-02 |
| JPH053535B2 JPH053535B2 (ja) | 1993-01-18 |
Family
ID=14219453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9842584A Granted JPS60242309A (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 小さい光路差の測定に適したひずみ測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60242309A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06148005A (ja) * | 1992-04-07 | 1994-05-27 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光学ひずみマッピング装置ならびに方法 |
| CN107796322A (zh) * | 2016-09-06 | 2018-03-13 | 柯尼卡美能达株式会社 | 结构色变化型材料和应变检测装置 |
| CN108240799A (zh) * | 2016-12-26 | 2018-07-03 | 柯尼卡美能达株式会社 | 形变传感器及形变量测定方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5558428A (en) * | 1978-10-27 | 1980-05-01 | Toshiba Corp | Photoelastic device |
-
1984
- 1984-05-16 JP JP9842584A patent/JPS60242309A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5558428A (en) * | 1978-10-27 | 1980-05-01 | Toshiba Corp | Photoelastic device |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06148005A (ja) * | 1992-04-07 | 1994-05-27 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 光学ひずみマッピング装置ならびに方法 |
| CN107796322A (zh) * | 2016-09-06 | 2018-03-13 | 柯尼卡美能达株式会社 | 结构色变化型材料和应变检测装置 |
| CN107796322B (zh) * | 2016-09-06 | 2020-08-18 | 柯尼卡美能达株式会社 | 结构色变化型材料和应变检测装置 |
| CN108240799A (zh) * | 2016-12-26 | 2018-07-03 | 柯尼卡美能达株式会社 | 形变传感器及形变量测定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH053535B2 (ja) | 1993-01-18 |
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