JPS60246499A - 複数の測定個所の測定値の中央検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、おのおのの測定個所に生じるデータを、中央
のデータ検出および／またはデータ処理装置に時間間隔
をおいて繰返し伝送する際の複数の測定個所の測定値を
中央で検出する方法に関する。

従来の技術 ドイツ連邦共和国特許第６００５７４６号明細書に記載
の方法では大型繊維機械において複数の測定個所に生じ
る測定データが中央データ処理装置によって検出されか
つ処理される。読出し速度は、中央のデータ処理装置と
多数の測定個所との間に複数の分散データ処理装置な設
けることによって高められる。これらの分散データ処理
装置には制限された数の測定個所しか所属していない。

分散データ処理装置はデータの読出しくスキャナ）およ
び一時記憶を行なう。

発明が解決しようとする問題点 このことは、一方においてコストのか＼る構成であるが
、他方において読出し速度および読出し周波数が高めら
れる。しかし上記構成は、続出１７時点における測定の
瞬時値しか検出されないという欠点がある。これにより
、ランダム値しか検出および評価されず、これらランダ
ム値ではゾロセスの経過および得られる製品の品質に対
する信頼できる情報を表わすことはできない。

本発明の課題は、データ検出装置、によって時間間隔を
おいて読み出されかつ処理される同形式の測定値を有す
る複数の測定個所にお（・て、プロセスの時間的にギャ
ップのない品質監視を保証することである。

問題点を解決するための手段 このためにおのおのの読出し時間間隔内に連続的に生じ
る極大値のみが検出されかつ測定個所の出力信号として
中央のデータ検出装置による読出しまで保持される。保
持された信号は有利には中央のデータ処理装置による読
出しおよび検出後消去される。時間的に生じる検大値の
読出しへの制限によって、測定によって監視されるプロ
セスの品質に対する時間的にギヤソノのない情報が得ら
れる。

測定結果の評価は次のようにすれば一層簡単化されかつ
迅速化される。すなわち許容の測定値に対してもとより
おのおのの測定個所において許容測定値の所定の帯域幅
を定め、その幅を上回ると障害信号が生じるようにする
。

本発明の有利な実施例においては測定結果の平均値もめ
られかつ周期的な読出しのために準備されるようになっ
ている。測定結果の平均値はそれ自体だけで、極大値の
場合と同様に品質に対する非常に高い情報値を有する。

この理由から有利には、極大値が測定値の波高値の、平
均値からの偏差としてめられるようになっている。

この方法において平均値の変動に対する許容帯域幅並び
に他方においてこのようにして平均値からの偏差として
められた極大値に対する許容帯域幅が定められるとき、
周期的に読出されるたった６つの測定値から確実な、時
間的にギャップのない品質情報が取出される。その際こ
れにより平均値は周期的な読出しに対して非常に簡単に
連続的に準備することができる。というのは生じる実際
の測定値は低斌フィルタを介して準備される。

これまでは本発明によれば、測定値をアナログ信号とし
て記憶しかつ周期的な読出しに対して準備するようにな
っていた。しかし、測定値をデジタル形において準備す
ることもでき、その場合は引続く処理に対して利点が生
じる。

このことは、次のようにして行なわれる。すなわちおの
おのの測定領域を測定段階に分割し、かつ測定個所の連
続的に生じる測定値が達したかまたは上回ったおのおの
の測定段階に対して持続的な出力信号を発生し、かつ生
じた出力信号を前取って決められた時間間隔において中
央のデータ検出装置によって読出しかつ検出する。

確かにこの方法によっては測定量の時間経過を検出する
ことはできない。しかし読出し時間間隔においてどんな
測定量が生じたかは検出される。これにより読出し時間
間隔において生じた、測定されたパラメータの極大値が
検出される。これにより読出し時間間隔における測定値
経過に対する情報が得られる。極大値のみを記憶しかつ
読出しの際極大値を検出するようにすれば、伝送すべき
データ量を低減することができる。

有利には出力信号は中央データ処理部による読出しおよ
び検出後再び消去される。これにより測定データ経過お
よびプロセスの品質について、複数の連続する読出し時
間間隔の測定データを評価することによつ【解明するこ
とができる。読出し時間間隔の長さは非常に短く選択す
ることができる。その理由は測定データが既にデジタル
化して生じているからである。読出し時間間隔の短縮に
よって極大値監視および評価は実質的に時間的に隙間の
ない監視および評価と等価になる。にも拘わらず読出し
くスキャニング）周波数は、隙間のない測定データ検出
の従来の方法により必要である周波数以下である。

実施例 次に本発明を図示の実施例につき図面を用いて詳細に説
明する。

第１図は、測定値、例えば繊維機械において走行する糸
１の糸張力の時間的に隙間のない測定記録を示す。この
形式の繊維機械の一部が第６図に図示されている。

第６図には、糸１を有する大型繊維機械の４つの同じ処
理個所が略示されている。おのおのの糸１はゴデツト２
を介して伸長領域に搬入され、そこで加熱装置３を介し
て案内されかつコデット４を介して再び搬出される。５
は、糸引張力（糸張力）測定値発生器を示す。巻取り装
置においておのおのの糸は駆動ローラ６を介してボビン
７に巻取られる。おのおのの測定値発生器５は、第４図
に詳しく図示されている測定センサ８および比較回路９
から成る。これらについては後述する。

第１図に図示の、糸引張り力の測定値は、プロセスの障
害がなければ所定の範囲内に保持される。理想としては
測定値は一定である。しかし変動、殊に時間的に短い変
動も生じる。

この形式のアナログ測定値信号は、時間的に連続する読
出しが行なわれるときにのみ時間的にギャップなく検出
することができる。しかし殊に繊維工業において大量の
糸の処理または発生のための機械において生じるように
一測定個所が多数ある場合、時間的に隙間のない検出お
よび中央処理には大きな計算機容量が必要であるばかり
でなく、ケーブルおよび回路的に殆んど実現不可能なコ
ストが必要である。したがって通例測定個所は連続的に
順次読出される。おのおのの読出しに対して所定の時間
が必要であるので、このような順次の読出しから、次の
ことが生じる。すなわち測定値の時間的に隙間のない検
出は不可能であり、かつ測定値の読出しに対してむしろ
、もとより必要なＡＤ変換によっても決められる最小時
間が必要である。すなわ・ち小さなスキャニング時間に
より測定値の申し分なく高い分解能を得るには、計算機
に接続される測定個所の数を制限しなければならない。

しかしこれによっても、この種の変動が場合によ−って
工業技術上重要であるときの短時間の変動は検出されな
い。

本発明によればまず、そもそも生じるないしそもそも検
出しようとする、測定値の所定の帯域幅が定められる。

この帯域幅は第１図においては破線によって図示されて
いる。測定値のこの帯域幅は本発明において測定領域と
定義される。

実施例においてこの測定値の帯域幅は、それぞれが同じ
大きさである測定段階１．　ＩＩ、ＩＩＩ■に分割され
ている。

次に第２図を基いて、このような時間的に隙間なく生じ
る測定値は本発明によりどのようにして変形されるか、
これら測定値が時間的に前取って決められた間隔ＳＴ１
．ＳＴ２．ＳＴ３において読出しのためにどのような形
において準備されるかを説明する。

本発明によればおのおのの測定領域Ｉないし■に、所定
のデジタル出力信号ＡＩないしＡ■が対応している。出
力信号ＡＩないしＡ■は、実際の測定値が相応の測定段
階を通過するとき、また通過するや否や呼出される。更
に出力信号ＡＩないしＡ■は、それらが呼出さ゛れてい
る限り、記憶される。したがって呼出された出力信号は
常に読出し準備状態にある。時間間隔１゛１において全
部で出力信号ＡｌｌないしＡ■が生じる。これら出力信
号は記憶されており、しだがつて読出し時点ＳＴＩにお
いて読出し準備されている。こ＼から、読出し時間間隔
において非常に大きな測定値変動が生じたことが明らか
である。読出し時間間隔Ｔ２における変動幅は一層大き
く、一方読出し時間間隔Ｔろにおいてはずっと小さな変
動しか生じていない。

ところで時間間隔ＴＩ、Ｔ２．Ｔ３．　・・・において
記憶された値は、時点ＳＴ１．ＳＴ２において中央の計
算機によって呼出しかつ引続いて消去することができる
。したがって、測定値経過の時間的に隙間のない検出は
行なわれない。

しかし極大値は時間的に隙間なく検出することができる
。殊に読出し時間ＴＩ、Ｔ２．Ｔ３゜・の短縮によって
、例えば周期的な測定値変動、測定値ばらつきの時間的
な経過、極大値の時間的傾向等に関して測定値経過を殆
んど完全に解明することができる。この場合も読出し時
間ＴＩ、Ｔ２．Ｔろは、アナログに生じる測定値の極大
値を高い信頼性で検出できるために、従来の方法の読出
し時間より著しく大きい。その上、読出し時点において
ランダムに生じる測定データしか読出されな（・という
こと、所定の時間間隔および所定の時点に読出しを実施
することができ、したがって殊に極端な測定値および測
定値ピークがランダムかつ良好に検出することができな
いコストのか＼る中間データ処理装置を設けなければな
らないという欠点が回避される。

測定領域を測定段階に分割するために、比較回路（第４
図）が特に有利な実施例として設けられている。比較回
路によっておのおのの測定値に、所定の段階列にある比
較値を対応させかつ測定値および比較信号のその都度の
段階が比較の判断基準を満足する、例えば等しいとき、
その都度の測定段階に対応する出力信号を発生する。

おのおのの比較回路は、それぞれ入力側１１が直列に接
続されている抵抗１２に接続されている８つのコンパレ
ータ１ｏがら盛る。

コンパレータは、入力側１３における値が入力側１１に
おける電圧値に達するや否や、出ヵ信号Ａ１ないしＡｖ
Ｉを送出するように構成されている。おのおのの抵抗１
２が、それぞれ測定段階を表わすように定められている
とき、おのおのの出力信号ＡＩないしＡ■はそれぞれ測
定段階Ｉないし■に相応する。

回路は、測定段階が僅かにオーバラップするように構成
することもできる。その際例えば測定段階に対して相互
のロック手段によって、２つの段階のオーバラップ領域
にある測定値に対して２つの測定段階の信号が記憶され
ることを妨げることができる。いかなる場合にもその都
度最高の値のみ従記憶される。このためにコンパレータ
は詳しく図示されていない論理スイッチ回路に接続され
ており、この論理スイッチ回路によって次に高い信号が
呼出されるや否や出力信号ＡＩないしＡ■が消去される
。

第６図および第４図に詳しく図示されているように、お
のおのの比較回路は、それぞれの出力値ＡＩないしＡ■
が記憶されるメモリ装置１４に接続される。メモリに出
力信号ＡＩないしＡ■が存在し、それらが読出し期間に
呼出された場合並列直列変換器１５に供給される。並列
直列変換器の機能は、並列かつ同時に生じた信号ＡＩな
いしＡ■をパルス列に変換することである。パルス列は
唯一の線１６を介して計算機１７に供給することができ
る。メモリ装置１４には、次に高い出力信号が発生され
たとき、出力信号ＡＩないしＡ■を消去する既述の論理
スイッチ回路も設けられている。

読出し時点は計算機１７によって（第６図）前取って決
められる。読出し時点においてその都度計算機は接続さ
れて℃・る並列直列変換器１８を介して、符号化された
信号列を、場合により線１９を介してアドレス指定する
ために送出する。これによりその都度メモリ１４０１つ
が応答しかつ測定個所の記憶された出力信号ＡＩないし
Ａ■が読出される。線１６を介してデータの呼出しが行
なわれると計算機は線１９を介して個々のメモリに基い
て符号化されている消去信号を送出し、その結果この測
定個所の記憶されている出力信号は消去されかつ次の読
出し時間間隔に対して空になる。

更に、測定値発生器の全体の検出領域および同様に生じ
うる測定値の全体の領域を評価するのではなく、生じう
る測定値から正常な作動を表わす、測定値の帯域幅を選
択すると有利である。本発明により検出される測定領域
の制限によって、作動領域の外にある測定値は根本的に
評価から取除かれかつこれによって一表示精度の制限な
しに（一層へ単純化することなり）−使用技術手段へが
同じであれば一選択された測定領域内の表示精度の鮮鋭
化を行なうことができる。

第５図はおのおのの測定個所におけるアナログ出力信号
の準備の際の本発明の測定方法を説明する。横座標はす
べてのダイヤグラムに共通な時間軸である。時間軸上に
、読出し時間間隔８１〜Ｓ４が図示されている。ダイヤ
グラムＩの縦座標は例えば測定センサの測定電圧Ｕの可
能な経過を示す。測定電圧は実際の、連続的に検出され
る測定値を表わす。ダイヤグラム■は縦座標において測
定電圧の平均値Ｕｍｘｔｔｅ□を示す。本発明によれば
この平均値は、測定値を低域フィルタを介して導くこと
によって発生される。

ダイヤグラム■はその時間経過において、最大値Ｕ　の
形成、準備（保持）および読出しａｘ を表示する。

ダイヤグラム■は同様に、測定電圧の最小値Ｕｍｌｎの
時間的経過、形成、準備（保持）および読出しを示す。

測定電圧はダイヤグラム■および■においてそれぞれ、
基準電圧（平均値）に関連付けて示されている。このた
めに殊に電圧零または平均値が考慮される。極大値形成
および準備（保持）について以下詳細に説明する。

例えば読出し時間間隔Ｓ３において測定電圧はまず時間
領域ａにおいて実質的に一定でありかつ平均値に等しい
。したがってこの時間区間において極大値ＵｍａＸおよ
びＵｍｌｎも平均値に相応する。しかし次の時間領域す
において、ダイヤグラムＩが示すように、測定電圧Ｕの
跳躍的でかつ短時間の高まりが生じる。この極大値の短
時間特性のためこの変動は平均値に何らの影響も示さな
い。しかし最大値Ｕｍａｘは極大値まで測定値の高まり
に従いかつそれからこの極大値をとる。それからこの極
大値は、ダイヤグラム■が示すように、読出し時間間隔
Ｓ６の間とζまりかつこの読出し時間間隔の終了時に中
央。

のデータ検出装置によって読出されかつそれから再び消
去され、その結果測定個所に準備されている値は再び基
準値に復帰する。

読出し時間間隔Ｓ６において時点すに続いて平均値とは
異なった負方向の若干の偏差、殊ＫＣにおける測定電圧
の跳躍的な短い降下が示されている。ダイヤグラム■が
示すように、最小値記憶Ｕｍ□。も実際の測定値Ｕの、
平均値からのこの負方向の偏差に従い、その際その都度
最低の値が記憶されかつ読出し時間間隔Ｓ３の終了時に
おける読出しのために保持される。

読出し時間間隔＄３の終了時に、中央データ検出装置に
よって読出しかつ評価するために、その読出し時間間隔
の経過を表示する、平均値の値並びにそれとの最大の正
および負の偏差が準備すなわち保持される。

このことに対して選択的に平均値の他に絶対の極大値を
準備すなわち保持することができる。

このようにして例えば、複数の処理個所を有する繊維機
械における糸張力をそれぞれ処理すべき糸に対して、連
続的に検出し、おのおのの読出し時間間隔において最大
、最小および平均値を準備し、中央データ検出装置によ
ってスキャナを介して処理個所から処理個所へ時間間隔
をおいて読出しかつ品質情報を表わすべく評価すること
ができる。その際読出し値Ｕｍよ□、。□、Ｕｍａｘお
よびＵｍｌｎに依存して障害警報信号を発生することが
できる。このためにまず出力信月Ｕｍ工ｔｔｅ□によっ
て表示される、平均の糸張力に対して所定の帯域幅が前
以って決められる。実際にめられた平均値が許容糸張力
のこの帯域幅を離れると、障害警報信号が送出されかつ
例えば当該の処理個所が停止されまたはこの処理個所に
対して障害が信号報知される。同様平均値からの偏差と
しての最大値に対して所定の帯域幅が前以って決められ
る。平均値からの偏差として最小値に対しても同様に所
定の帯域幅が前以って決められる。その際この帯域幅は
種々異なった大きさとすることができる。

第６図は、おのおのの測定個所におけるアナログ極大値
およびアナログ平均値を準備するための基本回路図であ
る。測定値、例えば第６図に示すように一測定個所の糸
引張り力は、検出器ないし測定値発生器５によって連続
的に検出される。１４によって、おのおのの測定個所に
対応しているメモリ装置が示されている。このメモリ装
置において測定値は増幅されかつ最大値ＵｍａＸ、平均
値Ｕｍｌｔおよび最小値Ｕｎ１、ｎＫ処理されかつ読出
しのために維持される。このためにメモリ装置１４はま
ず測定信号を増幅する増幅器２０を有する。それから波
高値測定回路２１において平均値からの偏差としての最
大値の形成が行なわれかつ反転形の波高値測定回路２２
において平均値からの偏差としての最小値の形成が行な
われる。２３で示すのは平均値を発生するための低域フ
ィルタである。メモリ装置のその他の電子装置は示され
ていない。メモリ装置の出力側において相応に読出し時
間間隔毎の測定値の最大値、連続する平均値および読出 出し時間間隔毎の測定値の最＼値が準備される。

これらの値は切換装置、所謂゛スキャナ”３１に供給さ
れる。その働きは、並列かつ同時に生じる信号を順次に
ＡＤ変換器３２および線１６を介して計算機１７に供給
することである。

既述のように、計算機１７によって読出し時点が前以っ
て決められる。読出し時点の都度計算機は符号化された
信号列を場合に応じて線１９を介してアドレス指定する
ために送出する。

これによりその都度当該メモリを有する測定個所が応動
しかつ記憶されている出力信号が読出される。線１６を
介してデータ呼出しが行なわれた後、計算機は線１９を
介して個々のメモリに基いて符号化されている消去信号
を送出し、その結果記憶された最大値な見・し最小値が
消去される。平均値は維持される。更に線１９を介して
障害警報信号装置２４も応動することができる。

この回路に使用の波高値測定回路および低域フィルタは
公知である。波高値測定回路を第７図の簡単化された回
路図に基いてもう一度説明する。最大値をめるための波
高値測定回路は殊にダイオード２５およびコンデンサ２
６を有する。コンデンサはＯｖの電圧に接続されている
。測定値Ｕに対してＯないし１０ｖの電圧が許容されて
いる。ダイオード２５は電流遮断方向に極性付けられて
いるので、コンデンサ２６は、読出し時点において達せ
られる最大値まで充電され、その結果この最大値が記憶
されかつその読出し時間間隔の出力信号として維持され
る。

２７は、コンデンサ２６を短絡するスイッチである。ス
イッチ２７は、読出し後最大値Ｕエエを消去することが
できるとき、純１９を介して制御される。

反転形の波高値形成回路２２はダイオ−Ｐ２８並びにコ
ンデンサ２９を有する。しかしダイオードの極性はダイ
オード２５とは逆になっている。これに対してコンデン
サは、その前に１０■と仮定した生じうる最大の測定電
圧より高い１５Ｖの電圧に接続されている。すなわち、
コンデンサ２９における測定値のその都度の低下は増大
されかつ持続する電圧勾配として現われ、それは最小値
Ｕｍｍとしてメモリの出力側において保持される。３０
で示すのは、コンデンサを短絡し、したがって線１９を
介して消去信号を送出することかできるスイッチである
。

低域フィルタ２３は実質的に周知であるように抵抗とコ
ンデンサとから成る。

第７図の回路は、第６図に図示の回路とは次の点で異な
っている。すなわち第７図では極大値はその絶対値によ
って表示される。第６図と同様に、測定された値をメモ
リ装置において、極大値が測定された極大値とその平均
値との間の差として表わされるように処理することもで
きる。このために２つの選択的な可能性がある。

１つには回路点３８と電圧ホロワ３３との間および同じ
回路点３８と電圧ホロワ３４との間に、実際の測定値と
平均値Ｕ　との間の差を形１ｔｔｅｌ 成する手段を挿入することができる。このような差動増
幅器は第８図において３９で示されている。

もう１つの可能性は、第７図の電圧ホロワ３５および３
６それぞれに代わって、差動増幅器３７の出力側に接続
されている差動増幅器を設けることである。これにより
極大値ＵｍａｘおよびＵｍｌｎは絶対の極大値と平均値
との間の差として表わされるように処理される。

発明の効果 本発明によれば時間間隔内の最大値および最小値をめか
つ記憶し、所定の時間間隔をおいて中央検出装置によっ
て読出しかつ検出するので、読取し周波数を高くするこ
となく監視すべきプロセスに対して時間的にイヤノゾの
な（・情報が得られるという利点が生じる。

【図面の簡単な説明】

第１図は糸張力の測定値の時間的に隙間のない測定記録
の一例を示すグラフ図であり、第２図は第１図の測定値
を本発明の方法を用いて測定する際にどのように行なわ
れるかを説明するグラフ図であり、第６図は４つの測定
個所を有する繊維機械の一部および所属の電気装置の概
略を示すブロック図であり、第４図は記憶装置および並
列直列変換器とともに第５図の比較回路の詳しい回路を
示す図であり、第５図はおのおのの測定個所におけるア
ナログ出力信号の準備に際し本発明の方法の使用を説明
するための電圧波形図であり、第６図はおのおのの測定
個所におけるアナログ極大値およびアナログ平均値を準
備するための回路のブロック図であり、第７図は簡単化
された波高値測定回路の回路図であり、第８図は付加的
に差動増幅器が設けられている、第７図の回路の別の実
施例の回路図である。 ５　測定値発生器、８　測定センサ、９・・・比較回路
、１４・・メモリ装置、１７・・・計算機、２１　最大
値形成回路、２２・最小値形成回路、２３・平均値形成
回路、 第１頁の続き 優先権主張　■１９泪年５月３０日［相］西トイ０１賢
Ｗ手８月１７日０西トイ ０発　明　者　カールーヴエルナー・ フレーリヒ ツ（Ｄ　Ｅ）＠Ｐ３４２０１６３．７ ツ（ＤＥ）［相］Ｐ３４３０２２３．９ドイツ連邦共和
国ヴパータールーランガーフェルト・イン・デア拳フロ
イテ　１２１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、　おのおのの測定個所に生じるデータを中央のデー
   タ検出および／またはデータ処理装置に時間間隔をおい
   て繰返し伝送する際の複数の測定個所の測定値の中央で
   の検出方法において、 おのおのの時間間隔内に連続する測定値の最大値および
   最小値を検出しかつその都度出力信号として記憶し、か
   つ記憶された出力信号を前以って決められた短い時間間
   隔において中央データ検出装置によって読出しかつ検出
   することを特徴とする複数の測定個所の測定値の中央検
   出方法。 ２、記憶された出力信号を読出しおよび検出後中央のデ
   ータ処理装置によって消去する特許請求の範囲第１項記
   載の複数の測定個所の測定値の中央検出方法。 ろ、　測定値発生器の生じうる測定値または検出領域か
   ら測定値の制限された帯域幅を測定領域として選択する
   特許請求の範囲第１項または第２項記載の複数の測定個
   所の測定値の中央検出方法。 ４、選択された測定領域を上回ると障害として信号化す
   る特許請求の範囲第６項記載の複数の測定個所の測定値
   の中央検出方法。 ５、　測定値から連続的に平均値を形成し、記憶しかつ
   読出す特許請求の範囲第１項から第４項までのいづれか
   １項記載の複数の測定個所の測定値の中央検出方法。 ６、　極大値を平均値との比較によって形成しかつこの
   ようにして得られた極大値が、前以って決められた最高
   許容偏差を上回ったとき、障害信号を送出する特許請求
   の範囲第５項記載の複数の測定個所の測定値の中央検出
   方法。 Ｚ　読出し時間間隔内に生じる極大値を測定値の、平均
   値からの最大偏差として検出しかつ記憶し並びに読出す
   特許請求の範囲第５項記載の複数の測定個所の測定値の
   中央検出方法。 ８．　平均値を連続的に実際に測定された値から、読出
   し時間間隔に無関係に検出する特許請求の範囲第５項か
   ら第７項までのいづれか１項記載の複数の測定個所の測
   定値の中央検出方法。 ９　平均値を、連続的に生じる実際の測定値を低域フィ
   ルタに供給することによって形成する特許請求の範囲第
   ８項記載の複数の測定個所の測定値の中央検出方法。 波 １０　極大値を実際の測定値の箇高値測定によって検出
   する特許請求の範囲第１項から第９項までのいづれか１
   項記載の複数の測定個所の測定値の中央検出方法。 １１、おのおのの測定個所の全体の測定領域を測定段階
   （工ないし■）に分割し、かつおのおのの測定個所にお
   いて個所の生じた測定値が達したかまたは上回った測定
   段階に対して、その都度出力信号（ＡＩないしｌ）を発
   生し、かつ記憶しかつ読出しのために準備する特許請求
   の範囲第１項から第１０項までのし・づれか１項記載の
   複数のｉ！１１１定個所の測定値の中央検出方法。 １２、段階的に増加する基準値をその都度コンパレータ
   に供給しかつその中で測定値と比較し、かつおのおのの
   コンパレータは、測定値が基準値に少なくとも近似的に
   達したかまたは上回ったとき、出力信号を発生する特許
   請求の範囲第１１項記載の複数の測定個所の測定値の中
   央検出方法。